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Fターム[5F049SZ12]の内容

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SiO2 (74)

Fターム[5F049SZ12]に分類される特許

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【課題】センサ部での光の利用効率の低下を防止することができる電磁波検出素子を提供する。
【解決手段】互いに交差して配設された複数の走査配線及び複数の信号配線の各交差部と、2次元状に配列された複数のセンサ部であって、各々が、検出対象とする画像を示す電磁波が照射されることにより電荷が発生する半導体層、半導体層の電磁波が照射される照射面側に電磁波に対して透過性を有する導電性部材により形成され、半導体層に対してバイアス電圧を印加する第1電極、及び半導体層の電磁波に対する非照射面側に形成され、半導体層に発生した電荷を収集する第2電極を備えた複数のセンサ部と、センサ部よりも電磁波の下流側に形成され、各々コンタクトホールを介して第1電極に接続されてバイアス電圧を供給する共通電極配線と、走査配線と、信号配線及び共通電極配線との間に形成されている第1の絶縁膜と、を備え、信号配線及び共通電極配線は同層に形成。 (もっと読む)


【課題】X線検出用フォトダイオード等においては、初期結晶材料として、裏面側に高濃度の不純物がドープされた単結晶ウエハ等を使用する場合がある。このような場合、裏面側不純物の外方拡散によるクロスコンタミネーション等を防止するために、予め、ウエハの裏面に、酸化シリコン膜等の不純物外方拡散防止膜等を形成しておく等の対策が講じられる。しかし、裏面に不純物外方拡散防止膜を形成する際に、ウエハの表面を損傷する等の問題が有る。
【解決手段】本願発明は、裏面に高濃度の不純物ドープ層を有する半導体ウエハの裏面に、不純物防止膜を形成するに当たり、まず、前記半導体ウエハの表面に酸化シリコン系絶縁膜等の表面保護膜を形成し、その状態で、前記裏面に、前記不純物防止膜を形成し、その後、ウエットエッチングにより、前記不純物防止膜を残した状態で、前記表面保護膜をほぼ全面的に除去するものである。 (もっと読む)


【課題】設計自由度を低下させることなく、感度の向上を図ることができる受光素子を提供する。
【解決手段】受光素子1は、入射光を表面プラズモンに変換する周期構造領域1aと、周期構造領域1aの外縁に沿うように配置され、表面プラズモンに応じて電荷を発生する光電変換領域1bと、周期構造領域1aの内側に位置するように配置され、表面プラズモンに応じて電荷を発生する光電変換領域1cと、を備える。 (もっと読む)


【課題】シリコンフォトダイオードであって、近赤外の波長帯域に十分な分光感度特性を有しているフォトダイオードの製造方法及びフォトダイオードを提供すること。
【解決手段】半導体基板2を絶縁層4が露出するまでドライエッチングすることにより、半導体基板2を貫通して絶縁層4に至る孔H1を光感応領域S1に対応する位置に形成する。次に、n型埋込み層6の孔H1に露出する面7に、不規則な凹凸22を形成する。絶縁層4のn型埋込み層6の孔H1に露出する面にピコ秒〜フェムト秒パルスレーザ光が照射されると、絶縁層4が除去されると共に、n型埋込み層6の孔H1に露出する面7がピコ秒〜フェムト秒パルスレーザ光に荒らされ、不規則な凹凸22が面7の全面に形成される。次に、不規則な凹凸22が形成された基板を熱処理する。 (もっと読む)


【課題】シリコンを用いた半導体光検出素子であって、近赤外の波長帯域に十分な分光感度特性を有している半導体光検出素子を提供すること。
【解決手段】半導体光検出素子SP1は、第1導電型の半導体からなり、互いに対向する第1及び第2主面21a,21bを有すると共に第1主面21a側に第2導電型の半導体層23が形成されたシリコン基板21と、第1主面21a上に設けられ、発生した電荷を転送する電荷転送電極25と、を備え、表面入射型である。シリコン基板21には、第2主面21b側にシリコン基板21よりも高い不純物濃度を有する第1導電型のアキュムレーション層31が形成され、第2主面21bにおける少なくとも半導体領域23に対向する領域に不規則な凹凸10が形成されている。シリコン基板21の第2主面21bにおける不規則な凹凸10が形成された領域は、光学的に露出している。 (もっと読む)


【課題】機器の性能を従来よりも向上し得る光電変換素子、光検出器及び太陽電池を提供する。
【解決手段】Geからなる光電変換層5の表面にGeO2膜10を形成し、光電変換層5及びGeO2膜10間の界面準位密度を1012[eV-1cm-2]以下としたことにより、光電変換層5の暗電流を低減させたり、或いは、表面再結合を抑制し得、光電変換機能を用いた各種機器の性能を従来よりも向上し得る。 (もっと読む)


【課題】固体撮像装置において、ゴーストなどの発生を抑制して、画像品質を向上させる。
【解決手段】入射光Hを受光する複数の画素PXが半導体基板101の上面に配列されているセンサ基板100と、前記センサ基板の上面に下面が対面しており、前記入射光が透過する透明基板300と、前記透明基板の上面と前記センサ基板の上面との間のいずれかの位置に設けられており、前記入射光が透過する回折格子601とを有し、前記回折格子は、前記半導体基板の上面にて前記複数の画素が配列された画素領域PAに前記入射光が入射し回折されることで生ずる反射回折光を回折するように形成する。 (もっと読む)


【課題】光電変換効率が高く、光電流/暗電流のS/N比の良好であり、且つ、応答速度の速い光電変換素子を提供する
【解決手段】一対の電極(20,40)と、一対の電極(20,40)に挟持された少なくとも光電変換層32を含む受光層30を有する光電変換素子1は、受光層30の少なくとも一部の層が、フラーレン又はフラーレン誘導体を主成分とする複数の粒子又は該複数の粒子が成形されてなる成形体であり、複数の粒子のD50%で表される平均粒径が50μm〜300μmであるの光電変換素子用蒸着材料を用いて蒸着されたフラーレン又はフラーレン誘導体を含むものである。 (もっと読む)


【課題】フォトダイオードを有する半導体イメージセンサーにおいて、より高い光検出効率を実現し、光検出部以外の信号処理を行う画素トランジスタの特性を安定させることで、半導体装置の微細化を可能にする。
【解決手段】フォトダイオードPDを構成するP領域126およびN型領域111に炭素を共注入して炭素注入層128a、128bを形成することで、フォトダイオードPDの容量を増大させる。また、炭素注入層128bの形成によりN型領域111を含む転送トランジスタTrのチャネル内のホウ素の分布を均一化し、転送トランジスタTrの特性を安定させることで半導体装置内の素子の特性ばらつきの発生を防ぐ。 (もっと読む)


【課題】1画素1バンプを実現しながら、感度を向上させる。
【解決手段】センサ素子アレイを、第1波長帯に対する第1活性層8と第2波長帯に対する第2活性層9とを積層した構造を有し、縦横2つずつ配列された第1〜第4画素10A〜10Dと、第1画素10Aの第1活性層と第2画素10Bの第1活性層とに電気的に接続された第1バンプ6Aと、第2画素の第2活性層に電気的に接続された第2バンプ6Bと、第1画素の第2活性層と第3画素10Cの第2活性層とに電気的に接続された第3バンプ6Cと、第4画素10Dの第1活性層に電気的に接続された第4バンプ6Dとを備えるものとし、第1〜第4バンプを、第1〜第4画素の上方にそれぞれ1つずつ設ける。 (もっと読む)


【課題】入射光を遮ることなく、電磁ノイズをシールドすることができる半導体受光素子であって、受光素子とポリシリコン膜とがショートすることを回避し、かつ、受光素子のカソードとポリシリコン膜との間に発生する寄生容量を低減し、これによって、受光素子に接続される増幅器の動作の安定化を図ることができる半導体受光素子を提供する。
【解決手段】P型基板1に形成されたPN接合部4aを有する受光素子4と、受光素子4を覆うLOCOS酸化膜5aよりなる絶縁部と、絶縁部上に形成された透光性導電膜としてのポリシリコン膜8と、透光性導電膜に接続され、GND電位に固定するための電極7とを備える。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い半導体素子を提供する。
【解決手段】半導体素子100は、Fe−InP基板10と、Fe−InP基板10上に設けられたn−InPエッチングストッパ層14と、n−InPエッチングストッパ層14上に設けられたInGaAs層32と、InGaAs層32上に設けられたp−InPウィンドウ層22と、により構成されるメサ30と、n−InPエッチングストッパ層14上に設けられ、かつメサ30の側面を覆うInPパッシベーション層40と、を備えている。InGaAs層32は、n−InPエッチングストッパ層14と異なる材料により構成されており、p−InPウィンドウ層22は、n−InPエッチングストッパ層14と同一の材料から構成されている。また、p−InPウィンドウ層22の層厚がInGaAs層32の層厚の1/3以下である。 (もっと読む)


【課題】 焦点検出の精度を向上させる。
【解決手段】 それぞれが光電変換素子を含む複数の焦点検出用の画素と、光電変換素子で生じた信号を読み出すための複数の配線層とを有する光電変換装置は、複数の配線層の最下層の配線層の下面に比べて、光電変換素子の受光面を含み受光面に平行な面に近接した下面を有し、光電変換素子の一部の上を覆う遮光膜を含む。 (もっと読む)


【課題】 キャパシタンスおよびインダクタンスの両方を抑制することができる半導体受光装置を提供する。
【解決手段】 半導体受光装置は、基板と、前記基板上に設けられ、第1導電型領域および第2導電型領域を備え、上面および側面を有する半導体受光素子と、前記上面において、前記第1導電型領域と電気的に接続された第1電極と、前記第2導電型領域に電気的に接続された第2電極と、前記半導体受光素子の前記上面および側面を覆う絶縁膜と、前記第1電極と接続され、前記上面および側面の前記絶縁膜上を経て前記基板上にまで延在して設けられた引出配線と、前記半導体受光素子の上面あるいは側面に位置し、前記基板上における前記引出配線の第1の幅よりも狭い前記引出配線の第2の幅の領域と、を有する。 (もっと読む)


【課題】微細化と共に感度を向上でき、クロストーク及び暗電流の増大を防ぐことが可能な固体撮像装置を信頼性が高い製造方法により得られるようにする。
【解決手段】半導体基板1と、半導体基板1の上部に形成されたトランジスタ4と、半導体基板1の上に形成され、トランジスタ4と電気的に接続する配線10を含む配線層と、配線層の上に、配線10と電気的に接続するように形成され、行列状に配置された複数の下部電極11、該複数の下部電極11の上に形成された光電変換膜12及び該光電変換膜12の上に形成された上部電極13を含む光電変換部14とを備えている。光電変換膜12は、単層膜又は積層膜であり、酸化銅(I)を含む。 (もっと読む)


【課題】 暗電流を増大させることなく、近赤外の長波長側に受光感度を拡大することができる、受光素子等を提供する。
【解決手段】本発明の受光素子は、InP基板1の上に位置し、InGaAs層3aとGaAsSb層3bとが交互に積層されたタイプ2の多重量子井戸構造の受光層3を備え、InGaAs層またはGaAsSb層の層内において上面または下面へと、そのInGaAsまたはGaAsSbのバンドギャップエネルギが小さくなるように、厚み方向に組成の勾配が付いていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 基板裏面入射において、近赤外域の短波長側〜長波長側にわたって全体に高い受光感度を有する受光素子等を提供する。
【解決手段】 受光層が(InGaAs/GaSb)タイプ2のMQWであり、補助層4と、基板側から光を入射する構造とを備え、補助層4はp型不純物を含み、そのバンドギャップエネルギが、InP基板1のバンドギャップエネルギより小さく、厚みが受光層3の1/5以上あり、補助層内において、p型不純物の濃度が、1E18cm−3〜1E19cm−3から受光層側における5E16cm−3以下に低下しており、p型不純物の分布が、拡散によって形成されたものか、またはエピタキシャル成長にて形成されたものであることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】光電変換層に汚染物質を混入させず、分光感度特性がよく、かつ出力電流にばら
つきのない光電変換装置を得ることを課題とする。光電変換装置を有する半導体装置にお
いて、信頼性の高い半導体装置を得ることを課題とする。
【解決手段】絶縁表面上に、第1の電極と第2の電極と、前記第1の電極と第2の電極と
の間にカラーフィルタと、前記カラーフィルタを覆ってオーバーコート層と、前記オーバ
ーコート層上に、p型半導体膜、i型半導体膜及びn型半導体膜を有する光電変換層と、
前記光電変換層の端部の一方は、前記第1の電極と接しており、前記カラーフィルタの端
部は、前記光電変換層の端部の他方より内側にある半導体装置に関する。 (もっと読む)


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