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国際特許分類[G01N23/207]の内容

国際特許分類[G01N23/207]に分類される特許

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【課題】接合された異種材料の界面を破壊することなく、その界面における結晶性物質の分析を行うことができるX線回折法を提供する。
【解決手段】異種材料の接合界面に存在する結晶性物質を同定するX線回折法で、次の過程を備える。異種材料の接合界面のうち、その断面が曲線で表される領域を分析対象面とする試料SをX線照射源10と回折線検出器30との間に配置する過程。照射源10から、分析対象面に対して、前記曲線の接線方向にX線52を照射する過程。このX線52の照射に伴って発生する回折線54を回折線検出器30で検出する過程。X線を分析対象面の接線方向に照射することで、非破壊状態の分析対象面から回折線を的確に検知することができる。 (もっと読む)


【課題】短時間で干渉性のX線を試料に位置合わせ可能な試料分析装置を提供する。
【解決手段】X線光軸と試料1との位置合わせ時、分光器11により、干渉性のX線または干渉性のX線の光軸と一致させた光軸を有するX線から、試料測定時よりも長い波長のX線を抽出して照射し、分析対象の試料1へのX線の照射位置に開口部14hを有し照射位置外に照射されるX線を吸収するX線吸収層14cが形成された試料保持部14により、照射位置外に照射されるX線を吸収し、検出器15により、試料保持部14に保持される試料1に照射したX線の透過X線強度を検出する。 (もっと読む)


【課題】平行ビーム法を用いたX線回折法において、角度分解能が優れていて、X線強度の低下が少なく、構造が簡素化されたX線回折装置およびX線回折方法を提供する。
【解決手段】平行ビームのX線24を試料26に照射して、試料26からの回折X線28をミラー18で反射させてからX線検出器20で検出する。ミラー18の反射面は複数の平坦反射面の組み合わせからなり、各平坦反射面の中心点は、試料26の表面上に中心を有する等角螺旋の上にある。X線検出器20は、回折平面に平行な平面内において1次元の位置感応型である。異なる平坦反射面で反射した反射X線が、X線検出器20の異なる地点にそれぞれ到達する。異なる平坦反射面で反射した反射X線がX線検出器の同一の検出領域上で混在して検出されることを想定して、それらを互いに区別するための補正処理を実施する。 (もっと読む)


【課題】水和初期に高温養生を受けたコンクリート、モルタル等のセメント組成物を用いた硬化物において、供用後生じる恐れがあるエトリンガイトの遅延生成の発生有無を粉末X線回折によって早期に判定する方法を提供する。
【解決手段】高温養生を受ける前のセメント組成物の水和試料中のエトリンガイトの相対強度と、高温養生を受けた後のセメント組成物の水和試料中のエトリンガイトの相対強度との差が5%以下の場合に、DEFが発生しないと判断する判定方法である。 (もっと読む)


【課題】 互いに積層されてパッケージに収容された複数の単結晶基板の夫々について、パッケージを破壊することなく反りを測定する。
【解決手段】
パッケージにX線を照射するステップと、受光スリットの調節及びパッケージの高さ方向の位置調節を行うことにより、パッケージに収容された複数の単結晶基板により回折された複数の回折X線のなかから、所望の単結晶基板からの回折X線だけを選択的に検出するステップと、所望の単結晶基板からの回折X線のロッキング曲線を測定するステップと、パッケージを所定方向に一定距離移動させるステップとを含み、ロッキング曲線測定を行うステップとパッケージを所定方向に一定距離移動させるステップとを繰り返し行う。 (もっと読む)


【課題】温度変化を伴って所定角度範囲のX線測定を繰り返して行う場合に、X線測定の中断をできる限り抑えることができ、しかも、得られた測定結果の分析を正確且つ迅速に行えるX線分析装置を提供する。
【解決手段】試料にX線を照射したときにその試料から出たX線をX線検出器によって検出するX線分析装置である。温度変化曲線39に従って試料温度を変化させながら、X線回折測定を行って2θ=5°から2θ=40°の間で複数の回折線プロファイル35を縦軸に沿って間隔をおいて複数描く。5°〜40°の間で角度が増加する順方向移動時のX線強度データ35(→)を角度座標軸(座標表示36の横軸)上の5°から40°へ向かって画面上で表示させ、角度が減少する逆方向移動時のX線強度データ35(←)を同じ角度座標軸上の40°から5°へ向かって画面上で表示させる。順・逆表示をスイッチアイコン43によって切替えて表示できる。 (もっと読む)


【課題】隔壁、炉体カバー等が用いられているX線及び熱分析の同時測定装置において複数試料を自動的に順次に交換して測定できるようにする。
【解決手段】隔壁17内で炉体によって試料18を加熱し、炉体カバーで均熱化を行い、X線測定装置2及び熱分析測定装置3によって同時測定を行うX線及び熱分析の同時測定装置において、把持部材81を持った搬送装置4によって炉体カバーを隔壁17内からカバー載置部91へ取出した状態で、交換試料18を試料載置部98から隔壁17内へと搬送装置4によって搬送するようになっており、カバー載置部91には炉体カバーの位置決め用ブロック99が設けられ、試料載置部98には試料容器の位置決めを行う部材が設けられている。炉体カバーや試料容器を隔壁17内でX線通路X1に対して常に一定の相対位置に配置して、X線の進行を邪魔しないようにする。 (もっと読む)


【課題】SEM、TEMなどにも取り付け可能で、複数の元素を高感度、高分解能で同時に測定可能なX線分析装置を提供する。
【解決手段】点/並行型である一本のマルチキャピラリX線レンズ16の集束端側の焦点が試料14上の電子線照射点15に一致するように該レンズ16を配設する。そして、該レンズ16の平行端の外方で、レンズ16の断面を二つに区画した各区画領域16a、16bの延長線上にそれぞれ平板分光結晶20、23を設置する。平板分光結晶20で波長分散されたX線の中の特定波長のX線は超軽元素対応のX線検出器22で検出され、他の平板分光結晶23で波長分散されたX線の中の特定波長のX線は重元素対応のX線検出器25で検出される。試料14の近傍には一本のマルチキャピラリX線レンズ16を配設すればよいのでスペースをとらず、試料14から放出された特性X線を異なるX線検出器22、25で同時に検出できるので、異なる元素の同時測定が可能である。 (もっと読む)


【課題】産業廃棄物や産業副産物をセメント原料として大量に使用した場合であっても、セメント組成物の硬化の際における強度の変動幅を制御することが可能なセメント組成物の製造方法を提供すること。
【解決手段】石灰石、硅石、石炭灰、高炉スラグ、建設発生土、下水汚泥及び鉄源からなる群より選ばれる少なくとも1種を配合した原料を焼成して得られるセメントクリンカーと、石膏と、を混合して粉砕する工程を有するセメント組成物の製造方法であって、上記工程において、該セメント組成物におけるエーライト相の軸角βの測定値に基づいて、セメントクリンカーの原料原単位及び焼成条件の少なくとも一方を調整するセメント組成物の製造方法。 (もっと読む)


本発明は、薬物候補の合成中に小分子断片の成長を導くことに寄与するように抗体−タンパク質標的相互作用から得られる接触残基情報を使用することを含む、創薬のための改良された方法に関する。特に、本発明は、リード最適化中に小分子断片の成長を誘導し、それにしたがって標的タンパク質の生物活性を変化させ得る小分子化合物を生成するための、抗体−タンパク質標的相互作用から得られる原子構造情報の使用に関する。
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