【課題】非侵襲的手法及び侵襲的手法の双方の欠点を解消した近赤外分光分析装置を提供する。
【解決手段】数値シミュレーションで作成したシミュレーションスペクトルからなるスペクトルデータセットを作成し、スペクトルデータセットから定めた基準スペクトルに対する類似性を向上させるように、試料を実測して得られる実測スペクトルに対して変換操作を行い、変換操作により実測スペクトルから変換スペクトルを作成し、スペクトルデータセットから作成された検量モデルに変換スペクトルを代入することにより、目的とする成分濃度の定量を行う。 （もっと読む）

【課題】ＯＣＴ画像の着目した部分について、良好な画質かどうかを判断する。
【解決手段】低コヒーレンス光を出力する光源と、低コヒーレンス光を測定光と参照光とに分割し、被検査物に照射された測定光による戻り光と参照光路を経由した参照光により合成された干渉光を生成する手段と、干渉光を検出して検出信号を生成する手段と、検出信号に基づいて被検査物の画像を形成する手段とを有する光断層撮像装置において、画像の中で特定の領域を指定する手段と、特定の領域の画質を判断する計算指標と判断基準を設定する手段と、計算指標に基づいて特定の領域の輝度値に対して計算処理を行い、その結果得られた計算値が判断基準に含まれるか否かを判断し、判断結果を出力する手段を有する。 （もっと読む）

【課題】正確な歯牙咬合面の撮影を可能とし、歯牙咬合面う触の的確な診察を可能とする歯牙咬合面撮影用ＯＣＴ装置を提供する。
【解決手段】光源１１０と、シース１５０及びプローブ本体１３１を有するＯＣＴプローブ１４０と、導光手段と、画像表示部１２５とを備え、プローブ本体１３１は、光を観察対象２００である歯牙咬合面に射出してその反射光を導光手段に掃引し、この反射光に基づく画像を画像表示部１２５に表示する。ＯＣＴプローブ１４０は、プローブ本体１３１を回転駆動させる回転手段と、プローブ本体１３１をシース１５０内にて前後に移動させる移動手段とを有する。ＯＣＴプローブ１４０を水平に移動させる水平移動手段及び垂直に移動させる垂直移動手段を有する。 （もっと読む）

【課題】周囲の機器の配置に制限されることなく容易に装着可能であり、且つ、製造コストが比較的安いマイクロ流路チップを提供する。
【解決手段】マイクロ流路チップは、凹部を有する基板ホルダと、該基板ホルダの凹部に装着された反応基板と、該基板ホルダ及び前記反応基板を覆うように配置された第１のシートと、該第１のシートを覆うように配置された第２のシートと、を有する。反応基板は、前記反応チャンバに露出している第１の面と、前記基板ホルダの凹部に設けられた観察窓を介して外部に露出している第２の面と、を有し、前記反応基板の第１の面には微細構造からなる反応スポットが形成されており、該反応スポットは前記反応チャンバに露出されている。 （もっと読む）

【課題】 複数の測定光を用いて得られた複数の合成光の信号から断面画像を取得する断層撮像装置において、断層撮像装置内の光学系により生じる断面画像内の相違を目立ちにくくすることを目的とする。
【解決手段】 本発明は、複数の測定光を被検査物に照射することで得られる複数の戻り光と参照光とを合成し、当該合成により得られた複数の合成光より、前記被検査物の断面画像を取得する断層撮像装置であって、前記複数の合成光を検出して、当該複数の合成光の信号を取得するセンサと、前記センサ上における前記複数の合成光それぞれの分布特性を取得する取得手段と、前記分布特性と前記複数の合成光の信号とから、前記被検査物の断面画像を生成する生成手段とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 複数の測定光を用いて被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像装置に関して、使用者の利便性の観点から、測定光ごと（あるいは光干渉断層画像ごと）に制御性を良くすることが望まれる。
【解決手段】 本発明に係る撮像装置は、被検査物の交差画像（複数の測定光を被検査物に照射する方向に対して交差する方向の画像のこと。）における複数の測定光の走査範囲をそれぞれ示すように表示手段に表示させることができる。 （もっと読む）

【課題】低コヒーレンス干渉測定および光コヒーレントトモグラフィの光源の有用度と走査速度の欠点の克服を図る。
【解決手段】少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプル３２８に提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンス３１６に提供し、該提供された放射線の周波数が経時変化する少なくとも１つの第１アレンジメントと、前記第１または第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調する少なくとも１つの偏光変調器と、第１偏光状態において前記第１放射線と関連した少なくとも１つの第３放射線と、前記第２放射線と関連した少なくとも１つの第４放射線の間の第１干渉信号を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、第２偏光状態において前記第３放射線と前記第４放射線の間の第２干渉信号を検出する少なくとも１つの第３アレンジメントと、を備え、前記第１及び第２偏光状態は、互いに異なっている。 （もっと読む）

【課題】測定結果のバラツキを抑えることができるとともに、構造を簡易にしてコストを低く抑えること。
【解決手段】測定装置１は、検査液を貯留する貯留部２と、貯留部から検査液を導く流路部３５と、熱伝導性を有し、流路部から導かれた検査液を流して生化学物質を検出するセンサチップ３２と、熱伝導性を有し、センサチップに接触するように配置された熱伝導部３３と、熱伝導部に接触するように配置され、熱伝導部の温度調節を行う温度調節部３４と、センサチップによる検出結果から生化学物質の物性を測定する測定部４と、を備え、流路部は、熱伝導部を通る第１の流路部３５ａと、第１の流路部の下流側に接続され、センサチップを通る第２の流路部３５ｂと、を備える。 （もっと読む）

【課題】 干渉光のスペクトルを利用して良好な正面画像を取得する。
【解決手段】 光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光する干渉光学系と、被検物上でＸ−Ｙ方向に測定光束を走査させるために測定光束の進行方向を変える光スキャナと、干渉光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、各走査位置に関し，スペクトルに含まれる干渉信号を変換処理して被検物の断層画像を得る光断層像撮影装置において、被検物上で測定光がＸ−Ｙ方向に二次元走査されたときの各走査位置に関し，スペクトルに含まれる前記干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のＸ―Ｙ方向に関する二次元画像を得る画像処理手段を備える。 （もっと読む）

【課題】 分光光学系で光学部材の位置ずれが生じても、信頼性の高い断層画像や光学表面プロファイルを得る。
【解決手段】 低コヒーレント長の光の一部を測定光とするとともに前記低コヒーレント長の光の一部を参照光とし，該参照光と前記測定光の反射光とを合成し，干渉させる干渉光学系と、該干渉光学系によって得られた干渉光を各周波数成分に分光し，分光された干渉光を受光手段に受光させる分光光学系と、該受光手段からの受光信号に基づいて被検眼の画像情報を取得する眼科装置において、該受光手段から出力される受光信号に基づいて、前記受光手段と，前記分光光学系に設けられた該受光手段以外の他の光学部材と，の相対的な位置関係を調整する調整手段を備える。 （もっと読む）

【課題】 複数の測定光を用いて被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像装置に関して、使用者の利便性の観点から、測定光ごと（あるいは光干渉断層画像ごと）に制御性を良くすることが望まれる。
【解決手段】 本発明に係る撮像装置は、複数の参照光と複数の戻り光とのそれぞれの光路長差の変更量を指示する指示手段（指示部１２）を有する。また、本発明に係る撮像装置は、指示手段により指示された上記変更量に基づいて上記光路長差を変更する変更手段（変更部１１）を有する。 （もっと読む）

【課題】 被検眼の眼球運動があっても、眼底上の所定位置に正確に光束を照射する。
【解決手段】 一つの光スキャナとを有し、眼底に向けて走査光を照射するための光走査光学系と、眼底の正面像を二次元撮像素子により撮像する眼底観察光学系と、光スキャナの駆動を制御して二次元撮像素子に走査光を撮像させると共に、単位ピクセル当たりの前記走査光の画角情報を検出する画角情報検出手段と、二次元撮像素子から出力される撮像画像に基づいて眼底の位置ずれ情報をピクセル単位で検出する位置ずれ検出手段と、走査位置のずれが補正されるように眼底上における走査光の走査位置を補正する走査位置補正手段であり、前記画角情報検出手段の検出結果に基づいてピクセル単位で検出される前記位置ずれ情報に対する光スキャナの駆動量を設定する走査位置補正手段と、を備え、前記走査光により被検眼眼底の撮影又は治療を行う。 （もっと読む）

【課題】従来技術とは異なる手法によってテラヘルツ時間領域分光法を行い、テラヘルツ波の時間波形に関する情報を取得するための装置の提供。
【解決手段】テラヘルツ波が発生部11で発生してから、このテラヘルツ波の波形情報として検出部12で検出されるまでの時間を変えるための遅延部14を有する。遅延部14は、発生部11により発生したテラヘルツ波の伝播距離を変えるように構成される。発生部11により発生したテラヘルツ波ごとに、検出部12で検出されたテラヘルツ波の波形情報と伝播距離とを関連付ける。電磁波発生位置で発生する電磁波のパルスを発生させるタイミングを決めるパルス周波数と、電磁波検出位置に伝播してきた電磁波を取り込むタイミングを決めるサンプリング周波数との比がn:1（nは1以上の自然数）になっている。 （もっと読む）

【課題】 ＯＣＴ撮影装置において、測定光と参照光の合成光をセンサに対して適切に位置合わせを行うことを可能とする。
【解決手段】 入射した光を波長毎に分光する回折格子１４１と、分光された光を受光して電気信号に変換するラインセンサ１３９と、ラインセンサ１３９の受光面と前記光との相対位置を調整する電動ステージ２１０と、調整に応じてセンサが受光する光のスペクトルを表示させる表示制御部１２５とを備える。 （もっと読む）

【課題】 断層画像の撮像位置に依存した画質のばらつきを抑制する断層画像撮像装置および断層画像撮像方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 測定光を照射する照射手段と、
前記測定光の被検査物からの戻り光と参照光とを干渉させた合波光を撮像光学系を介して電気信号に変換するセンサと、
前記測定光の波長幅に基づいた単波長の光を出射する出射手段と、
前記撮像光学系を介した前記単波長の光の前記センサ上における位置に基づき前記センサで取得した電気信号から断層画像を生成する生成手段と、
を有する。 （もっと読む）

【課題】低コヒーレンス干渉測定および光コヒーレントトモグラフィの光源の有用度と走査速度の欠点の克服を図る。
【解決手段】組織の構造及び組成のうち少なくとも１つと関連した特定データを求めるシステムであって、所定の手法を実行するとき、ａ）サンプル８６から得られた少なくとも１つの第１電磁放射線と、リファレンス８２から得られた少なくとも１つの第２電磁放射線から形成される干渉信号と関連した情報を受け取り、ここで、前記第１電磁放射線と第２電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトさせ、ｂ）前記情報をサンプル化し、それで、サンプル化データを第１フォーマットで生成し、ｃ）前記サンプル化データを第２フォーマットの特定データに変換する［ここで、第１フォーマットと第２フォーマットは互いに異なる］ように構成された処理アレンジメントを備える。 （もっと読む）

【課題】従来の化学・生化学反応を用いたセンシング装置では、感度、検出速度、安定性に課題があった。
【解決手段】被験物質１０７と結合する性能を有する第１の物質１０５、および、酸化剤１１０によりエッチングされる物質で構成されたモニタリング体１０３を有する基板の面上に、試料を供給した後、過酸化物１０９を還元し酸化剤１１０を生成する触媒１０８を担持し、被験物質１０７と結合する性能を有する第２の物質１０４を供給し、その後基板上を洗浄し、次いで、過酸化物１０９を供給し、その後、過酸化物１０９が触媒１０８により還元されることで生成した酸化剤１１０によりモニタリング体１０３がエッチングされることに起因する所定のデータ変化をモニタリングする被験物質センシング方法。 （もっと読む）

【課題】複数の測定光の走査領域で取得された画像どうしを短時間あるいは高精度につなぎ合わせることが好ましい。
【解決手段】被検眼における複数の測定光の走査領域のうち、互いに重複あるいは近接している領域に対して、該複数の測定光を所定の時間内で照射するように構成し、複数の測定光で取得した画像における重複あるいは近接箇所は、固視微動や瞬きの影響による位置ずれの小さい画像なので、高い類似性を持っており、これらの画像どうしを短時間あるいは高精度につなぎ合わせることができるようにした。 （もっと読む）

【課題】低コヒーレンス干渉測定および光コヒーレントトモグラフィの光源の有用度と走査速度の欠点の克服を図る。
【解決手段】少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプルに、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンスに提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１放射線と第２放射線のうち少なくとも１つが経時変化するスペクトルを有し、前記スペクトルが多重の異なる縦モードを含むものと、前記少なくとも１つの第１放射線と関連した少なくとも１つの第３放射線と、前記少なくとも１つの第２放射線と関連した少なくとも１つの第４放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、を備える。 （もっと読む）

【課題】クロマトグラフ測定方法において、測定制度の向上を可能とする。
【解決手段】クロマトグラフ測定方法において、紫外光Ｌの波長帯域に吸光特性を有する標識物質を用い、検出部Ｔと検出部Ｔの周囲とを含む不溶性担体２１の検査部位２１ａに、標識物質に吸光される紫外光Ｌを照射し、紫外光Ｌの照射に起因して検査部位２１ａから生じる光Ｌｆを検出し、標識物質の吸光特性に起因して生じる、この光に関する検査部位の暗部により、被験物質の有無および／または量の測定を行う。 （もっと読む）