【課題】本発明タングステン形成プロセスを提供する。
【解決手段】タングステンプラグ及び層の形成方法が、明らかにされている。ポリシリコン又はアモルファスシリコンの薄い層（たとえば１５）が、接触開孔内に形成される。シリコンはＷＦ_６に露出され、それによってタングステンプラグ（たとえば２１）が形成される。 （もっと読む）

【課題】結晶配向が揃った良好な半導体装置とその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置１は、第１の層間絶縁膜４の貫通孔４３に形成された第１プラグ導電層４４と、この第１プラグ導電層４４上に設けられた導電部材６１とを備えた半導体装置であって、第１の層間絶縁膜４上には、第１プラグ導電層４４に通じる孔部５４を有したスペーサ絶縁膜５１が形成され、この孔部５４内には、第１プラグ導電層４４に接続し、かつ、導電部材６１に接続するスペーサ導電部５２が埋め込まれて形成されている。スペーサ導電部５２は自己配向性を有する導電材料からなり、スペーサ絶縁膜５１上とスペーサ導電部５２上とは、平坦化処理されていることを特徴とする。スペーサ導電部５２を所定の厚さにすることで、第１プラグ導電層４３に確実に蓋することができ、結晶配向のずれが導電部材６１に伝わることが防止される。 （もっと読む）

【課題】自己整合コンタクトプラグを形成する層間膜に、酸化シリコン膜のエッチング速度に対するエッチング速度比が１００以上となる材料を適用し、コンタクトプラグとワード配線、あるいはコンタクトプラグとビット配線のショートを防止する信頼性の高いコンタクトプラグの形成方法を提供する。
【解決手段】上面及び側面が酸化シリコン膜で覆われた配線１０５ｂを形成した後、配線を覆って全面にシリコンを含有しない有機塗布膜からなる犠牲層間膜１３２ａを形成し、犠牲層間膜および下層絶縁膜を順次にエッチングしてコンタクトホール１０８を形成し、コンタクトプラグを形成する。その後、犠牲層間膜を除去してコンタクトプラグの柱を形成し、その上に層間絶縁膜１０６を形成し、さらに層間絶縁膜を表面から一部除去し、容量コンタクトプラグの表面を露出させるようにした。 （もっと読む）

【課題】高温処理を行った場合でも素子の信頼性の劣化を抑制する。
【解決手段】磁気ランダムアクセスメモリは、磁化方向が固定された固定層１１と磁化方向が反転可能な記録層１３と固定層及び記録層の間に設けられた非磁性層１２とを有する磁気抵抗効果素子ＭＴＪを具備するメモリセルアレイであって、磁気抵抗効果素子の下方に配置された前記メモリセルアレイ内の全ての導電層２、４、５は、Ｗ、Ｍｏ、Ｔａ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｎｂ、Ｃｒ、Ｈｆ、Ｖ、Ｃｏ、Ｎｉからなる群の中から選択された元素を含む材料で形成されている。 （もっと読む）

【課題】無線信号から生成できる電流値及び電圧値の範囲内で駆動できるメモリを搭載した半導体装置を提供することを課題とする。また、半導体装置製造後にデータの書き込みを行える追記型のメモリを提供することも課題とする。
【解決手段】絶縁表面を有する基板上にアンテナと、アンチヒューズ型のＲＯＭと、駆動回路とを形成する。アンチヒューズ型のＲＯＭを構成する一対の電極の間に、シリコン膜とゲルマニウム膜との積層を設ける。この積層を有するアンチヒューズ型のＲＯＭは、書き込み電圧のバラツキを低減することができる。 （もっと読む）

【課題】メタルキャップ層の信頼性と生産性を向上させた半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置を提供する。
【解決手段】第２層間絶縁膜と第１配線、あるいは、第２配線層とハードマスクをシリコン基板２の表面に形成し、そのシリコン基板２を反応室Ｓに搬送させ、その反応室Ｓに、マイクロ波によって励起されたＮ_２ガスを導入する。そして、供給タンクＴに収容されるＺｒ（ＢＨ_４）_４をＡｒガスによってバブリングし、Ｚｒ（ＢＨ_４）_４を含むＡｒガスをＺｒ（ＢＨ_４）_４ガスとして反応室Ｓに導入する。 （もっと読む）

【課題】信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、以下の工程を有している。層間絶縁膜１内に下部配線５を備えた第一層を準備する。第一層上にライナー膜１１を設ける。層間絶縁膜１２をライナー膜１１上に設ける。層間絶縁膜１２およびライナー膜１１を貫通して下部配線５に達するトレンチ１４を形成する。トレンチ１４の側壁に沿った層間絶縁膜１２上及びライナー膜１１上と、下部配線５上に位置するトレンチ１４の底部とにバリアメタル１３を形成する。トレンチ１４底部を物理エッチングすることにより、トレンチ１４底部のバリアメタル１３と下部配線５とを削り、円錐形状又は半球形状の孔６をトレンチ１４の下側に設ける。トレンチ１４の側壁上のバリアメタル１３上及び孔６内に導電膜１５を形成する。トレンチ１４及び孔６内にＣｕ膜１９を埋め込む。 （もっと読む）

【課題】コンタクトホール内に形成される銅プラグの接合リークの増加を抑制し、銅プラグの良好なコンタクトを達成できる半導体装置の製造方法を提供することである。
【解決手段】シリサイド層３２を有する半導体基板１の上に絶縁膜３８を形成し、さらに、シリサイド層３２上の絶縁膜３８にホール３８ｆを形成し、ホール３８ｆ内とシリサイド層３２の表面をクリーニングし、ホール３８ｆの底面及び内周面に化学気相成長法によりチタン層４１を形成し、銅拡散防止用のバリア層４２をホール３８ｆ内のチタン層４１上に形成し、銅層４４をホール３８ｆ内に埋め込む工程を含む。 （もっと読む）

【課題】タングステンを埋め込むときのバリア層を形成する際に，チタン膜を形成し，そのチタン膜をすべて窒化して単一の窒化チタン膜をバリア層として形成することで，チタン層の変質によるタングステン膜の剥離を防止しつつ，従来よりもバリア層を薄くして，生産性を向上させる。
【解決手段】層間絶縁膜５２０上およびコンタクトホール５３０底部のシリコン含有表面５１２上にチタン膜を形成するチタン膜形成工程と，このチタン膜をすべて窒化し，単一の窒化チタン膜５５０を形成する窒化工程と，窒化チタン膜上にタングステン膜５６０を形成するタングステン膜形成工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】多層配線構造の作製において、すべての多層配線用ビア・配線・電極および放熱用ビアなどを、相互の接続特性を良好に保って、カーボンナノチューブ（ＣＮＴ）束により形成する半導体装置を提供する。
【解決手段】電導素材である、柱状構造をもったカーボンナノチューブ（ＣＮＴ）束２の少なくとも一つの表面に、Ａｕ膜など金属膜を形成後、下地層を積層し、その上に触媒金属層を形成して、ＣＶＤ法により柱状構造をもったカーボンナノチューブ（ＣＮＴ）束７を成長することで、二つの柱状構造体カーボンナノチューブ（ＣＮＴ）束を低抵抗で接続して形成する。この基本構成方法の組合せで、多層配線用の各種電導構成要素を作製する。また、成長条件によりＣＮＴの成長先端部が平坦となることを用いて、Ａｕ膜など金属膜を利用せずに、成長方向に多段に、長いカーボンナノチューブ（ＣＮＴ）束を作製でき、特に放熱用ビアなどへの適用が可能である。 （もっと読む）

【課題】孔の内面に対する電極膜等の被覆率を高めるとともに、電極膜等の均一性を高めることにより、キャパシタのリーク電流を低減させて高い信頼性を有する半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板１上に形成されたメモリセル選択用トランジスタＴｒ_１と、メモリセル選択用トランジスタＴｒ_１の上方に形成され、かつ蓄積容量部２４用の筒状の貫通孔３５ａが設けられてなるポリシリコン層間膜３３と、貫通孔３５ａ内部に形成されるとともにメモリセル選択用トランジスタＴｒ_１のソース・ドレインに対しコンタクトプラグ２５を介して接続された蓄積容量部２４と、を少なくとも備え、貫通孔３５ａの底面３５ｃと側壁面３５ｂとの接続部３５ｄが曲面で構成されていることを特徴とする半導体装置を採用する。 （もっと読む）

【課題】半導体基板の大面積化や配線の微細化に伴って銅のシード層が薄くなると、電解めっきでめっき膜のばらつきが大きくなる。
【解決手段】デュアルダマシン法で埋め込み配線を形成するにあたって、下層配線２上に孔加工や溝加工の加工マスクとなるＴｉＮ膜８を用いて、配線埋め込み領域（９，１０）を形成する工程と、配線埋め込み領域を除くフィールド部に導電膜１１を成膜する工程と、配線埋め込み領域を覆うようにバリアメタル層／シード層１２を成膜する工程と、配線埋め込み領域を電解めっき法により銅配線材料１３で埋め込む工程とを含むものとする。 （もっと読む）

【課題】ＳＲＡＭなどの半導体素子を製造するために適用可能なポリシリコン層の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体素子の製造方法は、半導体基板上に半導体素子内に含まれるトランジスタを形成するステップ、前記トランジスタ上に絶縁層を形成するステップ、前記絶縁層を選択的に除去してコンタクトホールを形成し、前記コンタクトホールを介して前記トランジスタの所定領域を露出させるステップ、前記コンタクトホール内にシリコン層を形成するステップ、前記絶縁層及び前記シリコン層上に金属層を形成するステップ、前記シリコン層及び前記金属層を熱処理して金属シリサイド層を形成するステップ、前記金属層を除去するステップ、前記絶縁層及び前記金属シリサイド層上に非晶質シリコン層を形成するステップ、及び前記非晶質シリコン層を熱処理してポリシリコン層を形成するステップを含む。 （もっと読む）

【課題】例えば、ＴＦＴ等の半導体素子と導電膜との接続抵抗を低減する。
【解決手段】図１２（ｆ）に示すように、第１低抵抗層を７５０乃至８５０°の温度下で３０秒乃至１２０秒間熱処理することによって、第２低抵抗層１１１を形成する。第２低抵抗層１１１は、第１低抵抗層１１１ａの格子構造が熱エネルギーによって転位してなるＣ５４等の転位層であり、第１低抵抗層１１１ａより電気抵抗が低い。続いて、第２低抵抗層１１１の表面、コンタクトホール６８１の内壁面及び第２層間絶縁膜４２の表面に上述した三層膜８２を形成する。これにより、アルミニウム層８２ａを含む三層膜８２は、第２低抵抗層１１１を介して高濃度ソース領域１ｄに電気的に接続される。したがって、第２低抵抗層１１１を形成することなく、直接高濃度ソース領域１ｄに三層膜８２を接続する場合に比べて、三層膜８２及び高濃度ソース領域１ｄの接続抵抗を低減できる。 （もっと読む）

【課題】必要な配線層を形成しつつ、製造コストを低減することが可能な不揮発性半導体メモリの製造方法を提供する。
【解決手段】不揮発性半導体メモリの製造方法は、選択トランジスタ４が形成される領域の第１の導電体膜７に選択トランジスタ４が形成される領域の第２の導電体膜９を電気的に接続する接続層１７を形成するための第１のコンタクト穴１５、および、層間絶縁膜１３に配線層１８を形成するための第２のコンタクト穴１６を、形成するためのレジストパターン１４をマスクとして、第１のコンタクト穴１５を形成するとともに、第２のコンタクト穴１６を形成し、第１のコンタクト穴１５および第２のコンタクト穴１６に第３の導電体膜を同時に埋め込んで接続層１７および配線層１８を形成する。 （もっと読む）

【課題】ＤＲＡＭ素子の微細化を進めた場合における、周辺回路側のトランジスタの短チャネル効果を抑制すると共に、コンタクト抵抗を低減することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板１と、半導体基板１の表面に形成されたＭＯＳトランジスタＴｒ_２と、ＭＯＳトランジスタＴｒ_２のソース１０８Ａ及びドレイン１０８Ｂにそれぞれ接続されるコンタクトプラグ１１Ａとを具備してなり、コンタクトプラグ１１Ａが、ソース１０８Ａ及びドレイン１０８Ｂ上に形成されて不純物が拡散されたエピタキシャル成長層を含んでなることを特徴とする半導体装置を採用する。 （もっと読む）

【課題】微細化加工において、コンタクトプラグとキャパシタの下部電極との接触界面抵抗を低下させ、歩留まりを向上させる構造の半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、半導体基板と、その表面に形成されたMOSトランジスタと、MOSトランジスタ上に設けられた第1の層間絶縁膜と、MOSトランジスタのゲート間において、第1の層間絶縁膜を貫通する第1の開口部に配置され、MOSトランジスタのソース及びドレインそれぞれに接続された多結晶シリコン膜のセルコンタクトプラグと、セルコンタクトプラグ上に設けられた第2の層間絶縁膜と、第2の層間絶縁膜を貫通する第2の開口部に配置され、平面視における面積が第2の開口部の面積より大きい突出部を有し、突出部の上に金属バリア層が形成された、多結晶シリコンのコンタクトプラグと、コンタクトプラグ上に設けられ、上部電極及び下部電極に誘電体が介挿されキャパシタとを有する。 （もっと読む）

【課題】材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して作製可能な表示装置及びその作製技術を提供することを目的とする。
【解決手段】チューブを絶縁層の開口形成領域上に絶縁層に接して配置し、そのチューブを通して処理剤（エッチングガス又はエッチング液）を絶縁層に吐出する。吐出（された処理剤（エッチングガス又はエッチング液）によって、絶縁層を選択的に除去し、絶縁層に開口を形成する。従って、導電層上に開口を有する絶縁層が形成され、絶縁層下の導電層が開口の底面に露出する。露出された導電層と接するように開口に導電膜を形成し、導電層と導電膜を絶縁層に設けられた開口において電気的に接続する。 （もっと読む）

最終メタライゼーション層のコンタクト領域（２０２Ａ）上にアンダーバンプメタライゼーション層（２１１）を直接形成することによって、アルミニウムおよび対応する密着／バリア層などのほかの終端金属の形成を省略することができる。この結果、得られるバンプ構造（２１２）の熱的挙動および電気的挙動を向上させることができ、プロセスを大幅に簡略化することができる。
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【課題】外部から曲げ等の物理的な力が加わり応力が生じた場合であってもトランジスタ等の素子の損傷を抑制する半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】基板上に設けられ、チャネル形成領域と不純物領域とを具備する半導体膜と、チャネル形成領域の上方にゲート絶縁膜を介して設けられた第１の導電膜と、第１の導電膜を覆って設けられた第１の層間絶縁膜と、第１の層間絶縁膜上に、少なくとも不純物領域の一部と重なるように設けられた第２の導電膜と、第２の導電膜上に設けられた第２の層間絶縁膜と、第２の層間絶縁膜上に、開口部を介して不純物領域と電気的に接続するように設けられた第３の導電膜とを設ける。 （もっと読む）