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国際特許分類[G01N23/207]の内容

国際特許分類[G01N23/207]に分類される特許

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【課題】多層CNTの集合構造全体での構造評価をする。
【解決手段】多層CNTの集合構造に対して所定の入射角度でX線を入射するステップと、上記集合構造から出射する回折X線の検出位置を集合構造回りに走査しつつ変えていき、各検出位置で回折X線強度を測定するステップと、上記集合構造のX線入射位置を高さ方向に走査しつつ変えていき、各走査位置で透過X線の強度を測定するステップと、上記回折X線強度の測定データからピーク面積を、また、上記透過X線強度の測定データから減衰量を、それぞれ、演算するステップと、上記ピーク面積と減衰量とから上記集合構造の配向性を解析するステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】モルタル又はコンクリートの断熱温度上昇速度を迅速に予測できる方法を提供すること。
【解決手段】セメントクリンカー又は当該セメントクリンカーを含むセメントの粉末X線回折結果をプロファイルフィッティング法により解析して、セメントクリンカーに含まれるクリンカー鉱物の結晶情報を得る第一工程と、結晶情報を基に、セメントクリンカーを含むセメントから得られるモルタル又はコンクリートの断熱温度上昇速度vを予測する第二工程と、を有するモルタル又はコンクリートの断熱温度上昇速度の予測方法。 (もっと読む)


【課題】測定試料の結晶品質が著しく劣化し、twist分布に起因したピーク拡がりが著しく大きくなる場合にも、twist分布に起因したピーク拡がりを同定する結晶の構造解析方法を新たに提供する。
【解決手段】X線受光器12の位置は固定し、試料14のみを回転させるωスキャンモードを用いて、X線回折測定を行うことにより、横軸がスキャン角度Δθで縦軸がX線強度を表すhkl反射プロファイルを求め、求めたhkl反射プロファイルについて、再規格化工程、形状解析工程及び判定工程を適用して、ピーク拡がり形状が結晶のモザイク性により生じる局所的なtwist分布に起因して生じる形状か否か判定する。 (もっと読む)


【課題】試料の径が大きくなっても、試料に対応した大面積の面状のX線検出器を、X線トポグラフの分解能を低下させること無く、使用できるようにする。また、試料の径が大きくなったことに対応して大面積の面状のX線検出器を使用することになった場合でも、X線検出部の全体形状を大きくしなくて済むようにする。
【解決手段】試料11を線状のX線で走査したときに試料11で回折したX線をX線検出器28によって検出して平面的な回折像を得るX線トポグラフィ装置である。X線検出器28は試料11よりも大きい面積を有する円筒形状のイメージングプレート28であり、線状のX線の走査移動Fに関連させてイメージングプレート28を円筒形状の中心軸X0を中心としてα回転させる。円筒形状の中心軸X0は線状のX線の走査移動方向Fと直角方向に延在する。 (もっと読む)


【課題】基本的にはインクリメンタル型エンコーダを基本とする簡単で扱い易い構成を有し、アブソリュート型エンコーダのような複雑で高価な構成を用いることなく回転体の基準となる角度位置を認識できる測角器を提供する。
【解決手段】ウオームホイール22,23の回転角度を測定するための測角器2において、ウオームホイール22,23に設けられた測角用の第1識別用マーク33と、第1識別用マーク33を読取る第1検出部36と、ウオームホイール22,23に設けられた第2識別用マーク34と、第2識別用マーク34を読取る第2検出部37とを有しており、第1識別用マーク33及び第2識別用マーク34はウオームホイール22の表面上に直接に形成されており、第2識別用マーク34はウオームホイール22,23の回転中心線X1を中心とした一部の角度範囲に設けられている。 (もっと読む)


【課題】
X線など電磁波の回折法によるひずみ測定において、測定中に被測定物の移動や変形により電磁波照射位置が変化した場合に、照射位置のずれを補正し、回折によるひずみ測定を精度良くする装置を提供する。
【解決手段】
試験片の表面の高さを非接触式の距離センサで計測し、試験片位置の変化に応じて同じ位置になるようにステージを移動することで、測定中に試験片に応力を印加するなどしても電磁波の照射位置が同じになるようにする。電磁波照射中に試験片の表面高さを測定する機構と、試験片高さ位置を最初と同じ位置に移動する機構、回折電磁波の回折角を測定する機構を備え、電磁波照射位置を試験片表面の同一位置となるように補正できることから、表面位置変化による測定誤差を回避し、正確な回折角測定が可能となる。 (もっと読む)


【課題】 X線分光性能が良好なX線モノクロメータを提供する。
【解決手段】 X線モノクロメータ11は、凹面を有する基板18と、凹面上に形成された複数の細孔を有する無機酸化物膜と、を備える。無機酸化物膜の複数の細孔は、凹面の法線方向に周期的に積層されている。 (もっと読む)


【課題】タンパク質の結晶化速度を制御することができる新規タンパク質結晶形成制御剤を提供する。
【解決手段】フッ素原子を含有するケイ酸塩化合物が溶液中のタンパク質に作用することで前記タンパク質の結晶化速度を制御するタンパク質結晶形成制御剤であって、前記フッ素原子を含有するケイ酸塩化合物が好ましくは0.1%〜9質量%、より好ましくは0.3%〜5質量%のフッ素原子を含有する層状ケイ酸塩化合物であるタンパク質結晶形成制御剤をタンパク質が溶解している溶液中に添加する。これにより、タンパク質の結晶化速度を速め、また、タンパク質の結晶核形成頻度と結晶の大きさを制御することが可能となる。 (もっと読む)


本発明は、試料のX線回折(XRD)解析及び/又はX線蛍光(XRF)解析を実行する方法であって、X線源からのX線を試料に照射し、走査波長選択器と波長選択器により選択されたX線を検出するX線検出器とを備えるXRD・XRF複合検出装置を提供し、走査波長選択器を使用して試料により回折されるX線の固定波長を選択してX線検出器を使用して試料での1つ又は複数の値の回折角φでの選択された固定波長のX線を検出することにより試料のXRD解析を実行し、及び/又は、走査波長選択器を使用して試料により発せられたX線の波長を走査してX線検出器を使用して走査された波長のX線を検出することにより試料のXRF解析を実行する方法を提供する。試料のXRD解析及びXRF解析の両方を実行する装置であって、走査波長選択器と、XRD・XRF複合検出装置を備える装置も提供される。 (もっと読む)


【課題】長期的に安定して、発熱による分光性能の低下が抑制される分光器を提供する。
【解決手段】分光器は、照射されたX線を分光する分光結晶(10)と、分光結晶の、X線照射領域(15)を除いた領域の少なくとも一部に形成された熱伝導部材(11)と、を有している。熱伝導部材(11)は、熱伝導部材(11)の熱伝導率が分光結晶(10)の熱伝導率よりも大きくなるように、カーボンナノファイバとカーボンナノチューブの少なくとも一方を含有した無機材料からなる。 (もっと読む)


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