説明

Fターム[5F045DP15]の内容

Fターム[5F045DP15]に分類される特許

1 - 20 / 418





【課題】 基板を加熱するためのヒータ、及び該ヒータに通電する電流導入端子を備えた気相成長装置であって、電流導入端子から気相成長装置外部への熱拡散を効果的に抑制できる気相成長装置を提供する。
【解決手段】 電流導入端子の内部に冷媒の流路が設けられ、導電性の電流導入端子本体に該冷媒が接触可能となるように構成されてなる気相成長装置とする。好ましくは前記の冷媒の流路のほか、側壁部と電流導入端子の間及び/または電流導入端子と電流導入端子の間に、冷媒が流通する冷却容器を備えた気相成長装置とする。 (もっと読む)


【課題】処理前に基板温度を計測する基板の温度計測装置及び方法、基板温度が所定の温度範囲内にない場合に再加熱、冷却を行う基板の温度調整装置及び方法を提供する。
【解決手段】搬送ロボットで搬送された基板が停止する成膜室の入口の手前の位置であり、当該位置の基板の裏面側に、加熱した基板の裏面の温度を計測する温度計測装置を設け、当該温度計測装置により、加熱した基板の裏面の温度を計測し(S5)、計測した基板の裏面の温度が所定の温度範囲内にない場合(S6)、所定の温度範囲より大きい場合には、搬送ロボットで保持した状態で基板を冷却し(S7→S8)、所定の温度範囲より小さい場合には、搬送ロボットで再び加熱室へ搬送し、加熱室で加熱する(S7→S2)。 (もっと読む)


【課題】化学蒸着を実施するための反応炉を提供する。
【解決手段】化学蒸着またはエピタキシャル層成長反応炉は反応チャンバを含んでいる。少なくとも1つの基板キャリアと基板キャリアを支持するためのサポータとが反応チャンバ内に設けられている。基板キャリアは第1面と第2面とを含んでいる。基板キャリアの第2面には少なくとも1つの内向きに窪んだ凹部が設けられている。サポータは、サポータは、スピンドル部と;スピンドル部の一端に接続されて、スピンドル部の外周から外向きに延びた支持部であって、支持部が支持面を含んだ支持部と;スピンドル部に接続されて、基板キャリアの第1面に向かって所定の高さだけ延びたプラグイン部と、を含み、サポータのプラグイン部は取外し可能に凹部内に挿入され、基板キャリアがサポータ上に配置され且つサポータによって支持されることを可能にしている。 (もっと読む)


【課題】サセプタの面内温度分布の均一化を図りつつ、回転軸の耐久性の低下を抑制する。
【解決手段】成膜室1と、成膜室1内に成膜用の原料ガスを供給するシャワーヘッド7と、成膜室1内において被処理基板3を加熱するヒータ6と、成膜室1内において被処理基板3が載置される回転可能なサセプタ4と、サセプタ4を支持し、サセプタ4に回転力を伝達する回転軸25とを備える。回転軸25は、この回転軸25の軸方向に並んで一体に連結される複数の軸部材51,22,53を含む。複数の軸部材51,22,53の各々は、外径が拡径した継手部51a,22a,22b,53aを有する。複数の軸部材51,22,53のうちの互いに隣接する少なくとも1組の軸部材51,22の継手部51a,22a同士は、この軸部材51,22の材料より熱伝導率の低い材料で形成された側面視平板状の環状部材21を間に挟んで互いに連結されている。 (もっと読む)


【課題】サセプタからの熱逃げが抑制され、かつサセプタ支持部材の熱による破損を防止できる成膜装置を提供する。
【解決手段】
ヒーター23によってサセプタ21を加熱し、原料ガス導入部13から真空槽11内に原料ガスを導入し、サセプタ21の板部21aの表面に配置された基板51に薄膜を形成する成膜装置10であって、サセプタ21の筒部21bの端部とサセプタ支持部材31との間には、サセプタ21とは別の材質である熱抵抗部材22が配置されており、サセプタ21の熱が熱抵抗部材22で遮られてサセプタ支持部材31に伝わりづらくなっている。 (もっと読む)


【課題】サセプタ上の複数の領域毎に材料ガスの混合比および流量を調整する。
【解決手段】被処理基板10が載置されるサセプタ120と、サセプタ120と対向し、被処理基板10上に複数の材料ガスを供給するシャワーヘッド130と、シャワーヘッド130に複数の材料ガスのうちの所定の複数の材料ガスを混合してそれぞれ導入する複数の混合配管と、複数の材料ガスの各々において流量を調整しつつ分岐してそれぞれを、複数の混合配管のいずれかに送る複数のガス分岐機構とを備える。シャワーヘッド130は、複数の混合配管のそれぞれで混合された複数の混合ガスをサセプタ上の複数の領域にそれぞれ噴き付ける。複数の混合ガスの各々においては、上記所定の複数の材料ガスの各々の濃度および流量が調節されている。 (もっと読む)


【課題】サセプターのうち基板が配置される範囲内を均一な温度に維持できる成膜装置を提供する。
【解決手段】
回転部30により板部21を筒部22と一緒に回転させながら、ヒーター23によって板部21と筒部22とを加熱し、原料ガス導入部13から真空槽11内に原料ガスを導入し、板部21の表面に配置された基板51に薄膜を形成する成膜装置10であって、板部21のうち、基板51が配置される範囲より外側には、基板51が配置される範囲の厚みより厚みが薄い第一の熱抵抗部分41が環状に設けられており、基板51が配置される範囲内から外側に熱が逃げにくくなっている。 (もっと読む)


【課題】複数の処理部を順番に通過させ、複数種類の処理ガスを順番に供給すると共にプラズマ処理を行うにあたり、基板に均一な成膜処理を行うこと。
【解決手段】回転テーブルにおける基板載置領域側の面にプラズマ生成用のガスを供給するガス供給部と、プラズマ生成用のガスを誘導結合によりプラズマ化するために、前記回転テーブルの中央部から外周部に亘って伸びるように当該回転テーブルにおける基板載置領域側の面に対向して設けられたアンテナと、を備えるように装置を構成する。そして、前記アンテナは、前記基板載置領域における回転テーブルの中央部側との離間距離が、前記基板載置領域における回転テーブルの外周部側との離間距離よりも3mm以上大きくなるように配置する。 (もっと読む)


【課題】基板の処理の終了後に余熱によって薄膜に所望しない反応が生じてしまうことを防止でき、薄膜の結晶構造を安定させ、搬送ロボット等の破損を低減する。
【解決手段】複数の処理領域を有する反応容器内に設けられた基板支持部に基板を載置する工程と、基板を所定の処理温度に加熱しつつ、第1のガスを第1の処理領域内に供給し、プラズマ状態とした第2のガスを第2の処理領域内に供給し、第1の処理領域及び第2の処理領域を基板が通過するようにさせて、基板上に薄膜を形成する工程と、反応容器内への第1のガス及び第2のガスの供給を停止し、反応容器内に不活性ガスを供給して処理済みの基板を冷却する工程と、反応容器外に処理後の基板を搬出する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】より急峻且つより安定したSRプロファイルを有するエピタキシャルウェーハを製造することのできる技術を提供する。
【解決手段】不純物を含有するシリコン単結晶の基板Sの直上に、基板Sよりも不純物濃度が低い第1層を気相成長させる第1成長工程(1st Growth工程)と、第1層よりも上に第2層を気相成長させる第2成長工程(2nd Growth工程)とを有するエピタキシャルウェーハの製造方法であって、第1成長工程において、強制的に排気を行って常圧AP以下の第1圧力RPの下で気相成長させ、第2成長工程において、第1圧力RPより高い第2圧力APの下で気相成長させるようにする。 (もっと読む)


【課題】 基板を加熱するためのヒータに通電する電流導入端子が、冷媒を導入する冷却容器に備えられた構成を有するIII族窒化物半導体の気相成長装置であって、ヒータからの熱が電流導入端子を介して気相成長装置の各部品に拡散することを、効果的に抑制できるIII族窒化物半導体の気相成長装置を提供する。
【解決手段】 電気絶縁された電流導入端子の少なくとも一部を厚さ0.1〜1mmのフッ素樹脂膜で被覆し、該フッ素樹脂膜を介して該電流導入端子を冷媒により冷却できる構成とする。 (もっと読む)


【課題】互いに反応する処理ガスを順番に供給して基板の表面に反応生成物を積層するにあたり、処理ガスが各々供給される処理領域同士の間に分離ガスを供給して処理ガス同士が処理雰囲気において互いに混合することを防止しながら、分離ガスの供給流量を抑える。
【解決手段】処理領域P1、P2の間に分離ガスノズル41、42を配置し、分離ガスノズル41、42から分離ガスを各々供給して処理領域P1、P2同士を分離する。この時、分離ガスノズル41、42における回転テーブル2の回転方向下流側に、回転テーブル2の上面との間に狭隘な空間S1を形成するための第1の天井面44を設ける。また、この第1の天井面44における回転テーブル2の回転方向上流側に、第1の天井面44よりも高い第2の天井面45をこの第1の天井面44に隣接するように設ける。 (もっと読む)


【課題】サセプタへのウェハ固着を防止する。
【解決手段】一つの実施形態によれば、半導体製造装置は、サセプタ、回転部、及び振動発生部が設けられる。サセプタは、チャンバ内に設けられ、ウェハを支持してウェハの成膜中に回転する。回転部は、サセプタに連結し、チャンバの内部及び外部に設けられ、サセプタを回転する。振動発生部は、成膜中にサセプタに振動を与える。 (もっと読む)


【課題】複数の種類のガスを用いる場合においても、所望の膜質を得られる基板処理装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置10は、複数の基板900を円周方向に支持するサセプタ60と、サセプタを回転させる回転機構120と、サセプタの支持面62上の空間に設けられた複数の領域と、これらの複数の領域にガスを供給するガス供給部200と、を有し、ガス供給部200は、複数の領域における隣り合う領域で同じガスを供給するか、若しくは複数の領域における隣り合う領域で異なるガスを供給するかが選択可能な構成である。 (もっと読む)


【課題】処理領域の反応ガスの濃度及び分圧を高めることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】処理領域に設けられ、基板の載置領域の移動方向と交差するように伸びると共に、その長さ方向に沿って吐出口が形成された反応ガス供給用のガスノズルと、前記複数の処理領域の雰囲気を互いに分離するための分離ガスが供給され、回転テーブルの回転方向においてこれら処理領域の間に位置する分離領域と、ガスノズルの周囲に反応ガスを滞留させるためのカバー部材と、を備え、さらに前記回転方向上流側の側壁部の下部から、回転方向上流側から流れる分離ガスを前記カバー部材の上方へガイドするガイド面を備えるように装置を構成する。そして、ガスノズルとカバー部材における回転方向上流側の側壁部との間隔を、ガスノズルから供給された反応ガスが回転方向上流側から前記ガイド面に回り込まないように設定する。 (もっと読む)


【課題】真空容器内にてテーブルの周方向に沿って複数の半導体ウェハを配置し、2種類の反応ガスを順番に基板の表面に供給して成膜するALDにおいて面内均一性高く成膜処理を行うこと。
【解決手段】ALDを行う成膜装置101と、アニール処理を行う熱処理装置102と、を真空搬送室103に気密に接続すると共に、真空搬送室103内に自転機構である回転ステージ132を設ける。そして、ウェハに対してBTBASガスを供給してこのガスを吸着させ、次いでBTBASガスと反応して流動性を持つシロキサン重合体を生成するエタノールガス及びこのシロキサン重合体を酸化するO3ガスをこの順番で供給して成膜処理を行うと共に、この成膜処理の途中で成膜装置101からウェハを取り出して、基板を回転させてその向きを変更し、またアニール処理を行って反応生成物を緻密化する。 (もっと読む)


【課題】基板表面の面内温度分布を解消し、基板表面に形成する薄膜の面内均一性を向上させて歩留まりを改善することができる気相成長装置を提供する。
【解決手段】基板保持部材20に設けた基板保持凹部23に基板22を保持し、加熱手段によって加熱される基板保持部材を介して基板を加熱するとともに、基板上に原料ガスを供給して基板表面に薄膜を形成する気相成長装置において、基板保持凹部は、基板の裏面に平行な平面部26と、平面部から上方に突出して上端に基板載置部27aが設けられた基板支持凸部27と、基板支持凸部に隣接する平面部に設けられた凹溝部28とを備えている。 (もっと読む)


1 - 20 / 418