【課題】Ｘ線回折測定において、主ピークから離れたサブピーク部分の成因についても解析可能とする。
【解決手段】バルク結晶等の試料をＸ線回折測定して構造解析する。このとき、スキャン角度をΔθ、反射指数ｈｋｌ面と試料表面との角度を面角度をθｃとして、Ｘ線回折プロファイルの横軸をΔθ／sinθｃとしてプロットし、解析対象ピークのピーク拡がり形状が、結晶のモザイク性により生じる局所的なtwist分布に起因して生じるピーク拡がり形状であるか否かを判定する方法において、主ピークから離れた部分に現れるサブピークの成因が、不均一なtwist分布中の大きくtwistした特異な部分からのピークであるか否かを判定する工程を備えている。つまりサブピークの形状自体は一致しなくても、サブピーク観測位置が指数ｈｋｌに依存しない場合には、サブピークの成因が、不均一なtwist分布中の大きくtwistした特異な部分からのピークであると判定する。 （もっと読む）

【課題】エネルギー分解能が良好な１次元の位置感応型Ｘ線検出器を用いることで、受光側にモノクロメータを配置することなく、蛍光Ｘ線に起因するバックグラウンドを低減する。
【解決手段】入射Ｘ線２８と回折Ｘ線３０とのなす角度を変更しながら試料２０からの回折Ｘ線３０の強度をＸ線検出器１０で検出する。Ｘ線検出器１０はシリコン・ストリップ検出器であり、細長く延びる単位検出領域を複数個備えている１次元の位置感応型検出器である。この検出器は、受光したＸ線のうち、そのＸ線エネルギーが上限値と下限値の間にあるものだけを弁別する機能を備えている。ＣｕＫαにおけるエネルギー分解能は２０％以下である。上述の上限値と下限値を適切に設定することで、蛍光Ｘ線の大半をカウントしないようにすることができて、本来の回折Ｘ線の強度をあまり下げずに、バックグラウンドを大幅に下げることができる。 （もっと読む）

【課題】火災や炭酸化等の影響を受けたＡＬＣパネルの強度性状を明らかにして、ＡＬＣパネルの劣化を正確に判断するとともに、継続使用の可否判断が可能なＡＬＣパネルの劣化診断方法を提供すること。
【解決手段】ＡＬＣパネルの試験体を用いて予め（１）加熱時間又は経過時間と深さ方向におけるトバモライトピークの高さの変化又は深さ方向における貫入力の変化に基づくＡＬＣパネルの変化に係わる深さとの関係（２）加熱時間毎又は経過時間毎の荷重とたわみとの関係とを求め、実際に火災又は炭酸化の影響を受けたＡＬＣパネルの表面から深さ方向に沿ってコア抜きしたサンプルから、深さ方向におけるトバモライトピークの高さの変化又は深さ方向における貫入力の変化に基づくＡＬＣパネルの変化に係わる深さを測定し、得られた測定結果と上記関係（１）、（２）とからＡＬＣパネルの劣化を診断する。 （もっと読む）

Ｘ線光学システムは、高強度のＸ線ビームを生成する。システムは、輪郭の幾何学的な対称軸とは異なる軸周辺で定められた前記輪郭を回転させることで形成される光学反射面を含む。従って、システムは、試料上に照射するフラックスを増加させるために、円形の放射プロファイルを有する源又は大きな源を用いることができる。
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【課題】物体内の高コントラスト像を一度に、且つ容易に得ることのできる、新しい非破壊分析方法および非破壊分析装置を提供する。
【解決手段】 単色平行Ｘ線１を物体２に照射し、物体２からの屈折Ｘ線等３を透過型結晶分析体４ａに入射させ、その屈折Ｘ線等３を透過型結晶分析体４ａの動力学的回折作用によって前方方向回折Ｘ線４１ａと回折方向回折Ｘ線４２ａとに分光する際に、透過型結晶分析体４ａの厚さを、予め、物体がないときに、前方方向回折Ｘ線４１ａおよび回折方向回折Ｘ線４２ａのいずれか一方の強度が略ゼロとなるような厚さに設定する。 （もっと読む）

【課題】試料を交換する際に、複雑な機構を用いずに試料の位置ずれを抑制でき、且つ試料軸の正確な回転数を保つことができる試料交換機を提供する。
【解決手段】第１の回転軸の周りを回転可能な複数の試料台１０ａ，１０ｅを円周上に沿って配列した円板状の回転板４と、回転板４を回転させる試料位置逐次移動機構７と、複数の試料台１０ａ，１０ｅの回転軸に接続され極性の異なる複数の第１の磁石の作用極を回転軸を中心軸とする円周面上に交互に周期的に配列した複数の受動磁石配列ユニット１２ａ，１２ｅと、極性の異なる複数の第２の磁石の作用極を回転軸を中心軸とする円周面上に交互に周期的に配列して回転する駆動磁石配列ユニット８１と、測定位置の試料台１０ａに接続された受動磁石配列ユニット１２ａを、駆動磁石配列ユニット８１を回転させることにより第１及び第２の磁石間の磁力を介して回転させる試料台回転駆動部８とを備える。 （もっと読む）

【課題】従来よりも光子密度の高い単色Ｘ線を発生することができ、単色化されたＸ線の波長を変更することができるＸ線集光装置を提供すること。
【解決手段】複数の結晶素子（１１ａ、１１ｂ）を備え、
光源と焦点とを通る直線をｘ軸、該ｘ軸に直交する方向をｙ軸、入射角を決めるパラメータをαとして、ｘ軸上に位置する長さ２Ｌの弦を有し、かつｘ^２＋（ｙ−Ｌ／tanα）^２＝Ｌ^２（１−１／tan²α）で表される円弧上に、前記結晶素子が配置され、
前記光源が前記弦の一方の端点（Ａ）に位置し、前記焦点が前記弦の他方の端点（Ｂ）に位置し、
前記光源から放射されたＸ線が前記結晶素子によって反射されて前記焦点に集光するように、前記結晶素子の結晶格子面の方向が決定されている。 （もっと読む）

【課題】 測定対象物の組成物質の測定を行う携行性に優れたエックス線分析装置を、鉛直面以外の面内にある被測定位置についても測定を行えるようにするエックス線分析装置用支持台を提供する。
【解決手段】 エックス線分析装置２の架台プレート27を傾斜台板11の表面に固定する。傾斜台板11はヒンジ部11dにより揺動可能に設け、傾斜台板11の裏面側にウォームギヤ13を設け、ウォームホイール13bに揺動アーム14の基端部を取付、先端部を傾斜台板11の裏面に摺動可能に連繋させる。ベースプレート23と傾斜台板11に取り付けたブラケット11cとに支持バネ33を掛け渡して、ベースプレート23が下降することを防止する。 （もっと読む）

【課題】実構造物の疲労強度を容易に正しく評価できる疲労試験機と疲労強度測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。実構造物で測定された残留応力および応力振幅を再現させるように、試験体の被測定部位に所定の残留応力および応力振幅を加えて疲労試験を行うことにより、構造物の疲労強度を正確に評価できるようになる。 （もっと読む）

【課題】ＧａＮ系試料をＸ線回折測定して、twist 分布の存否を判定する。
【解決手段】ＧａＮ系試料をＸ線回折測定して、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。選択した反射指数hklで特定される反射指数hkl面と試料表面との角度を面角度θｃとし、各hklプロファイルの横軸であるスキャン角度Δθをsinθｃで割り、hklプロファイルの横軸をΔθ／sinθｃに規格化しなおし、複数の選択した反射指数hklごとの再規格化したhklプロファイルを求める。しかも、面角度θｃを６０度より小さい範囲とする。複数の再規格化したhklプロファイルを、ピーク頂点をそろえる状態にして重ね、重ねた複数の再規格化したhklプロファイルのピーク拡がり形状が一致する場合には、hklプロファイルのピーク拡がり形状は、結晶のモザイク性により生じる局所的なtwist 分布に起因して生じるピーク拡がり形状だと判定する。 （もっと読む）