本発明は、被検対象物（１）の材料界面を決定するための方法及び装置に関し、透過放射線を用いて、画像データの画像値を取得することによって被検対象物（１）の三次元画像データを生成するか、或いは取得して置いた画像データの画像値によって被検対象物（１）の三次元画像データを取得し、被検対象物（１）に対して相対的に、画像データを評価するための評価線（１７）を決定し、評価線（１７）の方向における画像値の第１の部分導関数の絶対値が材料界面の位置に極大値を有するように、この評価線に沿って存在する画像値を評価することによって、被検対象物（１）の材料界面の位置を決定するものである。
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【課題】メータ種別や種々の状況変化に対応した確実かつ効率的な指示値認識を可能とする。
【解決手段】目盛指示の撮影画像を構成する各画素を、各画素値の画素数で示すヒストグラムに基づいて、前記画素値の範囲のうち画素値所定値以下の範囲と所定値以上の範囲をカットした補正ヒストグラムを生成し、当該補正ヒストグラムに対して判別分析法を適用して二値化閾値を特定する、閾値特定部１１４と、前記二値化閾値により前記画素値を二値化して前記撮影画像の二値化を行い、二値化画像を生成する、二値化画像生成部１１５と、前記二値化画像における目盛指示の画像に基づいて、前記メータの目盛指示値を特定する指示値特定部１１８、とからシステム構成する。 （もっと読む）

【課題】事前に情報付与作業を行うことなく照合精度を向上させることができる固体の照合方法及びその装置を提供する。
【解決手段】 情報管理装置10は複数のベールゴムにおける種別毎に透明な包装材に付された識別情報とゴム自体の外観に関する情報とを記憶した記憶装置から指定種別の識別情報及び外観情報を取得し、複数のベールゴムから取り出された１つのベールゴム1の識別情報及び外観を撮影カメラ30で撮影し、画像センサ20は撮影カメラ30が撮影した画像を画像処理し識別情報及び外観情報を抽出するとともに当該識別情報及び外観情報と情報管理装置10が取得した識別情報及び外観情報とに基づいて複数のベールゴムから取り出されたベールゴム1の種別と指定種別とを照合する。
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【課題】 ワーク厚さに対する直線性の良好な等価厚画像濃度データが得られる濃度データ変換方法および装置を実現し、体積や質量等の測定精度が高いＸ線検査システムを提供する。
【解決手段】 ワークＷのＸ線透過量に対応するＸ線画像濃度データＰからワークＷの厚さに対応する等価厚画像濃度データＱ（Ｐ）への変換処理を施す方法であって、Ｘ線画像における背景の濃度値Ｐ_０と、Ｘ線画像における前景の代表濃度Ｐ_１と、等価厚画像の最大濃度Ｑmaxとをそれぞれ設定し、変換処理を、次式〔１〕により実行し、
Ｑ（Ｐ）＝［｛ｌｎ（Ｐ_０）−ｌｎ（Ｐ）｝／｛ｌｎ（Ｐ_０）−ｌｎ（Ｐ_１）｝］^γ・Ｑmax ・・・〔１〕
等価厚画像の濃度データＱ（Ｐ）の直線性を確保するよう式〔１〕中の補正指数値γを調整する。 （もっと読む）

【課題】 製品出荷後でも製品の不良と製造装置の不具合の関係を究明可能な製造情報管理システムを提供する。
【解決手段】 製品又は部品を製造する設備又は装置２００の識別情報を有する識別情報表示部２１５を撮影した第１の画像データと、その設備等２００を撮影した第２の画像データを取得する撮像部１１０と、その製品等の製品情報を決定する製品情報決定部１４０と、第１の画像データに基づいて識別情報を取得し、製品情報決定部１４０から製品情報を取得し、その設備等２００がその製品等を製造した製造日時に関する情報を決定し、且つ識別情報、製品情報、及び製造日時情報と、その製品等を製造中に撮影した第２の画像データを関連付けるテーブル３００を生成する制御部１２０と、製造中に撮影した第２の画像データとテーブル３００を保存するデータ記録部１３０とで製造情報管理システム１００を構成する。 （もっと読む）

【課題】 画像にかかる情報の処理を高速に行う座標データ処理方法、座標データ処理装置、画像検査装置及び座標データ処理プログラムを提供すること。
【解決手段】 点座標が所定の領域に含まれるか否かを判定する座標データ処理方法であって、領域にかかる平面を区画に区分する区分ステップ（Ｓ１２）と、領域の一部又は全部が存在する第１の区画を検出する領域区画検出ステップ（Ｓ１４）と、点座標が存在する第２の区画を検出する点座標区画検出ステップ（Ｓ１３）と、第１の区画に第２の区画が存在するか否かに基づき、点座標が領域に含まれるか否かを判定する判定ステップ（Ｓ１５）と、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 設備の振動による画像の乱れや、電気的なノイズ、メッキ合金化のムラや検出する必要の無い模様などを疵として検出してしまう過検出をなくして、疵判定の精度を向上できるようにする。
【解決手段】 疵検査対象物を撮像して得られた画像信号を解析して有害疵を検出する際に、上記画像信号から抽出された疵候補画像の中から特定形状の模様を含む画像を抽出し、上記抽出した画像に所定の画像処理を行って有害疵を検出するようにすることにより、有害疵を検出するために行う画像処理対象を絞り込むことができるようにして、疵検出処理速度の向上及び疵検出の精度を向上できるようにする。 （もっと読む）

【課題】被測定体の寸法測定の際、問題となる画像歪みを補正する画像認識方法を提供することを目的とする。
【解決手段】正確に実測した格子状の治具４を認識することで画像上に基準ポイントを与え、このポイントにより、格子毎に分解能を設定し、更に実測ポイントからの測定とすることで認識画像の歪みを補正して画像認識を行うことにより、比較的容易、かつ安価で小さなレンズにて、広視野、高精度に寸法測定を行うことが出来るものである。 （もっと読む）

【課題】対象物の位置をサブピクセル単位で抽出できるようにする。
【解決手段】対象物の良品モデルを撮像して得たモデル画像から、その画像上のエッジ画素、その濃度勾配方向、およびサブピクセル単位のエッジ位置が抽出されて、ハードディスク１４に登録される。処理対象画像が入力されると、ＣＰＵ１１は、モデル画像に対応する画像領域の位置をピクセル単位で求めた後、その画像領域において、モデル画像側の対応画素にサブピクセル単位のエッジ位置が対応づけられているエッジ画素を抽出する。そして、これらのエッジ画素につき、サブピクセル単位のエッジ位置を抽出し、その抽出位置とモデル画像側のエッジ位置とのずれ量を算出する。さらに各エッジ画素毎に求めたずれ量の平均値により前記ピクセル単位の位置を修正し、対象物の真の位置とする。 （もっと読む）

【課題】 表面検査において、検査対象物によって輝度が異なる場合でも簡単に異常を検出できるようにした、表面検査方法及び表面検査装置を提供する。
【解決手段】 予め決められた階調の各階調レベルに属する輝度を有する画素の数を算出する。階調の最大階調レベル及び最小階調レベルの一方から他方への順に、各階調レベルに対応する画素の数を累積し、予め決められた累積数が得られる累積階調レベルを特定する。検出された輝度の代表値に対応する代表階調レベルを特定する。累積階調レベルと代表階調レベルの差を特性値として算出する。全ての検査画像の特性値を比較して最小特性値を特定する。特性値と最小特性値の差に基づいて評価対象値を算出する。しきい値と少なくとも最大の評価対象値を比較して、最大の評価対象値がしきい値よりも大きいときに、異常の存在を判定する。 （もっと読む）

【課題】 対象面の寸法形状に合った敷物を簡便に提供することを可能にする。
【解決手段】 敷物を敷くべき対象面１上に、例えばＡ３規格のコピー用紙としての複数のシート２，３を配置して、対象面１を任意のカメラ角でデジタルカメラ１０で撮影することにより画像データが得られる。この画像データがネットワーク５０を通じて、サービス提供業者が保有する情報処理装置６０へ送られる。情報処理装置６０は、画像データに含まれるシート２，３の画像とそれらの規定寸法の値とに基づいて、画像データ上の任意の座標値を対象面１上の座標値に対応づける変換式を導く。情報処理装置６０は、更に、画像データ上の対象面１の輪郭の各点の座標値を、変換式に基づいて対象面１上の座標値に変換する。裁断装置８０は、変換された座標値に基づいて敷物８を裁断する。 （もっと読む）

【課題】 アモルファスシリコンを固相結晶化した際に結晶化が充分進行したかどうかを簡単かつ確実に判定する。
【解決手段】 基板上の検査領域の画像を撮像し、前記画像から明度を基にグレースケール画像を作成し、前記グレースケール画像の明度の閾値を下記の式により定め、 閾値（Ｔｈ） ＝ 最小値 ＋（最大値 − 最小値）× Ａ （ただし、Ａ＝０〜１） 前記グレースケール画像から前記明度の閾値を基に二値画像を作成し、前記二値画像を基に前記検査領域の良・不良を判定することを特徴とする。特に基板上の検査領域に固相結晶化によりアモルファス領域と多結晶領域が存在する場合において、固相結晶化の進行度を判定することができる。また、この判定結果をネットワークを通じて他の製造工程に反映させ、製品の品質を高いものにする。 （もっと読む）

【課題】 低輝度レベルの画像であってもノイズの比率が増加するのを抑制することができるとともに、トーンジャンプや擬似輪郭等が発生するのを防止して、画質の向上が可能な画像入力装置を提供することを課題とする。
【解決手段】 画像を光学的に読み取り画像データに変換する画像入力方法において、前記画像データの各画素ごとに含まれるノイズ率を画素の輝度レベルに対する依存度を低減するように補正するように構成して課題を解決した。 （もっと読む）

【課題】寸法等の画像測定が可能であって、かつ携帯性が得られる、画像測定装置を提供する。
【解決手段】携帯型画像測定装置は、撮像部１１０、表示部１２５、信号処理制御ユニット１２０、画像取込起動要素及びユーザインターフェースを備える。またユーザインターフェースはユーザが調整可能で表示部における画像に応じて構成可能なビデオ測定ツールと、ビデオツール調整要素とを備えてよい。ビデオ測定ツールの構成に基づいて寸法測定結果を提供するために操作される測定機能が設けてよい。携帯型画像測定装置は、一般にノギスやマイクロメータのような従来の携帯型ツールによって測定されてきた典型的な部位だけでなく、従来のツールでは測定が難しかった極小の又は平らな部位をも測定することが可能である。 （もっと読む）

【課題】メータ種別等による種々の状況に対応した確実かつ効率的な指示値認識を可能とする。
【解決手段】撮影画像における認識領域と当該認識領域における撮影目盛が示す最小値および最大値との指定を入力インターフェイスより受け付ける領域設定部１１０と、比較用目盛を認識領域に重ねて表示すると共に撮影目盛における比較用目盛の各対応値の入力を受け付けて比較用目盛の値と撮影目盛の値との対応関係を特定する目盛差異特定部１１１と、撮影画像より認識されるメータ２００の目盛指示値が前記所定区間で占める割合を算定する割合算定部１１２と、所定区間での比較用目盛の値の変化量に割合を乗算処理し比較用目盛の最小値を合算することで変換指示値を算定し出力する変換指示値算定部１１３と、からシステム構成する。 （もっと読む）

【課題】 検査対象における輝点等の欠陥の有無を精度良く検査することができる欠陥検査方法を提供すること。
【解決手段】 有機ＥＬパネルをＣＣＤカメラで撮像する撮像工程Ｓ１と、撮像データから検査対象領域を検出し、検査対象領域の色情報および輝度情報を各撮像画素毎に取得する撮像画素データ取得工程Ｓ２と、検査対象領域全体の基準色情報を求め、基準色情報に対する各撮像画素の色情報の偏差を求め、色情報偏差に基づいて強調係数を求める強調係数算出工程Ｓ３と、前記強調係数を用いて、前記各撮像画素の輝度情報を補正輝度情報に補正する輝度情報補正工程Ｓ４と、前記補正輝度情報に基づいて前記検査対象領域内の欠陥を検出する欠陥検出工程Ｓ５とを備える。色情報偏差によって欠陥部分の輝度値を強調できるので、補正後の輝度値に基づいて欠陥部分を精度良く検出できる。 （もっと読む）

【課題】 指標の設置位置、姿勢、形状、寸法の検討、指標作成、指標設置といった、指標画像によるカメラ位置姿勢推定に必要となる指標初期設定作業の工数を軽減し、短い時間でカメラ位置姿勢推定に適切な指標を設置可能とする為の技術を提供すること。
【解決手段】 現実空間を模した仮想空間を、当該現実空間中に定義された座標系に一致させて設定した場合に、所望の視点から見た当該仮想空間の画像上で、指標を配置する指示位置に対応する現実空間中の位置を求め（Ｓ４００）、指標が画像上で占める領域に対応する現実空間中の領域を求める（Ｓ４０４）。 （もっと読む）

【課題】 円盤形状の第１の材料内に、第２の材料からなる部材を配置した場合に、実際の第１の円及び第２の円の設計位置に対する位置精度を評価する。
【解決手段】 （１）第１の材料の外周をほぼ均等にｎ個に分割した位置を測定し、（２）円盤形状の第１の材料の、対応する円弧上の位置を測定し、（３）同様、第２の円の円弧上の位置を測定し、（４）第１の円弧上の位置を始点とし外周上の位置を終点とする第１のベクトルから第ｎのベクトルを算出し、（５）第２の円弧上の位置を始点とし第１の円弧上の位置を終点とする第（ｎ＋１）のベクトルから第２ｎのベクトルを算出し、（６）（４）のベクトルを加算して第１の合成ベクトルを算出し（７）（５）のベクトルを加算して第２の合成ベクトルとし、（８）第１の合成ベクトルと第２の合成ベクトルを加算して得られる第３の合成ベクトルに基づいて、第１の外周に対する第１の円及び第２の円の位置精度を評価する。 （もっと読む）

【課題】 画像処理アルゴリズムの評価装置を提供する。
【解決手段】 画像処理アルゴリズムの評価装置として機能する画像処理装置が実行する処理は、初期の画像アルゴリズムを評価するステップ（Ｓ７１０）と、学習用画像データを設定するステップ（Ｓ７２０）と、画像処理アルゴリズムを適用するステップ（Ｓ７３０）と、特徴量算出処理（Ｓ８００）と、ＲＯＣ評価処理（Ｓ９００）と、最良のアルゴリズムを保存するステップ（Ｓ７６０）とを含む。画像処理装置は、終了条件が成立していない場合に（Ｓ７７０にてＮＯ）、画像処理アルゴリズムを適用するステップ（Ｓ７３０）以降を再び実行する。 （もっと読む）

【課題】 光学パネルによって表示される画像内に存在するスジ状欠陥を検出するとともにスジ状欠陥の状態に応じたランク判定を行う光学パネル検査方法を提供する。
【解決手段】 液晶ライトバルブによる表示画像に存在するスジ状欠陥を検出するスジ状欠陥検出工程（ＳＴ１００）と、スジ状欠陥検出工程（ＳＴ１００）にて検出されたスジ状欠陥同士で連続性を有するかを判定する連続性判定工程（ＳＴ２００）と、連続性判定工程（ＳＴ２００）にて連続性を有すると判定されたスジ状欠陥を一連のスジ状欠陥とみなすとともに検出されたスジ状欠陥の定量的評価値に基づいて液晶ライトバルブ１１２のランク判定を行うランク判定工程（ＳＴ３００）と、を備える。 （もっと読む）