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Fターム[4K030AA02]の内容

CVD (106,390) | 原料ガス (20,169) | 主反応ガス (14,743) | ハロゲン化物系主反応ガス (1,941)

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塩化物系 (1,481)
弗化物系 (289)

Fターム[4K030AA02]に分類される特許

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【課題】 高い結晶性及び安定した組成を有する窒化金属膜を作製する方法及び装置を提供する。
【解決手段】 ノズル12から塩素ガスを含む原料ガス及び窒素ガスを供給すると共にプラズマアンテナ9から電磁波を作用させることにより、チャンバ1内に塩素ガスプラズマ及び窒素ガスプラズマを発生させ、これらのガスプラズマで被エッチング部材7をエッチングし、Ti(チタン)成分と塩素ガスとからなる第1の前駆体及びTi成分と窒素ガスとからなる第2の前駆体を形成し、被エッチング部材7と基板3との間に温度差を設けることにより、第2の前駆体であるTiNを成膜すると共に、窒素ガスプラズマにより第1の前駆体であるTiCl4を窒化してTiNとした後に成膜するか、第1の前駆体であるTiCl4が基板3に吸着した後にこれを窒化してTiNとするか、第1の前駆体のTi成分が成膜された後にこれを窒化してTiNとすることで、基板3にTiN薄膜16を成膜する。 (もっと読む)


【課題】バリア性に優れたバリア膜を提供する。
【解決手段】真空槽内に基板を搬入して(S1)、昇温させ(S2)、含窒素ガスと含高融点金属ガスのうち、一方のガスを導入し(S3)、該一方のガスを真空排気した後(S4)、他方のガスを導入し(S5)、該他方のガスを真空排気する(S6)。この工程を複数回繰り返して行うと(S9)、基板表面に吸着された一方のガスと、後から導入された他方のガスとの間でCVD反応が生じるので、コンタクトホール内にバリア膜がコンフォーマルに成長し、ステップカバレージのよいバリア膜を得ることができる。CVD反応を行う毎にパージガスを導入し(S7)、真空排気すると(S8)、基板や真空槽に吸着された副生成物ガスや未反応ガスがパージガスと交換されるので、より高純度なバリア膜を得ることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】 複数のガスを用いて被処理基板に成膜を行う場合に、ガスの供給路で複数のガスが混合することを防止し、パーティクルの発生を抑制した安定で清浄な成膜を可能とする。
【解決手段】 被処理基板を保持する保持台を内部に備えた処理容器に、金属を含む第1の処理ガスと、当該第1の処理ガスを還元する第2の処理ガスを供給し、前記被処理基板上に前記金属を含む膜を成膜する成膜方法であって、第1のガス供給路から前記処理容器に前記第1の処理ガスを供給する第1の工程と、第2のガス供給路から前記処理容器に前記第2の処理ガスを供給し、前記処理容器に設けられたプラズマ励起手段によって当該第2の処理ガスをプラズマ励起する第2の工程と、を有し、前記第2の工程では、前記第1のガス供給路から前記処理容器に、HまたはHeよりなる逆流防止ガスが供給されることを特徴とする成膜方法。 (もっと読む)


【課題】高速原子層堆積装置及び使用方法
【解決手段】処理チャンバ(100)と、前記処理チャンバ内に設けられた基板ホルダ(120)と、前記処理チャンバ(100)に、第1のプロセスガス及び第2のプロセスガスを供給するように構成されたガス注入装置(140)とを含む、原子層堆積(ALD)を実行する処理システム(100)。前記ガス注入装置(140)は、前記第1のプロセスガス及び第2のプロセスガスを、前記処理チャンバ(100)の第1の位置及び第2の位置から導入するように構成されており、前記第1のプロセスガス及び第2のプロセスガスの少なくとも一方は、前記第1の位置と第2の位置とから、交互にかつ連続に導入される。 (もっと読む)


【課題】 成膜速度が速く、成膜時のダメージが小さい金属系膜の作製方法及び作製装置及び積層膜作製装置を提供する。
【解決手段】 圧力制御可能なチャンバ1に基板3を設置し、チャンバ1内に配設され、3d遷移金属からなる被エッチング部材10の上方から、B又はSiを含有するハロゲン系の原料ガスを供給すると共に、原料ガスのプラズマ19を発生させて、ハロゲンのラジカルを生成し、ハロゲンのラジカルにより、被エッチング部材10をエッチングして、被エッチング部材に含まれる3d遷移金属成分の前駆体20を生成し、被エッチング部材10より低い温度に制御された基板3に、前駆体20を成膜させると共に、成膜された前駆体20をハロゲンのラジカルにより還元して、基板3上に3d遷移金属、又は、B若しくはSiを含有する3d遷移金属の金属系膜を作製する。 (もっと読む)


【課題】 原子層堆積を実行するための方法およびシステムを提供することである。
【解決手段】 原子層堆積(ALD)を実行するためのプラズマ処理システムは、処理チャンバと、処理チャンバ内で提供される基板ホルダと、処理チャンバに第1のガスおよび第2のガスを供給するように構成されたガス注入システムとを具備する。システムは、処理チャンバに連続的に第1のガス流れを流し、第1の時間に処理チャンバに第2のガス流れをパルス化して流すガス注入システムを制御するコントローラを含む。コントローラは、第2の時間に基板ホルダにRF電力をパルス化する。 (もっと読む)


窒化シリコン層を形成する方法が記載される。本発明によれば、窒化シリコン層は、シリコンと窒素を含有するソースガス又はシリコン含有ソースガスと窒素含有ソースガスを低堆積温度(例えば、550℃未満)で熱分解して窒化シリコン層を形成することにより堆積される。その後、熱的に堆積した窒化シリコン層を水素ラジカルで処理して処理された窒化シリコン層を形成する。 (もっと読む)


高いガスバリア性能を持ち、環境耐久性に優れ、かつ曲げてもそのバリア性能が劣化しない透明ハイバリアフィルムが生産性良く提供される。基材の製造方法として、支持体上に少なくとも有機層および無機層を有する基材の製造方法において、前記無機層が、大気圧又はその近傍の圧力下、放電空間に薄膜形成ガスを含有するガスを供給し前記放電空間に高周波電界を印加し前記ガスを励起し基材を励起した前記ガスに晒すことで形成され、前記高周波電界は、第1の高周波電界および第2の高周波電界を重畳したものであり、前記第1の高周波電界の周波数ω1より前記第2の高周波電界の周波数ω2が高く、前記第1の高周波電界の強さV、前記第2の高周波電界の強さVと放電開始電界の強さIVとがV≧IV>VまたはV>IV≧Vを満たし、前記第2の高周波電界の出力密度が1W/cm以上であることを特徴とする基材の製造方法である。 (もっと読む)


本発明は、基材上における酸化チタンのコーティング膜の付着方法において、光化学的性質を備えた該コーティング膜が、特に該金属酸化物の少なくとも1種の有機金属前駆体及び/又は金属ハロゲン化物を含むガス混合物から、気相において化学的に蒸着され、しかもこの蒸着がプラズマ源により援助されることを特徴とする方法に関する。 (もっと読む)


【課題】 凹部への埋め込み性が良好で、長期に亘り安定した良好な電気的特性を得ることができ、さらに作製工程を可及的に低減し得る配線構造を提供する。
【解決手段】 Cu板と基板3との温度及び温度差を所定通りに制御しつつ、原料ガスであるCl2 ガスのプラズマによりCu板をエッチングすることによりCu成分とCl2 ガスとの前駆体であるCuClを形成し、この前駆体が基板3に吸着され、その後Cu成分を析出させることによりCuの薄膜を形成する成膜反応と、この成膜反応により形成されたCu膜をCl2 ガスのプラズマでエッチングするエッチング反応とを共存させるとともに、前記成膜反応の速度が前記エッチング反応の速度よりも大きくなるように制御することにより前記凹部3aにその底部から順にCu膜を積層してこの凹部3aにCuを埋め込んだ。 (もっと読む)


【課題】 処理対象となる半導体ウェハ(基板)の面内温度分布の均一性が向上されるサセプタを用いた半導体製造装置を提供する。
【解決手段】 サセプタ22上面のウェハ保持エリア50において、ウェハWとウェハ加熱面52との間に所定距離の隙間を生じるようにウェハ支持部54でウェハWを支持する。さらに、ウェハ加熱面52上に、ウェハWとの隙間の距離が小さくなる凸部58を設ける。このとき、サセプタ22からウェハWへの加熱条件がウェハ保持エリア50の各部位での隙間の距離によって調整され、これによって、ウェハW面内での温度分布の均一性、及び成膜される膜厚分布の均一性を向上させることができる。 (もっと読む)


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