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Fターム[2G059JJ11]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学要素 (16,491) | レンズ (2,733)

Fターム[2G059JJ11]に分類される特許

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【課題】広い波長帯域の測定光を用いて縦分解能に優れた断層画像の提供を行う。
【解決手段】光干渉断層装置において、光源から出射された光を参照光と測定光に分割する手段と、分散特性が異なる第一の分散補償手段と第二の分散補償手段と、前記測定光を被測定検体に照射することによる戻り光と、前記第一の分散補償手段及び前記第二の分散補償手段とを透過した前記参照光とを干渉させて干渉光を得る手段と、前記干渉光に基づき、前記被測定検体の断層像を取得する手段と、を有することとする。 (もっと読む)


【課題】光学顕微鏡法を用いて解剖学的構造またはサンプルと関連付けられた情報を取得するための装置、構成および方法を提供する。
【解決手段】例えば、解剖学的サンプルに与えるように方向付けられた少なくとも1つの第1の電磁放射、および参照物に方向付けられた少なくとも1つの第2の電磁放射を含む放射を提供することができる。放射の波長は時間とともに変化することができ、波長は約1150nmより短い。干渉は、第5の放射と関連付けられた少なくとも1つの第3の放射と、第2の放射と関連付けられた少なくとも1つの第4の放射との間に検出することができる。サンプルの少なくとも一部分に相当する少なくとも1つの画像を、干渉と関連付けられたデータを用いて生成することができる。さらに、時間とともに変化する波長を有する電磁放射を与えるように構成された少なくとも1つの光源構成部を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】簡素な構成を採用しつつ検出光量ムラの発生を抑制可能とした走査型検出測定装置を提供する。
【解決手段】本発明の走査型検出測定装置は、レーザ光を射出する発光素子と、発光素子から供給されるレーザ光を走査しつつ標本に照射する走査光学系と、標本から生じる光を検出する検出光学系と、発光素子と走査光学系との間に設けられレーザ光の一部を発光素子に向けて反射させる反射光学素子と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】光干渉断層撮像装置において、評価領域によって画質評価指標を切り替える。脈絡膜に着目した診断で主に行われるEDI撮像では、網膜断層像の輝度値が低い部分が多いために画質評価指標が小さくなり、正確な評価が出来ないという課題がある。
【解決手段】光源から出射された光を参照光と測定光に分割し、測定光を被測定検体に照射し、その戻り光と参照光とを干渉させ、被測定検体の画像を取得する光干渉断層撮像装置において、画像の撮像条件を設定する手段と、撮像条件に応じて画質評価指標を選択する手段と、設定された撮像条件に応じて撮像された画像から特徴量を取得する手段と、特徴量と画質評価指標に基づいて画像の画質を評価する手段とを有する事。 (もっと読む)


【課題】 簡単な構成で断層画像をスムーズに取得できる。
【解決手段】 光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を互いに独立した第1のビームと第2のビームに分けて、各ビームを被検物上の異なる位置に照射しながら走査する走査光学系と、前記測定光の光路中に配置され、前記第1のビームと第2のビームとの間に光路長差を生じさせる光遅延路と、被検物からの前記第1ビームの反射光と,被検物からの前記第2ビームの反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、検出器から出力される干渉信号を処理して、前記第1ビームによって形成される第1断層画像と前記第2ビームによって形成される第2断層画像とを取得する演算処理部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】好適に接着剤の硬化状態を測定することのできる装置を提供する。
【解決手段】硬化状態測定装置のプローブ18は、先端面26aから測定光を出射する第2光ファイバ26と、第2光ファイバ26の先端面26aに取り外し可能に連結され、光出射面を接着剤36に接触させた状態で接着剤36に測定光を照射する導光部材34と、導光部材34の光出射面と接着剤36との界面から導光部材34に戻った反射光を検出する検出器とを備える。 (もっと読む)


【課題】キャリア寿命を短縮(制御)することで、テラヘルツ電磁波の発生または検出を効率良く行うことのできる光伝導基板およびこれを用いた電磁波発生検出装置を提供する。
【解決手段】本発明の電磁波発生検出装置1は、基板3と、基板3上に成長させたバッファ層4と、バッファ層4上に成長させた半導体層5と、を備え、半導体層5は、光電効果が生じる領域内に転位を有した光伝導基板2を備え、半導体層5上に形成されたアンテナ6を備えている。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波の反射波を利用して金属の腐食を防ぐための塗膜や半導体ウェーハのエピ層等の積層物中の欠陥(気泡)検査を行う際に測定対象物の位置合わせを容易に行えるテラヘルツ波を用いた検査装置及び検査方法。
【解決手段】第1レーザ光の照射によりテラヘルツ波を発振するテラヘルツ波発振アンテナ5、第2レーザ光に時間遅延を与える時間遅延機構7と、第2レーザ光に基づいた検出タイミングでテラヘルツ波を検出し、検出したテラヘルツ波の強度に応じた検出信号を生成するテラヘルツ波受信アンテナ8、測定対象物100の位置と傾きとが所定の状態にあるか否かを検出する状態検出部、測定対象物の位置と傾きとが所定の状態にあり、時間遅延機構7で与えられる時間遅延を変化させた場合のテラヘルツ波受信アンテナで生成された検出信号に基づく時系列信号強度データのピーク値に基づいて測定対象物の欠陥の有無を検査する検査部部54を備える。 (もっと読む)


【課題】簡素な装置構成で、染色色素のピーク波長に合わせたスペクトル情報の計測を精度良く行なうことができる。
【解決手段】H染色用LED1061は、第1の染色液の吸収スペクトルの吸収波長帯に含まれる波長帯の光を発光する。E染色用LED1062は、第2の染色液の吸収スペクトルの吸収波長帯に含まれる波長帯の光を発光する。スペクトル取得素子1141は、H染色用LED1061が発光する光を少なくとも透過する第1のカラーフィルタを有する第1の画素と、E染色用LED1062が発光する光を少なくとも透過する第2のカラーフィルタを有する第2の画素とを有する。制御部116は、H染色用LED1061とE染色用LED1062とが同時に発光するように制御する。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ電磁波の検出または発生が効率良く行われ、S/N比を向上させることができる光伝導基板およびこれを用いた電磁波発生検出装置を提供する。
【解決手段】基板3と、基板3上に積層された半導体積層群5と、を備え、半導体積層群5は、第1化合物半導体層51と、第1化合物半導体層51上に、第1化合物半導体層51と屈折率が異なると共に励起光の表面反射を低減できる層厚で成長させた第2化合物半導体層52と、を有している。 (もっと読む)


【課題】住宅用の煙感知器において、大口径のスピーカによる高音質な警報出力性能を保持しつつも、製造段階で、ゴミや昆虫などがヘッド部に侵入することを確実に防止できるようにする。
【解決手段】光学基台2に防虫カバー3を被せ、その内部に発光部4と受光部5とを配置したヘッド部7と、ヘッド部を保持するベース部8とを備え、屋内空間に露呈したヘッド部7に被せられるヘッドカバー9の底面と、ヘッド部8との隙間にスピーカ10を水平に収容しており、防虫カバー3は、有底筒形であって、ヘッド部7の内側に外気を導入させるための窓孔3cが周壁に形成されるとともに、スピーカ10が鳴動したときの背圧をヘッド部7の内側へ逃がすための通気孔3dが底面に形成され、かつその窓孔3c、通気孔3dのいずれもが防虫網13で覆われている。 (もっと読む)


【課題】セル内でサンプルガスを発生させることでサンプルガスの損失を防止する。
【解決手段】測定光が通過する光透過窓2A、2Bを有しており、サンプルWが配置されるセル本体21と、前記セル本体21内に配置されたサンプルWからサンプルガスを生成させるサンプルガス生成手段22とを具備する。 (もっと読む)


【課題】臨床分野では、r−φ断面画像を生成するために回転する光学カテーテルを必要とする。このため、回転するカテーテルを長手方向に沿って引き戻し、対象となる組織塊の三次元画像を得ることができる装置を提供する。
【解決手段】少なくとも2つの分離したファイバ間で電磁放射を伝送させるための装置であって、少なくとも一方が回転可能とされる第1の光ファイバ20及び第2の光ファイバ30と、第1の光ファイバ及び第2の光ファイバのうちの少なくとも一方の一端部と通信する、1つ以上の第1の光学装置部と、1つ以上の光学装置部の位置を制御して、第1の光ファイバ及び前記第2の光ファイバの長手方向の軸を、少なくともそれらの端部で位置合わせするように構成された1つ以上の第2の装置部と、光ファイバを、毎秒10回転より大きな速度で回転させる、1つ以上の第3の装置部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】光散乱法(AL結合ビーズ法を含む)によって試料中の生物由来の生理活性物質の濃度を測定する場合に、AL試薬と試料の混和液の攪拌に起因する、前記生理活性物質に由来しない凝集またはゲル化を生じさせることなく測定を行い、これにより、上記測定の測定精度を向上させる。
【解決手段】AL試薬と生物由来の生理活性物質を含む試料とを混和させ、混和液に光を入射させてその散乱光または透過光の強度に基づいて、該混和液におけるALと生物由来の生理活性物質との反応に起因する蛋白質の凝集またはゲル化を検出する。混和液7を攪拌する代わりに、入射光の入射位置をガルバノミラー装置5などを用いて移動させる。 (もっと読む)


【課題】同じ測定箇所で位相差値と厚みデータとを測定することで、複屈折や厚み方向位相差値Rthをより精度よく得ることができる光学測定装置を提供する。
【解決手段】光学測定装置Mは、光学フィルムSに光L1を入射する投光器30と、投光器30から光学フィルムSに入射された入射光L1を受光する受光器34と、受光器34によって受光された透過光L1から光学フィルムSの面内位相差値R0を算出する位相差R0算出部11と、位相差R0算出部11で面内位相差値R0を算出するのに用いた入射光L1と同じ入射光L1を用いて光学フィルムSの厚みデータdを算出する厚み算出部12とを備えている。受光器34は、2つのファイバ部8a,8bに分岐される光ファイバ8を含んでおり、一方のファイバ部8aが位相差R0算出部11に接続され、他方のファイバ部8bが厚み算出部12に接続されている。 (もっと読む)


【課題】画質の良好な撮像装置を提供する。
【解決手段】レーザ光源10と、ポンプ光L3の入力により被測定物50に電磁波L4を照射する照射部30と、被測定物を透過又は反射した電磁波とプローブ光L2とを合波する合波部14と、合波部により合波された電磁波とプローブ光とが入射され、電磁波の電界強度に応じて誘起される複屈折によりプローブ光の偏光状態を変調させる電気光学素子32と、電気光学素子により偏光状態が変調されたプローブ光のうちの所定の偏光成分の光を通過させる検光子34と、検光子を通過した光を光電変換する光電変換部36と、分岐部と合波部との間におけるプローブ光の進行経路に配され、電気光学素子の各箇所における複屈折性のばらつきに起因して生じるプローブ光の偏光状態の変調のばらつきを相殺するように各箇所における複屈折の程度が設定され、プローブ光の偏光状態を予め調整する光学補償素子とを有している。 (もっと読む)


【課題】異なる波長の2つの測定光の生育状況測定対象からの反射光をより適切に取得することを可能とする植物用センサ装置を提供する。
【解決手段】植物用センサ装置は、生育状況測定対象を照射すべく第1波長の第1測定光P1を出射する第1発光部26と、生育状況測定対象を照射すべく第2波長の第2測定光P2を出射する第2発光部27と、生育状況測定対象による各測定光の反射光を受光して受光信号を出力する受光部と、第1発光部26からの出射と第2発光部27からの出射とを異なるタイミングで発光制御する制御部と、第1発光部26からの第1測定光の第1出射光路と、第2発光部27からの第2測定光の第2出射光路と、を合流する光路合流手段63と、光路合流手段と第1測定光および第2測定光を生育状況測定対象へ向けて出射する出射部とを接続する共通出射光路64、65、67および69と、を備える。 (もっと読む)


【課題】被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能な干渉光計測装置を提供する。
【解決手段】干渉光計測装置は、光源ユニットと、干渉光学系と、走査部と、撮影光学系と、特定部と、制御部とを有する。干渉光学系は、光源ユニットからの低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼による信号光の反射光と参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被検眼に対する信号光の照射位置を走査する。撮影光学系は、干渉光学系における信号光の光路と同軸で被検眼の前眼部を撮影する。特定部は、撮影光学系による撮影画像に基づいて、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、特定された強反射位置に対して信号光を照射させるときに、光源ユニットを制御して低コヒーレンス光の光量を低下させる。 (もっと読む)


【課題】少なくとも表皮層または真皮層を含む肌の状態を確認する目的で肌の一部を簡単にサンプリングする。
【解決手段】透光性を有する吸引機構1と、吸引機構1に設けられ、肌を吸引するための吸引孔5と、吸引機構1に設けられ、吸引機構1の内部を減圧するための排気孔4とを備えている。 (もっと読む)


【課題】凝集物を考慮した上で、血液の特性を表す指標を求められるようにする。
【解決手段】血液検査装置1は、流路部25を通過する血液を撮影するTVカメラ3と、コンピューター7と、を備える。コンピューター7は、TVカメラ3によって撮影された画像の中の所定の解析領域Aの総面積S_allを算出し、解析領域Aの中の赤血球の像が占める総面積S_redを算出し、解析領域Aの中の凝集物の像が占める総面積S_aggを算出し、総面積S_redを総面積S_allと総面積S_aggとの差で除して得られる指標αを算出する。 (もっと読む)


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