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Fターム[5F004BB07]の内容

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可動型 (28)

Fターム[5F004BB07]に分類される特許

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【課題】面内均一性の向上を図ることができる容量結合型のエッチング装置を提供する。
【解決手段】エッチング装置1は、真空槽10と、真空槽内にエッチングガスを供給するガス供給部10eと、真空槽内に配置されて、その上面に基板Sbが載置される平板状のステージ電極13と、ステージ電極13とプラズマ生成空間Sを介して対向する平板状の上部電極板17と、ステージ電極13に高周波電力を供給する高周波電源20と、直径がそれぞれ異なる3本の環状の磁気コイル31〜33から構成され、それらの磁気コイル31〜33の中心が同軸となるように真空槽10の上方に設けられるとともに、最も外側の磁気コイル31の直径が基板Sbの直径よりも大きく、中央の磁気コイル32の直径が基板Sbの直径以下であって、プラズマ生成空間Sに磁気中性線NLを生成する磁気コイル群30とを備えた。 (もっと読む)


【課題】試料の面方向について処理の均一性を向上させたプラズマ処理装置またはプラズマ処理方法を提供する。
【解決手段】真空容器内部の処理室と、この処理室内部に配置される試料がその上に配置される試料台と、前記真空容器の上部に配置され電界が透過する誘電体製の円板部材と、この円板部材の上方に配置され前記電界が上方から導入される円筒形の空洞と、この空洞の中央上方に配置され内部を前記電界が伝播する導波管と、前記空洞を構成し前記導波管との連結部を含む中央部とこの中央部の外周部とで前記円板部材の上面から異なる高さを有する第一及び第二の空洞部と、これら第一,第二の空洞部の上方に配置されこれらの高さを調節する調節器と、前記処理の進行に伴って前記調節器に前記第一,第二の空洞部の高さを変更する指令を発信する制御器とを備えたプラズマ処理装置。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板に挟まれた接着層をエッチングする際に、シリコン基板の積層方向へエッチングを進みやすくすることのできるプラズマエッチング方法、及びプラズマエッチング装置を提供する。
【解決手段】
接着層が、第1シリコン基板と第2シリコン基板とに挟まれた積層体30を真空槽11に搬入し、該積層体30に対し、第1シリコン基板と接着層とを貫通して積層体30の積層方向に延びる凹部を形成する。このとき、第1ガスのプラズマにより、上記積層方向に延びる凹部を第1シリコン基板の第1シリコン層に形成する工程と、第2ガスのプラズマにより、積層方向に延びる凹部を接着層に形成する第2エッチング工程とを実施する。加えて、第1シリコン層のエッチング工程と接着層のエッチング工程との間には、第1ガスと第2ガスとの混合ガスのプラズマにより、第1シリコン層と接着層との境界をエッチングする境界エッチング工程を実施する。 (もっと読む)


【課題】エッチング速度の向上を図りつつ、良好な面内均一性を得ることができるエッチング装置及びエッチング方法を提供する。
【解決手段】エッチング装置1は、真空槽10と、真空槽内にエッチングガスを供給するガス供給部10dと、基板Sbを基板位置に載置するステージ11と、真空槽10の側方に配置され、真空槽内に誘導電場を形成してエッチングガスのプラズマを生成する第1アンテナ21と、真空槽10の上方に配置され、真空槽内に誘導電場を形成してエッチングガスのプラズマを生成する第2アンテナ22と、第1アンテナ21に供給される高周波の位相と、第2アンテナ22に供給される高周波の位相とを一致させるように制御する位相制御部16と、真空槽10の外側に配置され、第1アンテナ21及び第2アンテナ22により誘導電場を生成する空間に磁気中性線NLを生成する磁気コイル群25とを備えた。 (もっと読む)


【課題】高アスペクト比を有しながら内径が均一なパターンを形成することが可能なプラズマエッチング方法及びプラズマエッチング装置を提供すること。
【解決手段】本発明に係るプラズマエッチング方法は、表面にマスクパターンが形成された基板Wを真空槽21内に配置し、真空槽21内に導入したガスのプラズマを発生させ、基板Wに高周波電場を印加しながらプラズマを用いて基板Wをエッチングし、基板Wに対するエッチングの進行に応じて高周波電場の周波数を変化させる。これにより、エッチングの指向性(等方的か異方的か)を変化させることが可能となる。エッチングが等方的となる周波数とエッチングが異方的となる周波数を切り替えることにより、パターンの拡張と縮小を抑え、内径が均一なパターンを形成することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】磁気中性線放電(NLD)プラズマエッチング装置のクリーニングの終点を制度良く検出することが可能なプラズマ処理方法を提供する。
【解決手段】磁気中性線放電(NLD)プラズマエッチング装置において、チャンバクリーニング処理の際に磁気コイルに流す電流値を、基板エッチング処理の際に前記磁気コイルに流す電流値よりも小さくすることにより、プラズマ中の分子種の時間変化をアンテナコイル電圧Vppの変化に反映させ易くして監視し、クリーニングの終点を検出する。 (もっと読む)


【課題】エッチングの異方性を高めることのできるプラズマエッチング方法及びプラズマエッチング装置を提供する。
【解決手段】
レジストマスクが形成された基板Sを真空槽11内でエッチングするプラズマエッチング方法において、基板Sが載置されたステージ電極14に第一の電力量で高周波電力を供給しつつ、基板Sの上方に配置された高周波アンテナ17に第二の電力量で高周波電力を供給して真空槽11内のエッチングガスをプラズマにするメインエッチング工程を行う。加えて、このメインエッチング工程の前に、ステージ電極14に第一の電力量よりも大きい第三の電力量で高周波電力を供給して、真空槽11内のエッチングガスをプラズマにするプレエッチング工程を行う。 (もっと読む)


【課題】中密度プラズマ領域のプラズマを用い、高い制御性を得るとともに大口径ウエハにおける処理の均一性を得る。
【解決手段】真空排気手段により排気される真空処理室と、該真空処理室にガスを供給するためのガス供給手段と、プラズマを生成するためのマイクロ波電力供給手段と、ウエハを載置するための基板ステージと、前記基板ステージを介してウエハに高周波バイアス電力を印加するための高周波バイアス電源と、前記真空処理室内に磁場を発生させるためのソレノイドコイルと、ヨークと、中央部あるいは外周部を、他の部分に対して、誘電体中のマイクロ波の波長の略1/4 突出させて形成した誘電体製マイクロ波透過窓とを備えたプラズマ処理装置において、前記誘電体製マイクロ波透過窓は、平板部と、該平板部上に載置された突出部と、該突出部を平板部に位置決めする位置決め用凹凸部を備えた。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理を促進させる方向を制御する。
【解決手段】インピーダンス調整部のインピーダンスを制御することで、基板の処理面に加わる電界の少なくとも垂直成分の強度を調整しつつ、プラズマ生成部による電力を制御することで、基板の処理面に加わる電界の少なくとも水平成分の強度を調整して、プラズマ処理を促進させる方向の電界を強くする。 (もっと読む)


【課題】ボロン酸化物等の異物を生じさせることなくプラズマ処理装置の処理室表面におけるTi系堆積物の除去が可能なプラズマ処理方法を提供する。
【解決手段】製品エッチング(工程S1:Ti材料を含む試料の処理)後に、処理室表面に堆積するTi反応生成物に対してカーボン系膜を堆積させるカーボン系堆積放電(工程S2)と、その後に処理室表面に堆積するカーボン系膜とTiを除去する塩素系放電(工程S3)とを含むプラズマの処理方法とする。 (もっと読む)


【課題】基板を処理するプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】チャンバ壁を持つプラズマ処理チャンバが提供される。基板支持部が前記チャンバ壁内に提供される。少なくとも1つの閉じ込めリングが提供され、前記閉じ込めリングおよび前記基板支持部はプラズマ空間を定義する。前記少なくとも1つの閉じ込めリングによって提供される物理的閉じ込めを磁気的に向上させる磁界を発生する磁界源が提供される。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理室内で発生する微小異物に起因する半導体デバイスの生産性低下を防止するために、プロセスガスの流れに乗って真空容器内壁やターボ分子ポンプ翼等で反射する微小異物が再び試料台上のウエハまで到達しないようにする。
【解決手段】プラズマ発生装置と、減圧可能な真空容器100と、真空容器100にガスを供給するガス供給装置と、プラズマ処理を施すウエハ128を保持する試料台113と、試料台113上に支持されたウエハ128に高周波を印加する装置と、真空排気装置より成るエッチング処理装置において、その装置で発生した微小異物203が、プラズマ処理を施すウエハ128より下流側に位置するターボ分子ポンプ等の真空排気系や真空容器壁で跳ね返ることで、ウエハ表面に至ることを防止する異物の遮蔽板201を設けた。 (もっと読む)


【課題】装置内部材の温度を安定化し、CD変動の少ないプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】誘電体窓103に温風ヒーター126を接続し、誘電体窓103温度を温度センサー128により計測された温度信号を元に誘電体窓103の温度制御を行う。 (もっと読む)


【課題】エッチングレートあるいは所望の加工形状をウエハ面内で均一に得ることのできるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】真空処理容器内に処理ガスを供給するガス供給装置113と、前記真空処理容器内に試料を載置して保持する載置電極115と、前記載置電極に高周波バイアス電圧を供給する高周波バイアス電源117と、前記真空処理容器内を排気する排気装置と、前記真空処理容器内に磁界を形成する電磁コイル107,108,109と、前記真空処理容器に高周波エネルギーを供給して、前記磁界との相互作用によりプラズマを生成するプラズマ生成装置101とを備え、前記高周波バイアス電源は2MHz以上の高周波であり、前記載置電極上の前記真空処理容器のプラズマ生成領域に対向する面に形成されたアース領域の高さ以下の領域の磁束密度は20mT以下である。 (もっと読む)


【課題】プラズマを均一に形成して大口径のウエハに対しても均一にエッチング加工することのできるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】真空処理室内に少なくとも1種の処理ガスを導入する手段を有し、該処理ガスを真空室外に排気する排気装置を有し、該真空処理室上部から高周波を導入し、該処理室外部に少なくとも2つのソレノイドコイルを有し、該真空処理室内に設置したシリコン基板を処理するプラズマエッチング装置において、第一のソレノイドコイルを該真空処理室の上部に配置し、該第一のソレノイドコイルの内径が250mm以上500mm以下であることを特徴とするプラズマエッチング装置。 (もっと読む)


【課題】多層レジストマスクを用いたシリコン酸化膜等のプラズマエッチング後にパターンの倒壊等により発生するラインウィグリングやストライエーションを防止,抑制することを課題とする。
【解決手段】本発明は、多層レジストマスクを用いて、被エッチング膜をプラズマエッチングするプラズマエッチング方法において、前記多層レジストマスクは、上層レジストと無機膜系中間膜と下層レジストを含み、前記下層レジストの側壁に側壁保護膜を形成する側壁保護膜形成工程を有することを特徴とするプラズマエッチング方法である。 (もっと読む)


【課題】磁性金属薄膜その他プラズマに対して不安定な薄膜及び基板をエッチングする際に、表面平坦性良くエッチングすることができるプラズマエッチング装置を提供する。
【解決手段】チャンバ20と、基板Wを保持する保持部30と、処理ガス供給部40と、高周波電力供給部60と、保持部30に保持されている基板Wと対向する所定位置P1に設けられており、基板Wの表面に略平行な第1の磁界H1を印加可能な第1の磁界印加部70と、第1の磁界印加部70の基板W側に設けられており、基板Wの表面に略平行な第2の磁界を印加可能な第2の磁界印加部80と、発生したプラズマが安定するまで、第1の磁界H1によりプラズマを閉じ込め、発生したプラズマが安定した後、第1の磁界H1の印加の停止後または停止直前に、第2の磁界を印加することによって、プラズマを基板W側に移動させ、プラズマを基板Wに接触させる、制御部110とを有する。 (もっと読む)


【課題】ウエハの温度の変化を高速化し温度の調節の精度を向上して処理の効率を向上できるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】真空容器内部の処理室内に配置された試料台上にウエハを載置して前記処理室内に形成したプラズマを用いて前記ウエハを処理するプラズマ処理装置であって、前記試料台の内部に配置された金属製の基材と、この基材上面に配置され溶射により形成された誘電体製の膜と、前記誘電体製の膜内部に配置され溶射で形成された膜状のヒータと、前記誘電体膜上に配置された接着層と、前記接着層によって前記誘電体膜に貼り付けられた厚さ0.2〜0.4mmのセラミック製の焼結板と、前記基材内部に配置され温度を検知するセンサと、このセンサからの出力を受けて前記ヒータの発熱を調節する制御部とを備えた。 (もっと読む)


【課題】ウェハ処理特性を安定化するプラズマ処理装置または方法を提供する。
【解決手段】内部に減圧されて処理対象のウェハ171を処理するためのプラズマが形成される処理室110を有する真空容器と、この真空容器の上部でこれを構成し前記処理室の上方に配置されその下方の前記処理室内の空間に前記プラズマを形成するための電界が透過する誘電体製の板部材111と、前記板部材の上方に配置され温度を検出する検出器181と、この検出器が検出した結果に応じて前記プラズマの形成を調節する制御部とを備え、前記検出器が、前記プラズマが形成される前の第一の時刻とこのプラズマが形成された後所定の時間後の第二の時刻とこの所定時間後の時刻の後の前記プラズマが形成中の任意の第三の時刻における放射エネルギーの量に基づいて前記第三の時刻の温度を検出する。 (もっと読む)


【課題】high-k/メタルゲートを処理するドライエッチング装置における、クリーニングの課題を解決する。
【解決手段】high-k/メタルゲート構造のドライエッチング後にフッ素を含まずCl2やBCl3などの塩素を含むガスのプラズマクリーニングを行い、引き続いてSF6,CF4,NF3などのフッ素を含むガスのプラズマクリーニングを行う。 (もっと読む)


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