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Fターム[2G059JJ18]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学要素 (16,491) | 液晶、電気光学結晶 (257)

Fターム[2G059JJ18]に分類される特許

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【課題】より高いレベルでの有機EL素子の計測を実行することが可能な有機EL素子の計測方法を提供する。
【解決手段】封止部材で覆う前の有機EL素子を計測する。発光測定手段は、有機EL素子を発光させた状態で、透光性基板側から光を照射し、有機EL素子で反射した光の偏光状態を測定する。非発光測定手段は、有機EL素子を発光させない状態で、透光性基板側から光を照射し、有機EL素子で反射した光の偏光状態を測定する。発光算出手段は、発光測定手段により測定した光の偏光状態に基づき、膜の光学定数を算出する。非発光算出手段は非発光測定手段により測定した光の偏光状態に基づき、膜の光学定数を算出する。そして出力手段は、発光算出手段及び非発光算出手段により算出した光学定数間の差または比を出力する。 (もっと読む)


【課題】測定周波数帯域の広帯域化と周波数分解能の高分解能化とを実現したテラヘルツ測定装置等を提供する。
【解決手段】THz波スペクトル測定装置(1)は、フェムト秒レーザーをポンプ光とプローブ光とに分岐するビームスプリッタ(11)と、ポンプ光を受けてTHz波を発生させるTHz波発生源(12)と、プローブ光をチャープパルスに変換するチャープ発生光学器(22)と、チャープパルスを2つに分岐するビームスプリッタ(31)と、分岐された一方の参照光を検出する参照光検出手段と、他方をTHz波の電気光学効果にて変調する電気光学結晶(43)と、電気光学結晶(43)から出力された信号光を検出する信号光検出手段と、同時に検出された参照光と信号光とに基づいてTHz波の時間波形を取得する演算回路(50)とを有する。 (もっと読む)


【課題】光信号に基づく電気信号をスペクトラムアナライザにより測定する際に、測定する周波数を変えることができるようにする。
【解決手段】光測定装置1は、第一レーザ光源11から所定のパルス光を受け、それと同じ繰り返し周波数frep1を有するテラヘルツ光L1を出力する光伝導スイッチ18と、テラヘルツ光L1とサンプリング光パルスL2を受け、サンプリング光パルスL2を受けた時点で、テラヘルツ光L1のパワーに応じた信号を出力する光伝導スイッチ21と、信号の大きさを時間と共に変化する測定周波数ごとに測定するRFスペクトラムアナライザ26と、所定のパルス光とサンプリング光パルスL2が同時に入力されたときに、同時光パルスを出力する光カプラ32と、同時光パルスを電気信号に変換してトリガ信号EXTとするフォトディテクタ36と、トリガ信号EXTを遅延させる光遅延回路34とを備える。 (もっと読む)


【課題】ポンプ−プローブ法による測定にかかる時間を短くする。
【解決手段】光測定装置1が、被測定物2にプローブ光P1を与えるプローブ光付与部100と、被測定物2にポンプ光P3を与える第三ポンプレーザ10cと、プローブ光P1およびポンプ光P3が与えられたことに対する被測定物2からの応答光(プローブ光P1が被測定物2を透過した光)と、サンプリング光P2とを受け、サンプリング光P2を受けた時点で応答光を検出するテラヘルツ光検出器14と、を備え、プローブ光P1、サンプリング光P2およびポンプ光P3の繰り返し周波数frep1、frep2、frep3がそれぞれ異なるものである。 (もっと読む)


【課題】紙葉類、たとえば紙幣の厚みを非接触で検出したり、紙幣にテープ等の異物が貼られていることを非接触で検査できる方法および検査装置が望まれていた。
【解決手段】この発明では、紙幣14の厚さを非接触で検査するのに、テラヘルツ光12を用いる。テラヘルツ光12は、紙幣14の厚さの数分の1〜数倍の波長のものを使用する。テラヘルツ光12を紙幣12の片面側141から照射し、紙幣14の表面141および裏面142で反射されるテラヘルツ反射光121、124を検出する。検出したテラヘルツ反射光は、表面で反射された反射光121および裏面で反射された反射光124を含んでいるから位相差を有する。そして位相差は干渉の強さとして検知できる。その結果、紙幣の厚さを正しく、非接触で検出することができる。 (もっと読む)


【課題】測定精度を向上させ得る光学遅延装置を提案する。
【解決手段】入射されるパルス光の光路長が短縮される方向又は延長される方向へ移動可能な可動ステージの移動方向に沿って配される等間隔の目盛りを検出したことを示すパルス信号に同期させて、テラヘルツ波検出部からパルス光のパルス間隔ごとに出力される信号を取り込むようにする。 (もっと読む)


【課題】光散乱特性を分析する分析装置において、分析に要する時間を短縮する。
【解決手段】試料の周囲に配置された複数の光源と、前記複数の光源の一部又は全てから照射される光をそれぞれ異なる周波数の正弦波で強度変調して前記試料に照射する光変調部と、強度変調された前記複数の光が前記試料に照射されて発生する散乱光を検出する検出器と、前記散乱光の強度波形を周波数解析する周波数解析部と、を備えることを特徴とする分析装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波周波数分解イメージングを短時間で行うことができる装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波周波数分解イメージング装置1は、光源11、分岐部12、テラヘルツ波発生部21、光路長差調整部22、偏光子31、合波部41、電気光学結晶42、検光子43、撮像部44、演算部51A、制御部52Aを備える。制御部52Aは、光路長差調整部22に対して光路長差を一定間隔の各値に設定するよう指示するとともに、撮像部44に対して光路長差の各値においてテラヘルツ波像を撮像するよう指示する。演算部51Aは、光路長差が各値に設定されているときに撮像部44により撮像されたテラヘルツ波像を順次に入力し、これら入力したテラヘルツ波像の画素毎に当該画素データに特定周波数に応じた係数を乗じた値を加算して、各画素の当該加算値に基づいて特定周波数のテラヘルツ波像を求める。 (もっと読む)


【課題】従来のSS−OCTに比べて、より高速に光断層画像の取得が可能となる光断層画像撮像装置を提供する。
【解決手段】被測定対象で反射された後方散乱光と参照ミラーで反射された反射光とによる干渉光を用い、断層像を撮像する光断層画像撮像装置であって、
スーパーコンティニューム光源341、342と、
スーパーコンティニューム光源に接続された群速度分散を有する光学系324と、
被測定対象で反射された後方散乱光と参照ミラーで反射された反射光とによる干渉光を検出する光検出手段344と、
群速度分散を有する光学系からの出力光における各波長成分のタイミングを検出するタイミング検出手段343と、
スーパーコンティニューム光源からの信号をトリガーとするタイミング検出手段からのタイミング信号を用いて光検出器からの信号をサンプリングし、断層像を撮像する光断層像信号を検出する手段336と、を有する構成とする。 (もっと読む)


【課題】レーザ光を用いたガス計測装置における計測可能なガス濃度のダイナミックレンジを拡大する。
【解決手段】ポンプ光を発生する第1レーザ光源14と、シグナル光を発生する第2レーザ光源15と、ポンプ光とシグナル光の差周波光を発生する差周波光発生部16と、ガス計測領域2に照射されたレーザ光を検知して受光強度に応じた出力を発生する光検知部18と、光検知部18の出力に基づいて計測対象ガスの濃度を測定するコントロールユニット11とを備え、ポンプ光、シグナル光及び差周波光の各波長を、計測対象ガスの異なる光吸収波長帯のモル吸光係数の高い光吸収波長にそれぞれ設定してガス計測領域2に照射する。 (もっと読む)


【課題】OCT装置によって、特に被検眼の眼底における網膜の断層像を撮像するに際し、測定光が虹彩にけられた場合の影響を抑制し、取得される断層像の信頼性を確保することが可能となる光断層画像撮像装置等を提供する。
【解決手段】光断層画像撮像装置であって、
測定光が被検査物に照射する状態を観察し、前記測定光が前記被検査物に入射する状態を観察画像として画像化する観察手段と、
前記観察画像を前記光断層画像撮像装置による断層画像と関連付けて記録する記録手段と、
前記観察手段において画像化された前記観察画像をもとにして、前記観察画像と関連付けられた断層画像の信頼性の評価を行う評価手段と、を有する構成とする。 (もっと読む)


【課題】最大可測振動周波数を改善したレーザドップラー振動測定技術を提案する。
【解決手段】物体12によって反射された測定ビーム9と参照ビーム10とを干渉させるための光学干渉装置と、測定ビームと参照ビームとの間の周波数差からビート周波数を生成する光学周波数シフタとを備えたヘテロダイン振動計。ビームスプリッタと前記光学周波数シフタとは元ビーム8を回折させるための音響光学変調器2として1つの光学素子によって構成されている。音響光学変調器は進入する元ビームが少なくとも2つの回折ビームとして回折次数1の第1の回折ビーム及び回折次数−1の第2の回折ビームに分割するように構成され、この2つの回折ビームの一方が測定ビームとなり、他方の回折ビームが参照ビーム10となる。 (もっと読む)


【課題】大気ガスの分析に使用される光を高出力化する。
【解決手段】被測定ガスの吸収線波長を含む波長の光を出射し、該光の吸収量から前記被測定ガスの濃度を測定するガス測定装置であって、レーザ光源と、一定周期で分極反転した誘電体結晶を有し、光パラメトリック発生によって前記レーザ光源からの光を波長変換して被測定ガスに応じた波長の光を発生させる波長変換手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、安定駆動モードでの使用を可能にし、180°移相器を用いずに背景成分から発生する光音響信号を差分除去することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る成分濃度測定装置91は、波長の異なる連続光を出力する第1の光源10及び第2の光源11と、第1の光源10及び第2の光源11からの連続光を、順に、予め定められた一定周波数で同一の出力端子から出力する光スイッチ15と、光スイッチ15から出力された第1の光源10及び第2の光源11からの光によって被測定物101から発生する測定用音波を検出する音波検出部17と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】試料の集合体構造を精密に測定する、テラヘルツ電磁波を用いた試料の構造分析方法およびその構造を得る。
【解決手段】フェムト秒レーザから第1のビーム光と第2のビーム光を発生する。第1のビーム光を第1のテラヘルツ電磁波に変換して試料チャンバーに導入する。第1のテラヘルツ電磁波を第1の試料に伝播させて、第1の試料のテラヘルツ電磁波時間領域分光分析を行ない、特定のテラヘルツ電磁波吸収値を求める。第2のビーム光を第2のテラヘルツ電磁波に変換して試料チャンバーに導入し、第2のテラヘルツ電磁波を第2の試料に伝播させて、第2の試料のテラヘルツ電磁波時間領域分光分析を行ない、特定のテラヘルツ電磁波吸収値を求める。第1の試料の特定のテラヘルツ電磁波吸収値と第2の試料の特定のテラヘルツ電磁波吸収値との差を求める。特定のテラヘルツ電磁波吸収値差により、試料のイオン種を同定する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で多波長の旋光度を計測することが可能な計測装置を提供すること。
【解決手段】光の所定の偏光成分を透過させる第1の偏光子18と、透過した光を任意の偏光に変調する偏光変調部20と、偏光変調部20を介して測定対象30を透過した光の所定の偏光成分を透過させる第2の偏光子32と、透過した光の所定の波長成分を透過させ、前記所定の波長成分以外の波長成分を反射させるダイクロイックミラー80と、ダイクロイックミラー80を透過した光の第1の波長を透過させる第1のフィルタ82と、ダイクロイックミラー80を反射した光の第2の波長を透過させる第2のフィルタ84と、第1のフィルタ82を透過した光の光強度を検出する第1の検出部34と、第2のフィルタ84を透過した光の光強度を検出する第2の検出部36とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】眼底の3次元的形態を表すパノラマ画像を作成可能な技術を提供する。
【解決手段】眼底観察装置1は、被検眼Eの固視位置を変更することにより、眼底Efの異なる部位を表す複数の3次元画像G(k)を形成する。また、眼底観察装置1は、これら3次元画像G(k)を解析して互いの位置関係を求め、この位置関係に基づいて各3次元画像G(k)を一の3次元座標系で表現する。それにより、複数の3次元画像G(k)を含むパノラマ3次元画像データGが形成される。更に、眼底観察装置1は、基準3次元座標系で表現されたパノラマ3次元画像データGに基づいて複数の3次元画像G(k)を含むパノラマ3次元画像を表示する。 (もっと読む)


【課題】コスト等をかけることなく、簡単な構成で複屈折特性を測定する。
【解決手段】複屈折測定装置10は、光源11、偏光子15、位相子16、回転検光子40、受光器18、コントローラ20を有する。位相差フイルム19は位相子16と回転検光子40との間に挿入される。コントローラ20は、回転検光子40の透過軸方位θとその透過軸方位のときに受光器18で受光した光の強度とを対応付けて光強度データを作成する。光強度データ記憶部50には、偏光子15の透過軸方位がγ1であるときの第1光強度データと、透過軸方位がγ2(γ2はγ1と異なる方位)であるときの第2光強度データとが記憶されている。第1又は第2光強度データに基づき、位相差フイルム19の主軸方位が求められるとともに、位相差フイルムの主軸方位、第1光強度データ、及び第2光強度データに基づいて、位相差フイルム19のレタデーションが求められる。 (もっと読む)


【課題】 伝播するテラヘルツ波の伝播速度を変化することにより、テラヘルツ波の時間波形を取得することのできる装置及び方法の提供。
【解決手段】 テラヘルツ波を発生させるための発生部と、前記発生部から発生したテラヘルツ波を伝播させるための伝播部と、テラヘルツ波の波形情報を検出するための検出部と、テラヘルツ波の伝播速度を変化させるための第1の遅延部と、前記伝播部におけるテラヘルツ波の伝播速度を変化させるように前記第1の遅延部を制御するための制御部と、を有し、
前記検出部で検出されるテラヘルツ波の時間波形に関する情報を取得することを特徴とする波形情報取得装置。 (もっと読む)


【課題】環境温度の影響を受けることなく精度良く測定対象の旋光度を計測することが可能であり且つ装置の小型化が可能な計測装置及び計測方法を提供すること。
【解決手段】光の所定の偏光成分を透過させる第1の偏光子18と、透過した光を任意の偏光に変調する偏光変調器20と、偏光変調され測定対象30を透過した光の所定の偏光成分を透過させる第2の偏光子32と、透過した光を検出して電気信号に変換する検出部34とを含み測定対象の旋光度を計測する計測装置1に用いられる偏光変調器20であって、第1の液晶セル22及び第2の液晶セル24から構成される液晶素子21と、液晶素子21の温度を制御する温度制御部26と、記第1の液晶セル22及び第2の液晶セル24への印加電圧を制御する電圧制御部23、25とを含み、第1の液晶セル22と第2の液晶セル24は、ラビング方向が互いに異なることにより、主軸方位が互いに異なる。 (もっと読む)


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