マイクログロスは、ターゲット表面領域から光がどのくらい反射するかを示す新規な二次元表現である。マイクログロスを測定するシステムおよび方法は、表面の外観が重要になる様々な製品の反射特性を示すデータを算出することができる。これらの製品は、紙、プラスチック、およびセラミックを含む。マイクログロス特性は、製紙におけるスーパーカレンダリングプロセスを制御するためのパラメータとして使用することができる。製品を等級分けするのに、マイクログロス特性を標準グロスとともに使用することができる。 （もっと読む）

【課題】被評価物の平面性が良好でない場合にも、主観的な光沢度に対応した評価値を求める。
【解決手段】制御部は、設定された撮像条件に基づいて、ｘ軸角度制御部およびｙ軸角度制御部に支持台の姿勢を制御し（ＳＡ１）、撮像部に被評価物を撮像させて画像信号を生成させる（ＳＡ２）。画像処理部は、画像信号に応じた画像データを生成すると（ＳＡ３）、被評価物の部分領域毎にマクロ光沢度を算出する（ＳＡ４）。画像処理部は、設定された姿勢で被評価物を撮像したと判断すると（ＳＡ５；ＹＥＳ）、部分領域毎の光沢度を示す評価値や被評価物全体としての評価値を算出する（ＳＡ６）。 （もっと読む）

【課題】分光エリプソメータにおいて対象物上の照射領域の大きさおよび形状を高精度に検出する。
【解決手段】膜厚測定装置１０の分光エリプソメータ１では、基板９の測定面９１にて反射された反射光が、受光部４の検光子４２により、所定の偏光方向の直線偏光成分である第１偏光光と、第１偏光光に垂直な偏光方向の直線偏光成分である第２偏光光とに分割される。そして、第１偏光光を利用して反射光の波長毎の偏光状態が測定され、第２偏光光を利用して基板９の測定面９１上の照射領域の大きさおよび形状が検出される。分光エリプソメータ１では、照射領域の大きさおよび形状の検出が、測定面９１からの反射光のうち、偏光状態の測定に利用されない偏光成分である第２偏光光を利用して行われることにより、反射光の偏光状態の測定精度を高く維持しつつ基板９の測定面９１上の照射領域の大きさおよび形状を高精度に検出することができる。 （もっと読む）

【課題】 発光素子と乱反射を受光する受光素子を備えた光検出装置において、発光素子からの散乱する光の二次反射による影響を受けずに乱反射成分のみを取り込める光検出装置を提供する。
【解決手段】 ＬＥＤ５３とセンサ５４ａとからなる光検出装置において、ＬＥＤ５３の発光点Ｅと記録紙上のＣ点を結ぶ光線ａとＣ点を通る記録紙の垂線ＣＤとのなす角度αと同じ角度で反射した光線ｂがセンサ５４ａの導光路の内壁面と交わる点を点Ｂとしたときに、記録紙と点Ｂとの距離Ｋから記録紙と光検出装置の距離Ｌを引いた値で定められる長さＮをセンサ５４ａの導光路の長さとする。 （もっと読む）

【課題】精度よく正反射光量を検知することができる反射光検出装置、画像特性計測装置および画像形成装置を提供する。
【解決手段】画像から正反射方向に反射した光をビームスプリッタ５６で２方向に分岐させ、一方の光を第１受光素子５１で受光し、他方の光を偏光フィルター５７で正反射反射光を遮断して、偏光フィルター５７を通過した正反射方向へ反射した拡散反射光を第２受光素子５２で受光する。そして、第１受光素子５１が受光した受光量から第２受光素子５２が受光した拡散反射光量を差し引いて、正反射光量を検知する。 （もっと読む）

【課題】面倒な作業無しに紙種を正確に判別できる紙種判別方法を提供する。
【解決手段】記録領域（記録媒体１０が通過する領域）を挟んだキャリッジ７のホームポジションとは反対側の位置には検査チャート１１が配置されている。検査チャート１１は、低い円柱状のものであり、その外周面には複数の記録媒体片２７ａ，２７ｂ，…２７ｇ，……が等間隔で取り付けられている。複数の記録媒体片２７ａ，２７ｂ，…それぞれは異なる紙種であり、各記録媒体片２７ａ，２７ｂ，…は、検査チャート１１の外周面に着脱自在に固定されている。検査チャート１１は、後述するように回転し、この回転によって頂部（頂上）に位置した記録媒体片（図１では２７ｇ）は、キャリッジ７に搭載された検知センサ１２と主走査方向において同一直線上になる。 （もっと読む）

【課題】偏光板用保護フィルムとして用いられるセルロースエステルフィルムであって、砂目状異物の発生を防止することができて、砂目状異物が生じにくい偏光板用保護フィルムの製造方法を提供する。
【解決手段】偏光板保護フィルムに用いられる厚さ２０〜６０μｍを有するセルロースエステルフィルムの製造方法であって、波長６００ｎｍにおける分光透過濃度に対する波長５００ｎｍにおける分光透過濃度の比が０．９５〜１．０５となるように調整することを特徴とするセルロースエステルフィルムの製造方法。 （もっと読む）

【課題】イオン伝導性電解質膜の検査方法および検査装置を提供する。
【解決手段】本発明にかかる検査方法を実施する検査装置は、調光薄膜と水素極を両面に接合した水素イオン伝導性電解質膜を検査対象として、水素極側の空間を形成する容器と、調光薄膜と水素極との間にスイッチを介して電気的に接続される電気回路とを有している。該検査装置は、スイッチがオフの状態で水素極側の空間に水素ガスを供給し、電解質膜の欠陥部を通じて漏洩する水素ガスで調光薄膜を水素化して、水素化で生じる調光薄膜の光学的反射率の変化で欠陥部の有無を検査し、またスイッチがオンの状態で水素極側の空間に水素ガスを供給し、イオン化で生じた水素イオンを水素極から電解質膜を透過させて調光薄膜を水素化し、水素化で生じる調光薄膜の光学的反射率の変化の均一性によって、電解質膜の水素イオン伝導性の均一性を検査する。 （もっと読む）

【課題】光透過性を有する基材の厚み寸法のバラつきに伴い結晶性評価精度が悪化するのを抑制することができる半導体薄膜の結晶性の評価方法を提供する。
【解決手段】シリコン半導体薄膜の所定の照射領域にキャリア励起光を照射する励起レーザ１と、赤外光を放射する半導体レーザ１０と、半導体レーザ１０に対し強度変調された電流を供給することにより、当該半導体レーザ１０に波長の異なる複数種の赤外光を照射させることが可能な高周波パルス電源１８と、シリコン半導体薄膜５ａ又は基材５ｂにおいて反射された反射光であって、前記複数種の赤外光のうちの少なくとも２種の赤外光を含む反射光の強度を検出してその検出信号を出力する光検出器１３と、前記検出信号に基づいて前記シリコン半導体薄膜５ａの結晶性を評価するためのデータを作成する信号処理装置９とを備えている。 （もっと読む）

【課題】画像担持媒体（紙、中間転写体等）の姿勢や形状が変動した場合でも、正確に画像担持媒体および同媒体上の画像の色、濃度を正確に検知することができる計測装置を提供する。
【解決手段】画像形成装置に用いられる画像計測装置であって、画像形成装置の画像形成時において、画像担持媒体上に形成された画像に所定の波長の光を照射する単一のまたは複数の第一の光源と、光源から照射され画像担持媒体上に形成された画像からの反射光を受光する単一のまたは複数の第一の受光手段と、画像担持媒体の姿勢を検出する姿勢検出手段（第二の光源１３と第二の受光手段１４）とを有し、光源と受光手段の組合せにより得られる画像の色情報を、姿勢検出手段により得られた画像担持媒体の姿勢から補正し、光源からの照射角度および受光手段の受光角度に影響を受けずに計測する。 （もっと読む）

【課題】シリコン半導体薄膜の結晶性の評価を迅速かつ正確に行うことができるシリコン半導体薄膜の結晶性評価装置を提供すること。
【解決手段】励起光レーザ３と、赤外光レーザ４と、赤外光の波長よりも小さな直径の小孔６ａを有し、当該小孔６ａの一方の開口に照射された赤外光を、当該孔６ａの他方の開口から滲み出る近接場光Ｌ１としてシリコン半導体薄膜２ｂに照射することが可能な金属膜６と、赤外光レーザ４から放射された赤外光のうち孔６ａの他方の開口の手前側で反射された反射光の強度を検出してその検出信号を出力する光検出器２３と、前記検出信号に基づいて薄膜２ｂの結晶性を評価するためのデータを作成する信号処理装置２６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】露光機の光学系による要因、光源の分光特性、レジストの現像特性などの諸要因を反映したフォトマスクの評価を可能として、パターン形状の決定及び半透過部に形成する膜の素材、または、膜厚の決定が的確に行えるようになされたフォトマスクの製造方法を提供する。
【解決手段】露光条件を模した露光条件を再現する露光手段を用いて所定パターンが形成されたテストマスクにテスト露光を行いこのテストマスクの透過光パターンを撮像手段により取得し取得された透過光パターンに基づいて透過光パターンデータを得る工程と、透過光パターンデータに基づいて露光条件下における実効透過率を得る工程とを有し、該実効透過率に基づいて、該領域の形状、該領域に形成する膜の素材、または、膜厚を決定する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、試料セットの作業性に優れた透過測定用ホルダを提供することにある。
【解決手段】試料２８を光透過測定する際に用いられる透過測定用ホルダ１０において、該試料２８を保持するためのホルダ本体１２と、該ホルダ本体１２に着脱自在に設けられ、該ホルダ本体１２に取り付けられた状態で該試料２８を該ホルダ本体１２とで挟持する試料押さえ１４と、該ホルダ本体１２ないし該試料押さえ１４に設けられ、該ホルダ本体１２に対し該試料押さえ１４を磁力で着脱自在とする固定手段１６とを備え、該ホルダ本体１２に対し該試料押さえ１４を磁力で着脱自在とし、かつ該試料押さえ１４の材質を、該ホルダ本体１２に対し該試料押さえ１４を着脱する際および該ホルダ本体１２と該試料押さえ１４とで該試料２８を挟持する際に、変形しない材質としたことを特徴とする透過測定用ホルダ１０。 （もっと読む）

【課題】 映像読取手段により記録紙表面の画像を撮影し、撮影した画像に基づき記録紙判別を行う画像形成装置において、精度の良い記録紙判別を可能にする。
【解決手段】 焦点を記録紙に合わせる調整手段を設ける。具体的には、記録紙表面に光を照射する光照射手段と、記録紙表面の所定領域内を映像として読取る映像読取手段と、記録紙表面の映像を映像読取手段に結像させる結像レンズと、映像読取手段の出力を基に記録紙の種類を判別する記録紙判別手段と、結像レンズの焦点を記録紙表面となるように調整する調整手段を備える構成とする。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、薄膜試料の温度を広い範囲に連続的に変化させながら、前記薄膜試料の偏光パラメータ（Ψ、Δ）を測定することにより、特定の圧力および温度において、前記薄膜試料の膜厚L、屈折率n、消衰係数k等の物性を求め、ナノ空孔の量と大きさや比表面積、熱膨張率、分解脱離に伴う熱光学特性などの評価を目的とした、圧力温度可変偏光解析測定方法を提供することである。
【解決手段】偏光解析装置において、光学的に透明な窓を設けた試料評価室内に試料を配置し、該窓には、該試料評価室内の気体圧力と温度を変化させても、試料台に載置された試料に照射する入射光に対して垂直な光学面、および、試料から反射する反射光に対して温度を変化させても垂直な光学面が設けられていることにより、種々の圧力をもつ所定の雰囲気中において、種々な温度における試料の屈折率、消衰係数又は膜厚を求めることを可能とした偏光解析装置である。 （もっと読む）

【課題】内容物の位置ズレを高精度に検出できる分包シート検査システム及び検査方法を提供する。
【解決手段】分包シートの外面に照射光を照射可能な光源と、前記光源から照射された照射光が分包シートの外面で反射された反射光を受けて映像信号を発生させる撮像手段４と、撮像手段４から出力される前記映像信号にエッジ強調処理を行なうことでシール部を強調するとともに、強調されたシール部において、分包シートの外端からポケット部とシール部との境界までの距離をシール長を計測するシール長計測装置６と、分包シートに照射するＸ線を照射可能なＸ線源７と、このＸ線照射に伴うＸ線透過量を検出するＸ線検出器８と、シール長の情報を入力してポケット部の位置と適合する検査領域を設定し、Ｘ線検出器８で検出されたＸ線透過量に基づいて、検査領域における内容物を検査する判定手段９とを備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】光学式の雨滴検出装置において、入射側および出射側の導光体またはレンズにて発生する光量の低下に伴う雨滴の検出精度が低下する箇所または面積を減らした。
【解決手段】ＬＥＤ４０からの光が入射される複数の入射側傾斜面１２ａ、１２ｂと、隣り合う入射側傾斜面の端部同士が結ばれた入射側段差面１１ａと、反射した光が出射される複数の出射側傾斜面１５ａ、１５ｂと、隣り合う出射側傾斜面の端部同士が結ばれた出射側段差面１４ａとが形成された導光体１０と、入射側傾斜面１２ａ、１２ｂ上に形成された第１のレンズ１３ａ、１３ｂと、出射側傾斜面１５ａ、１５ｂ上に形成された第２のレンズ１６ａ、１６ｂとを備え、入射側段差面１１ａの延長された面と出射側段差面１４ａの延長された面とがウインドシールド６０の外壁面６０ａで交わっている。 （もっと読む）

【課題】 紙や不織布のような繊維状ウェブの水分含有量又は基本重量のようなパラメータを測定する。
【解決手段】 測定装置は、光学素子（５２，５４，５８，６４，６６，６８）と、繊維状ウェブ（７０）を通り抜ける少なくとも中間赤外線（ＭＩＲ）スペクトル範囲内の波長を含む電磁放射のビームを選択的に指向する波長選択装置（５６）と、繊維状ウェブから射出される電磁放射の経路内に配置されていて、散乱電磁放射から直接透過放射を分割するためのビームストップ（７２）のような要素と、散乱電磁放射を収集するための収集装置と、その収集装置によって収集された散乱電磁放射を検出するための検知装置とを備える。 （もっと読む）

【課題】多層薄膜厚の形状及び屈折率分布を反射光度計の原理を利用して測定する非接触、非破壊性測定装置を提供する。
【解決手段】１枚以上の狭帯域光フィルタと二次元に配列された光検出器を使用し、また薄膜厚さと屈折率とが非線形関数で表示される原理上の数式を反復的な数値演算方法によって最適値を探すことによって基板上の多層薄膜厚の形状、屈折率の分布などを局部的に同時に測定する。 （もっと読む）

【課題】像担持体上に塗布されている保護剤の量を評価することにより、保護剤の塗布を良好に行うことができる保護剤塗布装置を実現する。
【解決手段】赤外吸収スペクトル法のＡＴＲ法により測定される保護剤塗布前の像担持体表面のＩＲスペクトルＡと保護剤単独のＩＲスペクトルＢを比較したとき、ＩＲスペクトルＡにはＩＲスペクトルＢに存在しない少なくとも一つ以上の吸収ピークを有し、ＩＲスペクトルＢにはＩＲスペクトルＡに存在しない少なくとも一つ以上の吸収ピークを有し、保護剤塗布装置によって保護剤を塗布した後の像担持体のＩＲスペクトルＣ中の、ＩＲスペクトルＢに存在せず、ＩＲスペクトルＡに存在する任意の一つのピークａのピーク面積Ｓａと、ＩＲスペクトルＡに存在せずＩＲスペクトルＢに存在する任意の一つのピークｂのピーク面積Ｓｂの比（Ｓｂ／Ｓａ）より、像担持体上の保護剤の塗布量を評価する。 （もっと読む）