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国際特許分類[G01N21/84]の内容

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【課題】 構造を単純化し、パネルのアクティブ領域検査及び外観検査の検査時間を減らすことができるパネル検査装置を提供する。
【解決手段】 本発明によるパネル検査装置は、前記パネルを支持するセンタリングユニットと、前記センタリングユニットに支持された前記パネルの背面に光を供給するバックライトと、前記パネルに対して移動可能に設けられ、前記パネルのアクティブ領域が露出されるように前記パネルの周縁である縁領域をカバーするマスクと、前記パネルに対して移動可能に設けられ、前記パネルに電気的な信号を印加するように前記パネルの電極と接触可能に設けられたピンボードと、前記パネルの前方に設けられ、前記マスクによってカバーされた前記パネルのアクティブ領域及び前記マスクの移動によって露出された前記パネルの全体面のうちのいずれか一つを撮影する撮影部と、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】LEDのチップ本体の接合部温度を効率良く抑え、LEDの発光効率の向上と使用寿命の延長を図る。LEDから発せられる光を極めて大量に集め、単体LEDと同じラクランジュ不変量で、照度むらと色むら無く、単体LEDの数倍出力が有す、かつ色調と波長分布と光度との制御可能なLED光源を提供する。
【解決手段】熱伝導性を有する金属製の複数の熱伝導要素がLEDチップ本体に熱伝導断面積を大幅に拡大し、LEDチップ本体の接合部温度を極めて抑え、大開口数の集光レンズが、180度に発散するLEDの照明光を大量に集めて略平行な光にし、波長選択性のあるダイクロイック反射面が複数の異なる発光波長単色LEDから発せられる光を殆ど漏れなく照射対象に集合する。 (もっと読む)


【課題】 弱い照明光であっても照度を正確にモニタすることができる光源装置を提供する。
【解決手段】 光の透過強度を調節し得るNDフィルタ4と、このNDフィルタ4と撮像素子との光路に挿脱可能に配置され、NDフィルタ4を透過した光を遮断するシャッタ1と、NDフィルタ4を透過した光を検出する照度センサ3と、この照度センサ3の出力に基づいてNDフィルタ4を動かしてNDフィルタ4を透過する光の透過強度を制御する照度制御装置8とを備えている光源装置において、照度センサ3へ光を導く全反射プリズム9をシャッタ1に設けた。 (もっと読む)


【課題】 ビジュアル検査工程を自動化するための表示パネル用検査装置及びその検査方法が開示される。
【解決手段】 ローディング部は、複数のステージのうち、第1位置のステージ上に表示パネルを装着して、表示パネルの固有番号を認識する。第1画像撮像部は、第2位置に移動されたステージ上の表示パネルに表示された画像を撮像して、第1画像データを獲得する。第2画像撮像部は、第3位置に移動されたステージ上の表示パネルに表示された画像を撮像して、第2画像データを獲得する。システム制御部は、第1画像データに基づいて、表示パネルの有効不良を検出し、第2画像データに基づいて、表示パネルの外観不良を検出する。アンローディング部は、第4位置に移動されたステージ上の表示パネルをステージから取り出す。これによって、人力節減、原価節減、及び製品の信頼性向上を図ることができる。 (もっと読む)


光学放射を発生するための装置は、複数の横モードで同時に動作するように構成されて、第1のスペックルコントラストで特徴付けられる入力ビームを発生するためのレーザを備えている。入力ビームの横モードを光学的に混合して、第1のスペックルコントラストより実質的に小さい第2のスペックルコントラストを有する出力ビームを発生する。
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【課題】 受光部にて均一の光強度分布が得られるように、ライトガイドからの出射光分布を調整できる光学検出装置を提供すること。
【解決手段】 ライトガイドの出射端並びに受光部が共にライン状にあるような光学検出装置にあっては、該ライトガイドの入射部の光軸に対する光源の光軸の傾き角(α)が10>α>0°、好ましくは、3°〜7°の範囲にあるとき、該受光部で均一な光強度分布が得られることを究明した。 (もっと読む)


【課題】 簡易な構成で同一の観察対象物を複数の方向から適正な照明状態で観察可能とする。
【解決手段】 同一観察対象物Wを、同一平面Pまたは互いに平行な平面に沿う光路長の異なる複数方向から観察する装置であって、一の光路上の焦点位置の像と、他の光路上の焦点位置の像とを同一の撮像手段3に結像させる結像光学系4と、平面Pに交差する方向に沿って観察対象物Wに照明光Lを照射する照明装置2とを備える多方向観察装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】異なる画像システム上でも実行可能なワーク画像取得/検査プログラム生成する画像検査システムおよび方法を提供すること。
【解決手段】各システムは、可動ワークステージと、露光時間を制御可能なストロボ照明装置を含む。プログラムは、画像のにじみに関連する機能的限界に基づいてステージ速度,ストロボ光パワー,ストロボ露光時間のような各種の画像取得パラメータを決定する。プログラムは、システムについての最適画像取得パラメータを機能的限界に基づいて決定することによって、どのようなシステムにも自動的に順応する。このように、同一のプログラムが異なるシステム上で使用可能になり、どのようなシステム上で使用されても最大限の処理量を保ちつつ所望レベルの精度を一貫して実現することができる。 (もっと読む)


【課題】 半導体パッケージの様々な箇所に付着した異物を、測定に入る前の段階で各種クリーニング部を使用して除去することにより、正確な外観検査の実現と後の除去作業を無くして、半導体パッケージの生産性を向上させることができる半導体パッケージの外観検査装置及びその方法を提供する。
【解決手段】 供給トレイエレベータ2によって外観検査装置1内に搬入された半導体パッケージが、供給トレイ3から搬送ハンド4によって取り出される。取り出された半導体パッケージはクリーニング機構5内で、各クリーナーハンド10による清掃作業とイオナイザー11によるイオンの吹き付けにより異物が除去され、除去された異物は集塵機12により集塵される。その後に測定部6に搬送されて外観検査が行われ、良品と選別された半導体パッケージが収容トレイ7に収容され、収容トレイエレベータ8を介して外観検査装置1の外へ、次工程へと搬出される。 (もっと読む)


【課題】より均一な照明を行うシステム及び方法が必要とされている。
【解決手段】複数の(202)光源(208)を使用する照明を開示する。1実施形態において、所望のコントラストレベルを生じる照明レベルを設定する(302)。計算を行い(310)、複数の選択された位置を設定された照明レベルで照明することになる複数の(202)光源(208)のそれぞれについて電流値を導出する。 (もっと読む)


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