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Fターム[4M112DA06]の内容

圧力センサ (26,807) | 製造工程 (5,073) | 素子本体の製造工程 (5,065) | CVD (331)

Fターム[4M112DA06]に分類される特許

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【課題】小さい電圧で自己診断を行う加速度検出装置を提供する。
【解決手段】加速度検出装置1は、可撓部を有する基板5と、基板5に接続され、金属からなる導電部を有する重り部7と、を有し、可撓部の撓みに応じて加速度を検出する加速度検出素子3と、重り部7と所定の間隔を隔てて設けられた固定電極20と、を備え、
貫通導体6を介して重り部7に電圧を印加することにより、重り部7と固定電極20との間に静電引力が働くようにして自己診断をおこなう。 (もっと読む)


【課題】耐衝撃性能が高く薄いMEMSセンサを提供する。
【解決手段】枠形の支持部Sの内側に位置する錘部Mと、支持部と錘部に連結され錘部の運動に伴って変形する可撓部Fと、前記錘部の運動範囲を制限するストッパ部とを備えるMEMSセンサの製造方法であって、SOIウエハのベース層をエッチングし、ベース層を前記支持部と錘部とに分断する溝Tを形成する工程と、該溝の内外にかかる位置において前記SOI層を貫通し、かつ前記溝の外側において上昇ストッパ部30aが形成されるように、SOIウエハのSOI層および絶縁層をエッチングする工程と、前記上昇ストッパ部内にストッパ層を形成する工程と、前記ストッパ層と錘部との間に空隙G2が形成されるとともに、それにより前記錘部の運動範囲を制限する上昇ストッパ部としての機能が前記ストッパ層に顕在化するように前記絶縁層を等方性エッチングする工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】キャップ部とセンサ部との接合不良や導通不良が起こらないようにすることができる構造を備えた半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】Alの第2配線層25の上にGeの導体層60を形成し、該導体層60を第2配線層25とセンサ部10の配線層14とで挟んだ状態で加熱する。これにより、導体層60を溶かして第2配線層25の一部と導体層60とを共晶合金化させると共に、配線層14と導体層60とを共晶合金化させる。溶けた導体層60は、第2配線層25の表面の凹凸および配線層14の表面の凹凸を埋めると共に、第2配線層25の表面と導体層60との間の空間、および配線層14の表面と導体層60との間の空間が無くなるように両者を共晶接合するので、第2配線層25と配線層14との接合面積の低下を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】ハウジング内に配置されるセンサチップの配線部を測定媒体に曝すことなくハウジングの配線部に容易かつ確実に接続し得るセンサ装置の製造方法およびセンサ装置を提供する。
【解決手段】中空部11aが形成される略円筒状のハウジング11に対して、この中空部11a内に環状凸部15を形成するとともにこの環状凸部15の第1環状面15bに絶縁膜16を介して各ハウジング側配線部17を形成する。そして、センサチップ20に対して、各配線27の一部である露出配線部27aを一側面20bのうち外縁を除く部位にて露出するように形成する。そして、センサチップ20を、一側面20bの外縁にて第2環状面15cに接合してハウジング11の中空部11a内に配置する。そして、各露出配線部27aおよび各ハウジング側配線部17を電気的に接続する電極30を両配線部27a,17上にそれぞれ蒸着(堆積)させる。 (もっと読む)


【課題】モット絶縁体であるペロブスカイト型酸化物の絶縁体相−金属相間の相転移を容易に誘起することができるペロブスカイト型酸化物の相転移誘起方法を提供する。
【解決手段】本発明のペロブスカイト型酸化物の相転移を誘起するための相転移誘起方法は、絶縁体相にあるペロブスカイト型酸化物に、これまでの数kV/cmよりも2桁低い40V/cm〜80V/cm程度の電場を印加することで、絶縁体相にあるペロブスカイト型酸化物を金属相に相転移させると共に、電場の印加により金属相に相転移したペロブスカイト型酸化物を冷却させることで、常磁性金属相にあるペロブスカイト型酸化物を強磁性金属相に相転移させる。 (もっと読む)


【課題】センシング部を複数の基板で封止した半導体装置において、基板の平面方向に配線を設けたとしても、配線のレイアウトを簡略化することができる構造、およびその製造方法を提供する。
【解決手段】センサ部100とキャップ部300との積層方向において配線部120、122が形成された階層とは異なる階層であるキャップ部300の他面302にクロス配線322を配置している。また、第1貫通電極306によってクロス配線322と配線部120とを接続し、第2貫通電極307によってクロス配線322と配線部122とを接続している。このため、キャップ部300の他面302にはクロス配線322を迂回させる構造がないので、クロス配線322のレイアウトを簡略化することができる。 (もっと読む)


【課題】耐衝撃性能が高く薄いMEMSセンサを提供する。
【解決手段】枠形の支持部と、前記支持部に結合している梁形の可撓部と、前記可撓部に結合し前記支持部に対して運動することによって前記可撓部を変形させる錘部と、前記錘部の運動範囲を制限するストッパ部とを備えるMEMSセンサの製造方法であって、単結晶シリコンからなるベース層の表面に導電型が前記ベース層と異なるエピタキシャル結晶層からなる犠牲層を形成し、前記犠牲層をエッチングすることによって前記犠牲層から前記ベース層を一部露出させ、前記犠牲層と前記ベース層の表面に導電型が前記ベース層と一致するエピタキシャル結晶層からなる非平坦層を形成し、前記ストッパ部と前記錘部との間に空隙を形成し、前記空隙を形成することによって、前記錘部の運動範囲を制限する前記ストッパ部としての機能を前記非平坦層に顕在化する、ことを含むMEMSセンサの製造方法。 (もっと読む)


【課題】キャップのハンドリングを向上させることができる半導体装置の製造方法を提供することを第1の目的とし、半導体装置のサイズを小さくすることが可能な構造を提供することを第2の目的とする。
【解決手段】予めキャップウェハ50にトレンチ53、絶縁膜25b、埋め込み電極54を形成し、センサウェハ40とキャップウェハ50とを接合する。キャップウェハ50に形成したイオン打ち込み層55を劈開面として該劈開面よりもキャップウェハ50の裏面52側を引き剥がし、トレンチ53を貫通孔25aとし、埋め込み電極54を貫通電極25cとする。これによると、キャップウェハ50は薄くされておらず、貫通孔25aも設けられていないので、キャップウェハ50のハンドリングを向上できる。また、キャップ部20に貫通電極25cを設けたことでセンサ部10の一面10aの面方向のサイズを小さくできる。 (もっと読む)


【課題】可動部の運動範囲を規制するストッパ基板部と可動部との空隙の幅を精度よく調整することができなかった。
【解決手段】支持部と、前記支持部に支持され前記支持部に対して運動する可動部と、を有する構造体と、前記構造体の前記支持部の底面が接合される平坦な接合面と、前記可動部と対向する領域において底部が前記接合面より後退している凹部と、を有するストッパ基板部と、前記ストッパ基板部の材料に対してエッチング選択性を有する材料からなり、前記凹部を前記接合面よりも後退した位置まで満たすことによって前記可動部の底面と予め決められた所定距離で対向する距離調整部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】キャップ部の配線層とセンサ部との接合不良や導通不良が起こらないようにすることができる構造を備えた半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】キャップ部20に第2配線層25を形成し、該第2配線層25を配線部25aと気密封止部25bとにパターニングする。そして、配線部25aおよび気密封止部25bに配線部25aおよび気密封止部25bよりも硬く、高さが揃った複数の支柱部27を設けた後、配線部25aおよび気密封止部25bの各表面を平坦化する。これにより、各支柱部27よりも配線部25aや気密封止部25bが一方的に削れてしまうことを防止し、配線部25aおよび気密封止部25bの各表面を均一に平坦化する。 (もっと読む)


【課題】MEMSセンサの錘部の厚さを均一化する。
【解決手段】支持部と、環状の錘部と、前記錘部の内周面に結合し前記錘部を貫通し上端部が前記錘部の上面から突出している連結部と、前記連結部の上端部に一端が結合し、前記支持部に他端が結合し、空隙を挟んで底面が前記錘部の上面と対向し、前記錘部の運動に伴って変形する可撓部と、前記錘部の運動に伴う前記可撓部の変形を検出する検出手段と、を備え、前記錘部の底面の内側に露出している前記連結部の底面の表層と前記錘部の前記底面の表層とは互いに異なる材料からなる、MEMSセンサ。 (もっと読む)


【課題】製造工程の増大が抑制され、且つ振動子間の静電容量が安定した半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板10の上面に形成された凹部100内に自由端が延在し、半導体基板10に固定端が固定された梁型の振動子21、22を備える半導体装置1の製造方法であって、半導体基板10の上面の一部をエッチングして、振動子21、22の側面を露出させると同時に、振動子22と半導体基板10間の絶縁分離領域30が形成される分離溝を形成するステップと、分離溝の表面を熱酸化して、分離溝を酸化膜で埋め込んだ絶縁分離領域30を形成するステップと、振動子21、22の側面を熱酸化して、側面保護膜を形成するステップと、側面保護膜をマスクにした半導体基板10のエッチングにより振動子21、22の下面を露出させて、半導体基板10に形成された凹部100内に配置された振動子21、22を形成するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】振動子を備えた半導体装置において、振動子のキャップ側と支持基板側とのダンピングの効果を均一にすることにより振動子の不要振動を低減する。
【解決手段】キャップ部20は、第2シリコン層12の面方向に振動子16が移動する領域に対向する位置にダミーパターン26を備えている。これによると、振動子16とダミーパターン26との間の間隔が、第2シリコン層12と振動子16との間の一定の間隔と同じになるので、振動子16のキャップ部20側の封止媒体41によるダンピング効果と第2シリコン層12側の封止媒体41によるダンピング効果とを均一にすることができる。 (もっと読む)


【課題】可撓性変換器ユニットを製造するための新規な方法を提供する。
【解決手段】複数の変換器構造体を含むウェハーから、可撓性変換器ユニットを製造する方法に関するものであり、変換器構造体が、基板1と、金属−酸化物層10と、金属−酸化物層10における少なくとも1個のメッシュ構造体4と、金属−酸化物層10に少なくとも1個の第1コンタクトパッド3を有する電線2とを備える。本製造方法は、メッシュ4を解放するために金属−酸化物層10をエッチングする工程と、メッシュ4上に密封層7を形成する工程と、金属−酸化物層10上に第1可撓性材料層8を形成する工程と、変換器構造体を十分可撓性のあるものにするにはために基板1のかなりの厚さを除去する工程とを含む。また、メッシュを解放する前に、第1可撓性材料層8を形成してもよい。さらに、ウェハーの裏側に第2可撓性層9を形成する工程を有してもよい。 (もっと読む)


【課題】 小型化を図りつつ感度向上を図ることができるマイクロフォンの提供。
【解決手段】マイクロフォンは、ベース基板31に形成された空所311上に架け渡されている第1の梁23と、弾性部材23bを介して第1の梁23により弾性支持され、空所311内にてベース基板面に対して垂直に配置されている振動板21と、ベース基板31の空所311上に架け渡されている第2の梁24と、第2の梁24により支持され、空所311内にて振動板21に隙間を介して対向配置されている固定電極22とを、ベース基板31に複数配置した。そのため、振動板21および固定電極22の面積を従来よりも大きくすることが可能となり、マイクロフォンの小型化を図りつつ、感度向上を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】ダメージを生じさせることなく、安価かつ短時間に犠牲層を除去する犠牲層プロセスを採用し、量産性を向上させる可動ゲート型電界効果トランジスタの製造方法を提供する。
【解決手段】第1犠牲層15と、第2犠牲層16と、を有する複合犠牲層の上に可動ゲートが形成される可動ゲート形成工程と、第2犠牲層16がエッチング除去される第2犠牲層除去工程と、第1犠牲層15がエッチング除去される第1犠牲層除去工程と、を備える可動ゲート型電界効果トランジスタの製造方法とした。 (もっと読む)


【課題】 特に、従来に比べて簡単な構成で検知精度を向上させることが可能な物理量センサ及びその製造方法を提供することを目的としている。
【解決手段】 高さ方向に移動可能に支持された可動部と、前記可動部の変位を静電容量変化に基づき検知するための第1検知部及び第2検知部と、を有しており、前記第1検知部及び第2検知部は共に平面的に交互に並設された可動電極と固定電極とで構成され、前記可動電極は前記可動部に一体に形成され、前記固定電極は前記可動電極とは分離して形成されており、例えば、前記第1検知部を構成する第1可動電極47aが、前記第1検知部を構成する第1固定電極51aに対して、及び、前記第2検知部を構成する第2固定電極53aが、前記第2検知部を構成する第2可動電極47bに対して、共に、上方向に反らされている。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的はセンサ特性の低下を抑え、かつ簡単な構成で加速度センサの耐衝撃性を向上させることにある。。
【解決手段】 本発明に係る加速度センサは、フレーム部と、前記フレーム部の内側に位置する錘部と、前記フレーム部と前記錘部とを接続する可撓部と、前記可撓部及び/又は前記フレーム部に配置された複数の歪検出部と、前記フレーム部上に配置された複数の電極パッドと、前記可撓部及び前記フレーム部上に配置され、前記歪検出部同士の間または前記歪検出部と前記電極パッドとの間を接続する配線部と、を備え、前記歪検出部と前記電極パッドの間を接続する配線部のいずれかは、第1の折返し部と第2の折返し部とを含む複数回の折返し形状を有し、前記第1の折返し部は前記フレーム部上に位置し、前記第2の折返し部は前記可撓部上に位置することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 特に、従来に比べて、簡単な構造にて、センサの薄型化と電気的安定性等とともに質量部の質量を効果的に大きくすることが可能なMEMSセンサ及びその製造方法を提供することを目的としている。
【解決手段】 シリコンで形成され高さ方向にて対向配置された第1の基板1及び第2の基板2を有し、前記第1の基板1には、質量部4及び、前記質量部4と接続されるアンカ部5が形成されており、前記アンカ部5は、前記第2の基板2に固定支持されており、前記質量部4と前記第2の基板2の間には空間6が設けられており、前記質量部4の内部には、前記シリコンよりも比重が大きい金属7が埋め込まれている。 (もっと読む)


【課題】複数の半導体チップを積層した積層体にMEMSセンサを内蔵した小型の半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体チップ13、14、15が、絶縁層16、17を介して積層された積層体18と、第1領域11に形成され、積層体18の最上層の半導体チップ15から最下層の半導体チップ13に至り、最下層の半導体素子に電気的に接続された貫通電極19と、第2領域12に形成され、積層体18の最上層の半導体チップ15から最下層の半導体チップ13に至る貫通孔20の底面から立設し、最上層の半導体チップ15に至る高さを有するとともに、貫通電極19と材質が同じ可動電極21と、貫通孔20の淵に沿って最上層の半導体チップ15上に形成され、貫通孔20の外側に向かって互いに直交する方向に延伸した第1および第2固定電極22、23と、を具備する。 (もっと読む)


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