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Fターム[5C038GG08]の内容

計測用電子管 (3,290) | イオン源の種類 (660) | 大気圧イオン源(API) (147)

Fターム[5C038GG08]に分類される特許

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【課題】GCで分離された試料を高感度分析できる質量分析装置を提供する。
【解決手段】(a1)針電極、1次イオン生成用ガスの排出開口を具備し、針電極の放電により1次イオン生成用ガスから1次イオンを生成する第1イオン化部と、(a2)1次イオンが通過する1次イオン導入細孔と、(a3)1次イオン生成用ガスの導入開口とを具備し、1次イオンと、GCのカラムの終端から導入された試料ガスとの反応により、試料イオンを生成し、カラムの終端が内部に配置される第2イオン化部とを、具備する大気圧化学イオン源と、(b)試料イオン移動細孔と、(c)試料イオンの質量分析を行う質量分析部とを有し、1次イオン生成用ガスが1次イオン導入細孔を通り、針電極の先端から排出開口に流され、1次イオン導入細孔の半径をR、1次イオン導入細孔と試料ガス移動細孔とを結ぶ軸と、カラムの終端との距離をrとする時、r≦2Rを満たす位置にカラムの終端が配置される。
【効果】汚染、試料ガスの希釈の影響が少ない。 (もっと読む)


衝突またはフラグメンテーションセル(5)の上流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータ(3)を含む質量分析計が開示される。イオンは、イオン移動度分光計またはセパレータ(3)内でそのイオン移動度にしたがって分離される。衝突またはフラグメンテーションセル(5)に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ(3)に存在するイオンの運動エネルギーは時間とともに実質的に直線的に増加される。
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【課題】感度の高い、小型の汚染がない直角スプレー方式イオン化方式質量分析装置を提供する。
【解決手段】スプレー方式をアングル方式ではなく、直角にして真空度が低く小型のイオン化部により高感度の質量分析をする。
(イ)スプレー式 試料噴霧方向は試料吸引方向に対して90度の角度を設ける。
(ロ)その後、流速を吸引部からオリフィス部まで1500m/sから300m/sにダウンさせるために4.0mmDから10.0mmDのサイズとする。
(ハ)その後、オリフィス部の流速を100m/sにするために20mmDのサイズとする。
以上の構成よりなる直角スプレーイオン化方法である。 (もっと読む)


【課題】特殊電極の表面から放出される固体状、液体状、ガス状の分析物を分析するデバイスを提供する。
【解決手段】圧力、レーザ放射、および電界強度を適当に調整することにより、質量分析法および/または電子常磁性共鳴分光法により形成されたイオンまたはラジカル・イオンを検出し、イオン源を交換しないで、同じイオン容量で、ESI、FI、FD、LIFDIまたはMALDI、またはこれらのハイブリッドにより分析用物質をソフト・イオン化するための技術を提供する。 (もっと読む)


試料を分析するシステムおよび方法を記載する。本システムは、各々別個の検出領域で検出される複数のイオンビームを形成するイオンソースおよび偏向器を含む。検出システムは、検出領域から得られる情報を使用して試料を分析する。

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本発明は、電気スプレー構造(1)に組み込まれたマイクロ流体チップ(10)を含むマイクロ流体デバイスに関し、マイクロ流体チップは、出口アパーチャ(12)を通してマイクロ流体チップの表面領域に連通する少なくとも1つのマイクロ流体チャンネル(11)を含み、電気スプレー構造は少なくとも1つの細く平らな先端部(3)を含み、その先端部には、スプレーされる液体を噴出するためのアパーチャを形成するために先端部の終端(5)で終わるキャピラリースロット(4)が提供される。電気スプレー構造は、先端部(3)がマイクロ流体チップ(10)に対し片持ちされるように、またマイクロ流体デバイスの出口アパーチャ(12)が先端部のキャピラリースロット(4)に連通するように、マイクロ流体チップの表面領域に配置され、そのマイクロ流体デバイスは、スプレーされる液体に電気スプレー電圧を印加するための手段をも有する。
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【解決手段】
多重反射飛行時間型質量分析計(MR−TOF MS)及び分析方法を開示する。イオンの飛行経路が、静電ミラーによって軌道に沿って折り返される。適度な機器サイズを維持しながら飛行経路が長いほど分解能が高くなる。 (もっと読む)


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