説明

国際特許分類[G01J3/02]の内容

国際特許分類[G01J3/02]の下位に属する分類

国際特許分類[G01J3/02]に分類される特許

41 - 50 / 273


【課題】 データ曲線に対してノイズを適切に除去することができるピーク検出方法を提供する。
【解決手段】 波長と吸光度との関係を示すデータ曲線に対して、ピークを検出するピーク検出方法であって、前記データ曲線に対して、ピーク候補を検出処理するピーク検出処理ステップと、波長範囲と当該波長範囲におけるパラメータとを一組にしてピーク判定情報とし、複数のピーク判定情報を入力する入力ステップと、複数のピーク判定情報に基づいて、各波長範囲には一組にされたそれぞれのパラメータを用いて、前記ピーク候補がピークであるか否かを判定する判定ステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】 スリットの位置や姿勢を精度良く調整する。
【解決手段】 被検知面から導かれた光束が通過する開口部を備えるスリット部材と、前記スリット部材の前記開口部を通過した光束が入射し、該入射した光束を分光して集光する凹面回折格子と、前記凹面回折格子によって分光及び集光された光束を一方向に配列した複数の光電変換素子で受光し、前記複数の光電変換素子それぞれに対応する電気信号を出力する受光素子と、前記スリット部材、前記凹面回折格子及び前記受光素子を支持する箱形状の筐体と、を有する分光測色装置において、前記筐体は前記開口部を通過して前記凹面回折格子に入射する光束の光軸方向に実質的に平行な第1ガイド面及び第2ガイド面を備え、前記第1及び第2ガイド面は、前記スリット部材を当接させた状態で前記スリット部材を移動し、前記スリット部材の前記光軸方向の位置を調整可能な調整面であることを特徴とする分光測色装置。
【選択図面】 図7
(もっと読む)


【課題】分光装置に接続される光ファイバのNAが想定よりも大きい場合でも、光ファイバの出射光をすべて分光装置に取り込み、精度の高い測定を実現できる分光装置を提供すること。
【解決手段】光ファイバを介して入力される測定すべき光信号を平行光に変換して回折格子に入射する放物面鏡を有する分光装置において、
前記光ファイバの出力端部に、出射光のNAを入射光のNAよりも小さく変換するNA変換手段を設けたことを特徴とするもの。 (もっと読む)


【課題】照明光が対物レンズを通過した後の分光スペクトルを取得し、照明光の劣化を自動的に補償する。
【解決手段】検査装置1は、分光特性が既知の被照明物から対物レンズ121を経て撮像素子123に入射される照明光の分光スペクトルを取得する分光計測部13と、撮像素子123の分光感度及び分光計測部13によって取得した照明光の分光スペクトルの積で表されるシステム関数を、予め定められたターゲット値となるように補正する制御部14とを備える。 (もっと読む)


【課題】 測定精度の安定性と高い検出感度とを有する分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】 照射部100と、試料室20と、光検出器32とを備える検出部30と、励起分光器12を制御することにより、光検出器32で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部51とを備える分光蛍光光度計1であって、光検出器32は、光電子増倍管であり、光電子増倍管32の陰極に、設定印加電圧値を印加する電圧発生部43と、光電子増倍管32の陽極から出力される光強度を示す電荷パルス数をカウントするカウンタ回路44とを備え、制御部51は、試料を分析する前に、電圧発生部43を制御することにより、設定印加電圧値を変更し、各設定印加電圧値におけるそれぞれの電荷パルス数の時間変化を測定し、時間変化に基づいて、試料を分析する際に設定する設定印加電圧値となるプラトー電圧を決定する。 (もっと読む)


【課題】カラーフィルタや参照物体等の設置を不要として、車両等の移動体周辺における環境光のスペクトルを取得することのできるスペクトル測定装置、及びスペクトル測定方法を提供する。
【解決手段】スペクトル測定装置11は、車両10に搭載されたスペクトルセンサ20にて検出される観測光のスペクトルデータに基づいて測定対象を認識する。スペクトル測定装置11は、車両10周辺の気象情報を取得する気象情報取得装置14と、気象情報に基づいて測定対象に照射されている環境光のスペクトルを推定する環境光スペクトル推定部26とを備え、観測光のスペクトルデータに基づく測定対象の認識に環境光スペクトル推定部26により推定される環境光のスペクトルの影響を加味する。 (もっと読む)


【課題】スペクトル検出器からSN比が高いスペクトル信号を得ることができる撮像システムを提供する。
【解決手段】観察対象のサンプルを設置するステージと、サンプルに照射された光を、所定の焦点面に結像させる光学系と、焦点面に結像されたサンプルの像の少なくとも一部の光を検出する画素が2次元の行列状に配列された画素アレイを有し、該画素アレイが検出した光に応じたサンプルの画像を取得する撮像素子と、画素アレイに隣接するよう配置され、焦点面における光のスペクトルを検出してスペクトル情報を出力するスペクトル検出部と、スペクトル検出部から出力されたスペクトル情報に基づいて、撮像素子が取得したサンプルの画像を補正する補正部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】太陽電池の照射光量に対する分光感度の非線形性を補償する。
【解決手段】太陽電池評価装置1におけるソーラシミュレータ(照明光源)3の光量校正を行う光源評価装置10において、分光放射計13によってソーラシミュレータ3の照射光を取込み、その分光放射照度L(λ)を求める。一方、分光感度測定装置5では、白色バイアス光の強度を複数i段階に変化させ、都度、分光光源から輝線照射を行うDSR法によって、太陽電池2の分光感度Pi(λ)=P(λ,Ib)=P(λ,∫L(λ)dλ)を求める。そして演算部14は、2つの分光放射照度S(λ)および分光放射照度L(λ)と分光感度Pi(λ)とから、基準太陽光で規定の短絡電流Istcとなるときの照射光エネルギーEssおよび実際にソーラシミュレータ3による照射光エネルギーEssを求め、両者が一致するようにソーラシミュレータ3の光量をフィードバック制御する。 (もっと読む)


【課題】リアルタイムで表示される測定曲線に対して必要な情報を提示し、分析装置の操作を視覚的に支援する測定支援システムを提供する。
【解決手段】測定曲線表示手段12に表示される測定曲線の形状をリアルタイムで解析し、最適な測定曲線の描写を妨害する事象の存在を察知したときは、その事象に対応するヘルプ情報を検索し、測定曲線表示手段に表示する。また、設定変更を視覚的に支援するために変更すべきパラメータの位置や推奨するパラメータ値の範囲等を測定曲線表示手段に示す。 (もっと読む)


【課題】本発明によれば、不良PD情報格納部が、不良PD情報を格納し、演算部が、不良PD情報に基づいて不良であるフォトダイオードを特定し、有効なフォトダイオードの電気信号データのみに基づいて被測定光の光スペクトルを検出するので、光スペクトルの解析を正常に行うことができる分光装置を実現することができる。
【解決手段】本発明は、被測定光を波長ごとに分光する分光器と、分光された各波長光の光パワーを、複数個配列されたフォトダイオードによって電気信号データに変換するアレイ型光検出器と、前記電気信号データから被測定光の光スペクトルを検出する演算部と、を有する分光装置において、前記フォトダイオードのうち不良であるフォトダイオードを特定する不良PD情報を格納する不良PD情報格納部と、前記不良PD情報に基づいて不良であるフォトダイオードを特定し、有効なフォトダイオードの電気信号データのみに基づいて被測定光の光スペクトルを検出する演算部と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


41 - 50 / 273