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Fターム[5D090FF38]の内容

光学的記録再生 (53,787) | 記録、再生、制御方式等の目的、作用 (5,715) | 不良記録の防止、対策 (403) | 担体の欠陥領域の検出方法 (143)

Fターム[5D090FF38]に分類される特許

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【課題】従来の単層光ディスクや2層光ディスクとともに、多層光ディスクが流通した場合において、指紋検出などの処理を効率的に実行する光ディスク装置を提供する。
【解決手段】本発明の光ディスク装置は、装填されている光ディスク100が、設定値T(Tは2を超える整数)未満の層数の情報記録層を備える第1光ディスク、および、設定値T以上の層数の情報記録層を備える第2光ディスクのいずれであるかを判別するディスク判別部109を有する。装填された光ディスクが第1光ディスクと判別された場合と第2光ディスクであると判別された場合とで記録/再生前処理の内容(例えば指紋検出処理の有無)を変化させる。 (もっと読む)


【課題】多様な光ディスク装置において再生できることを保証すべく、光ディスクの欠陥の有無を迅速に検査する。
【解決手段】検出部52は、再生部50からの信号を用いて光ディスクの内周から外周に向けてRF信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号からそれぞれ欠陥を検出する。CPU54は、メモリ56に欠陥の位置を記憶する。再生部50は、欠陥の位置において再生条件を劣化させてデータを再生する。検出部52は、そのときのエラーレートを検査して最終的に光ディスクのOK/NGを判定する。 (もっと読む)


【課題】光ディスクの欠陥の有無をより迅速に検出でき得る検査装置を提供する。
【解決手段】光ディスク検査装置10は、まず、光ディスクを高速で再生するとともに当該高速再生時に得られるエラー情報に基づいて第一閾値超過のエラーが発生しているか否かを判断する(S14、S16)。第一閾値超過のエラーが発生している場合は、当該範囲を高速再生するとともに第二閾値超過のエラーの有無を判定する高速本判定(S20、S22)、当該範囲を低速再生するとともに第二閾値超過のエラーの有無を判定する低速本判定(S24,S26)、を実施し、第二閾値超過のエラーが検出された場合は、欠陥があると判断し、NGを出力する(S30)。 (もっと読む)


【課題】ディスク製造コストの無駄を省くことができ、かつ、資源の浪費を抑制できる光ディスク、および、当該光ディスクを円滑に取り扱うことができる光ディスク装置を提供する。
【解決手段】ディスク10は、積層方向に複数の記録層(記録層L0〜L3)を有している。記録層L0のBCAには、使用可能レイヤー情報が記録されている。ディスク製造時に何れかの記録層に欠陥が生じた場合、これを示す使用可能レイヤー情報がBCA情報に含まれてBCAに書き込まれる。光ディスク装置は、ディスクから読み取った使用可能レイヤー情報をもとに、どの記録層が使用可能かを知ることができ、それに応じた記録再生動作を行い得る。よって、記録層に欠陥のあるディスクであっても適正に利用可能なディスクとしてユーザに提供でき、結果、製造コストの無駄と資源の浪費を回避することができる。 (もっと読む)


【課題】記録ユニットと印刷ユニットを備えた光ディスク処理システムにおいて、複数枚の光ディスクが記録ユニットにローディングされたことを検出する。
【解決手段】光ディスク処理システムは、印刷ユニット14と記録ユニット15を有する。光ディスクを低トルクで駆動し、その後に高トルクで駆動する。低トルク及び高トルクで駆動したときの、目標回転数に達するまでの到達時間に基づいて光ディスクの種類をそれぞれ判別する。低トルクと高トルクの判別結果が一致しない場合には、複数枚の光ディスクがローディングされたことを検出する。 (もっと読む)


【課題】正常に記録を行えない領域に情報の記録が行われることを防止することにより、記録された情報の信頼性を高めるとともに、記録にかかる時間を短縮する。
【解決手段】情報記録装置100は、多層光記録媒体103に記録された欠陥リストを読み出す。読み出された欠陥リストは、欠陥リスト登録部134によって記憶される。欠陥判定部125及び欠陥位置取得部126は、第1記録層の欠陥位置を特定する。欠陥領域推定部128は、欠陥判定部125及び欠陥位置取得部126によって特定された第1記録層の欠陥位置に基づいて第2記録層の欠陥領域を推定する。欠陥リスト登録部134は、欠陥領域推定部128によって推定された欠陥領域に含まれる記録位置を、評価が必要な要評価欠陥位置として、記憶している欠陥リストに追加登録する。 (もっと読む)


【課題】ディスクの検査時間を短くする。
【解決手段】サーボエラー信号取得部34は、所定の回転速度で回転されているディスク22からのサーボエラー信号を取得する。フィルタ設定部35は、係数記憶部36に記憶されている係数を読み出し、サーボエラー信号取得部34から供給されるサーボエラー信号をフィルタリングする。判断部37は、フィルタリング後のサーボエラー信号を用いて、ディスク22に傷などの欠陥がないか否かを判断する。この判断が行われるまで、スピンドルモータ32の回転速度は、一定に保たれる。本発明はディスクを検査する検査装置に適用できる。 (もっと読む)


【課題】光ディスクからの反射光に含まれる信号のSN比が悪い場合でも的確にディフェクト検出することができる光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る光ディスク装置10は、記録型光ディスク1からの反射光にもとづいてプッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成部20と、プッシュプル信号から記録型光ディスク1のプリグルーブのウォブルに対応した周波数を有するウォブル信号を抽出し、抽出されたウォブル信号の振幅に応じてウォブル信号を増幅することにより所定の大きさの振幅を有する信号を生成する自動ゲイン制御部26と、自動ゲイン制御部26によるウォブル信号の増幅率を監視し、増幅率の変化が所定の大きさより大きいと、記録型光ディスク1上にディフェクトがあると判定する保護信号出力部40とを備える。 (もっと読む)


【課題】光ディスク上の欠陥と、光ディスク装置に加えられた外乱とを区別し欠陥のみを検出し、光スポットが欠陥通過時に安定な光スポットの位置制御が可能となる技術を提供する。
【解決手段】周区間分割信号生成手段110により光ディスク101の1周を複数の周区間に分割し、欠陥有無補正手段111は周区間単位で欠陥有無を決定し、欠陥有がある周区間において制御手段150は光スポットの位置制御をホールドする。 (もっと読む)


【課題】
ホログラフィを利用した光情報記録媒体の場合、光の強度によらず変質を起こしてしまう。そのため、光情報記録媒体についたゴミや傷、もしくは光情報記録媒体の内部にある、気泡や不純物等の欠陥の有る位置で記録や再生を行おうとすると、欠陥や光情報記録媒体、光情報記録再生装置による光の拡散、反射により記録再生位置近辺の記録媒体が変質してしまい記録可能量の低下といった影響を与えてしまう、そのため欠陥部分での記録や再生は情報記録媒体の信頼性を低下させる。
【解決手段】
参照光と信号光を光情報記録媒体に出射してホログラフィを利用してデジタル情報を記録および再生するホログラフィ記録再生装置であって、ピックアップと位相共役光学系、ディスクキュア光学系、欠陥識別光学系とを備え、欠陥識別光学系から出射され光情報記録媒体を透過もしくは反射した光を受ける光検出器を備える事を特徴とする光情報記録再生装置。 (もっと読む)


【課題】多層光ディスクの歩留まりを向上させることと、その多層光ディスクに対応して、効率よく安全に記録、再生させるための光ディスク装置を提供することにある。
【解決手段】製造後の多層光ディスクに不良の記録再生層が含まれていたとしても、製造後のディスクの各層が使用可能か否かを判別するための品質情報を付加し、その光ディスクの対応装置では、ディスク装着後に多層光ディスクから、各層の品質情報を読み取り、不良層に対しては、光ピックアップ制御の調整動作や、記録動作を行なわせないようにする。 (もっと読む)


【課題】DVD−RAM等の記録型光ディスクに記録中であってもリアルタイムにディフェクトを検出することができ、信頼性の高い情報の記録が可能な光ディスク記録再生装置を提供する。
【解決手段】ディフェクトマスク信号生成回路によってヘッダエリア内に千鳥配置された1対の内側アドレスデータと外側アドレスデータとの境界領域におけるRF信号の段差部、ヘッダエリアとレコーディングエリアとの境界領域におけるRF信号の段差部およびレコーディングエリアの非記録領域に対してディフェクトマスク信号を生成し、レコーディングエリアのディフェクト検出は、ヘッダゲート信号がLレベルでかつディフェクトマスク信号がLレベルの区間についてディフェクトを検出し、ヘッダエリアのディフェクト検出は、ヘッダゲート信号がHレベルでかつディフェクトマスク信号がLレベルの区間についてディフェクトを検出する。 (もっと読む)


【課題】無駄なリードリトライ時間を削減して、光ディスクの情報の再生を行える光ディスク再生装置を提供する。
【解決手段】光ディスク再生装置1には、再生中に情報を正常に読み取れなかった場合に、正常に読み取れなかった情報の再読み出しを行うか、再読み出しを行わずに該情報をスキップするかを判断するリトライ判断部11が設けられる。リトライ判断部11が実行する処理には、信号処理部6からの信号に基づいて、再生位置が欠陥部であるか否かを判断して前記欠陥部の検知を行う欠陥部検知処理と、前記欠陥部が検知された場合に、前記欠陥部が連続して検知される時間を計測する時間計測処理と、前記時間計測結果と、前記記憶部に記憶される閾値と、に基づいて再読み出しを行うか否かを判断するリトライ判断処理と、が含まれる。 (もっと読む)


【課題】3層以上の情報記録層を持つ多層光記録媒体においても、情報記録層の膜厚や材料、スペーサー層の厚みムラ等の影響を明確に判断・評価することが可能にする。
【解決手段】3層以上の情報記録層を持つ多層光記録媒体に対してレーザー光を照射し、レーザー光の反射光から得られる第1信号を周波数フィルタに通し、ハイパスフィルタを経て得られる第2信号を用いて多層光記録媒体の特性を評価する。 (もっと読む)


【課題】 追記型の情報記録媒体の領域を効率的に利用でき、高い信頼度で臨時欠陥リストを記録及び再生できるようにすること。
【解決手段】 本方法は、追記型の情報記録媒体にデータ記録中に生成された臨時欠陥リストを、追記型の情報記録媒体の少なくとも一つのクラスターに記録し、少なくとも一つのクラスターに欠陥が発生したか否かを検証し、欠陥が発生したクラスターに記録されたデータを他のクラスターに記録し、臨時欠陥リストが記録された少なくとも一つのクラスターの位置を示すポインター情報を、追記型の情報記録媒体に記録する。 (もっと読む)


【課題】 サーボ信号に基づく評価値を用いて光ディスクの光透過層の表面の評価を行う際に、サーボ残差とデータ復号エラーの発生量との相関関係が低いために評価の精度が低いという課題を解決する。
【解決手段】 フォーカスまたはトラッキングのサーボ信号を検出し、検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、積分によって得られた積分値を合計して評価値を算出し、該評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価する。 (もっと読む)


【課題】
リトライを繰り返さないと再生できないデータを修復して記憶し、次回の再生時にリトライを不要とすることを目的とする。
【解決手段】
上記の課題を解決するために、本発明のデータ再生装置では以下のような技術手段を採用する。
データ処理用のメモリとは別に不揮発性メモリを有し、データに誤り訂正不能が発生した場合に誤り訂正不能箇所以外のデータおよび誤り訂正符号をデータ処理用のメモリに蓄積していき、蓄積したデータと読み出したデータをつなぎ合わせて修復し、当初識別アドレス不一致となったセクタの誤り訂正後のデータと誤り訂正符号を不揮発性メモリに記憶するので、次回この光ディスクの当該データの再生時に誤り訂正不能が発生してもリトライを行わずにデータを再生することができる。 (もっと読む)


【課題】記録情報をできる限り光ディスクの外周寄り記録しつつ、情報再生時の品質を安定したものとできる光ディスクへの情報の記録方法及び装置を提供する。
【解決手段】光ディスク装置1のシステム制御部14には、光ディスク20の反り状態を調べ、反り状態に基づいて、光ディスク20の内周から外周に向けて連続する領域であって情報を記録可能な記録可能領域を決定する記録可能領域決定部と、光ディスク20に情報が既に記録されているか否かを調べる記録状態調査部と、記録可能領域決定部の決定結果と記録状態調査部の調査結果とに基づいて、記録可能領域の外周寄りに記録予定の記録情報が記録されるように記録開始位置を決定する記録開始位置決定部と、が備えられる。 (もっと読む)


【課題】光ディスク上の指紋の付着位置の通知、指紋の自動拭き取り、指紋のない場所への重要データの代替格納などを実現することができる光ディスク装置およびクリーナ付き光ピックアップを提供する。
【解決手段】指紋の1ドットが認識可能なサイズ以下に集束された光ビームを光ディスク上で照射・スキャンし、前記光ディスクからの反射光から前記1ドットが複数回連続していることを検出した際、前記光ディスク上に指紋が存在すると判定する指紋検出手段116、132と、指紋拭き取り手段108とを備え、前記指紋検出手段が光ディスク上に指紋が存在すると判定した場合に、指紋拭き取り手段108は、その指紋を拭き取る、光ディスク装置である。 (もっと読む)


【課題】従来の方式に比べてより正確に光ディスクの欠陥を検出することでより安定に再生することが可能となる信号再生装置を提供する。
【解決手段】上側包絡線35と下側包絡線36をそれぞれ比較する複数の閾値(上側包絡線閾値1、上側包絡線閾値2、下側包絡線閾値1、下側包絡線閾値2)を用いることにより、より正確に欠陥状態を把握し、各回路ブロックを最適に制御することにより、再生安定性の向上を図る。 (もっと読む)


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