【課題】プローブ光の位相バイアスを抑制せず、かつ回路が飽和することもなしに、ＴＨｚ電磁波によって変調されたプローブ光の変調量を検出可能な光電変換装置を提供する。
【解決手段】２つのフォトダイオード１，２と、フォトダイオード１、２に生じる光電流の差を出力信号に増幅する増幅器６と、各々のフォトダイオードに対応して設けられ、対応するフォトダイオードへの入射光を、その入射光が有する特定の物理量に応じた強度で、異なる特性に従って透過する２つのフィルタを備える。 （もっと読む）

【課題】試料の旋光度を測定することにより試料内の旋光性物質の濃度を測定する濃度測定に於いて、試料中の所望の旋光性物質以外の旋光性物質を除去するのに、イオン交換樹脂や合成吸着剤、活性炭等を充填剤としたフィルターによる除去は有用である。特に、生体試料を測定する場合は、衛生・感染面から、フィルターは測定ごとに取り替え、使い捨てタイプにするのが望ましい。しかし、使い捨てタイプのものにした場合、測定ごとにフィルターを取り替える作業が必要であったり、フィルターを脱着する機構が必要であった。
【解決手段】試料の旋光度値から試料濃度を測定する濃度測定装置に、フィルターの内容物を充填するフィルター内容物導入手段を設ける。ユーザーは測定ごとにフィルターを取り替える手間が省ける上に、フィルターの容器は繰り返し使用できるため、環境への負荷が少ない製品を提供することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】光断層画像化装置において、ファラデーローテータや偏波コントローラを用いることなく、測定環境による偏光状態の変動を防止し、良好な画質の断層画像を得る。
【解決手段】光源ユニット１０から光分割手段３までの光Ｌの導波、光分割手段３からプローブ３０までの測定光Ｌ１の導波、プローブ３０内の測定光Ｌ１および反射光Ｌ３の導波、プローブ３０から合波手段４までの反射光Ｌ３の導波、および光分割手段４から合波手段４までの参照光Ｌ２の導波に、偏波保存ファイバを用いる。 （もっと読む）

【課題】路面状態を高精度にリモートセンシングすることが出来る路面モニタリングシステムを提供する。
【解決手段】道路脇に多数かつ異波長のレーザ光を出射するレーザ発信装置１０と、そのレーザ光の路面からの反射光を受光する検知センサ２０と、これらを駆動制御すると共に信号処理・データ解析を行う検知装置３０とを設置し、その解析結果を情報発信装置４０により道路掲示板５０および管理事務所へ送信する。なお、検知センサ２０は、対物レンズ２１、リレーレンズ２２,２４、液晶同調フィルタ（ＬＣＴＦ）２３、ＣＣＤカメラ２５とから成り、選択波長を任意に設定する連続分光と偏光面を光軸の回りに任意に回転させる多偏光とを併用しながら反射レーザ光を受光するように構成されている。 （もっと読む）

【課題】 回折格子や分光器を用いないで、対象物の表面の色、吸収などを簡易迅速に検出するための軽量、小型、低コストのセンサを与えること。
【解決手段】 筐体と、筐体の内部に設けられ複数の波長の光を発生する光源と、筐体の内部に設けられ光源から発生した複数波長の光を直線偏光にして分岐し第１分岐光ｇを交番電界を掛けたポッケルス効果素子を含む光路Ｇに通し第２分岐光ｈを誘電体あるいは反対向きの交番電界を掛けたポッケルス効果素子を含む光路Ｈに通して分岐光ｇ、ｈの間に周期的な位相差を与え合波して試験光Ｓとする干渉部と、試験光Ｓを外部の試料にあてるための筐体に設けられた窓と、試料からの反射光を受光する受光素子と、受光素子によって得られた時間的光強度変化を、交番電界の変化に同期してフーリエ変換する演算部と、フーリエ変換によって得られた波数分布Ｒ（ν）を記憶表示する記憶表示部を含む。 （もっと読む）

【課題】従来の偏光感受光画像計測装置では、異なった偏光状態毎にそれぞれ断層画像を計測し、複数枚の断層画像を入手しなければならないという問題を解決することを目的とし、入射ビーム光の偏光状態を、ＥＯ変調器（偏光変調器）を用いて連続的に変調し、１回のＢスキャンによって、試料１７の偏光情報（複屈折分布）を計測する。
【解決手段】
光源２からの光を偏光子３で直線偏光し、この偏光をＥＯ変調器４によって、Ｂスキャンと同期して連続的に変調し、この連続変調ビームをガルバノ鏡１６で試料１７（被検体）のＢスキャンを行い、参照光と試料アーム７からの物体光の重畳したビームを分光器８の回折格子１９で分光し、そのスペクトル干渉成分のうち、垂直偏光成分と水平偏光成分を２つのラインＣＣＤカメラ２２、２３で同時に検出し、試料１７の偏光特性を表すジョーンズベクトルを得る。 （もっと読む）

本発明は、放射線モジュール（１２）と、検出モジュール（１４）と、顕微鏡（１８）とを具備する動きを検出するモジュール式顕微鏡システムに関し、この顕微鏡は、少なくとも１つの対物レンズ（１６）及び１つの鏡筒（２０）を備えている。放射線モジュール（１２）が、少なくとも１つの参照放射線（２６）及びそれに対し基本的にコヒーレントな対象放射線（２８）を生成するよう構成されており、一方で検出モジュール（１４）が、非線形光学媒質（２４）内での参照放射線（２８）と対象放射線（２６）の非線形結合のために形成される。参照放射線と対象放射線の効率的な２放射線結合のため、例えば放射線強度、偏光方向及び相対的な位相位置のような全ての放射線パラメータを電気的に調整することができる。放射線モジュール（１２）及び検出モジュール（１４）は、多面的に様々な顕微鏡（１８）に適合可能である。 （もっと読む）

【課題】良好な雑音特性を持った電磁波イメージング装置を提供する。
【解決手段】レーザ源１からのレーザ光をポンプ光３とプローブ光４とに分岐させるビームスプリッタ２と、ポンプ光３を照射され電磁波６を放射する光導電性スイッチ５と、電磁波６の放射を断続させる断続手段１８と、被測定物８を透過した電磁波６に応じて生じる結晶内電場によってプローブ光４の電場分布を変調する電界変調素子１１と、電磁波６の有無にそれぞれ対応して電界変調素子１１によって変調されたプローブ光４を撮像する固体撮像素子１９とを備え、固体撮像素子１９は、電磁波６が遮断されている期間に撮像されたイメージから得られるノイズデータを記憶する記憶部と、前記電磁波が照射されている期間に撮像されたイメージを表す信号データから前記記憶部に記憶されているノイズデータを減じて増幅する増幅部と内蔵している。 （もっと読む）

【課題】高効率、高安定、小型、低価格の２μｍ帯から２０μｍ帯の波長域における光吸収測定装置を提供する。
【解決手段】半導体レーザ４１からレンズ４５を介して出力された光は、ガスセル５１を通過して、受光器５２に入射される。受光器５２の出力は、増幅器５４を介してオシロスコープ５７に入力され、被測定物質の光学吸収特性が測定される。半導体レーザ４１を駆動する駆動回路５５であって、直流駆動電流にランプ波形または三角波形の変調信号を重畳して強度変調することにより、半導体レーザ４１の発振周波数を連続的に掃引する駆動回路を備えた。 （もっと読む）

【課題】 生体の代謝に伴う生体情報を用いて生体内部の状態を詳細に観察できる光干渉断層計を提供すること。
【解決手段】 光出射部１は光源１４から異なる特定波長を有する近赤外線可干渉光を光干渉部２に出射する。光干渉部２のビームスプリッタ２１は入射した光を眼底に透過するとともに一部を光波長シフター２２に向けて反射する。シフター２２は発振信号Sに従い光の周波数を変調し、可動ミラー２４によって反射された光の周波数を再度変調する。そして、ビームスプリッタ２１は眼底で反射した計測光とミラー２２で反射した参照光とを干渉させて干渉光を光検出部３に出射する。光検出部３は干渉光を受光すると、同干渉光の光強度を表す検出信号を、発振信号Sを用いて復調するとともに高周波成分をフィルタ処理する。そして、光検出部３はこの検出信号を用いて眼底の断面形状と酸素飽和度SO₂を算出する。 （もっと読む）

【課題】偏光板と位相差膜との組み合わせのように光学軸を有する複数材料を積層して構成された透明試料について、リターデーションや光学主軸方位の高感度な計測を可能にする。
【解決手段】光路の途中に複数材料を積層した透明試料４０と光学特性を補償する光学補償手段８０と光路長変更手段５０とが配置され光共振光学系２０に対して、光強度検出手段３０と、検出した光強度と光学補償手段の特性とに基づいて、透明試料の光学特性を算出する演算手段６０とを設け、光学補償手段の設定の変更から光路長変更手段による光路長変更と光強度の最大値検出までを繰り返し実行することで、光学補償手段の各設定変更に対応する最大光強度値の内でも最大の値に対応して最も良い補償状態での光学補償手段設定から、透明試料の光学特性を特定する。 （もっと読む）

【課題】表面プラズモン共鳴測定装置において、迅速かつ高精度に表面プラズモン共鳴現象を測定することができる
【解決手段】一方の面に試料溶液５０を接触する金属薄膜６ｂと、その他方の面側で全反射可能に設けられたプリズム５と、プリズム５に金属薄膜６ｂの他方の面の位置で全反射するような光を入射する光源部９と、反射光５２の光強度を検出する２次元撮像素子８ｂと、全反射の入射角が一定の状態で入射光５１ａの波長を選択的に規制する波長可変液晶フィルタ４と、波長可変液晶フィルタ４の選択波長を変化させて金属薄膜６ｂでの表面プラズモン共鳴の波長特性を取得することにより、試料溶液５０の性状を測定する測定制御ユニット１１とを備える。 （もっと読む）

【課題】位相差フィルム等の異方性の特性を持つサンプルを、可視領域における偏光特性を正確に計測することができる複屈折計測方法及び複屈折計測装置を提供する。
【解決手段】可視領域の波長の光を照射して使用する位相差フィルムの複屈折特性を計測する位相差フィルムの複屈折を計測する際に、位相差フィルムに可視領域の光を照射し、偏光特性を測定し、非可視領域の光を照射し、偏光特性を測定し、可視領域及び非可視領域の光を位相差フィルムに照射した際に測定されたそれぞれの偏光特性を記憶し、それぞれの偏光特性の関係を対応させる。 （もっと読む）

【課題】二次元的に分布する分光対象物に対して各々の位置における分光強度スペクトルを迅速かつ簡便に測定すること。
【解決手段】分光対象物から受光素子に至る光路中に、外部信号によりスペクトルを変更することの可能な可変色フィルターを設置し、該可変色フィルターのスペクトルを変化させながら分光対象物を撮像し、撮像素子上の各受光素子において得られた一連の受光強度データと、あらかじめ本発明のデータ処理部に保存されていた該可変色フィルターのスペクトル情報と受光素子の受光感度スペクトルの情報とから演算処理によって、該受光素子に到達する光の分光強度スペクトルを求める。 （もっと読む）

【課題】試料中における光熱効果による特性変化を、簡易な構成により高感度かつ高精度（低ノイズ）で測定できる光熱変換測定装置を提供する
【解決手段】モータ３によって回転フィルタ２を回転駆動することにより、励起光源１から出力される励起光Ｂ３の経路に、２つの光フィルタ部２ａ、２ｂのいずれを位置させるかを所定周期で切り替える切替型光フィルタ部Ｚと、試料５を透過した前記測定光Ｂ１に参照光Ｂ２を干渉させその干渉光の強度を検出する光検出器２０と、光検出器２０から取得した干渉光強度の信号（測定光Ｂ１の検出信号）から、切替型光フィルタ部Ｚによる光フィルタ部２ａ、２ｂの切り替え周期と同周期成分を抽出する前記信号処理装置２１とを備える。 （もっと読む）

【課題】被検体における検査対象部位の光の散乱情報を含む被検体の特性情報を容易に取得するための被検体情報分析装置、内視鏡装置及び被検体情報分析方法を提供する。
【解決手段】超音波発生部２は、所定の超音波送信軸に沿って被検体に超音波を発生し、照明光発生部３は、超音波が伝達される被検体内における検査対象部位に到達するように照明光を発生する。検査対象部位を経て受光部４で受光された受光信号に基づき、検査対象部位の光の散乱情報が情報抽出部５で抽出され、さらに被検体情報生成部６により、検査対象部位に対応する被検体の特性情報が生成される。 （もっと読む）

【課題】光断層画像化装置において、計測に用いる光の波長スペクトルを変更可能にする。
【解決手段】光を射出する光源部１０を備えた光断層画像化装置において、光源部１０から射出される光の波長スペクトルを変更する波長変更手段１２を設ける。光源部１０が、中心波長の異なる光を射出する複数の光源１１と、複数の光源１１の光を合波可能とする光学系からなる合波手段とを有するときには、波長変更手段１２は複数の光源１１のうち少なくとも１つの光源を選択する選択手段１１７を含むよう構成してもよい。または、波長変更手段１２は、任意の波長の光を選択的に透過する波長選択素子２１３を含むよう構成してもよい。 （もっと読む）

【課題】
レーザチャンバから出力されるレーザ光の偏光状態の変化をモニタし、レーザチャンバに取り付けられたウィンドウの劣化を早期に把握できる装置および方法を提供する。
【解決手段】
レーザ発振器から出力されたレーザ光は偏光モニタに入射する。偏光モニタではレーザ光の偏光状態がモニタされる。偏光モニタの検出結果は比較演算部に出力される。比較演算部では偏光モニタで検出された偏光状態を示す値、例えば偏光純度や偏光方位角、が算出され、この算出値と許容範囲設定部に予め設定された許容範囲の閾値とが比較される。算出値が許容範囲の閾値を超えた場合に、信号出力部からウィンドウ劣化信号が出力される。このウィンドウ劣化信号の発生をもってウィンドウが劣化したものと判定することができる。
（もっと読む）

【課題】伝搬光による光スポットを微小化するとともに、その位置を変位させることができるようにする。
【解決手段】光軸対称で凸の錐体面を光射出面として有する透明な光学素子１０の光射出面１０Ａから、光軸ＡＸに直交する面内で光射出面の断面形状に相似な形状で、光軸から所望の内径と幅とを有する光軸対称な光束部分Ｌ１２を射出させて、光学素子外の光軸上に微小な光スポットＳＰを形成させ、光軸対称な光束部分Ｌ１２の光軸ＡＸからの内径：Ｒと幅：Δのうち、少なくとも光軸からの内径：Ｒを変化させることにより微小な光スポットＳＰの形成位置を変化させる。 （もっと読む）

【課題】光学的位置ずれを高精度で検出して表示画像の画質の向上を図ることができる位置ずれ検出装置、位置ずれ補正装置及び表示装置を提供すること。
【解決手段】投射型表示装置１００は、第１の光学ブロック２０と、第２の光学ブロック３０と、第１の光学ブロック２０及び第２の光学ブロック３０に対する信号を制御する信号制御部１１０とを備え、信号制御部１１０は、光学的位置ずれを検出する位置ずれ検出装置１３０と、光学的位置ずれを補正する位置ずれ補正装置１４０とを備え、位置ずれ検出装置１３０は、光学的位置ずれを検出するための調整点を設定する調整点設定部１３１と、光学的位置ずれを検出するための第１及び第２のパターン映像の信号をそれぞれ生成する第１パターン生成部１３２及び第２パターン生成部１３３とを備える。 （もっと読む）