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Fターム[4M112DA06]の内容

圧力センサ (26,807) | 製造工程 (5,073) | 素子本体の製造工程 (5,065) | CVD (331)

Fターム[4M112DA06]に分類される特許

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【課題】 容量型機械電気変換素子において、大面積かつ狭電極間隔(ギャップ)の犠牲層エッチング速度を高速かつ安定にでき、アレイ素子の生産性(均一性、歩留まり)を向上する。
【解決手段】 基板と、該基板上に配置された支持部によって基板と所定の間隔を保って保持される振動膜から形成されるキャビティと、表面がキャビティに露出した第1の電極と、キャビティに面する表面が絶縁膜で覆われた第2の電極とを有し、第1の電極は基板の表面または振動膜の下表面に設けられ、第2の電極は第1の電極と対向して振動膜の表面または基板表面に設けられた容量型機械電気変換素子であって、
第1の電極の表面にその第1の電極を形成する物質の酸化膜からなる微粒子が配置され、この微粒子の直径が2nmから200nmの範囲であることを特徴とする容量型機械電気変換素子、およびその製造方法を提供する。 (もっと読む)


面外(または、垂直)サスペンション方式を使用するMEMS質量-バネ-ダンパシステム(MEMSジャイロスコープおよび加速度計を含む)であって、サスペンションがプルーフマスに対して垂直であるMEMS質量-バネ-ダンパシステムが開示される。そのような面外サスペンション方式は、そのようなMEMS質量-バネ-ダンパシステムが慣性グレード性能を達成するのを助ける。MEMS質量-バネ-ダンパシステム(MEMSジャイロスコープおよび加速度計を含む)において面外サスペンションを製造する方法も開示される。

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【課題】基板のダイシングされる部分にアンダーカットを発生させることなくセンサチップを製造するセンサチップの製造方法を提供する。
【解決手段】センサチップ100の製造方法は、以下の工程を備えている。第1主表面1aを有する基板1が準備される。第1主表面1a上に第1の膜2aが形成される。第1の膜2a上に第1の膜2aとは異なる材質からなる絶縁膜3(第1絶縁膜)が形成される。絶縁膜3(第1絶縁膜)上に導電性の抵抗部4が形成される。抵抗部4が形成されていない絶縁膜3(第1絶縁膜)の部分がエッチングされて開口部6が形成され第1の膜2aが露出される。開口部6から露出された第1の膜2aがエッチングされて基板1の第1主表面1aが露出される。開口部6から露出された基板1の部分が切断される。 (もっと読む)


【課題】2枚の基板が一体化されたものに外力が加わっても、接合界面における密着力の低下を抑制することができる構造を備えた半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】センサ部10とキャップ部20との積層体に、センサ部10とキャップ部20との界面40を貫く凹部41を設け、この凹部41内に封止部材として絶縁膜42および封止用外周金属層43を設ける。これによると、凹部41に配置された封止部材42、43が盾となるので、凹部41よりも内側の界面40に外力が直接伝わらない。したがって、センサ部10とキャップ部20との密着力の低下が抑制される。 (もっと読む)


【課題】小型かつ高性能の圧力センサを提供する。
【解決手段】本発明の圧力センサ30は、開口部1aを有する第1半導体層1と、第1半導体層1上に形成され、ダイアフラム4となる凹部12を有する第2半導体層3と、を有するセンサチップ10と、開口部1aに連通する圧力導入孔17を有し、センサチップ10に接合される台座11と、を備える。第2半導体層3の凹部12が、第1半導体層1の開口部1aよりも大きくなっている。第1半導体層1の開口部1aは、第2半導体層3側の開口径が、台座11側の開口径よりも大きくなっている。 (もっと読む)


【課題】 信頼性の高い加速度センサを提供する。
【解決手段】
固定部と、前記固定部に対して変位可能な錘部と、第1端が前記固定部に、第2端が前記錘部に接続される梁部と、前記梁部に配置され、前記梁部の撓みに応じて抵抗値が変化する抵抗素子と、前記抵抗素子の抵抗値を外部回路に接続するための導体層であって、前記抵抗素子に電気的に接続され、前記錘部の変位によりかかる応力が前記抵抗素子よりも小さい位置に配置された接続部と、前記接続部から延び、前記抵抗素子と異なる厚み位置に広がる面に配置される配線部と、を有する導体層と、を含む加速度センサ。 (もっと読む)


【課題】静電容量を含むMEMSセンサーにおいて、可動電極部の面積と可動錘部の質量の設計に関して、さらに好ましくはバネ特性の設計に関して、MEMSセンサーの設計の自由度を向上させること。
【解決手段】基板上に形成される多層の積層構造体を加工して製造されるMEMSセンサーは、基板に形成された固定枠部110と、弾性変形部130を介して固定枠部に連結され、周囲に空洞部が形成された可動錘部120と、固定枠部より空洞部に向けて突出形成された固定電極部150と、可動錘部と一体的に移動し、固定電極部と対向する可動電極部140と、を有し、可動錘部120は、多層の積層構造体により形成される第1可動錘部120Aと、第1可動錘部の下方に位置し、前記基板の材料にて形成される第2可動錘部120Bと、を含む。 (もっと読む)


【課題】プロセスの簡略化および静電引力の対策をともに行って、安価でありかつ高性能な半導体センサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板11の長方形状のソース部・ドレイン部の中央を分断するように溝部17を設け、この溝部17の両側の側壁17a,17bに第1,第2の半導体層13,14を形成するという簡易プロセスで製造可能な構造を採用した。この構造では第1,第2の半導体層13,14が底面方向に薄く、可動ゲート電極15の底面方向の厚みも減らして溝部17の底面方向隙間17fを確保し、可動ゲート電極15に対する底面方向への静電引力の影響を受けにくくしている。また、可動ゲート電極15に対する側壁間方向の静電引力も相殺している。従って可動ゲート電極15への不要な力を除去して感度を向上させる。 (もっと読む)


【課題】プロセスの簡略化および静電引力の対策をともに行って、安価でありかつ高性能な半導体センサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板11の三層の半導体層の中央を分断する溝を設けて第1,第2の半導体層13,14を形成するという簡易プロセスで製造可能な構造を採用した。さらに空間部17の底方向隙間17fを確保し、可動ゲート電極15に対する底方向への静電引力の影響を受けにくくしている。また、可動ゲート電極15に対する側壁間方向の静電引力も相殺している。従って、可動ゲート電極15への不要な力を除去して感度を向上させる。 (もっと読む)


【課題】可動錘部の質量を効率的に増大させることができ、また、物理量を高精度で検出可能であり、また、多層配線を使用するCMOSプロセスを用いて、自在かつ容易に製造することが可能なMEMSセンサー(例えば静電容量型加速度センサー)を提供する。
【解決手段】弾性変形部130を介して固定枠部110に連結され、周囲に空洞部111,112が形成された可動錘部120を有するMEMSセンサー100Aにおいて、可動錘部120は、複数の導電層121A〜121Dと、複数の導電層間に配置された複数の層間絶縁層122A〜122Cと、複数の層間絶縁層の各層に貫通形成された所定の埋め込み溝パターンに充填され、層間絶縁膜よりも比重が大きいプラグ123A〜123Cと、を含む積層構造体を有し、各層に形成されたプラグは、一または複数の長手方向に沿って壁状に形成された壁部を含む。 (もっと読む)


【課題】 静電容量を含むMEMSセンサーにおいて、可動電極部の面積、可動電極部のダンピング係数、可動錘部の質量、バネ特性の設計に関して、MEMSセンサーの設計の自由度を向上させること。
【解決手段】 基板上に形成される多層の積層構造体を加工して製造されるMEMSセンサーにおいて、可動錘部120は、積層構造体からなる第1可動錘部120Aの下方に位置し、基板の材料にて形成される第2可動錘部120Bを含み、可動電極部140は、積層構造体からなる第1可動電極部140Aの下方に位置し、基板の材料にて形成される第2可動電極部140Bを含み、弾性変形部130は、積層構造体からなる第1弾性変形部130Aの下方に位置し、基板の材料にて形成される第2弾性変形部130Bを含む。 (もっと読む)


【課題】耐衝撃性に優れた加速度センサーを得ること。
【解決手段】固定電極41と可動電極21との間の距離が変化するX軸方向の加速度印加時において、固定電極41と可動電極21との間隙70に存在する気体の流れは、対向面に形成された一方向に向かって延びる凸部43によって一方向への流れが発生する。この気体の流れによるスクイーズフィルムダンピングにより、大きな減衰定数cを得ることができる。したがって、可動部20と支持体10との間隔を狭くすることなく、固定電極41と可動電極21との間隙70の構造によって減衰定数cの調節を可能にでき、可動部20と支持体10との衝突破壊が低減した耐衝撃性の優れた加速度センサー100を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】キャップ部の剛性確保とキャップ部に設けられた貫通電極の平面サイズを小さくすることとを両立する。
【解決手段】各凹部21a、21bの各底部21c、21dの一部に溝部30を設け、この溝部30に配線部24を設ける。また、溝部30の底面31よりも小さいサイズの貫通孔32内に、配線部24に接触すると共に電気的に接続された貫通電極25を設ける。これによると、キャップ部20に溝部30が設けられたことにより、キャップ部20において貫通孔32が形成される部位の厚みが小さくなるので、貫通孔32の平面サイズを小さくすることができる。また、溝部30によりキャップ部20のうち貫通孔32が形成される部位のみを薄くしているので、キャップ部20のうち貫通孔32が形成されない部分の厚みを維持でき、ひいてはキャップ部20の剛性を確保できる。 (もっと読む)


【課題】厚みが薄く、しかも、その厚みのばらつきが少ないダイヤフラムを備えた半導体圧力センサと、その製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板1の第1主表面上には、ポリシリコン膜55からなるダイヤフラム5が形成され、そのダイヤフラム5の上面には、4つのゲージ抵抗7が形成されている。シリコン基板1には、ダイヤフラム5の裏面を露出する貫通穴30が形成されている。ダイヤフラム5とシリコン基板1との間には、ダイヤフラム5をシリコン基板1に据え付けるためのアンカー部20が、貫通穴30の第1主表面側の開口端を周方向から取り囲むように形成されている。 (もっと読む)


【課題】高精度にエッチングすることができるとともに複数の基板をエッチングする際のエッチングのバラツキを低減することのできる加速度センサの製造方法及びその製造方法で製造された加速度センサを提供する。
【解決手段】SOI基板の上下両面において各固定電極20a〜20dと各可動電極40,41との間の距離を規定する深さ寸法の第1の凹所101a、及び各可動電極40,41の変位スペースを確保するための第2の凹所101bに該当する箇所を除いた箇所にマスク材料100を形成する工程と、第1の凹所101a及び第2の凹所101bに該当する箇所に不純物をドーピングして高濃度不純物層104を形成する工程と、高濃度不純物層104を選択エッチングにより除去する工程を経て第1の凹所101a及び第2の凹所101bを形成する。 (もっと読む)


【課題】 可動部と支持基板の固着が長期に亘って防止されるマイクロデバイスを提供する。
【解決手段】 マイクロデバイスは、支持基板と、支持基板に隙間を介して対向しているとともに、支持基板に対して相対変位可能に支持された可動部を備えている。支持基板と可動部の互いに対向する表面の少なくとも一方には、少なくとも一つの突起が設けられている。そして、各々の突起には、その突起が設けられた支持基板又は可動部の内部へ伸びる基礎部が、一体に設けられている。 (もっと読む)


感知素子が加圧媒体から電気的及び物理的に隔離されたような圧力センサを提供する。絶対圧力センサは、真空又は零圧力にあって感知素子を包囲する基準空洞を有する。基準空洞は、微細加工ダイヤフラムを有するゲージウエハに、凹みキャップウエハを結合させることにより形成される。感知素子は、ダイヤフラムの第1の側部に配置される。加圧媒体は、感知素子が配置されている第1の側部とは反対側のダイヤフラムの第2の側部に接近する。ゲージウエハの構造的支持及び応力除去のために、スペーサーウエハを使用することができる。一実施形態では、感知素子から基準空洞の外へ電気接続を引き出すために、垂直ウエハ貫通導電性ビアが使用される。別の実施形態では、感知素子から基準空洞の外へ電気接続を引き出すために、ゲージウエハ上の周辺結合パッドが使用される。 (もっと読む)


【課題】耐衝撃性に優れ、加速度の検出特性の低下が抑えられた加速度センサーを得ること。
【解決手段】固定電極41および可動電極21以外にダンピング用構造体80を設けるので、固定電極41と可動電極21との電極間間隙70を狭くすることなく、ダンピング用構造体80によってダンピングの調整ができる。したがって、可動部20と支持体10との衝突破壊が低減して耐衝撃性に優れ、固定電極41と可動電極21との衝突を避けながら加速度の検出が可能な、加速度の検出特性の低下の少ない加速度センサー100を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】耐湿性等の信頼性を向上させたコンデンサを提供する。
【解決手段】コンデンサは、半導体基板100の貫通孔123を覆うように形成された第1の膜102と、第1の膜102の上方に第1の膜102と対向するように形成された第2の膜115とを備えている。第2の膜115は、半導体基板100の貫通孔123上に位置する複数の第1の孔124と、複数の第1の孔124よりも開口面積が大きい少なくとも1つの第2の孔126とを有している。第2の孔126は、第1の膜102のうち貫通孔123に露出した部分よりも外側の部分と対向する領域のみに存在している。 (もっと読む)


【課題】小さい電圧で自己診断を行う加速度検出装置を提供する。
【解決手段】加速度検出装置1は、可撓部を有する基板5と、基板5に接続され、金属からなる導電部を有する重り部7と、を有し、可撓部の撓みに応じて加速度を検出する加速度検出素子3と、重り部7と所定の間隔を隔てて設けられた固定電極20と、を備え、
貫通導体6を介して重り部7に電圧を印加することにより、重り部7と固定電極20との間に静電引力が働くようにして自己診断をおこなう。 (もっと読む)


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