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Fターム[5F157CD16]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 検知制御 (665) | 検知情報 (664) | 被洗浄物 (133) | 位置 (56)

Fターム[5F157CD16]に分類される特許

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【課題】基板の両面を洗浄するに際して、加工時間を短くすることができるとともに、工程欠陥が少なく、有効に基板洗浄を行うことが可能な枚葉式洗浄装置を提供すること。
【解決手段】それぞれに注入口11A及び放出口11Bを備えた複数の搬送通路11が内部に形成された注入軸10を固定台17上に立設し、該注入軸10の上部に前記放出口11Bのそれぞれに連通する配置で下部ノズル14を装備し、前記注入軸10の外周側に、前記注入軸10に対して回動自在にして、モーター2を有する中空軸3を配置し、少なくとも前記中空軸3の回転数を制御可能な制御手段7を前記中空軸3に連結し、前記中空軸3の上方に、基板を装着可能な基板チャック4を連結し、前記基板チャック4の上方に上部ノズル8を配置した、ことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】被処理基板が基板保持機構によって適切に保持されているかを誤検知することなく正確に判断することができ、製造コストを低く抑えることができ、さらに、処理中に被処理基板が破損したとしても直ちにその破損を検知することができる。
【解決手段】処理装置1は、ウエハWを保持する基板保持機構20と、ウエハWに処理液を供給する処理液供給機構30と、ウエハWを周縁外方から覆うとともに、基板保持機構20と一体となって回転可能な回転カップ61と、を備えている。基板保持機構20は、一端22aでウエハWを保持しているときには他端22bが上方位置に位置し、他方、一端22aでウエハWを保持していないときには他端22bが下方位置に位置する保持部材22を有している。当該保持部材22の他端22bの下方に、保持部材22の他端22bが下方位置に位置しているときに当該保持部材22の他端22bに接触可能な接触式センサー10が配置されている。 (もっと読む)


【課題】処理プロセスの途中にある基板の保持状態を正確に検出することができる基板検出装置およびこれを備えた基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板検出装置が、保持された基板を撮像して撮像画像データを生成する撮像画像生成手段と、基板像を構成する画素の画素値を基板の円周方向について積算する操作を基板の配列方向に沿って行って生成したピークプロファイルデータに表れるピーク位置を特定したうえで保持手段の基板保持枚数の違いに起因して生じるピーク位置のずれを補正し、補正されたピーク位置に基づいて基板の保持位置を特定する保持位置特定手段と、特定された基板の保持位置と想定保持位置とを比較し、両者が合致する場合に基板の保持状態が正常であるという検出結果を生成し、両者が合致するか否かに応じて基板の保持状態が正常であるか否かという検出結果を生成する保持状態判定手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】処理プロセスの途中にある基板の保持状態を正確に検出することができる基板検出装置を提供する。
【解決手段】基板検出装置が、保持された基板を相異なる露光条件で複数回撮像することにより複数の撮像画像データを生成する撮像画像生成手段と、複数の撮像画像データを合成して合成画像データを生成する画像合成手段と、合成画像に基づいて、保持手段における基板の保持位置を特定する保持位置特定手段と、特定された基板の保持位置と想定保持位置とを比較し、両者が合致する否かに応じて基板の保持状態が正常か否かという検出結果を生成する保持状態判定手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】装置を停止することなく不具合の発生を未然に防止することができる回転式基板処理装置を提供する。
【解決手段】エッジ露光ユニットEEW1は、基板Wを回転させつつ露光ヘッド530から光を照射して基板Wの端縁部を露光する。端縁部の露光処理に先立って、保持回転部200によって基板Wを1回転させつつエッジセンサ800が基板Wの端縁部の位置を検知してエッジデータを取得する。EEWコントローラ900は、取得されたエッジデータに基づいて、基板Wの偏心量の異常、基板WのノッチNTの角度異常およびエッジセンサ800の異常の有無を判断する。そして、エッジデータに異常有りと判断されたときには、EEWコントローラ900アラーム発報を行う。 (もっと読む)


【課題】処理プロセスの途中にある基板の保持状態を正確に検出することができる基板検出装置およびこれを備えた基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板検出装置が、保持された基板の撮像画像データを生成する撮像画像生成手段と、撮像画像が基板の保持状態の検出に十分な検出力を有する画像であるか否かを判定する検出力判定手段と、撮像画像に基づいて、保持手段における基板の保持位置を特定する保持位置特定手段と、特定された基板の保持位置と想定保持位置とを比較し、両者が合致するか否かに応じて基板の保持状態が正常であるか否かという検出結果を生成する保持状態判定手段と、を備えており、検出力を有すると判定された撮像画像を表現する撮像画像データあるいは同一の基板保持状況のもとで当該撮像画像データとともに連続的に取得された撮像画像データのみを保持位置特定手段による保持位置の特定に用いる。 (もっと読む)


【課題】輸送や組み立て、メンテナンスを容易とした液処理装置を提供すること。
【解決手段】洗浄処理装置1は、基板が収納された容器の搬入出を行う容器搬入出部2と、基板に所定の液処理を施す液処理部3と、容器搬入出部2と液処理部3との間で基板を搬送する基板搬送部4と、液処理部3に供給する処理液の貯蔵および送液ならびに回収を行う処理液貯留部5と、基板搬送部4と液処理部3と処理液貯留部5をそれぞれ個別に制御する複数の制御部7a,7b,10と、基板搬送部4と液処理部3と処理液貯留部5に配設された電動駆動機構16,27および複数の制御部7a,7b,10を動作させるための電源部6と、複数の制御部7a,7b,10と電源部6からの排気を1箇所に集中させた後に外部に排気する排気システム8とを具備する。 (もっと読む)


【課題】基板周辺部材の耐久性が劣化するのを防止しながら表面処理を良好に行うことができる基板処理装置および方法を提供する。
【解決手段】ノズル3から回転駆動される基板Wの端部(表面周縁部TRおよび該表面周縁部TRに連なる周端面EF)に対して局部的に薬液が供給される。また、基板Wの回転方向Rにおいてノズル3からの薬液が供給される供給位置LPに対して上流側で薬液が供給される直前の直前位置APで基板Wの端部がレーザユニット7から照射されるレーザ光によって局部的に加熱される。これにより、基板Wの端部が薬液処理に応じた温度に昇温する。このため、基板Wの端部が薬液処理に応じた温度に昇温された直後に基板Wの回転により加熱昇温された基板Wの端部に薬液が供給される。 (もっと読む)


【課題】微小ピンセットに付着したパーティクルが試料に再付着するのを防止する。
【解決手段】開閉自在な一対のアームを有するナノピンセット1を試料表面に近接させ、該試料表面に付着したパーティクルPを把持し、パーティクルPを把持したナノピンセット1を粘着部材3上まで移動し、パーティクルPを粘着部材3に接触させ、その後、ナノピンセット1を開いた状態で粘着部材3から遠ざけることにより、パーティクル除去を確実に行うことができる。 (もっと読む)


プレート状物品の超音波湿式処理のための方法およびそれぞれの装置が開示され、この方法は、プレート状物品の表面に近接するトランスデューサに接続された固体要素を移送するステップであって、固体要素とプレート状物品との間に隙間が形成され、隙間は0.1mmと5mmとの間の距離d2を有するような、ステップと、固体要素とプレート状物品との間の隙間を満たすための液体を分配するステップと、超音波を検出するおよび/または距離d2を測定することによって距離d2を制御するステップと、測定された距離を所望の距離d0と比較し、それに応じて距離を調節するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】処理液から引き上げられる複数の基板の全面を短時間で効率的に乾燥させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板保持具330において、背板333の正面には、4本のアーム341〜344が取り付けられている。各アーム341〜344は、水平方向に延びている。背板333の背面には、4本のアーム341〜344に対応して4個のモータが取り付けられている。各アーム341〜344の軸心と垂直な方向における断面は、楕円形状となっている。各アーム341〜344に形成された径小部345に基板Wの外周端部が挿入される。それにより、複数の基板Wが各アーム341〜344の径小部345の外周面により保持される。基板Wが処理槽から引き上げられ、各アーム341〜344と基板Wとの当接部が処理液の液面に位置する際に、モータが各アーム341〜344を回転させる。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理を効率よく行うことができるプラズマ処理装置を提供すること。
【解決手段】プラズマ処理装置1は、印加電極2と、ワーク100を載置するとともに印加電極2の対向電極としての機能を併有するパレット(第1の電極)4と、プラズマ処理用のガスを供給するガス供給手段11と、印加電極2とパレット4との間に電圧を印加する第1の回路(電源部)8を備え、パレット4を載置するテーブル6の下面63には、振動子9が配設され、振動子9の振動数を調整する周波数調整手段74と、周波数調整手段74の作動を制御する制御手段70とを有しており、この振動子9によりパレット4とワーク100とを一体的に振動させながらワーク100の被処理面110を処理するに際し、制御手段70により、周波数調整手段74が作動するよう構成されている。 (もっと読む)


【課題】基板処理メニスカスによって残される入口マークおよび/または出口マークを低減させるためのキャリア
【解決手段】上側および下側のプロキシミティヘッドによって形成されるメニスカスによって処理されている基板を支えるためのキャリアについて説明される。キャリアは、基板を受ける大きさの開口と、該開口内において基板を支えるための複数の支持ピンとを有するフレームを含む。開口は、基板と開口との間にギャップが存在するように基板よりわずかに大きくしてある。基板上の入口マークおよび/または出口マークの大きさと頻度とを低減させるための手段が提供され、該手段は、メニスカスからの液体をギャップから立ち退かせることを補助および促進する。入口マークおよび出口マークの大きさと頻度とを低減させるための方法も、提供される。 (もっと読む)


【課題】ディスク状対象物の少なくとも下面の処理を行うための装置において、ディスク状対象物の汚染が回避できるような装置を提供する。
【解決手段】本発明の装置は、上面(2o)を有しかつディスク状対象物(1)を位置決めするための少なくとも2つの部材(19)が上面から垂直に突出している回転可能保持器(2)と、ディスク状対象物(1)の下面(1u)に処理媒体を供給するために固定的に設けられかつ保持器(2)を貫通するように配置された少なくとも1つの配管(24,26)と、保持器(2)の下面(2u)の少なくとも一部から離隔して固定配置され環状間隙(16)を形成しているカバー(4)と、を備え、前記少なくとも1つの配管(24,26)は、隙間のない状態でカバー(4)を貫通していることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】平流し方式において被処理基板に気体を吹き付ける乾燥処理に際して基板表面より発生するミストの基板への再付着を効果的に防止して、処理品質を向上させる。
【解決手段】この乾燥処理室M5は隔壁194により搬送方向に沿って2つの室M5a,M5bに分割されており、隔壁194には搬送路114上の基板Gがわずかな隙間を空けて通り抜けできる開口部192が設けられている。搬送路114上で基板Gが隔壁194の開口部192を通り抜ける時、基板Gと開口部192との間にはわずかな隙間Kが形成され、この隙間Kを通って下流側の高圧室M5bから上流側の低圧室M5aに向って空気流Aが吹き抜けることにより、基板Gの表面に付着している液Ra,Rbは空気流Aの風圧によって基板後方へ払い落とされると同時に、一部がミストmとなって上流側の室M5a内で飛散ないし拡散する。 (もっと読む)


【課題】 洗浄液を供給する洗浄ノズル及び基板端面の位置合わせを行う基板端面洗浄装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 両端が開放された洗浄溝部6を有し、洗浄溝部6内の洗浄ノズル7から吐出される洗浄液により基板端面1Eを洗浄する洗浄ユニット5と、洗浄ユニット5に設けられ、洗浄ユニット5に対する基板1の相対的位置を検出する基板検出センサと、洗浄溝部6の溝方向に直交する面内で洗浄ユニット5及び基板支持部2を相対的に移動させる位置合わせ駆動部3と、位置合わせ駆動部3を制御し、洗浄ノズル7及び基板端面1Eの位置合わせを行う位置合わせ制御部22とを備える。 (もっと読む)


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