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Fターム[4M112CA05]の内容

圧力センサ (26,807) | 素子の構造 (8,535) | ダイアフラム型素子 (3,345) | ダイアフラムの構造、形状 (1,085) | 結晶配向、結晶軸 (49)

Fターム[4M112CA05]に分類される特許

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【課題】基板の裏面側からエッチングすることにより、基板裏面における開口面積が基板表面における開口面積よりも小さな空洞を基板に形成することができる音響センサを提供する。
【解決手段】基板42には、その表面から裏面へ貫通するように空洞44を設ける。空洞44の上方において、基板42の上方には音響振動を感知する薄膜のダイアフラム43を設ける。空洞44の少なくとも1つの壁面は、基板42の表面とその厚み方向中間部との間において、基板42の表面から前記中間部へ向かうにつれて次第に基板42の外側へ向かって広がった第1の斜面47aと、前記中間部と基板42の裏面との間において、前記中間部から基板42の裏面へ向かうにつれて次第に基板42の内側へ向かって狭まった第2の斜面47bとで構成される。また、空洞44の裏面開口幅が表面開口幅よりも小さくなっている。 (もっと読む)


【課題】複数の基板を積層して積層体を形成する場合において、ウェーハ上にマーカーを設けることなく基板同士を位置合せして重ね合わせることが可能な積層体の製造方法を提供する。
【解決手段】圧力センサーの製造方法は、感圧素子層10、ベース層の接合面に傾斜部208、306を形成する外形形成工程と、傾斜部208、306を用いて位置合せを行いながら、感圧素子層10、ダイアフラム層20、ベース層を重ね合わせて接合面を接合剤40で接合する接合工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】圧力センサと高精度の力学量センサとが最適にモジュール化されて、各力学量センサの性能がモジュール化に伴い低下することのない安価な力学量センサ装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】圧力を検出する第1力学量センサR1の第1力学量検出部M1と第2力学量センサR2の第2力学量検出部M2とが、第1の基板10に変位可能な状態に形成され、第2の基板20が貼り合わされて第1空間K1と第2空間K2が互いに連通せずに形成されてなり、第1の基板10がSOI基板からなり、SOI層3からなる一部の半導体領域Sで第1力学量検出部M1と第2力学量検出部M2がそれぞれ構成されてなり、第2力学量検出部M2が、第2可動半導体領域S2aと第2固定半導体領域S2bの対向する面の静電容量の変化を測定して、第2力学量を検出する力学量センサ装置100とする。 (もっと読む)


【課題】圧力を正確に測定可能な圧力測定器を提供する。
【解決手段】ガラス台座201と、ガラス台座1上に配置された半導体台座2と、半導体台座2上に配置された半導体圧力センサ3と、を備え、ガラス台座201の高さh1及び半導体台座2の高さh2の和に対する、ガラス台座201の高さh1の比が、0.5乃至0.9である、圧力測定器。 (もっと読む)


【課題】この発明は、段差などを設けて勘合部保護を行い、気密封止性能が得られるセンサー素子を提供するものである。
【解決手段】主面上にダイヤフラムが構成される第1の基材と、前記第1の基材の反ダイヤフラム面側に配設される第2の基材と、前記第1の基材の前記ダイヤフラム直下に設けられるキャビティと、前記キャビティを気密封止するため前記第1の基材と前記第2の基材との接合位置に設けられる勘合部と、前記勘合部に設けられ、前記第1の基材と前記第2の基材との勘合状態を保護する段差部とを備えたものである。 (もっと読む)


【課題】圧力測定器を効率的に製造可能な圧力測定器の製造方法を提供する。
【解決手段】貫通孔11、21が設けられた台座基板101、102を用意することと、貫通孔11、21を挟むようにして、少なくとも二つの切り込み溝111を、台座基板101、102の底面に、第1の刃を用いて形成することと、台座基板101、102の上面に、ダイアフラム30を備えるセンサウェハ103を、ダイアフラム30が貫通孔11、21を覆うように接合することと、接合されたセンサウェハ103及び台座基板101、102を、台座基板101、102の少なくとも二つの切り込み溝111の上方から、第1の刃より薄い第2の刃を用いて、切断することと、を含む、圧力測定器の製造方法。 (もっと読む)


【課題】スパークによる接合強度の低下を抑制するとともに、ゲル部材の変形による応力がダイアフラムに作用するのを効果的に抑制することのできる圧力センサを提供する。
【解決手段】圧力伝達路(33,43)におけるゲル部材との接触部分の開口面積は、センサチップ搭載面(31)側の端部で最小、ダイアフラム(23)から最も離れた部分で端部の開口面積よりも大きく且つ最大とされ、任意位置の開口面積が、該任意位置よりもダイアフラム(23)に近い位置の開口面積以上とされている。支持部材(12)は、第1圧力伝達路(33)を備え、接着材(50)を介してセンサチップ搭載面(31)にセンサチップ(11)が固定された第1支持部材(30)を有する。第1圧力伝達路(33)におけるゲル部材との接触部分の開口面積は、ダイアフラム(23)から最も離れた部分のほうが、センサチップ搭載面(31)側の端部よりも大きくされている。 (もっと読む)


【課題】主にMEMS技術を利用してダイアフラムを形成したセンサーの機能を有する半導体チップ構造の小型化を行う。
【解決手段】半導体チップは、平面視形状が多角形状をし、外周部のスクライブライン領域の内側に存在する有効領域17の中央にセンサー機能を有し、有効領域17内の2つの頂角の内側に電極パッド21,23が設けられており、ボンディング可能な大きさの正方形状の仮想電極パッドを頂角に最も近づけて形成すると仮想し、頂角の頂点31と、仮想電極パッドにおける頂点31から最も離れた位置との距離をLsとし、頂角の角度を2θとするとき、電極パッド21,23は、半径Rの円形状をし、半径Rは、R<Ls/(1+(1/sinθ))である。 (もっと読む)


【課題】基板から半導体素子への応力を十分に吸収することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の一態様にかかる半導体装置10は、基板11と、基板11の表面に形成された第1弾性体14と、第1弾性体14の表面に形成された第2弾性体13であって、第1弾性体14よりも弾性率が小さい第2弾性体13と、第2弾性体13により第1弾性体14に固着された半導体素子12とを備える。 (もっと読む)


【課題】センサ部を片持ち支持してなる圧力センサにおいて、外部温度の変化によって、圧力の検出精度が低下することを抑制することができる圧力センサを提供する。
【解決手段】ダイヤフラム24を外形輪郭線が長手方向と垂直に交差する一辺24aを一端21側に有する形状とし、複数のピエゾ抵抗素子25a〜25dをダイヤフラム24のうち一辺24aの中点周りの領域外に形成する。このような圧力センサでは、ピエゾ抵抗素子25a〜25dはダイヤフラム24のうち一辺24aの中点周りの領域外に形成されているため、ピエゾ抵抗素子25a〜25dに印加される熱応力の差分を低減することができ、圧力検出精度が低下することを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体圧力センサの小型化に伴う性能のばらつきを抑制することが可能な技術を提供することを目的とする。
【解決手段】半導体圧力センサの製造方法は、ポリシリコンダイヤフラム6と、その下方の真空室となるべき空間13側に形成されたポリシリコンゲージ抵抗4bと、これらを内包し、犠牲層16と接するエッチング液導入孔15を有する絶縁膜群3,5,7とを含む積層構造を、犠牲層16上に形成する。そして、エッチング液を前記エッチング液導入孔15に通じて、犠牲層16をエッチングすることにより積層構造を真空室上で機能するダイヤフラム体11として形成するとともに、シリコン基板1における第1絶縁膜2の第1開口2a下の表面をエッチングすることにより真空室となるべき空間13と、当該空間13中に配置され、ダイヤフラム体11の中央付近に向かって突出するダイヤフラムストッパー12とを形成する。 (もっと読む)


【課題】SON構造の半導体装置において、フォトリソグラフィー工程で高精度の位置合わせができ、プロセスラインの汚染を防止することができて、素子特性の劣化が防止され、信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】SON構造9上部のシリコン層32の段差18をアライメントマーク20として用いることによって、アライメントマーク20の形状崩れが防止されて、フォトリソグラフィー工程で高精度の位置合わせができるようになる。また、段差18が小さいためにフォトリソグラフィー工程で凹部へのレジストの残留やプロセス途中で発生するゴミの残留が防止され、プロセスラインの汚染が防止できる。その結果、素子特性の劣化が防止され、信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】レーザ光の照射を利用したエッチング加工による半導体装置の製造方法であって、複雑形状や深くて大きい除去領域等のエッチング加工が必要な広範囲の半導体装置の製造に適用可能で、高いエッチング速度が得られる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】単結晶シリコンからなる基板10に対して、焦点位置を移動させてレーザ光Lをパルス照射し、前記単結晶シリコンを部分的に多結晶化して、前記単結晶シリコン中に連続した改質層11を形成する改質層形成工程と、前記改質層11をエッチングして除去するエッチング工程と、を備える半導体装置の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】ダイヤフラムの厚さのばらつきを抑制することのできる圧力センサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】異方性エッチングによって第1凹部13が形成された一面11を有する第1基板10と、第1凹部13が密閉空間となるように第1基板10の一面11に接合された一面21を有する第2基板20と、を備え、第1凹部13を測定媒体の圧力に応じて変形可能な側面を有するものとする。そして、第1基板10に、側面の変形に応じて抵抗値が変化するゲージ抵抗40を設ける。 (もっと読む)


【課題】突起を形成するための追加の工程を必要としない容量型MEMSセンサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】可動部を構成するダイアフラム膜13上に、犠牲層14と固定電極15を積層形成する。固定電極には貫通孔17を形成し、この貫通孔から等方性のエッチングを行う。その結果、貫通孔から最も遠い位置のダイアフラム膜上に、犠牲層の一部を残すことができる。この犠牲層の一部を突起21として利用し、可動部と固定電極とが貼り付くことを防止する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体圧力センサ及びその製造方法に係り、ダイヤフラム上でのシリコン酸化膜による段差部分への応力集中を低減することを目的とする。
【解決手段】半導体基板の開口部に形成されるダイヤフラムと、ダイヤフラム上に配置され、該ダイヤフラムの撓みに応じた検出信号を出力する歪ゲージと、を備える半導体圧力センサにおいて、ダイヤフラム上におけるシリコン酸化膜による段差部を、該段差部側面の面外方向が、該ダイヤフラムの段差部位において生じる最大応力の方向との間で垂直関係にありかつダイヤフラム面との間で平行関係にあるように形成する。 (もっと読む)


【課題】MEMS素子が実装基板から応力を受け、その結果、MEMSデバイスの感度低下又は感度バラツキを引き起こす。
【解決手段】MEMSデバイスでは、MEMS素子100が実装基板201に実装されている。MEMS素子100では、シリコン基板101の下面101Bには突起物106が形成されている。突起物106と実装基板201とは接着剤202を介して接続されている。 (もっと読む)


【課題】小型で高性能な圧力センサを提供する。
【解決手段】センサチップ10と、センサチップ10の中央部に設けられた差圧用ダイアフラム4と、差圧用ダイアフラム4に設けられた差圧用ゲージ5と、差圧用ダイアフラム4の外周部に設けられた静圧用ダイアフラム17と、静圧用ダイアフラム17の端部に形成された第1の静圧用ゲージ16dと、静圧用ダイアフラム17の中央部に形成された第2の静圧用ゲージ15bと、を備えた圧力センサである。 (もっと読む)


【課題】小型で高性能な圧力センサを提供する。
【解決手段】センサチップ10と、センサチップ10の中央部に設けられた差圧用ダイアフラム4と、差圧用ダイアフラム4の第1の端辺上に設けられ差圧用ダイアフラム4の中心に対する径方向に沿って形成された第1の差圧用ゲージ5cと、差圧用ダイアフラム4の第1の端辺上において第1の差圧用ゲージ5cの近傍に設けられ径方向と垂直な周方向に沿って形成された第2の差圧用ゲージ5aと、差圧用ダイアフラム4の外側に設けられ差圧用ダイアフラム4の第1の端辺を除く他の端辺の何れかとセンサチップ10の端部との間に配置された静圧用ダイアフラム17と、を備える圧力センサである。 (もっと読む)


【課題】PN接合部によって容量検出特性が不安定にならないようにすることができる力学量検出装置を提供する。
【解決手段】絶縁層200の一面201に、対向配置された2つのダイヤフラム341、342を含む中空筒状の第1壁部340と第1壁部340の開口部346を閉じる第1蓋部321とを有する第1電極301を設ける。また、絶縁層200の一面201に、対向配置された2つのダイヤフラム351、352を含む中空筒状の第2壁部350と第2壁部350の開口部356を閉じる第2蓋部322とを有する第2電極302を設ける。そして、第1壁部340の一方のダイヤフラム341と第2壁部350の一方のダイヤフラム351とを対向配置させる。これにより、各電極301、302が絶縁層200の上で電気的に分離されるので、各壁部340、350の各ダイヤフラムに電極として機能させるための半導体領域が不要となる。 (もっと読む)


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