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【課題】複数のDA変換器のそれぞれの積分非直線性誤差の影響を抑えて高速動作できるとともに、SFDRを拡大させることができるDA変換装置を提供する。
【解決手段】デジタル信号源2で生成されたデジタルデータ及びクロック信号がDA変換装置1に入力される。DA変換装置1は、データ選択用スイッチ11と、複数のDA変換器としての第1のDA変換器12及び第2のDA変換器13と、切替手段としてのアナログ信号切替用スイッチ14と、分周器15とを有している。各DA変換器12,13の積分非直線性誤差特性の非線形歪特性は、互いに逆の特性である。第1,2のDA変換器12,13の積分非直線性誤差特性は、第1,2のDA変換器12,13の両方の積分非直線性誤差を平均すると、ゼロに近づくような特性である。 (もっと読む)


【課題】A/D変換特性を改善できるA/D変換回路、集積回路装置及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】A/D変換回路は、逐次比較における比較動作を行う比較部50と、逐次比較により更新される逐次比較用データRDAを記憶する逐次比較レジスターSARを有する制御回路20と、を含む。制御回路20は、A/D変換回路の入力信号VINと出力データDOUTの間の非線形性を補正するための補正用データDTRを、逐次比較用データRDAの中の1または複数のビットに基づいて比較部50に出力する。比較部50は、補正用データDTRに基づいて、A/D変換回路の非線形性を補正する。 (もっと読む)


【課題】固体撮像装置を大型化させることなく、A/D変換回路の動作に起因する入力およびGNDの電圧レベルの変動を低減し、出力するデジタル値の変動(誤差)を低減することができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】光電変換素子のリセット信号と画素信号とを出力する画素が二次元の行列状に複数配置された画素部と、所定の1つの画素からのリセット信号および画素信号が順次入力される第1の容量と、画素信号とリセット信号との差を保持する第2の容量とを具備し、差分信号を出力するアナログ信号処理部と、差分信号の大きさに応じた遅延時間でパルス信号を遅延させる遅延素子がリング状に複数段接続された遅延回路と、パルス信号の遅延回路内の伝播を検出した結果に基づいたデジタル信号を生成するアナログ・デジタル変換器と、アナログ信号処理期間とサンプリング期間とで第1の容量の接続を切り替える切り替え回路と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 電子装置における受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。
【解決手段】 本受信回路は、受信データを異なるタイミングでサンプリングする複数のサンプリング回路(SWs)と、複数のサンプリング回路によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持する複数のホールド回路(C)と、複数のホールド回路からの出力に基づき、入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路(70、72、74)と、パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、複数のホールド回路のそれぞれの出力に対し重み付けを行う重み付け回路(76)と、重み付け回路により重み付けが行われたホールド回路の出力データを合成して出力する出力回路(N3)と、を備えることを特徴とする受信回路。 (もっと読む)


【課題】光信号を復調する際に、サンプルレートと分解能との間のトレードオフの関係を緩和させ、高いサンプルレートと高い分解能とを両立させたアナログ・デジタル変換を実現する。
【解決手段】フォールディング回路100に、入力信号光を互いに等しい光強度を有するN個の信号光に分配する信号光分配部110と、入力参照光を互いに異なる光強度を有するN個の参照光に分配する参照光分配部120と、N個の信号光とN個の参照光との光強度から入力信号光の光強度を量子化したNビットの温度計コードを導出し、この温度計コードの論理を1ビットおきに反転させた反転温度計コードの各ビットの総和の出力を、入力信号光の光強度の変化に応じて折り返される折返し信号として出力する折返し信号出力部130とを備える。 (もっと読む)


【課題】処理負荷の増大を抑制しつつ、アナログ信号の出力レベルの精度を向上させる。
【解決手段】本発明のデジタルアナログ変換装置は、Nビットのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するDAコンバータと、所定のサンプリング周期で入力されるM(M>N)ビットのデジタル信号に示される第1の値を、Nビットのデジタル信号で示される範囲内の第2の値となるように所定比で縮小して出力するスケール変換部と、第2の値をNビットのデジタル信号で示される第3の値に変換して出力するビット長変換部と、所定のサンプリング周期内で、第2の値と第3の値との誤差を示す第4の値を入力値とする所定の演算を複数回行い、演算結果が0である場合には第3の値を、演算結果が正である場合には、第3の値から1を減算した第5の値を、演算結果が負である場合には、第3の値に1を加算した第6の値を、DAコンバータに出力する出力値決定部と、を有する。 (もっと読む)


【課題】より一層の高精度化が可能なA/D変換器を提供する。
【解決手段】制御回路(制御手段)5は、積分器1において入力電圧Vinを第1積分期間だけ積分した後に参照電圧VREFを第2積分期間だけ積分する第1の二重積分と第1の基準電圧(グラウンド電圧)VAGNDを第1積分期間だけ積分した後に参照電圧VREFを第2積分期間だけ積分する第2の二重積分とが選択的に行われるように入力切替部2を制御する機能を有する。第1の二重積分における第2積分期間に対応したカウント値からなる第1のカウント値と第2の二重積分における第2積分期間に対応したカウント値からなる第2のカウント値とが入力されるディジタル回路7を備える。ディジタル回路7は、第1のカウント値ごとに、第1のカウント値の前後1つずつの第2のカウント値の平均値を第1のカウント値から減算した差分値を求めてディジタル値として出力する機能を有する。 (もっと読む)


【課題】温度変化にかかわらず高い変換精度を得る。
【解決手段】第1パルス周回回路6はアナログ入力電圧Vinで動作し、第2パルス周回回路7は規定電圧Vcとアナログ入力電圧Vinとの差電圧で動作する。第3パルス周回回路8は参照電圧Vrで動作する。クロック信号CLKの周期ごとに、カウンタ23〜25は各パルス周回数をカウントし、ラッチ&エンコーダ17〜19は各パルス位置をラッチする。パルス周回数とパルス位置とからなる周回データの今回値と前回値の差分値を演算してデジタルデータD1、D2、D4(=Yr)とし、D1−D2よりD3(=Y)を演算する。その後、Y/(Yr−Y0)を演算してA/D変換データを得る。Y0はROMから読み出され、パルス周回回路6、7、8の温度特性が0となる電圧に対する周回データである。 (もっと読む)


【課題】従来の四重積分型A/D変換器に比べて、精度の低下を防止しつつ単位時間当たりの変換回数を増やすことが可能なA/D変換器を提供する。
【解決手段】積分器1において入力電圧Vinを第1積分期間だけ積分した後に参照電圧VREFを第2積分期間だけ積分する第1の二重積分と第1の基準電圧(グラウンド電圧)VAGNDを第1積分期間だけ積分した後に参照電圧VREFを第2積分期間だけ積分する第2の二重積分とが選択的に行われる。ディジタル回路7は、第1の二重積分における第2積分期間に対応した第1のカウント値を被減数、第2の二重積分における第2積分期間に対応した第2のカウント値を減数として被減数から減数を減算して得た差分値をディジタル値として出力する機能を有し、差分値を求めるにあたり、第2のカウント値を時系列で入力される2つの第1のカウント値に対する減数として共用する。 (もっと読む)


【課題】デジタル処理の負担を少なくする。
【解決手段】出力データの上位側から1ビットずつ特定される対象ビット毎に、対象ビットの重みに応じたパルス幅またはパルス数のパターン信号を発生するパターン発生部と、パターン信号の発生毎に対象ビットの値を判定するための判定値に応じてパターン信号を積分し、パターン信号毎の積分値を累積した参照信号を出力する積分部と、各々のパターン信号の発生が終了する毎に、入力信号と参照信号とを比較する比較部と、各ビットの値を対応するパターン信号の発生が終了した後の比較結果に応じた値とした出力データを出力する出力部と、を備えるAD変換装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】従来のΔΣ型のA/D変換器を用いたDCオフセット補正は過大入力があると発振し正常にA/D変換できないことから、利得アンプの利得を最小に設定しオフセットを測定していたために精度が悪く、またDC値の測定にはA/D変換後にデジタルローパスフィルタが必要であり低速で回路規模が大きくなる課題を有していた。
【解決手段】DCオフセット補正時にΔΣ型のA/D変換器308の内部の量子化器を用いることで、利得アンプ305の利得を大きくとりながら、過大入力があっても発振せず正常にかつ高速にA/D変換結果が得られる。また、A/D変換器308の出力側にデジタルローパスフィルタを必要としないため、小規模な付加回路で実現可能である。 (もっと読む)


【課題】画素情報の読出し速度を向上させることが可能な半導体装置および固体撮像装置を提供する。
【解決手段】カラムADCは、PGA22と、縦列接続された2つの巡回型ADCとを含む。PGA22は、画素の黒レベルおよび信号レベルの差分を増幅した信号にVrefを加算した電位をPGA画素情報として出力する。第1ADC24_1は、Vrefを参照電位としてサンプリングして保持するとともに、PGA画素情報を信号電位としてサンプリングして保持し、これらの差分信号であるi行の画素情報に応じてデジタル値の中の上位ビットを生成すると、(i+1)行の画素情報のサンプリングを開始する。第2ADC24_2は、第1ADC24_1が(i+1)行の画素情報をサンプリングして保持するのと並行して、第1ADC24_1によって生成された上位ビットに応じて該デジタル値の中の下位ビットを生成する。 (もっと読む)


【課題】無信号時のデルタシグマ型変調回路の出力ノイズを抑圧し、デルタシグマ型変調回路を用いたD/A変換器の出力オフセット電圧を抑圧する。
【解決手段】デルタシグマ型変調回路の入力段に対する入力信号の有無を検出する入力信号検出手段と、デルタシグマ型変調回路の出力段から出力される出力信号の電位情報を検出する第1の電位情報検出手段と、第1の電位情報検出手段によって検出された電位情報に基づいて出力信号の第1の電位情報を出力する第1の電位情報出力手段と、2種類のディザ信号を出力するディザ信号出力手段と、ディザ信号出力手段により出力されたディザ信号の中から1種類のディザ信号を択一的に選択する選択手段とを備え、入力信号が無信号状態であることが検出されると、第1の電位情報の出力結果に対応して、ディザ信号の中から1種類のディザ信号を択一的に選択し、入力段に対して印加する。 (もっと読む)


【課題】A/D変換特性を改善しながらダイナミックレンジの減少も抑止できるA/D変換回路、A/D変換方法等の提供。
【解決手段】A/D変換回路は比較回路10と制御回路20と逐次比較用データをD/A変換する第1のD/A変換回路DAC1と時間的に変化するコードデータをD/A変換する第2のD/A変換回路DAC2と補正部80を含む。比較回路10は、入力信号のサンプリング信号とコード信号の加算信号とD/A出力信号とを比較する処理、或いはサンプリング信号とD/A出力信号とコード信号の加算信号とを比較する処理を行い、制御回路20は逐次比較結果データとコードデータとに基づき求められる出力データを入力信号のA/D変換データとして出力する。補正部80はコードデータを用いたコードシフトにより逐次比較結果データがオーバーフローするのを補正する補正処理を行う。 (もっと読む)


【課題】多チャネル量子化器および量子化の方法を提供する。
【解決手段】1つの量子化器は、入力アナログ信号を受け取る複数のチャネル102と、各チャネル内の演算増幅器104と、演算増幅器に接続された比較器106とを有するアナログ−デジタル変換器(ADC)100を含む。ADCはさらに、比較器に接続され、比較器から受け取った比較器信号に基づいて出力を発生するように構成された、各チャネル内の論理回路108を含む。ADCはまた、複数のチャネルに接続され、時間的に変化する基準信号を供給するように構成されたランプ発生器116を含む。 (もっと読む)


【課題】AD変換装置を同一チップ上に搭載した固体撮像装置において、回路規模、消費電力、消費電流、インタフェース用配線数、ノイズなどの問題を解消する。
【解決手段】電圧比較部252とカウンタ部254とを有するカラムAD回路25を垂直信号線19ごとに設ける。電圧比較部252は、行制御線15ごとに垂直信号線19を経由し入力される画素信号と参照電圧RAMPとを比較し、リセット成分や信号成分の各大きさに対応した時間軸方向に大きさを持つパルス信号を生成する。カウンタ部254は、電圧比較部252の比較完了までパルス信号の幅をクロックCK0でカウントし、比較完了時点のカウント値を保持する。通信・タイミング制御部20は、1回目は電圧比較部252でリセット成分を比較処理しカウンタ部254がダウンカウントする一方、2回目は電圧比較部252で信号成分を比較処理しカウンタ部254がアップカウントするように制御する。 (もっと読む)


【課題】ダイナミックレンジと分解能を両立させつつ高速なAD変換ができるAD変換システムを提供することを課題とする。
【解決手段】アナログ信号をデジタル信号に変換するAD変換システム1であって、アナログ入力信号をAD変換器15の複数のチャネル(Ch1,Ch2,Ch3)別に複数の電圧範囲に分割する分割手段13,14と、分割手段13,14で分割された異なる電圧範囲毎のアナログ入力信号をAD変換器15の各チャネルでそれぞれAD変換する分割AD変換手段15(Ch1,Ch2,Ch3)と、分割AD変換手段15でAD変換された異なる電圧範囲毎のデジタル信号を合成する合成手段16とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】動作用電源電圧の中央付近の電圧を含む広範囲のアナログ入力電圧に対し、温度変化にかかわらず高い変換精度を得られ、補正演算や事前の特性測定を不要とする。
【解決手段】第1パルス周回回路2は規定電圧Vccとアナログ入力電圧Vinとの差電圧で動作し、第2パルス周回回路3はアナログ入力電圧Vinで動作する。第1カウンタ20はパルス周回回路2、3のパルス周回数差を出力する。第3パルス周回回路4は規定電圧と設定電圧Vsetとの差電圧で動作し、第4パルス周回回路5は設定電圧Vsetで動作する。第2カウンタ21はパルス周回回路4、5のパルス周回数差を出力する。パルス周回回路2〜5を同時に周回動作させ、第2カウンタ21の出力値が規定値Yに達すると変換データ出力処理信号Saを出力し、その時の第1カウンタ20の出力値をA/D変換データとして出力する。 (もっと読む)


【課題】配線数を削減する。
【解決手段】アナログデジタル変換装置は、異なる複数の参照電圧の各々と入力信号電圧とを並列的に比較する複数のコンパレータと、入力信号電圧をアナログ入力信号電圧又は複数の参照電圧の何れか一つに対応する電圧に切り替えるスイッチ部と、複数のコンパレータの比較結果をデジタル信号に変換するエンコーダと、複数のコンパレータの中の補正対象のコンパレータにおいて入力信号電圧が参照電圧に対応する電位となるようにスイッチ部を制御し、補正対象のコンパレータで生じるオフセット電圧を補正するための補正データを前記デジタル信号に基づいて生成し、補正対象のコンパレータへ出力するデジタルアシスト回路と、を備える。 (もっと読む)


【課題】高精度な演算増幅器が不要で、低電力動作、高速動作が可能で、しかも小型化が容易なAD変換器および信号処理システムを提供する。
【解決手段】第1のアナログ信号および第1のアナログ信号の電圧値と第1の基準電圧および第2の基準電圧の差電圧との差に応じた電圧値の第2のアナログ信号を入力し、第1のアナログ信号の電圧値と第2のアナログ信号から生成した中間電圧値の第3のアナログ信号を生成し、第1、第2、および第3のアナログ信号を出力する信号生成部21と、第1のアナログ信号の電圧値と第2のアナログ信号の電圧値を比較し、比較結果に応じた値のデジタルデータを出力する比較部22と、比較部22の比較結果に応じて信号生成部21から出力される第1のアナログ信号、第2のアナログ信号、および第3のアナログ信号の第1の出力部および第2の出力部への入力を切り替える切替部25とを有する。 (もっと読む)


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