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Fターム[5F045AA13]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成長法 (11,750) | 光CVD (101) | 光プラズマCVD (14)

Fターム[5F045AA13]に分類される特許

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【課題】膜応力の小さい低誘電率の絶縁膜を形成できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理室内へ無機シリコンガスと酸素含有ガスを供給している状態で、励起エネルギーを処理室内へ供給して、基板表面にシリコン酸化膜を形成するシリコン酸化膜形成工程と、処理室内へ有機シリコンガスを供給している状態で、励起エネルギーを処理室内へ供給して、基板表面にシリコン膜を形成するシリコン膜形成工程と、を行うことにより、処理室内の基板表面に絶縁膜を形成するよう、基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】爆発の危険性が高いSiHを用いずとも、安全、比較的低温度で、しかも低廉なコストでSi系膜を提供できる技術を提供することである。
【解決手段】Si系膜を形成する為の膜形成材料であって、前記膜形成材料が、t−CSiX(Xは任意の基)と、前記t−CSiXと反応する反応性化合物とを有する。 (もっと読む)


【課題】基板に吸着したガスに含まれる不純物を効果的に除去しつつ基板処理することができる基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板を処理室内へ搬入する搬入工程と、前記処理室内へ搬入された基板に、第1のガスを吸着させる第1ガス供給工程と、前記第1ガス供給工程の後、前記処理室内から第1のガスを排気する第1ガス排気工程と、前記第1ガス排気工程の後、前記基板に付着した第1のガスを、分解機構により分解する第1分解工程と、前記第1分解工程の後、前記処理室内へ第2のガスを供給しつつ、前記分解機構により第2のガスを分解する第2ガス供給工程と、前記第2ガス供給工程の後、前記基板を処理室内から搬出する搬出工程とから、基板処理方法を構成する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、従来のCVD装置で用いることの出来なかった材料により成膜を可能にし、さらに不純物が混じらない高品質の成膜を可能とした薄膜堆積方法および装置を提供することを目的とする。
【解決手段】非平衡プラズマにより原料ガス14に与えるエネルギーと、原料ガス14より生成する目的の反応生成物固有のポテンシャルエネルギーとの差分のエネルギーを求め、ポテンシャルエネルギーが不足の場合、前記差分のエネルギーを補充するレーザ光19の波長を求め、ポテンシャルエネルギーが余剰の場合、差分のエネルギーを誘導放出により放出するレーザ光19の波長を求め、非平衡プラズマ化された原料ガス14に、求めた波長のレーザ光19を照射して、原料ガス14の基底準位を前記ポテンシャルエネルギーに遷移し、原料物質より目的の反応生成物を解離または分解し、被成膜物質12に堆積して成膜する。 (もっと読む)


【課題】 プラズマ源が処理容器から離れていても、ラジカル又はプラズマを失活させることなく処理容器へ導入することが可能な基板処理装置を提供すること。
【解決手段】 被処理基板Wに対して処理を施す処理容器21と、ラジカル又はプラズマを生成するプラズマ源26と、プラズマ源26で生成されたラジカル又はプラズマを、処理容器21に導入する導入配管30と、を備え、導入配管30の内壁が、ダイヤモンドライクカーボン膜31、又はC−H系膜でコーティングされている。 (もっと読む)


【課題】低電力のプラズマを容易に生成、維持、制御することができるようにし、もって低誘電率のプラズマ重合高分子膜を容易に形成することができるようにする。
【解決手段】原料ガスを真空チャンバ1内に導入し、真空チャンバ1内の基板2と該基板2と相対向する対向電極4との間にグロー放電によるプラズマを励起して基板2表面に薄膜を形成する成膜方法において、基板2表面の仕事関数以上のエネルギーの光を基板2へ照射すると共に、基板2と対向電極4間へのDCパルス電圧の印加を行うことによって、基板2と対向電極4間にグロー放電を開始させる。 (もっと読む)


【課題】薄薄膜に亜鉛を供給するプレカーサとして充分な反応性を有するビスアルコキシ亜鉛化合物に、揮発性、低融点化等のより好適な性質を付与して、特にCVD用原料として適する亜鉛化合物を提供すること。
【解決手段】下記一般式(1)で表される亜鉛化合物。
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【課題】基板の処理精度を向上させるとともに、電極の低コスト化および長寿命化を図り、基板の処理面積の大型化にも対応する。
【解決手段】内部を0.001気圧以上1気圧未満に保持可能な処理容器11と、この処理容器11内に配置される導電性の基板Wに3eV以上の仕事エネルギを有する紫外線Lを照射する光源12と、基板Wと光源12との間に基板Wに対向して配置されてこの基板Wを負にバイアスさせる電極13と、処理容器11内にプロセスガスGを供給する導入口14とが備えられ、処理容器11内に配置された基板Wに、負のバイアス電圧を印加しつつ紫外線Lを照射するとともに、導入口14から処理容器11内にプロセスガスGを供給することにより基板Wを処理する基板の処理装置10であって、電極13は、板厚が0.1mm以上とされた平板の表面に多数の貫通孔が形成されて、その開口率が50%以上95以下%とされている。 (もっと読む)


350℃よりも低い温度で基板上に相変化メモリカルコゲニド合金の堆積を生じさせる条件下で相変化メモリカルコゲニド合金の前駆体に基板を接触させる、基板上に相変化メモリ材料を形成するシステム及び方法であって、接触が化学蒸着又は原子層堆積を介して行われるシステム及び方法。基板上にGST相変化メモリ膜を形成するために有用である種々のテルル前駆体、ゲルマニウム前駆体及びゲルマニウム−テルル前駆体が記載されている。 (もっと読む)


【課題】光CVD装置において、処理速度を低下させることなく、汚染膜のクリーニングを行うこと。
【解決手段】光源部20及びシール部22を備えた区画手段14と、CVD膜の成膜中は、区画手段により気密的に区画される成膜室16及びクリーニング室18と、光源部を回転させることにより、成膜室露出領域BMをクリーニング室に、及び、クリーニング室露出領域BCを成膜室に、それぞれ露出させる回転手段28を備えている。そして、回転手段は、CVD膜の成膜中又はCVD膜の成膜後に光源部を回転させる。 (もっと読む)


【課題】ラジカル処理においてラジカルフラックスを広範囲かつ精密に制御することが可能な処理装置を提供する。
【解決手段】処理室101は、半導体等の被処理基体102の表面のラジカル処理を行う室であり、ガス導入手段105は、ラジカル生成手段108により生成されるラジカル生成領域111と、被処理基体支持手段103との間に設けられる。第1のガス排気手段106aは、ガス導入手段105よりもラジカル生成領域111の側に設けられる。第2のガス排気手段106bは、ガス導入手段105よりも被処理基体支持体103の側に設けられる。 (もっと読む)


断続的堆積処理において基板においてSi含有膜を選択的に形成する方法を提供する。その方法は、成長表面及び非成長表面を備える段階と、塩素化シランガスのパルスに基板を同時に晒しながら、基板をHXガスに晒すことにより、成長表面においてSi含有膜を選択的に形成する段階とを有する。Si含有膜は、酸化物、窒化物又は酸窒化物非成長表面でなく、Si又はSiGe成長表面に選択的に形成されるSi膜又はSiGe膜である。
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【課題】不活性ガスとともに酸素ガスを用いたスパッタ法において、より安定した酸化の状態で酸化物の薄膜が形成できるようにする。
【解決手段】高周波電源121の出力の交流電圧の平均値VDCを検出するVDCモニタ122と、VDCモニタ122が検出したVDCにより反応性ガス導入部112より導入されるガスの流量を制御するマスフローコントローラ123を制御する制御部124とを備え、VDCモニタ122で検出されたVDCの値が、既定値V0となるように、制御部124がマスフローコントローラ123を制御し、反応性ガス導入部112より導入される酸素ガスの流量を制御する。 (もっと読む)


【課題】 基板上に構造体をパターン加工するための装置及び方法を提供すること。
【解決手段】 走査先端部を有するイメージング装置と、発光装置と、走査先端部の周りにあって、分解されたときに基板上での化学気相堆積法に適したものとなる材料の蒸気を有する空間とを含む、基板上に構造体をパターン加工するための装置であり、この発光装置は、蒸気を分解できない強度を有する光ビームを、走査先端部付近の光ビームが引き起こす電磁場が蒸気を分解するのに十分な程強くなるように、走査先端部上に射出するように適合される。 (もっと読む)


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