Fターム[4J100JA38]の内容
付加系(共)重合体、後処理、化学変成 (209,625) | 用途 (17,977) | 光学関係用途 (5,695) | 感光性樹脂 (2,979) | フォトレジスト (2,318)
Fターム[4J100JA38]に分類される特許
301 - 320 / 2,318
レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】CD均一性が良好で、かつ欠陥が少ないレジストパターンを製造可能なレジスト組成物を提供する。
【解決手段】(A1)式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)式(II)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び(B)酸発生剤を含有するレジスト組成物。
[式中、R2は、フッ素原子を有する炭化水素基;環T1は、置換基を有していてもよいスルトン環;Z1は、置換基を有していてもよいアルカンジイル基等;Z2は、単結合又はカルボニル基を表す。]
(もっと読む)
レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】パターン倒れ及び欠陥の少ないレジスト組成物の提供。
【解決手段】(A1)式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び(B)式(II)で表される酸発生剤を含有するレジスト組成物。
[式中、R1は、水素原子又はメチル基;A1は、−(CH2)m1−、−(CH2)m2−O−(CH2)m3−又は−(CH2)m4−CO−O−(CH2)m5−;m1〜m5はそれぞれ1〜6の整数;R2はフッ素原子を有する炭化水素基;R3及びR4は、それぞれフッ素原子又はペルフルオロアルキル基;X1は2価の飽和炭化水素基;R5は環状エーテル構造を含む基;Z1+は有機カチオンを表す。]
(もっと読む)
塩、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】従来から知られる酸発生剤を含有するレジスト組成物では、得られるレジストパターンのマスクエラーファクター(MEF)が必ずしも十分に満足できない場合があった。
【解決手段】式(I)で表される塩。
[式(I)中、R1及びR2は、それぞれ独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。X1は、2価の炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれる水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよく、該飽和炭化水素基を構成する−CH2−は、−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。Z1+は、有機対イオンを表す。]
(もっと読む)
レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】パターン倒れが少ないレジスト組成物の提供。
【解決手段】(A1)式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)式(II)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び(B)酸発生剤を含有するレジスト組成物。
[式中、R2はフッ素原子を有する炭化水素基;環T1はスルトン環を表す。]
(もっと読む)
レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】レジストパターン製造時のフォーカスマージン(DOF)が良好で、レジストパターンを形成した場合に欠陥の発生数を低減することができるレジスト組成物を提供する。
【解決手段】(A1)式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び(B)式(II)で表される酸発生剤を含有するレジスト組成物。
[式中、R1は、水素原子又はメチル基;A1は、−(CH2)m1−、−(CH2)m2−O−(CH2)m3−等m1〜m3はそれぞれ1〜6の整数を表す。]
(もっと読む)
アントラセン誘導体及びこの製造方法、硬化性組成物並びに硬化物
【課題】アントラセン特有の特性と共に、高い重合性を兼ね備えたアントラセン誘導体、及びこのアントラセン誘導体の製造方法を提供する。
【解決手段】下記式(1)にて表されるアントラセン誘導体。
(式(1)中、Xは、(n1+1)価の置換基を有していてもよい芳香族基。Yは、(n2+1)価の置換基を有していてもよい芳香族基。n1及びn2は、それぞれ独立して、1〜3の整数。R1及びR2は、それぞれ独立して、水素原子又はメチル基。Z1及びZ2は、それぞれ独立して、−O−(R−O)m−で表される基。Rは、ヒドロキシル基を有していてもよい2価の炭化水素基。mが2以上の場合、複数のRは同一でも異なっていてもよい。)
(もっと読む)
レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】パターン倒れが少ないレジストパターンを製造可能なレジスト組成物を提供する。
【解決手段】(A)式(I)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂、(B)酸発生剤及び(D)式(II)で表される化合物を含有するレジスト組成物。
[式中、環T1は置換基を有していてもよいスルトン環を表す。]
(もっと読む)
レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】優れた解像度及びラインエッジラフネス(LER)を有し、かつ欠陥が少ないレジストパターンを得ることができるレジスト組成物を提供することを目的とする。
【解決手段】(A1)式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び(B)酸に不安定な基を有する酸発生剤を含有するレジスト組成物。
[式中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。A1は、−(CH2)m1−、−(CH2)m2−O−(CH2)m3−又は−(CH2)m4−CO−O−(CH2)m5−を表す。m1〜m5は、それぞれ独立に、1〜6の整数を表す。R2は、フッ素原子を有する炭素数1〜10の炭化水素基を表す。]
(もっと読む)
レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】CD均一性が良好で、かつ欠陥が少ないパターンを製造することができるレジスト組成物の提供。
【解決手段】(A1)式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)式(II)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び(B)酸発生剤を含有するレジスト組成物。
[式中、R2は、フッ素原子を有する炭化水素基;環T1は、スルトン環を表す。]
(もっと読む)
ポジ型感光性樹脂組成物、レジストパターンの製造方法、半導体装置及び電子デバイス
【課題】
塗布後及び現像後の樹脂膜の濁りを充分に抑制することが可能であり、かつ低温での硬化が可能で、アルカリ水溶液で現像可能であるポジ型感光性樹脂組成物、並びに、該ポジ型感光性樹脂組成物を用いたレジストパターンの製造方法、かかる方法により形成されたレジストパターンを有する半導体装置、及び該半導体装置を備える電子デバイスを提供すること。
【解決手段】
(A)フェノール性水酸基を有するアルカリ可溶性樹脂と、(B)光により酸を生成する化合物と、(C)熱架橋剤と、(D)所定の構造単位を有するアクリル樹脂と、を含有するポジ型感光性樹脂組成物。
(もっと読む)
感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの製造方法、プリント配線板の製造方法、及びプリント配線
【課題】直接描画法で露光した場合に、高感度、優れたテント信頼性及び良好な剥離性を有する感光性樹脂組成物を提供すること。
【解決手段】本発明の感光性樹脂組成物は、(A)バインダーポリマー、(B)光重合性化合物及び(C)光重合開始剤を含有し、前記(C)光重合開始剤が、下記一般式(I)で表される化合物を含む。上記一般式(I)中、R1は、炭素数3〜20のシクロアルキル基を含む有機基を示し、R2及びR3は、各々独立にアルキル基又はアリール基を示し、R4は、アルキル基を示す。
【化1】
(もっと読む)
感光性樹脂組成物及びその積層体
【課題】高解像性及び高密着性でかつエッチング耐性に優れるネガ型の感光性樹脂組成物及びこれを用いた感光性樹脂積層体の提供。
【解決手段】(A)アルカリ可溶性高分子20〜90質量%、(B)エチレン性不飽和付加重合性モノマー5〜75質量%、及び(C)光重合開始剤0.01〜30質量%を含有する感光性樹脂組成物であって、該(A)アルカリ可溶性高分子が、下記一般式(I):
[式中、R1は水素原子又はメチル基を表し、そしてR2は炭素数が6〜20のアルキル基を表す。]で表される単量体単位構造を含み、該(B)エチレン性不飽和付加重合性モノマーが、分子内に少なくとも1つのエチレン性不飽和基及び少なくとも1つのイソシアヌル環構造を有するイソシアヌル環含有不飽和化合物を含む、感光性樹脂組成物。
(もっと読む)
アルカリ可溶感光性樹脂の製造方法、アルカリ可溶感光性樹脂及びLED光源
【課題】反射率が高く、しかも経時的に安定な反射率を有する白色反射膜を提供すると共に、そのような白色反射膜を有するLED光源を提供すること。
【解決手段】配線パターンが形成された基板上に、アルカリ可溶感光性樹脂及び白色顔料を含有する白色反射膜形成材料から成る白色反射膜とLEDチップ又はLEDパッケージとを有するLED光源に用いられるアルカリ可溶感光性樹脂の製造方法であって、カルボキシル基(a)を有する(メタ)アクリル系重合体(A)と、グリシジル基(b)及び(メタ)アクリル基を有する化合物(B)とを、四級ホスホニウム塩(C)の存在下にエステル化反応させる側鎖に(メタ)アクリロイル基を有する(メタ)アクリル系重合体(D)からなるアルカリ可溶感光性樹脂の製造方法。
(もっと読む)
レジスト組成物、レジストパターン形成方法、高分子化合物
【課題】レジスト組成物、レジストパターン形成方法及び高分子化合物の提供。
【解決手段】露光により酸を発生し、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)を含有するレジスト組成物であって、基材成分(A)は、式(a0−11)〜(a0−13)のいずれかの構成単位(a0−1)、露光により酸を発生する構成単位(a0−2)及びアクリル酸エステルから誘導され、酸の作用により極性が増大する酸分解性基を含む構成単位(a1)を有する樹脂成分(A1)を含有する[式中、RはH、アルキル基又はハロゲン化アルキル基であり、X1は単結合又は2価の連結基であり、W1、W2、W3は環状の飽和炭化水素基である。ただしW2はOH基を有する。R1はOH基含有飽和炭化水素基であり、pは1〜3であり、X2、X3は2価の連結基であり、R2、R3はH、アルキル基、OH基又はOH基を有するアルキル基である。]
(もっと読む)
レジスト用低分散樹脂の製造方法
【課題】優れたラインウィドゥスラフネス(LWR)を有するレジストパターンを得ることができるレジスト組成物用の樹脂の製造方法を提供する。
【解決手段】以下の工程(1)〜工程(4)を含むレジスト組成物用低分散樹脂の製造方法。工程(1):高分散樹脂と第1のケトン溶剤とを混合して、高分散樹脂及び第1のケトン溶剤からなる溶液を得る工程、工程(2):工程(1)で得られた溶液と脂肪族エーテル溶剤とを混合後、不溶分を除去して濃縮して濃縮物を得る工程、工程(3):工程(2)で得られた濃縮物を第2のケトン溶剤に溶解させる工程、工程(4):工程(3)で得られた溶液と脂肪族炭化水素溶剤とを混合後、高分散樹脂よりも分散度が小さい低分散樹脂からなる不溶分を得る工程
(もっと読む)
フォトレジスト組成物、レジストパターン形成方法、重合体及び化合物
【課題】感度等の基本特性を満足し、MEEF及びLWRを指標とするリソグラフィー性能に優れるフォトレジスト組成物、並びにこのフォトレジスト組成物を用いたレジストパターンの形成方法、上記フォトレジスト組成物に用いられる重合体、及び化合物の提供。
【解決手段】下記式(1)で表される構造単位を有する重合体、及び感放射線性酸発生体を含有するフォトレジスト組成物である。また、下記Xが、炭素数2〜4のアルカンジイル基であり、下記Zが、Xに結合する炭素原子と共に炭素数5〜8の2価の単環の脂環式基を形成する基であるとよい。
(もっと読む)
レジスト組成物及びレジストパターン形成方法
【課題】高感度で、良好な形状のパターンを形成できるレジスト組成物及びレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】酸の作用により極性が増大する構成を有する(メタ)アクリル酸エステル単位と、−SO2−含有環式基を含む(メタ)アクリル酸エステル単位及び、一般式(a5−1)で表される(メタ)アクリル酸エステル単位とを有する高分子化合物(A1)、及び露光により酸を発生する成分(B)を含有するレジスト組成物。
(もっと読む)
ネガ型現像用レジスト組成物、及びレジストパターン形成方法
【課題】リソグラフィー特性に優れたネガ型現像用レジスト組成物、及び該ネガ型現像用レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】酸の作用により有機溶剤に対する溶解性が減少する基材成分(A)、及び露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するレジスト組成物を用いて支持体上にレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、及び前記レジスト膜を、前記有機溶剤を含有する現像液を用いたネガ型現像によりパターニングしてレジストパターンを形成する工程、を含むレジストパターン形成方法に用いられるレジスト組成物であって、前記酸発生剤成分(B)が、logP値が2.7以下であり、且つ、pKaが−3.5以上である酸を発生する酸発生剤(B1)を含有することを特徴とするネガ型現像用レジスト組成物。
(もっと読む)
樹脂の製造方法
【課題】優れたラインウィドゥスラフネスを得ることができるレジスト組成物用の樹脂の製造方法を提供する。
【解決手段】式(I)及び式(II)で表される構造単位を有する樹脂の製造方法であって、式(III)で表されるモノマー及び式(IV)で表されるモノマーを重合させる第1工程と、第1工程で得られた生成物を加水分解して、−O−CO−R7を−OHにする第2工程と、を有する樹脂の製造方法。[R1及びR5はアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。R2〜R4はアルキル基又は脂環式炭化水素基を表すか、R2及びR3は結合して2価の炭化水素基を形成する。X1及びX2は単結合又は2価の連結基を表す。R7及びR8はアルキル基を表すか結合して2価の炭化水素基を形成する。]
(もっと読む)
レジスト組成物、レジストパターン形成方法、高分子化合物
【課題】リソグラフィー特性及びパターン形状に優れたレジスト組成物、該レジスト組成物によるパターン形成方法、及び該レジスト組成物用として有用な高分子化合物の提供。
【解決手段】酸の作用により現像液溶解性が変化する基材成分(A)は、式(a0−1)で表される構成単位と、アクリル酸エステルから誘導される構成単位と、酸分解性基を含む構成単位とを有する樹脂成分(A1)を含有する。[化1]
(もっと読む)
301 - 320 / 2,318
[ Back to top ]