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Fターム[5F004BD03]の内容

半導体のドライエッチング (64,834) | 装置の用途指定 (2,815) | 低温ドライエッチング装置 (251)

Fターム[5F004BD03]に分類される特許

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【課題】ニッケルシリサイドをゲート電極、ソース電極またはドレイン電極に使用した半導体装置の接合リーク電流の増加を防止する。
【解決手段】ゲート領域1aとソース領域1b及びドレイン領域1c形成後の半導体基板の表面に形成された自然酸化膜2が、イオンの半導体基板への侵入が表面から2nm以下に抑制されるように制御したスパッタエッチングにより除去され、自然酸化膜2が除去された表面にニッケル3またはニッケル化合物が成膜され、アニールにより、ゲート領域1a、ソース領域1bまたはドレイン領域1cにニッケルシリサイド4が形成される。この結果、ゲート領域1a、ソース領域1bまたはドレイン領域1c内に、スパイクの形成を防ぎ、リーク電流が低減する。 (もっと読む)


【課題】コイルに印加される電力を下げることなく、当該コイルに印加される電圧を、従来に比べてより低減することができるプラズマ反応装置を提供する。
【解決手段】被処理対象物Kを収容する容器2,6と、被処理対象物Kが載置される支持台11と、支持台11より上方位置で、容器6の周囲に、これを巻回するように配設された、無端環状のコイル15と、コイル15に高周波電力を供給する電力供給手段20と、容器6に接続され、処理ガスを容器6内に供給するガス供給手段30とを備える。電力供給手段20は、少なくともコイル15に接続される第1及び第2の2つの接続端子24,25を備える。第1及び第2の接続端子24,25は、コイル15の全長を2等分する位置a,bにそれぞれ接続され、第1の接続端子24とアース(接地端子26)との間と、第2の接続端子25とアース(接地端子26)との間とに、それぞれ大きさが等しく、相互に位相が逆となる電圧が印加される。 (もっと読む)


【課題】プラズマ発生部での腐食の発生を抑制し得、且つ、エッチャントと蒸気との反応を促進し得るプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】処理対象物5が内部に配置される処理室2と、水を気化させて第1のガスを生成する蒸気発生部3と、反応ガスをプラズマ化させて第2のガスを生成するプラズマ発生部4とを備え、常圧下でプラズマ処理を行うプラズマ処理装置1を用いる。蒸気発生部3は、ノズル10を備え、ノズル10を介して、処理対象物5へと第1のガスを送り出す。プラズマ発生部4は、ノズル20を備え、ノズル20を介して、処理対象物5へと第2のガスを送り出す。ノズル10及びノズル20は、処理室内2において処理対象物5に向けて突き出し、且つ、ノズル10から送り出された第1のガスの流れ方向18とノズル20から送り出された第2のガスの流れ方向25とが、一致するように、又は互いに交差する方向となるように設けられている。 (もっと読む)


【課題】各プラズマ発生ノズルからプルームの大きさが均一なプラズマを長時間安定して出力する。
【解決手段】パワーメータ100は、マイクロ波発生装置20から出力されたマイクロ波の電力効率が目標値を保つように、マイクロ波発生装置20に供給するバイアス電流Ibの値を調整して、マイクロ波発生装置20を制御する。ここで、目標値は、各プラズマ発生ノズル31から大きさが均一なプルームのプラズマが放出されるような値が採用されている。そのため、各プラズマ発生ノズル31からプルームの大きさが均一なプラズマを発生させることができる。 (もっと読む)


【課題】高精度なデバイスプロセスを実現する半導体装置の製造方法、およびそれに用いるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】例えば、インピーダンス測定器をノードN1に接続し、マッチングボックス15の経路を遮断した状態でチャンバ10等を含むプラズマ処理装置を計測する。プラズマ処理装置は等価回路によって表現でき、この計測結果を用いて等価回路の各パラメータを算出する。算出した各パラメータの内、主にチャンバ10に対応した容量パラメータC’が規格に適合するようにチャンバ10の内壁関連の状態(例えば、チャンバ下部カバーリング14aやチャンバ下部カバー11aの寸法、材質等)を調整する。そして、この調整が行われた状態で半導体装置を製造する。なお、プラズマ処理装置に、予めチャンバ10の内壁関連の状態を可変調整できる機能を設けておくことも可能である。 (もっと読む)


【課題】経済的に、均一化された誘導結合プラズマを生成させることができるプラズマ生成方法及びプラズマ生成装置並びにプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ生成室1内における一つの又は隣り合うもの同士が間隔をあけることなく連なる複数の、一辺0.4〔m〕の立方体空間Cのそれぞれに高周波アンテナ2を割り当て設置し、各立方体空間Cにおける高周波アンテナの合計長L〔m〕を、プラズマ生成室1内に設定する誘導結合プラズマ生成圧力P〔Pa〕との間で、(0.2/P)<L<(0.8/P)の関係を満たす範囲の長さL〔m〕に設定する。 (もっと読む)


【課題】プラズマ生成におけるアンテナインピーダンスの変化に拘らず、安価に均一にプラズマを生成させ得るプラズマ生成方法及びプラズマ生成装置並びにプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】各アンテナ2は同一とし、各アンテナ2への高周波電力の印加を、各アンテナ2に共通に設けた高周波電源4から一つの整合器5及び一本のブスバー3を介して行うようにし、ブスバー3を整合器5との接続部位を基準にアンテナ数と同数に区間分けし、各アンテナ一端部を、対応する区間部分31、32又は33に電力供給線311、321又は331にて接続し、各アンテナ他端部は接地し、各ブスバー区間部分のインピーダンス及び各電力供給線のインピーダンスを各アンテナに流れる電流及び各アンテナに印加される電圧のそれぞれが同一となるように調整することで、各アンテナ2に供給される高周波電力を均一化して誘導結合プラズマを発生させる。 (もっと読む)


【課題】プラズマを用いた処理容器内において不要な付着膜が堆積するのを防止することが可能なプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】天井部が開口されて内部が真空引き可能になされた処理容器34と、被処理体Wを載置するために前記処理容器内に設けた載置台36と、天井部の開口に気密に装着されてマイクロ波を透過する誘電体よりなる天板54と、天板の上面に設けられてマイクロ波を処理容器内へ導入するための平面アンテナ部材58と、平面アンテナ部材にマイクロ波を供給するマイクロ波供給手段60と、処理容器内へ必要な処理ガスを導入するガス導入手段44と、を有するプラズマ処理装置において、処理容器内で不要な付着膜が堆積し易い部分に対応させて天板から延びる誘電体よりなる膜付着防止手段78を設ける。 (もっと読む)


【課題】簡単な配管構成で,しかも簡単な制御で圧力変動などの影響を受けることなく処理室内の複数部位からガスを供給し,所望の面内均一性を実現可能とする。
【解決手段】ウエハの処理に先立って,分流量調整手段230に対して各処理ガス用分岐流路内の圧力比が目標圧力比になるように分流量を調整する圧力比制御を実行して,処理ガス供給手段210からの処理ガスを第1,第2分岐配管204,206に分流し,各処理ガス用分岐流路内の圧力が安定すると,分流量調整手段に対する制御を圧力安定時の一方の処理ガス用分岐流路内の圧力を保持するように分流量を調整する圧力一定制御に切り換えてから,付加ガス供給手段220により付加ガスを他方の処理ガス用分岐配管に供給する。 (もっと読む)


【課題】ガスの流速を抑えることにより,良好なプラズマ処理が可能なプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】マイクロ波プラズマ処理装置100は,スロットに通したマイクロ波を透過させる複数枚の誘電体パーツ31と,各誘電体パーツ31より下方に位置するガスノズル27とを有している。誘電体パーツ31およびガスノズル27は,ポーラス(多孔質体)とバルク(緻密質体)とから形成されている。第1のガス供給部は,アルゴンガスを各誘電体パーツ31のポーラス31Pから処理室内に供給する。第2のガス供給部は,シランガスおよび水素ガスをガスノズル27のポーラス27Pから処理室内に供給する。ガスは各ポーラスを通る際に減速され,これにより,ガスの過剰な攪拌を抑止することができる。この結果,均一なプラズマを生成し,これにより良質なアモルファスシリコン膜を形成することができる。 (もっと読む)


ドライエッチングプロセスに続いてエピタキシャル堆積プロセスを含む、エプタキシャル堆積プロセスが開示される。ドライエッチングプロセスは、洗浄すべき基板を処理チャンバ内に配置して表面酸化物を除去するステップを含む。ガス混合物をプラズマキャビティに導入し、ガス混合物を励起してプラズマキャビティ内に反応性ガスのプラズマを生成させる。反応性ガスは、処理チャンバに入り、基板と反応し、薄膜を形成させる。基板を加熱して薄膜を蒸発させ、エピタキシー表面をさらす。エピタキシー表面は、実質的に酸化物を含まない。その後、エピタキシャル堆積を用いてエピタキシー表面上にエピタキシャル層を形成する。 (もっと読む)


【課題】ウエハと誘電体間で放電が発生しない、かつ所望のウエハ温度分布を実現できる電極を提供する。
【解決手段】基材1の表面に設けた誘電体層2〜6と、基材1の内部に設けたウエハ温度調節用の冷媒を流す溝9と、誘電体層2〜6の表面から伝熱用ガスを噴出する伝熱用ガス噴出孔7と、伝熱用ガス噴出孔7へ伝熱用ガスを供給する伝熱用ガス供給パイプ10とを備え、誘電体層2〜6の上にウエハ8を設置して静電吸着でウエハを固定し、内部にウエハ温度調節用の冷媒を流し、誘電体層とウエハ間に伝熱用ガスを供給してウエハの温度を調節しながらウエハの処理を実行するプラズマ処理装置で用いられるウエハを載置するウエハ載置用電極において、誘電体層の全面がウエハに接触するように配置され、ウエハと誘電体層が接触する領域における誘電体層の表面粗さを領域の位置によって変えた。 (もっと読む)


【課題】クリーン化された半導体製造装置用のフッ素ゴム系シール材をうることのできる新規かつ有効な洗浄方法を提供する。
【解決手段】フッ素ゴム系シール材をソックスレー抽出法、高温高圧抽出法、マイクロウエーブ抽出法、超臨界抽出法、またはこれらの方法を組み合わせて抽出洗浄する半導体製造装置用のフッ素ゴム系シール材の洗浄方法。 (もっと読む)


【課題】 簡便な構造でカソードおよびアノードを配置することができ、良好な膜堆積、膜厚分布を得ることができ、さらに、冷却装置を具備する必要のない半導体素子製造装置を提供する。
【解決手段】 チャンバー11は、内部を任意の真空度に制御することができるように構成されている。内部構造体8の底部には、アノード4を支持するためのアノード支持体6が設置されている。アノード4は、導電性および耐熱性を備えた材料で製作されている。アノード4は、ヒータ24によって室温〜600℃に加熱制御される。カソード2は、アノード4と対向状にカソード支持体5に設置されている。カソード支持体5は、チャンバー11内に設けられた柱状枠組みの内部構造体8に取り付けられている。 (もっと読む)


【課題】電極に印加される電源の出力を高くした場合でも、多孔質体に破損等を生じることなく常にガスの均一な分布と、それによる表面処理の高速化、処理能力の向上を図る表面処理装置を提供する。
【解決手段】表面処理装置30において、多孔質の電極32の下面に多孔質の誘電体37を、その外周縁部で支持部材45により支持。支持部材45には上向きの傾斜面を、誘電体37には下向きの傾斜面を形成することで、誘電体の熱膨張変形が許容されながら、支持部材により誘電体を支持できる。また、共に多孔質の電極32、誘電体37を介して、放電領域51に均一に放電ガスを供給できる。放電領域51の周囲に多数の流量調整可能なガス排気口41を配設し、放電領域51での周囲にて均一にガスが排気される。特に、誘電体37とワーク39との間のギヤップが、取付精度等に依存して場所により一定でなくても、放電領域51での周囲にて均一にガスを排気できる。 (もっと読む)


【課題】下部電極又は上部電極の少なくとも一方を支持する接地基板及び収容容器の内壁の間における電位差を低減することができるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置10は、ガラス基板Gを収容するチャンバ11と、該チャンバ11内に配置されてガラス基板Gを載置する載置台としての下部電極板23と、該下部電極板23に対向して配置され且つチャンバ11内に処理ガスを供給するシャワーヘッド12と、該シャワーヘッド12の上部電極板13に接続された高周波電源20と、下部絶縁部25を介して下部電極板23を支持すると共にチャンバ11の内壁から離間して配置される接地基板26と、該接地基板26及びチャンバ11の内壁を短絡する短絡板36とを備え、該短絡板36及びチャンバ11の内壁の間にコンデンサ37が介在し、該コンデンサ37はチャンバ11の内壁に設けられる。 (もっと読む)


【課題】 マグネトロンと負荷室とを連結させるマイクロ波立体回路の構成を単純化し、マイクロ波電力を利用した加熱装置やプラズマ発生装置の生産コストを下げること。
【解決手段】 マグネトロン21と負荷室としての減圧室26とを連結するマイクロ波立体回路を導波管22で形成すると共に、この導波管22には、マイクロ波電力を減圧室26に放射する2次アンテナ25と負荷インピ−ダンスを調節する金属スタブ31とを設け、前記マグネトロン21を定格又は定格未満の動作条件で動作可能とした構成となっている。 (もっと読む)


【課題】プラズマ源とグランド電位またはグランド電位付近の電位を有する処理チャンバ各部(例えば、基板、壁など)との間に浮遊または寄生容量結合が実質的に生起しない高周波プラズマ処理方法を利用した製品の製造方法を提供する。
【解決手段】製品の製造方法は、基板を物質の組成物により処理する工程と、製品を完成させるために被処理基板を用いる工程とから成り、物質の少なくとも1つが、コイルを備えた螺旋共振器により供給される気相放電によって生起する種から生じ、周囲のシールド電位よりも大きい電位を有するコイル要素に対しプラズマの容量結合により流れる積分電流が、周囲のシールド電位未満の電位を有する他のコイル要素に対しプラズマの容量結合により流れる積分電流に実質的に等しいことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】シールドリングが大型化してもシールドリングを容易に製作することができると共にシールドリングを容易に取り扱うことができ電極への取り付け作業等の作業性を高めることができ、しかもシールドリングとしての性能が低下することのないシールドリングを備えたプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】シールドリング9Aは周方向に繋いで用いられる複数の分割シールドリング9A’からなり、一の分割シールドリング9A’の一方の第1の分割端面にはジグザグ状の段部が形成されており、且つ、前記分割シールドリング9A’の他方の第2の分割端面には別の分割シールドリング9A’の第1の分割端面と係合するジグザグ状の段部が形成されており、隣接する分割シールドリング9A’の繋ぎ目9Cは、一方の分割シールドリング9A’の第1の分割端面と他方の分割シールドリング9A’の第2の分割端面とが係合して形成されてなる。 (もっと読む)


【課題】 放電管等の寿命を延ばすことができるプラズマ発生装置を提供する。
【解決手段】 誘電体で形成され、その内部にプラズマ生成用ガスが導入される放電管6と、放電管6に向けてマイクロ波Mを放射する開口12が形成されたマイクロ波導波管10と、放電管6を冷却するための冷却手段20と、を備える。放電管6の外周面には、マイクロ波導波管10の開口12から放射されたマイクロ波Mを放電管6の内部に導入するためのマイクロ波透過窓部分13を残すようにして、導電性材料より成る被膜14が形成されている。冷却手段20は、放電管6の外周面の被膜14に液体の冷却媒体を循環させながら接触させる。 (もっと読む)


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