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Fターム[5F157AB98]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 処理槽(室)内での洗浄時の運動 (1,468) | 洗浄手段との相対移動 (77)

Fターム[5F157AB98]に分類される特許

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【課題】 スピンコ−タ−カップ、半導体ウェハ、液晶ガラスなどに付着したレジスト及びレジスト被膜、油膜、塗料及び塗膜等の有機成分及び有機被膜を、短時間で除去すると共に、洗浄液を多数回繰り返し洗浄できる生産性・経済性の優れた洗浄装置を提供することを目的とする。
【解決手段】洗浄室内に被洗浄物を保持する保持カゴを回転可能に自立させ、更に洗浄液噴射用、すすぎ液噴射用及び乾燥用を共有するノズルを有するノズルヘッダーを回転可能に配設して、保持カゴとノズルヘッダーとの回転方向が双方対向するように設置して、被洗浄物を炭酸アルキレンによる洗浄後エアーで液切りさせた後、精製水によるすすぎを行って、エアー噴射により短時間で乾燥仕上げ処理することと、洗浄後の洗浄液はオゾンを用いた洗浄液再生装置で有機成分を分解して、循環再使用して経済効率を改善する。 (もっと読む)


【課題】基板洗浄工程を中断することなく、スクラブブラシを毎回クリーニングすることを可能にする。
【解決手段】回転台312に取付けた被洗浄基板110にスクラブブラシ320aを接触させ、このスクラブブラシ320aを被洗浄基板110の中心から外縁方向へ揺動させることで被洗浄基板110の表面を洗浄するに際し、回転台312の外周にスクラブブラシ320aをクリーニングするクリーニングディスク341を配設し、スクラブブラシ320aをクリーニングディスク341まで揺動させてクリーニングする。 (もっと読む)


【課題】基板上の不要物を良好に除去することができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】バキュームチャック11の上方には、ほぼ円錐形状の遮断板12が配置されている。遮断板12の下面121には、それぞれエッチング液、純水および窒素ガスを吐出する開口122a,122b,122cが形成されている。エッチング液、純水および窒素ガスは、ウエハWの回転半径外方に向かうにつれてウエハWに近づくように傾斜した方向に吐出されて、それぞれウエハWの表面のエッチング液供給位置Pe、純水供給位置Pdおよび窒素ガス供給位置Pnに供給される。 (もっと読む)


【課題】被洗浄体の乾燥を良好に行わせること。
【解決手段】本発明では、洗浄装置において洗浄後の被洗浄体に向けて乾燥剤を噴射して被洗浄体を乾燥させる乾燥手段と、前記乾燥手段を被洗浄体に沿って移動させる移動手段と、前記乾燥手段に設けた第1の乾燥剤噴射口と、前記第1の乾燥剤噴射口よりも下方側で、かつ、乾燥時の移動方向に対して後方側に設けた第2の乾燥剤噴射口とを有することにした。また、前記第1の乾燥剤噴射口と第2の乾燥剤噴射口の上下方向及び前後方向の間に第3の乾燥剤噴射口を形成することにした。 (もっと読む)


【課題】簡単な構造でIPAを使用することなく、ウェーハ表面に残存した液体を効果的に除去すると共にウォーターマークの発生を抑制する。
【解決手段】液体Lで濡れたウェーハWを乾燥させる乾燥装置において、ウェーハWに対向する位置に吸湿性の毛細管構造体3をウェーハW表面に接触・近接できるように配設する。そして、毛細管構造体3をウェーハW上の液体Lに接触させた状態で、毛細管構造体3及びウェーハWの一方を他方に対して相対的に移動させながら、前記液体Lを毛細管構造体3で拭き取るようにして吸水・乾燥させる。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理装置において、熱応力で誘電体等が損傷するのを防止し、かつ漏洩ガスによる電極等の腐食を防止する。
【解決手段】第1方向に並べられた複数の電極21を含む電極群20を骨組み状のフレーム30で囲んで保持する。フレーム30は、電極群20の第1方向の外側において第1方向と直交する第2方向に延びるフレーム部材33を含む。フレーム部材33の長手方向の少なくとも一箇所が支持系42に連結されて変位が拘束される被拘束部33aとなり、その他の箇所が第1方向へ弾性変位可能な変位可能部33bとなっている。フレーム部材33の変位可能部33bと電極群20との間には、これら変位可能部33bと電極群20とを第1方向に沿って互いに離間する向きに押圧する押圧手段50を設ける。 (もっと読む)


【課題】瞬時にベーパーを生成して基板上に供給して基板を乾燥でき、しかも腐食されることなく、クリーンな洗浄及び乾燥ができるベーパー乾燥装置を提供する。
【解決手段】基板Wを支持する洗浄装置と、複数種類の処理液を選択的に供給する処理液供給ユニット31と、一端側が前記処理液供給ユニット31に接続され、他端側に前記洗浄装置に接続されるベーパー供給管26を有し、前記処理液供給ユニット31から供給された処理液を流通する流通路を有する石英ガラス管14と、前記石英ガラス管14の内側に前記流通路と隔離された状態に設けられたロッドヒーター27と、前記石英ガラス管14の外側に設けられ、前記ロッドヒーター27を加熱し、輻射熱によって前記流通路を流通する前記処理液を加熱あるいは気化して前記ベーパー供給管26に導く加熱手段としてのハロゲンランプ28を具備したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】基板表面を好適に洗浄可能なパターン形成方法を提供する。
【解決手段】基板上にレジスト膜を形成し、洗浄の際に洗浄液と前記基板との界面に作用するせん断応力が、液浸露光の際に液浸液と前記基板との界面に作用するせん断応力よりも大きくなるような制御の下、前記基板の表面を洗浄し、前記レジスト膜を前記液浸露光により露光して、前記レジスト膜に潜像を形成し、前記レジスト膜を現像して、前記基板上にレジスト膜パターンを形成することを特徴とするパターン形成方法。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、基板の主面に接触することなく基板を保持することができる基板保持回転機構およびそのような基板保持回転機構を備えた基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板保持回転部材2は、円盤状のスピンベース7を備えている。スピンベース7の上面には、その周縁部に複数個の固定支持部材10a〜10fがほぼ等角度間隔で固定配置されている。ウエハWは、その周端面の下方部が固定支持部材10a〜10fに点接触して、基板保持回転部材2に保持される。スピンベース7が回転されると、スピンベース7の上面とウエハWの下面との間の雰囲気が、遠心力によって、スピンベース7の外方へと吐き出されて減圧され、ウエハWの下方の空間が負圧空間となる。ウエハWがスピンベース7側に引き寄せられ、ウエハWの周端面の下方部が固定支持部材10a〜10fに押し付けられる。 (もっと読む)


【課題】非接触式シールを用いた構成において、非回転環と回転環との非接触状態を確実に維持することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】非接触式シール機構29は、スピンベース10に固定された回転環34と、基部30によって鉛直方向に移動可能に保持され、回転環34に対向配置された非回転環32とを備えている。非回転環32は、基部30に保持された複数のばね31の付勢力によって上方に付勢されている。また、回転環32および非回転環34はそれぞれ互いに反発するように働く永久磁石によって構成されている。非回転環32は、永久磁石の反発力によって前記付勢力に抗して数μm〜数十μm回転環34から離間しており、これによって、非回転環32と回転環34とが互いに非接触になっている。 (もっと読む)


【課題】被処理基板を洗浄する際に、所定の時間で、被処理基板の被洗浄面の全体を均一に、効率よくかつ確実に洗浄すること。
【解決手段】基板洗浄装置は、ウエハWを回転可能に保持するスピンチャック20と、スピンチャック20によって保持されたウエハWの表面に洗浄液を供給する二流体ノズル10と、二流体ノズル10に連結され、当該二流体ノズル10を回転保持部20に保持されたウエハWの表面に沿って移動させる移動機構30と、を備えている。移動機構30には、移動機構30によって二流体ノズル10をウエハWの中央部からウエハWの周縁部に向かって移動させる際、n段階に分けて二流体ノズル10の移動速度vを多段的に低下させるよう移動機構30を制御する制御部50が接続されている。制御部50は、ウエハWの中央部を洗浄する1段階目における二流体ノズル10の移動速度vを、1段階目における二流体ノズル10の理想移動速度vd1よりも遅くする。 (もっと読む)


ウェハ(1010)又は基板の表面を洗浄する装置であって、ウェハ(1010)又は基板の表面に対して隙間を隔てて配設され且つ該ウェハ(1010)又は基板の表面に垂直な軸周りに回転するプレート(1008)を含む。ウェハ又は基板の表面に対向する回転プレートの表面には、洗浄効率を高めるために、規則的なパターン及び不規則なパターンを有する溝が形成されている。他の実施例では、上記洗浄装置は、洗浄処理中に回転プレートを振動させる超音波変換器又はメガソニック変換器を更に含む。
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【解決手段】プロキシミティヘッドを形成及び使用するシステム並びに方法。プロキシミティヘッドは、ヘッド表面を含み、該ヘッド表面は、第1のゾーンと、第2のゾーンと、内部戻りゾーンとを含む。第1のゾーンは、第1の平坦な表面領域と、複数の第1の個別穴とを含む。複数の第1の個別穴の各穴は、複数の第1の導管のうちの対応する1本に接続されている。複数の第1の個別穴は、ヘッド表面内にあり、第1の平坦な表面領域に広がっている。複数の第1の個別穴の少なくとも一部分は、第1の列に配置される。第2のゾーンは、第2の平坦な表面領域と、複数の第2の個別穴とを含む。複数の第2の個別穴の各穴は、複数の第2の導管のうちの対応する1本に接続されている。複数の第2の個別穴は、ヘッド表面内にあり、第2の平坦な表面領域に広がっている。内部戻りゾーンは、複数の内部戻り個別穴を含む。内部戻りゾーンは、第1のゾーンと第2のゾーンとの間にそれらに隣接して位置している。複数の内部戻り個別穴の各穴は、複数の内部戻り導管のうちの対応する1本に接続されている。複数の内部戻り個別穴は、ヘッド表面内にあり、ヘッド表面に広がっている。複数の内部戻り個別穴の少なくとも一部分は、内部戻り列に配置される。第1の列と内部戻り列は、実質的に平行である。複数の内部戻り個別穴の各穴の縁の第1の部分は、ヘッド表面内に入り込んでいる。 (もっと読む)


【課題】間隙空間内を流通する洗浄液の流速にかかわらず、洗浄液に超音波振動を十分に付与して基板表面を良好に洗浄することができる基板洗浄装置および基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】基板表面Wfに対向して近接部材21の下面211が離間配置される。そして、基板表面Wfと下面211とで挟まれた間隙空間SPに洗浄液が供給されるとともに、近接部材21を介して洗浄液に超音波振動が付与される。また、近接部材21が基板表面Wfに沿って移動するが、基板Wに対する近接部材21の相対移動に応じてノズル31からの洗浄液の吐出流量が変更されて間隙空間SPを流通する洗浄液の流速が変化する。間隙空間SPへの洗浄液の供給は近接部材21の側面212に向けてノズル31から洗浄液を吐出することで側面212から間隙空間SPに洗浄液を回り込ませることで行われる。 (もっと読む)


【課題】加圧せずに基板を均一に洗浄できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】半導体ウェハ201を表面が上下方向と直交する状態で支持する基板支持部及び支持された半導体ウェハ201をノズルユニット11に対して前方に相対移動させる相対移動機構を有する搬送用ローラ202と、相対移動される半導体ウェハ201の表面に上方から薬液を吐出するノズルユニット11とを有する。ノズルユニット11は、薬液を吐出するスリット101が左右方向に細長い線形で下面に形成されており、スリット101に同等な左右幅で上方から連通して薬液が流動する流路102が内部に形成されており、流路102が左右方向と直交する面内で少なくとも一回は曲折された形状に形成されている。 (もっと読む)


【課題】粒子状物質が付着した半導体ウエハーの両面を洗浄するための方法およびシステムを提供する。
【解決手段】洗浄方法は、流体と基板との間に相対運動を生じさせる。この相対運動は、基板両面のうちの1つの表面の法線を横断する方向に生じ、分離した2つの流れを発生させる。2つの流れのうちの一方の流れが基板両面のうちの1つの表面に隣接し、他方の流れが、1つの表面とは異なる別の表面に隣接する。流体は、その内部に結合要素を混入(エントレインメント)している。流体の相対運動により、結合要素の一部に十分な抗力が加えられ、流体内部で結合要素の一部に動きが生じる。このようにして、所定量の抗力を粒子状物質に加えることにより、基板に対して粒子状物質を動かすことができる。 (もっと読む)


【課題】ノズル部材に付着した処理液が基板上に滴下するのを防止する。
【解決手段】基板処理装置1は、搬送中の基板Sの上面に、その搬送方向上流側から下流側に向かって斜め方向にリンス液を吐出する液ナイフ16と、この液ナイフ16に向けてエアを噴射するエアノズル32を有する気体噴射手段とを有する。そして、コントローラ40による制御に基づき、液ナイフ16の下方に基板Sが存在しないときに、前記エアノズル32から液ナイフ16に対してエアが吹き付けられるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】処理部中の塵埃を除去でき、装置の小型化、処理のスループットの向上及び歩留まりの向上を図れるようにすること。
【解決手段】搬送手段によって搬送されるウエハを処理部に搬送して処理を施す基板搬送処理において、ウエハWの処理前に、搬送手段であるメインアームA2によって搬送される、塵埃を捕集可能な状態の捕集プレートPLを塗布処理ユニット32に搬入して、塗布処理ユニット内に発生する塵埃を捕集プレートに付着して捕集する。塵埃を捕集した捕集プレートを洗浄ユニット80内に搬入し、この洗浄ユニット内において捕集した塵埃を洗浄により除去し、塵埃が除去された捕集プレートを、塵埃を捕集可能な状態例えばイオナイザ200によって帯電して再生する。塵埃を捕集可能な状態に再生された捕集プレートを、メインアームによって処理前の処理部に搬入して、この処理部内に発生する塵埃を捕集プレートに付着して捕集する。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】近接ヘッドは、ヘッド面を備える。ヘッド面は、第1の平面領域と複数の第1の導管とを備える。複数の第1の導管の各々は、複数の第1の離散孔の内の対応する離散孔によって規定される。複数の第1の離散孔は、ヘッド面に存在し、第1の平面領域にわたって配置されている。ヘッド面は、さらに、第2の平面領域と複数の第2の導管とを備える。複数の第2の導管は、ヘッド面に存在し第2の平面領域にわたって配置された対応する複数の第2の離散孔によって規定される。近接ヘッドは、さらに、第1の平面領域および第2の平面領域の間に隣接して配置された第3の平面領域と、複数の第3の導管とを備える。複数の第3の導管は、ヘッド面に存在し第3の平面領域にわたって配置された対応する複数の第3の離散孔によって規定される。第3の導管は、第3の平面領域と第1の角度をなすよう形成される。第1の角度は、30°から60°の間である。近接ヘッドを用いて基板を処理するためのシステムおよび方法も記載されている。 (もっと読む)


【課題】閉じ込め式化学表面処理のための方法及び装置
【解決手段】プロキシミティヘッドを使用して基板の表面を前処理するための装置、システム、及び方法は、基板の表面とプロキシミティヘッドのヘッド表面との間に非ニュートン流体を塗布することを含む。非ニュートン流体は、ヘッド表面と基板の表面との間で1つまたは2つ以上のサイドに沿って閉じ込め壁を画定する。非ニュートン流体を提供された1つまたは2つ以上のサイドは、ヘッド表面と基板の表面との間の基板上に処理領域を画定する。閉じ込め壁によって画定される処理領域内に実質的に閉じ込められるように、基板の表面に、プロキシミティヘッドを通してニュートン流体が塗布される。閉じ込められているニュートン流体は、基板の表面から1種または2種以上の汚染物質を実質的に除去するのに役立つ。一例では、非ニュートン流体は、雰囲気制御された隔離領域を形成するために使用されてもよく、これは、領域内における制御式の表面処理を助けることができる。別の例では、ニュートン流体の代わりに第2の非ニュートン流体が処理領域に塗布される。第2の非ニュートン流体は、基板の表面上の1種または2種以上の汚染物質に作用し、それらを基板の表面から実質的に除去する。 (もっと読む)


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