【課題】良好なテラヘルツ波の出力特性を有し、良好なテラヘルツイメージングを可能にするテラヘルツ波発生装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波を発生させるテラヘルツ波発生装置であって、電圧が印加された状態でパルス光の照射を受けるとテラヘルツ波を発生する光伝導スイッチアレイ１１と、当該装置に入射されるパルス光を回折により光量の等しいパルス光に分岐させ、光伝導スイッチアレイ１１に分岐されたパルス光を照射させるＤＯＥ（Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｖｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｅｌｅｍｅｎｔ）９とを備える。 （もっと読む）

【課題】複数の異なる波長で測定することができ、スループットの低下を抑止できる検査装置（角度分解スキャトロメータ）を提供すること。
【解決手段】角度分解スキャトロメータは、広帯域放射源と、測定で使用するために放射源によって放出された広帯域ビームから１つまたは複数の狭帯域成分を選択する音響光学波長可変フィルタとを使用する。フィードバックループを使用して、選択された狭帯域成分の強度を制御して、ノイズを低下させることができる。 （もっと読む）

【課題】位相物体の分布を高速・簡便に把握することが可能な観察装置を提供すること。
【解決手段】明部１４ｂと暗部１４ｄとが周期的に配置された面光源１４と、前記面光源で照明された被観察物１０からの光を結像する結像光学系１２と、前記結像光学系を介して前記被観察物の像を撮像する撮像手段１１と、前記面光源と前記被観察物との間に遮光部２０ｂと開口部２０ａとが周期的に配置された遮光手段２０を有する観察装置１。 （もっと読む）

【課題】小型の光学系配置で被検出対象粒子が球状粒子か繊維状粒子かを識別する。
【解決手段】浮遊粒子状物質測定装置は、直線偏光を射出する光源３と、粒子１に直線偏光が入射したことによる散乱光を検出して電気信号に変換する受光手段４と、直線偏光の偏光面を散乱平面５の法線方向から任意の角度だけ所定の周波数で繰り返し変動させる偏光面回転手段６と、粒子１を散乱平面５の法線方向に向ける粒子配向手段２と、受光手段４から出力された信号に基づいて粒子の形状を識別する粒子識別手段とを有し、光源３は、直線偏光の偏光面を散乱平面５の法線方向に偏光させ、受光手段４は、光源３から粒子１に向かう方向に対して粒子１を中心とする散乱角が略１０度の散乱光を検出する。 （もっと読む）

【課題】光学補償フィルムの貼合条件の最適化を効率よく行う。
【解決手段】光源１からの光を偏光板２を通して液晶セル３に入射させ、液晶セル３の法線方向に配置した光検出ユニット１０Ａ及び液晶セル３の法線方向に対して一定角度θの方向に配置された光検出ユニット１０Ｂそれぞれで、検光子４を１回転したときの透過光強度変化を測定する。その透過光強度変化から、３つの波長ごと及び受光角０゜と受光角θの合計６組について、それぞれ楕円率と楕円方位角を算出する。このとき、液晶セル３と光検出ユニット１０Ａ，１０Ｂの間に配置された２枚の光学補償フィルム８，９の方位φ１，φ２を所定の範囲、一定角度ごとに変化させたときに、光検出ユニット１０Ａ，１０Ｂで測定される６組の偏光状態が、予め設定した目標の状態に最も近くなるφ１、φ２を自動的に見つけ出す。 （もっと読む）

【課題】測定対象物が流動体であっても容易かつ高感度に測定することができる全反射テラヘルツ波測定装置を提供する。
【解決手段】全反射テラヘルツ波測定装置１は、テラヘルツ波を用いて全反射測定法により測定対象物Ｓの情報を取得するものであって、光源１１、分岐部１２、チョッパ１３、光路長差調整部１４、偏光子１５、合波部１６、テラヘルツ波発生素子２０、内部多重全反射プリズム３１、テラヘルツ波検出素子４０、１／４波長板５１、偏光分離素子５２、光検出器５３Ａ，５３Ｂ、差動増幅器５４およびロックイン増幅器５５を備える。内部多重全反射プリズム３１は、テラヘルツ波発生素子２０から出力されたテラヘルツ波を入射面３１ａに入力し、その入力したテラヘルツ波を内部で伝播させるとともに４つの反射面３１ｃ〜３１ｆで全反射させて、該テラヘルツ波を出射面３１ｂから合波部１６へ出力する。 （もっと読む）

【課題】透過測定法と全反射測定法との間の切り替えが容易であって安定した測定条件で測定を行うことができるテラヘルツ波測定装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波測定装置１は、透過測定法と全反射測定法との間の切り替えが可能でテラヘルツ波を用いて測定対象物の情報を取得するものであって、光源１１、分岐部１２、チョッパ１３、光路長差調整部１４、偏光子１５、合波部１６、テラヘルツ波発生素子２０、第１プリズム３１０、第２プリズム３２０およびテラヘルツ波検出素子４０等を備える。第１プリズム３１０は、入射面３１０ａ，出射面３１０ｂ，反射面３１０ｃ，凹部を形成する第１副反射面３１０ｄおよび第２副反射面３１０ｅを有する。第２プリズム３２０は、第１プリズム３１０の凹部に嵌合し得る形状を有する凸部を形成する入射面３２０ａおよび出射面３２０ｂ、内部空間３２０ｃを有する。 （もっと読む）

【課題】試料の旋光度を測定することにより試料内の旋光性物質の濃度を測定する濃度測定に於いて、試料中に含まれる複数の成分の濃度測定は多くの情報を得ることができるため有用である。しかし、測定対象物質以外の旋光性物質の影響を取り除くためには、繁雑な操作が必要であったり、操作に時間がかかってしまったりといくつかの問題があった。
【解決手段】試料の旋光度を測定することにより試料内の旋光性物質の濃度を測定する濃度測定装置に、測定対象物質の旋光度測定を妨げる阻害物質を除去するフィルターを設け、フィルターは除去対象物質の異なる充填剤を複数有しており、各充填剤の飽和時間の差を利用することで、試料中に含まれる複数の成分の濃度を測定することが可能となる。
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【課題】テラヘルツ波を透過させて、読み取り易い被測定物２１０の周波数特性を得る。
【解決手段】導体により包囲された空隙１１２をひとつの平面上に有する空隙配置構造体１１０と、空隙配置構造体１１０の平面上に保持された被測定物２１０に向かって電磁波を照射する電磁波照射部３１０と、電磁波照射部３１０から空隙配置構造体１１０に向かって投射され、空隙配置構造体１１０を透過した電磁波を測定する電磁波検出部３２０とを備え、空隙１１２および被測定物２１０を含む空間を透過した電磁波を測定することにより被測定物２１０の特性を測定する測定装置３００であって、電磁波照射部３１０から空隙配置構造体１１０に向かって投射される電磁波が、空隙１１２を含む平面に対して傾斜した入射角αを有して、測定値の周波数特性に生じるディップ波形の変移により被測定物２１０の特性を検出する。 （もっと読む）

【課題】波長成分内の干渉による分析等への影響を低減できる光源装置およびスペクトル分析装置を提供する。
【解決手段】スペクトル分析装置１は、試料Ａに光を照射する光源装置２と、試料Ａからの反射光、透過光、または散乱光を検出する検出装置３と、試料Ａを載置する試料載置部４とを備えている。光源装置２は、広帯域光源２０及び光照射部２３を備えている。広帯域光源２０は、スーパーコンティニューム光（ＳＣ光）といった広帯域光Ｐ１を生成する。また、光源装置２は、広帯域光Ｐ１の各波長成分における干渉を抑える干渉抑制手段を備える。 （もっと読む）

装置の典型的な実施形態を提供する。例えば、典型的な装置は、少なくとも一つの第一の電磁放射線をサンプルに提供し、少なくとも一つの第二の電磁放射線を第一のレファレンスに提供し、少なくとも一つの第三の電磁放射線を第二のレファレンスに提供する、少なくとも一つの第一の機構を含むことができる。第一の機構によって提供される放射線の周波数は、通常、時間と共に変化する。典型的な装置は、第一の電磁放射線に付随する少なくとも一つの第四の電磁放射線と第二の放射線に付随する少なくとも一つの第五の電磁放射線との間の第一の干渉を検出するように構成される少なくとも一つの第二の機構も含むことができる。第二の機構も、第一の電磁放射線に付随する少なくとも一つの第六の電磁放射線と第三の放射線に付随する少なくとも一つの第七の電磁放射線との間の第二の干渉を検出するように構成される。 （もっと読む）

電磁放射をフィルタする装置および発生源の構成が提供され、これらは、電磁放射の周波数に基づいて電磁放射の１つ以上の成分（３２０，３４０）を物理的に分離するように構成された少なくとも１つのスペクトル分離構成（２００）を有しうる。装置および発生源の構成は、回転リフレクタディスクスキャナ（５００）など、１つ以上の成分（３２０，３４０）に関連する少なくとも１つの信号を受け取るように構成された少なくとも１つの連続回転光学構成を有しうる。更に、装置および発生源の構成は、信号を受け取るように構成された少なくとも１つのビーム選択構成も有しうる。回転ディスク（５００）は、ディスク（５００）の回転の周波数に応じて、波長スキャンを生成するための反射パターン（５２０）を有しうる。

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【課題】被検体における検査対象部位の光の散乱情報を含む被検体の特性情報を容易に取得するための被検体情報分析装置、内視鏡装置及び被検体情報分析方法を提供する。
【解決手段】超音波発生部２は、所定の超音波送信軸に沿って被検体に超音波を発生し、照明光発生部３は、超音波が伝達される被検体内における検査対象部位に到達するように照明光を発生する。検査対象部位において周波数変調された光を反射光受光部４で受光し、その受光信号から周波数情報抽出部５による周波数情報の抽出、散乱情報抽出部６による検査対象部位に対する光の散乱情報の抽出等を経て、被検体の検査対象部位に対応する被検体の特性情報を生成する。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波の周波数帯の固有振動スペクトルの有無に関わらず物質の状態の変化を、テラヘルツ波を用いて検出することができる検出方法及び装置を提供する。
【解決手段】検出装置は、物質8を保持する検体保持部と、照射手段1、6と、検出手段1、7と、算出手段と、評価手段を有する。照射手段1、6は、検体保持部に保持される物質8にテラヘルツ波を照射する。検出手段1、7は、物質8から透過又は反射してきたテラヘルツ波を検出する。算出手段は、照射したテラヘルツ波に対する物質8の性質の周波数依存性を求め、物質8の性質の周波数依存性の、直線近似したときの直線の傾き又は直線の傾きを算出する。評価手段は、予め求められた基準状態の物質の性質の周波数依存性の直線の傾きと算出手段で算出した物質8の直線の傾きとを比較し、物質の状態の変化を評価する。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ帯の電磁波を高感度に検出する電磁波検出器及び該検出器を用いた電磁波検出システムを提供する。
【解決手段】電磁波検出器１０は、テラヘルツ光を感知しその電場強度分布に応じて複屈折分布を誘起する電気光学結晶１２と、メタル周期構造１１と、電気光学結晶１２に向けてプローブ光１５を照射する半導体レーザ１３と、電気光学結晶１２を介して偏光状態が変化したプローブ光１５を検知して光電変換を行うＣＣＤ１９と、少なくとも備える。そして、ＣＣＤ１９は、半導体レーザ１３により照射され、メタル周期構造１１の形成面とは反対面の電気光学結晶１２を反射したプローブ光１５を検知して光電変換を行う。 （もっと読む）

本発明は、混濁媒体中の少なくとも１つの物質の測定のための装置及び方法に関する。装置は、少なくとも１つの照射地域上で混濁媒体（１７）を照明するよう較正される少なくとも１つの放射線源（１２）を含む。装置は、さらに、少なくとも１つの検出地域から混濁媒体からの後方散乱光を検出し且つ後方散乱光を表す検出信号を生成するよう構成される少なくとも１つの検出器を備える。装置は、少なくとも２つの異なる照射−検出距離に関する検出信号を生成するよう構成される。照射−検出距離は、照射地域と検出地域との間のそれぞれの距離として定められる。装置は、液体（７）を密封する少なくとも２つの電極板（５，８）を含む少なくとも１つの空間光変調器（２）も含み、電極板（５，８）は、複数の電極（６，１０）を支持し、複数の電極は、液体（７）と共に、電極（６，１０）の間の電界に依存して、光透過パターンを定めるよう構成され、照射地域及び／又は検出地域は、前記光透過パターンによって定められる。

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【課題】光トモグラフィー計測を用いた光断層画像化システムにおいて、干渉信号のＳ／Ｎ比を向上させる。
【解決手段】一定の周期で波長を掃引した光を用いた光トモグラフィー計測において、反射光Ｌ３と参照光Ｌ２との干渉光Ｌ４が光分岐手段５により第１干渉光Ｌ４ａと第２干渉光Ｌ４ｂとに分岐される。第１干渉光Ｌ４ａと第２干渉光Ｌ４ｂとは、可変光アッテネータ６０Ａ、６０Ｂにより、光量が略均一になるようにそれぞれ波長帯域において異なる減衰率で減衰された後、干渉光検出手段７０においてバランス検波される。 （もっと読む）

【課題】ポンププローブ測定装置とこの測定装置を利用した走査プローブ顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】ポンププローブ測定装置１は、ポンプ光となる第１の超短光パルス列及びプローブ光となる第２の超短光パルス列を発生させる超短光パルスレーザー発生部１１と、超短光パルス列の遅延時間を調整する遅延時間調整部１５と、第１及び第２の超短光パルス列のそれぞれを入射させて任意の繰り返し周波数で１パルスを透過させて光パルスの実効的な繰り返し周波数を低減させる第１及び第２のパルスピッカー１３，１４と、パルスピッカーから通過させるパルスの選択箇所を周期的に変更する遅延時間変調部１０と、ポンプ光及びプローブ光を試料１９に照射する照射光学系１６と、試料からのプローブ信号を検出する測定部２０と、ロックイン検出部１８と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】電極の電気化学測定と同時に、赤外分光法による電極表面のその場観察を可能とする電気化学赤外分光装置及び電気化学赤外分光測定方法を提供する。
【解決手段】電解液に接触する電極表面を有する作用極、参照極及び対極と、赤外光源からの赤外光の偏光面を回転させる回転偏光子及び／又は光弾性変調器を含む赤外光偏光手段と、前記作用極の電極表面と前記電解液を挟んで対向する底面を有し、前記赤外光が入射される窓材と、前記赤外光を前記作用極の電極表面と前記電解液との界面に入射し、該界面において反射して前記窓材から出射する反射光を採光する光学系と、前記反射光のスペクトルを得る赤外分光器と、を備え、前記作用極の電気化学測定と同時に、該作用極の前記電極表面と前記電解液との界面に、赤外光を入射させることによって、前記作用極の電極表面の高感度赤外反射スペクトル測定することが可能であることを特徴とする、第一の電気化学赤外分光装置。 （もっと読む）

【課題】パルステラヘルツ波の電場振幅の時間波形を高い時間分解能で短時間に測定することができる単発テラヘルツ波時間波形計測装置を提供する。
【解決手段】単発テラヘルツ波時間波形計測装置１は、テラヘルツ波を用いて測定対象物９の情報を取得するものであって、光源１１、ビーム径調整部１２、分岐部１３、テラヘルツ波発生部２１、光路長差調整部３１、パルス面傾斜部３２、偏光子３３、合波部４１、電気光学結晶４２、検光子４３および光検出器４４を備える。テラヘルツ波発生部２１は、ポンプ光を入力することでパルステラヘルツ波を発生し出力する。パルス面傾斜部３２は、プローブ光のパルス面を傾斜させて、電気光学結晶４２に入力される際のテラヘルツ波およびプローブ光それぞれのパルス面を互いに非平行とする。 （もっと読む）