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Fターム[5F044LL13]の内容

ボンディング (23,044) | フェイスダウンボンディング (4,630) | 介在物を介して接続 (286)

Fターム[5F044LL13]に分類される特許

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【課題】互いの電極端子の間を金属電極を介して接続した一対の誘電体基板を有する電子装置であって、インピーダンスを従来よりも広い範囲で調節でき、これによって金属電極の付近とそれ以外の部分との間でインピーダンスを効果的に整合できる電子装置を提供する。
【解決手段】電子装置10は、それぞれに信号伝送線路を構成する信号層21,23,31,33が形成された一対の配線基板11,12を有する。双方の配線基板11,12の信号層23,33が、配線基板11,12の表面に形成されたはんだボール13を介して互いに接続されている。はんだボール13の近傍の配線基板11,12間に、所定の透磁率を有する磁性体材料15が充填されている。 (もっと読む)


【課題】開口径の異なる接続端子(パッド)を有する基板にチップを載置してはんだバンプのリフローを行った場合に、開口径の異なる一方のパッド部分で発生しがちな接続不良の回避を可能にし、バンプのはんだの一部がリフロー時に流れ出すことに起因するショートの発生を抑制することも可能にする、基板への新しいはんだ供給方法を提供すること。
【解決手段】開口径の異なる2種類以上の接続端子4、5を有する基板1の該接続端子に、開口径の異なる接続端子4、5上のリフロー後のはんだ中に存在する、リフローにより接続端子4、5からはんだ中へ拡散した物質の含有量の差が0.2wt%以下になるように、各接続端子4、5上へのはんだの量を制御して供給するようにする。 (もっと読む)


【課題】50ミクロンピッチ以下の微細ピッチ電極を有する半導体素子を基板上のパッドもしくは配線を接続する構造において、接続時の加熱または荷重負荷時に発生するバンプ間ショートや、高歪みによる接続部破断を防止しあるいは接触抵抗を低減し、高信頼性で高速伝送に対応可能な半導体装置を提供することにある。
【解決手段】基板と半導体素子は縦弾性係数(ヤング率)が65GPa以上600GPa以下のバンプと、錫、アルミニウム、インジウム、あるいは鉛のいづれかを主成分とする緩衝層を介して接続されており、バンプと基板上のパッドもしくは配線の対向した面の少なくとも一方に突起が形成され、超音波により接続することにより低温接続が可能な半導体装置。 (もっと読む)


【課題】 電気的相互接続構造体及びその作成方法を提供する。
【解決手段】 電気的構造体は、第1の導電性パッドを含む第1の基板と、第2の導電性パッドを含む第2の基板と、第1の導電性パッドを第2の導電性パッドに電気的かつ機械的に接続する相互接続構造体とを含む。相互接続構造体は、無はんだ金属コア構造体と、第1のはんだ構造体と、第2のはんだ構造体とを含む。第1のはんだ構造体は、無はんだ金属コア構造体の第1の部分を第1の導電性パッドに電気的かつ機械的に接続する。第2のはんだ構造体は、無はんだ金属コア構造体の第2の部分を第2の導電性パッドに電気的かつ機械的に接続する。 (もっと読む)


【課題】高密度で配置された電気的接続部分に対してもこれを封止材によって確実に封止することができ、基材に対して回路素子を高い信頼性をもって実装することが可能な回路素子実装モジュールの製造方法の提供を目的とする。
【解決手段】電気配線回路20と回路素子6とを電気的に接続する導電部5d’と、この導電部5d’を保護するための封止部5c’とを形成する実装工程を備える。実装工程では、少なくとも導電部5d’を形成すべき位置、および封止部5c’を形成すべき位置に導電材5dと封止材5cをそれぞれ吐出する。その後、液体吐出ヘッドから吐出された導電材5dおよび封止材5cが各々の機能を発現する前に回路素子6を電気配線回路20上に装着する。 (もっと読む)


【課題】パワーMOSトランジスタでは、主表面に形成された複数のソース領域に共通して接続されるようにソース電極が形成されている。ソース電極の面内方向の抵抗を減らすことにより、電流密度を均一にし、ソースとリードとを接続するワイヤの本数と電極接合部の位置とを自由に設計できる半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】電極を、パッド電極10a上に形成された電解めっき法による銅めっき層10eと、無電解めっき法により形成され、銅めっき層10eの上面及び側面を覆うように形成された、ニッケルめっき層10f,金めっき層10g、とから構成する。 (もっと読む)


【課題】薄い半導体チップを可撓性回路基板へ熱硬化樹脂を用いてフエイスダウンボンディングして製造される半導体装置の反りや変形が少ない半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体チップ1の中央部に位置する半導体基板の一部を、半導体チップ1と反対側に撓ませた状態で接着用樹脂4を硬化する。回路基板3は凹部6を有するボンディングステージ5上に吸着させて、排気された凹部6内に回路基板3を引き込むことで、撓ませる。硬化及び冷却時の接着用樹脂の収縮にともない回路基板3の撓みは減少して、収縮により生ずる回路基板3等への曲げ応力を相殺するので、半導体装置の反りが小さい。 (もっと読む)


【課題】 半導体素子と配線基板での対応する導電路とが良好に接続される半導体装置を用いた放射線検出器を提供する。
【解決手段】 入力面20a側で開口面積が大きくなるテーパ部20dを有する貫通孔20cが設けられたガラス基板、及び貫通孔20cの内壁に形成された導電性部材21からなる配線基板20を用いる。この配線基板20の入力面20a上に形成された導電性部材21の入力部21aに対し、PDアレイ15の出力面15b上に導電性部材21に対応して設けられたバンプ電極17を接続して、半導体装置5とする。そして、PDアレイ15の光入射面15aに光学接着剤11を介してシンチレータ10を接続し、配線基板20の出力面20bにバンプ電極31を介して信号処理素子30を接続して、半導体検出器を構成する。 (もっと読む)


【課題】ICチップとインターポーザ基板との位置決めを効率よく実行できるICチップ(液晶ドライバ)実装パッケージを提供する。
【解決手段】一実施形態である液晶ドライバ実装パッケージは、インターポーザ基板4aを介してフィルム基材と液晶ドライバ3とが接続している。液晶ドライバ3は、インターポーザ基板4aとの対向面に第1アライメントマークを有し、インターポーザ基板4aは、液晶ドライバ3との対向面に第2アライメントマーク12を有している。第1アライメントマークと第2アライメントマーク12とを、インターポーザ基板4aの上記対向面に対して垂直方向からみると、互いが、液晶ドライバ3とインターポーザ基板4aを貼り合せる際の貼り合わせ位置として許容できる範囲の距離ほど離間されている。 (もっと読む)


【課題】半導体チップを基板に実装するためのAuバンプとAl電極の間に形成してAuとAlの拡散を防止するためのエッチングレートの高いW−Ti拡散防止膜、並びにこのエッチングレートの高いW−Ti拡散防止膜を形成するためのスパッタリング用W−Tiターゲットを提供する。
【解決手段】Ti:5〜20質量%、Fe:25〜100ppmを含有し、残部がWおよび不可避不純物からなる組成を有するエッチングレートの高いW−Ti拡散防止膜、並びに同じ成分組成を有するスパッタリング用Ti−Wターゲット。 (もっと読む)


【課題】 回路基板に実装部品を実装後においても回路基板の反りを低減した電子デバイス及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 第1電極を有する回路基板に第2電極を有する実装部品が実装された電子デバイスにおいて、回路基板1と実装部品3とは可撓性絶縁部材6を介在して積層接着されており、第1電極と第2電極とは可撓性絶縁部材6の表面に形成した配線電極又は可撓性絶縁部材6を貫通する貫通電極9を介して電気的に接続した。 (もっと読む)


【課題】電子部品を回路基板にはんだバンプを用いて接続するものにおいて、アンダーフィル樹脂で封止せずに、はんだバンプの耐温度サイクル寿命を向上させる実装構造を提供する。
【解決手段】電子部品16を回路基板12にはんだバンプ14で接続した実装構造において、はんだバンプ14の内部に銅等の高融点金属からなる金属円筒18が配置され、かつ、金属円筒18の長さ方向が電子部品16及び回路基板12と垂直になるように金属円筒18が配置される。また、電子部品16の電極パッド22と回路基板12の電極パッド20のそれぞれに金等の高融点金属からなる金属突起24が形成され、この金属突起24が金属円筒18の開口部に入るように配置される。 (もっと読む)


【課題】小型で複数の周波数帯に利用できる広帯域な半導体集積回路を提供する。
【解決手段】RFIC15に組み込まれる整合回路のキャパシタを、RFIC15のダミーバンプパッド18とRFIC15のGND層との間に出来る寄生容量使って構成する。RFIC15を実装する場合、ダミーバンプパッド18は、基板に半田バンプ19で接着されるが、基板側でダミーバンプパッド18間に配線を行うことで、ダミーバンプパッド18部分での寄生容量を組み合わせて、所望の容量のキャパシタとし、RFIC15内のトランジスタ回路と接続する。 (もっと読む)


【課題】配線構造の形成が容易であり、製造工程が単純である配線基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上にパターン配線が形成されてなる配線基板の製造方法であって、前記基板上に、エアロゾルの衝突によって導電層を形成するエアロゾル成膜工程と、前記導電層をエッチングによりパターニングして当該導電層を含む前記パターン配線を形成するパターニング工程と、を有することを特徴とする配線基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】 回路基板と半導体素子との実装信頼性を向上するために接続部材に対する応力を緩和する。
【解決手段】半導体素子4の接続端子4Aに接続部材10を介して回路基板3と電気的に接続する実装構造であって、接続部材10は、柱状部2Aを有する導電性突起2を有し、半導体素子4の表面に水平な面で切った柱状部2Aの断面の断面積は、半導体素子4の接続端子4Aの表面積より小さい。回路基板3と半導体素子4とは、接続部材10の導電性部材2によって電気的に接合されている。 (もっと読む)


【課題】リワインド処理の回数を抑えて電子装置を製造する。
【解決手段】複数のベース13が配列可能な広さを有する長尺なベースシート上に、複数のアンテナ12を、それら複数のアンテナ12の向きも含めて点対称な配列となるように形成し、そのベースシートを巻き取ってロール体を得るアンテナ形成装置210と、そのロール体からベースシートを引き出して、その引き出したベースシート上に形成された各アンテナ12上にICチップ11を、各アンテナ12の向きに応じた向きに搭載して、ICチップ11とアンテナ12とを電気的に接続するICチップ搭載装置220と、アンテナ12上にICチップ11が搭載されたベースシートに対し、そのベースシートをRFIDタグ1に仕上げる後処理を施す後処理装置230とを備えた。 (もっと読む)


【課題】半導体装置と実装基板との接続信頼性に優れる半導体装置を提供する。
【解決手段】外部接続端子110を有する半導体装置100であって、外部接続端子は、Biと、Ag及び/又はCuと、Ge、Cr、Mo、V、Al、及びTiからなる群より選ばれる少なくとも1種と、Snを含む不純物と、からなる合金であり、前記合金中のBiの組成比(x)は、25質量%≦x≦75質量%であり、Ag及び/又はCuの組成比(y)は、0質量%≦y≦7質量%であり、Ge、Cr、Mo、V、Al、及びTiからなる群より選ばれる少なくとも1種の組成比(z)は、0質量%≦z≦0.5質量%であり、残部はSnを含む不純物であり、前記合金中に含まれる気孔の径は、平均値で50nm以上3.5μm以下であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】キャビティの形成による機械的強度の低下や、基板本体の反りやうねりの発生を抑えることができる、多層配線基板を提供する。
【解決手段】多層配線基板10は、基板本体20の一方主面20b側にキャビティ26が形成され、キャビティ26内に受動素子30,32が実装されている。キャビティ26は、底面27a,27bに段差が形成され、深さが異なる第1部分26aと第2部分26bとを含む。受動素子30,32は、高さが異なる第1素子30と第2素子32とを含む。キャビティ26の相対的に深い第1部分26aには、受動素子の相対的に高い第1素子30が配置されている。キャビティ26の相対的に浅い第2部分26bには、受動素子の相対的に低い第2素子32が配置されている。 (もっと読む)


【課題】小型化しつつ、さらに、接続抵抗を小さくし、製造工程を少なくしたことで歩留まり向上及びコストの低減及び製造時間の短縮を実現した積層実装構造体を提供すること。
【解決手段】第1の基板101a、第2の基板101b、中間基板103と、これら基板101a、101b上にそれぞれ形成された接続端子104a、104bとの間隙に配置されている導電部材105と、接続端子104a、104b上に形成された突起電極201と、中間基板103に形成された貫通孔106とを有し、基板101a、101b同士が接合部120により接合されることによって、突起電極201と導電部材105が貫通孔106において少なくとも接触し、基板101a、101bの接続端子104a、104b同士が電気的に接続される。 (もっと読む)


【課題】熱膨張によるミスマッチを解決しうる円柱型回転結合体及びそれを備える半導体素子を提供する。
【解決手段】一側面にソルダーボール形状の軸受継手が装着されるボール支持部のある円柱型柱と、円柱型柱の一側面に装着されて半導体素子100の内部の印刷回路基板300や半導体チップ200に接着されるソルダーボール形状の軸受継手と、を備えることを特徴とする円柱型回転結合体110である。 (もっと読む)


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