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Fターム[5F045AD14]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜温度 (8,040) | 1000≦T<1100℃ (1,004)

Fターム[5F045AD14]に分類される特許

201 - 220 / 1,004


【課題】遷移金属のエネルギー準位を安定にすることが可能な半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、SiC基板10上に設けられ、遷移金属であるFeとFeよりも深い準位を有する不純物であるCとをそれぞれ一定の濃度で含有する第1のGaN層20と、第1のGaN層20上に設けられ、Feの濃度の変化に従いCの濃度が変化する第2のGaN層22と、第2のGaN層22上に設けられ、GaNよりもバンドギャップが大きい電子供給層18と、を有する半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】熱分解やガスの反応による生成物質が処理室周辺に付着する事を抑制可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置202は、複数のサセプタ(被誘導加熱体)218と該サセプタ上に載置された複数のウェハ200を有し、サセプタ218からの輻射熱によりウェハ200を加熱処理する、インナーチューブ230から形成される処理室201と、インナーチューブ230の外側に設けられ、インナーチューブ230と間隙SPを成して囲うアウターチューブ205と、間隙SPに配置されるガス供給ノズル2321と、アウターチューブ205の外側に設けられ、サセプタ218を誘導加熱する誘導加熱装置と、を備え、インナーチューブ230には、処理室201に配置されるウェハ200の周縁側方に開口部FHが設けられている。また、ガス供給ノズル2321には、開口部FHおよびウェハ200に向けてガスを吹き出す吹出し口が設けられている。 (もっと読む)


【課題】従来よりも反りの値を低減させたIII族窒化物エピタキシャル基板を提供することを目的とする。
【解決手段】Si基板と、上記Si基板上に形成された超格子積層体と、上記超格子積層体上にエピタキシャル成長されたIII族窒化物積層体とを具え、上記超格子積層体が、上記Si基板側からAlN材料を含む第1層、AlxGa1-xN(0<x<1)材料を含む第2層、およびAlyGa1−yN(0≦y<1)材料を含む第3層(但し、第2層のAl組成xおよび第3層のAl組成yは、y<xの関係を有する)を順に有する積層体を複数組そなえることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】AlN層表面のピット状欠陥の発生を抑制する。
【解決手段】シリコン基板10の表面を、熱処理温度が700℃以上1060℃以下、熱処理時間が5分以上15分以下、水素が含まれた雰囲気中においてサーマルクリーニングする工程と、前記サーマルクリーニングの後、前記シリコン基板表面に、N原料を供給せずにAl原料を供給するステップと、前記Al原料を供給するステップの後に前記Al原料と前記N原料とを供給するステップとを行って、前記シリコン基板上に第1AlN層11を第1のV/III原料比を用い成長する工程と、前記第1AlN層上に、前記第1のV/III原料比より大きな第2のV/III原料比を用い第2AlN層12を成長する工程と、前記第2AlN層上にGaN系半導体層を成長する工程と、を含む半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】好適なAlN層を成長することが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、N原料を供給せずにAl原料を供給するステップと、Al原料を供給するステップの後にAl原料とN原料とを供給するステップとを行って、Siからなる基板10上にAlN層12を成長する工程と、AlN層12を成長する工程の後に、AlN層12上にGaN系半導体層21を成長する工程と、を有し、AlN層12を成長する工程は、AlN層12の膜厚をx、AlN層12の(002)面ロッキングカーブの半値幅をyとすると、
76500/x0.81<y<53800/x0.83
となるAlN層12を成長する工程である半導体装置の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】GaN系半導体層内に形成される電子トラップ濃度を低減する。
【解決手段】Si基板10上に接して形成されたAlNを主成分とする下地層12と、前記下地層12上に形成され、前記下地層12上に形成され、前記下地層12から圧縮応力を受ける第1バッファ層14と、前記第1バッファ層14上に形成された第2バッファ層16と、前記第2バッファ層16上に形成されたAlの組成比が0.1以下のGaN系半導体層18と、を具備し、前記第2バッファ層16における前記第1バッファ層14側の面の結晶軸長に対し前記第1バッファ層14と反対の面の結晶軸長が前記GaN系半導体層18に近く、前記第2バッファ層16の伝導帯底エネルギーが前記GaN系半導体層18より高い半導体装置。 (もっと読む)


【課題】反りの小さな半導体基板および半導体装置を提供する。
【解決手段】Si基板10上に接して形成されたX線回折による(002)面のロッキングカーブ半値幅が1500秒以下のAlN層12と、AlN層12上に形成されたGaN系半導体層14と、を具備する半導体基板であって、その反りの曲率半径は±25m以上であり、反り量は、半導体基板の大きさを4インチとした場合、±50μm以下である。GaN系半導体層14はAlN層12から圧縮応力を受ける。 (もっと読む)


【課題】優れた制御性および再現性を実現しつつ、結晶中の面内方向および膜厚方向に均一に珪素が高濃度にドーピングされたIII族窒化物結晶を製造できる方法を提供する。
【解決手段】結晶成長炉内に下地基板を準備する工程と、III族元素のハロゲン化物と窒素元素を含む化合物を反応させて該下地基板上にIII族窒化物結晶を成長させる成長工程を含むIII族窒化物結晶の製造方法であって、前記成長工程で結晶成長炉にさらにハロゲン元素含有物質及び珪素含有物質を同一の導入管から供給するIII族窒化物結晶の製造方法。 (もっと読む)


【課題】等方性酸化を複数枚の基板が積層して配置された装置にて実施する場合に、基板配置場所により水素濃度が異なり酸化膜厚が大きく変動するのを抑制し、高品質な半導体装置を製造する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、複数枚の半導体ウエハ1を処理室4内に搬入する工程と、処理室4内を加熱するとともに圧力を大気圧よりも低くした状態で、酸素含有ガスと水素含有ガスとを供給して半導体ウエハ1を酸化処理する工程と、複数枚の半導体ウエハ1を処理室4内より搬出する工程とを有し、酸化処理する工程では、水素含有ガスを、複数枚の半導体ウエハ1が垂直方向に積層されて配列される基板配列領域に対応する領域の半導体ウエハ1が配列される方向における複数箇所から供給することで、酸素含有ガスと水素含有ガスとを基板配列領域に対応する領域の複数箇所で反応させて反応種を生成し、酸化処理を行う。 (もっと読む)


【課題】主面の面積が大きな大口径のGaN結晶基板を効率よく生産するためのGaN結晶の成長方法を提供する。
【解決手段】GaN種結晶基板101の主面101s上に第1の気相法により第1のGaN結晶110を成長させ、GaN種結晶基板101および第1のGaN結晶110の少なくともいずれかを加工することによりGaN種結晶基板101の主面101sに比べて面積が小さな主面111sを有する少なくとも1つの第1のGaN結晶基板111を得て、この第1のGaN結晶基板111bを液相法により成長させることにより第1のGaN結晶基板111bの主面111bsに比べて面積が大きな主面112sを有する第2のGaN結晶基板112を得て、この第2のGaN結晶基板112の主面112s上に第2の気相法により第2のGaN結晶120の成長させる。 (もっと読む)


【課題】電気的特性の測定を精度高く行うことが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、基板10の裏面10bに、絶縁体からなり、厚さが1μm以下の保護膜22を形成する工程と、保護膜22を設ける工程の後に、基板10の表面10aに、MOCVD法を用いて、GaN系半導体層を成長させる工程と、GaN系半導体層を成長させる工程の後に、GaN系半導体層の電気的特性を測定する工程と、を有する半導体装置の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板上に優れた結晶性の窒化物半導体層が形成された窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】シリコン基板10と、シリコン基板10に接するとともにシリコン基板10上の一部分に形成された窒化シリコンからなる選択成長マスク層20とを備え、選択成長マスク層20が形成されていないシリコン基板10上に、当該シリコン基板10に接するように窒化物半導体層30が形成されている。 (もっと読む)


【課題】発光特性及び注入電流均一性に優れ、十分な耐性を有する窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】第一の主面101aと第二の主面101bを有し、窒化物半導体基板101と、第一の主面101aに接して形成された第一の窒化物半導体層102と、第一の窒化物半導体層102の第一の主面101aと接する側とは反対側に形成された、n型窒化物半導体層103、活性層104及びp型窒化物半導体層105を含む積層体と、n型窒化物半導体層103に電気的に接続されたn側電極106と、p型窒化物半導体層105に電気的に接続されたp側電極107とを備える。第一の窒化物半導体層102は、アンドープの窒化物半導体層である。また、第二の主面101bが光取り出し面とする窒化物半導体発光素子である。 (もっと読む)


【課題】薄膜形成の再現性を向上させる。
【解決手段】薄膜形成装置は、第1のサセプタに支持された被処理基板を搬送する搬送アームが設置された搬送室と、前記搬送室に連結され、前記搬送アームによって搬送された前記被処理基板に処理を施すことが可能な複数の処理室と、前記搬送室に連結され、前記第1のサセプタの表出面を覆う第2のサセプタを前記第1のサセプタに着脱することが可能なサセプタ交換室と、を備える。 (もっと読む)


【課題】全表面でイエロー発光が少なく、導電性を有するGaN結晶自立基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本GaN結晶自立基板は、HVPE法により、結晶側面を除く結晶成長面として、(0001)面と{10−11}面および{11−22}面の少なくともいずれかの面とが混在する状態で成長させたものであり、(0001)面成長結晶領域において炭素濃度が5×1016個/cm3以下かつ珪素濃度が5×1017個/cm3以上2×1018個/cm3以下かつ酸素濃度が1×1017個/cm3以下であり、{10−11}面および{11−22}面の少なくともいずれかの面を結晶成長面として成長したファセット結晶領域において炭素濃度が3×1016個/cm3以下かつSi濃度が5×1017個/cm3以下かつ酸素濃度が5×1017個/cm3以上5×1018個/cm3以下である。 (もっと読む)


【課題】基板裏面側に形成されるエピタキシャル層を低減するエピタキシャル成長装置を提供する。
【解決手段】チャンバー2と、該チャンバー内に配置され、エピタキシャル成長させる基板Wを載置する、複数の貫通孔を有するサセプタ3と、該サセプタを支持するサポートシャフト7と、前記チャンバー2内の前記サセプタ3上に載置された基板Wに反応ガス供給源からの反応ガスを供給する反応ガス供給手段4と、反応後のガスを前記チャンバー2外に排出する反応ガス排出手段5と、を具備するエピタキシャル成長装置1において、前記サセプタ3の裏面側を覆うカバー91を配設する。 (もっと読む)


【課題】発光層の結晶性に起因する不良が生じにくく、かつ、高い出力の得られる半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】第一有機金属化学気相成長装置において、基板上に第一n型半導体層を積層する第一工程と、第二有機金属化学気相成長装置において前記第一n型半導体層上に、第二n型半導体層と、障壁層およびGa1−yInN(0.07<y<0.30)なる組成の井戸層からなる発光層と、p型半導体層と、を順次積層する第二工程とを具備し、前記第二工程において、前記障壁層を第一の成長温度T1で成長させた後に、前記第一の成長温度T1よりも高温の第二の成長温度T2に昇温して前記障壁層を成長させ、さらに、前記第二の成長温度T2よりも低温の前記第三の成長温度T3に降温して前記障壁層の成長を続けることを特徴とする半導体発光素子の製造方法を採用する。 (もっと読む)


【課題】LEDや高電子移動度トランジスタなどのデバイス用として有用なIII−V族窒化物品の提供。
【解決手段】自立III−V族窒化物基板上に堆積したIII−V族窒化物ホモエピタキシャル層を含むホモエピタキシャルIII−V族窒化物品であって、前記III−V族窒化物ホモエピタキシャル層が1E6/cm2未満の転位密度を有しており、(i)前記III−V族窒化物ホモエピタキシャル層と前記自立III−V族窒化物基板の間に酸化物を有するか、(ii)前記III−V族窒化物ホモエピタキシャル層と前記自立III−V族窒化物基板の間にエピ中間層を有するか、
(iii)前記自立III−V族窒化物基板がオフカットされており、前記III−V族窒化物ホモエピタキシャル層が非(0001)ホモエピタキシャルステップフロー成長結晶を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】アルミニウム系III族窒化物結晶成長装置において、加熱機構に起因して発生するベース基板のそりを低減し、かつ、速い結晶成長速度を達成できるような高温度を両立できるような装置を提供する。
【解決手段】少なくともハロゲン化アルミニウムガスを含むIII族原料ガスと窒素源ガスの原料ガスをベース基板16表面に沿った流れで供給し、アルミニウム系III族窒化物層を該ベース基板表面に成長させるアルミニウム系III族窒化物製造装置において、反応部へ供給するまでの原料ガスの温度を該ガスの反応温度未満とし、かつアルミニウム系III族窒化物層が成長するベース基板表面に対向する反応部内の面に加熱面を有する第二加熱手段19を設置したことを特徴とするアルミニウム系III族窒化物製造装置である。 (もっと読む)


【課題】拡大成長させた場合に、結晶性の良好なIII族窒化物半導体単結晶を得ることができるIII族窒化物半導体の種結晶の製造方法、およびIII族窒化物半導体単結晶の製造方法を提供すること。
【解決手段】III族窒化物半導体の種結晶の製造方法は、気相成長法により、種結晶形成用部材1上に複数のIII族窒化物半導体の核を離間させて形成し、前記複数の核を成長させて、前記複数の核から複数の種結晶2を得る。 (もっと読む)


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