【課題】２段に重ねられた放射線検出器の画素間での対応がとれなくなったことを早期に知ることができる非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】非破壊検査装置１は、Ｘ線照射器２０、低エネルギ検出器３２、高エネルギ検出器４２、低エネルギ透過率算出部７２、高エネルギ透過率算出部７４及び検出部７６を備えている。低エネルギ透過率算出部７２は、被検査物Ｓを透過したＸ線の低エネルギ範囲における透過率を、低エネルギ検出器３２で検出された輝度データから算出し、高エネルギ透過率算出部７４は、被検査物Ｓを透過したＸ線の高エネルギ範囲における透過率を、高エネルギ検出器４２で検出された輝度データから算出する。検出部７６は、低エネルギ透過率算出部７２で算出された透過率と、高エネルギ透過率算出部７４で算出された透過率との比に基づいてＸ線照射器２０の位置ずれを検出する。 （もっと読む）

【課題】電子線（Ｘ線）の漏出を確実に減衰させる。
【解決手段】第１〜第３遮蔽室Ｒ１〜Ｒ３内で第１〜第３旋回経路Ｌ１〜Ｌ３に沿って容器を搬送中に、容器の外側と内側からそれぞれ電子線を照射して殺菌する外面、内面殺菌ゾーンＺ２，Ｚ３を具備し、内面殺菌ゾーンＺ３の第３−４接続開口部Ｐ３−４に設置された出口トラップゾーンＺ４に、第４〜第６旋回経路Ｌ４〜Ｌ６を接続するとともに、第４〜第６旋回経路Ｌ４〜Ｌ６をそれぞれ収容する第４〜第６遮蔽室Ｒ４〜Ｒ６を設け、外面、内面殺菌ゾーンＺ２，Ｚ３の第１〜第３旋回経路Ｌ１〜Ｌ３の内周部に沿って、金属製遮蔽体からなる第１〜第３内周遮蔽体Ｓ１〜Ｓ３を設置し、出口トラップゾーンＺ４に接続された第４旋回経路Ｌ４と、第４旋回経路Ｌ４に接続された第５旋回経路Ｌ５の内周部に沿って、金属製遮蔽体からなる第４，第５内周遮蔽体Ｓ４，Ｓ５をそれぞれ設置した。 （もっと読む）

【課題】シンクロトロンの超高真空を破壊することなく低真空領域での軟Ｘ線照射実験を可能にすると共に、試料の操作性、視認性に優れた低真空軟Ｘ線実験装置を提供する。
【解決手段】低真空軟Ｘ線実験装置において、超高真空（Ｐｂｌ＜１×１０^-７Ｔｏｒｒ）の放射光ビームライン１と差動排気室（３、５）を介して接続された低真空（Ｐｅｘ＞１×１０^-２Ｔｏｒｒ）に保たれた実験槽８で、最終段のオレフィスが円錐管６の先端に設置されている。又、試料７が配置される実験槽８を透明部材で構成する。 （もっと読む）

【課題】窪部位を有する金型の成形面あるいは大きい部品の全面を均一に表面改質することが難しい。
【解決手段】チャンバ１の中を真空に近い状態にする。アノード電極５Ｂの中にアルゴンガスを供給する。電子の速度を窪部位のエッジの形状を喪失させない速度まで低下させるために必要十分な圧力のアルゴンガスをアノード電極５Ｂと被照射体６との間に介在させる。電子の加速空間Ｓとプラズマ空間Ｐと電子の減速空間Ｇが存在し得る範囲内でカソード電極５Ａと被照射体６との間の距離を可能な限り短くする。アノード電極５Ｂに電圧を供給してプラズマ空間Ｐにプラズマを発生させる。カソード電極５Ａと被照射体６との間に電圧を供給して電子ビームを発生させて被照射体６の選択された被照射面に電子ビームを照射する。 （もっと読む）

【課題】窪部位を有する金型の成形面あるいは大きい部品の全面を均一に表面改質することが難しい。
【解決手段】チャンバ１の中に移動装置２と電子ビーム発生装置５を備える。移動装置２は、電子の加速空間Ｓとプラズマ空間Ｐと減速空間Ｇとが存在し得る範囲内でカソード電極５Ａと被照射体６とを可能な限り短くするように被照射体６を位置させる。ラックピニオン機構７は、移動装置２に設けられる。移動体１０が移動するとラック７Ａが移動してピニオン７Ｂが回転する。ピニオン７Ｂの回転で回転冶具８の回転軸８Ａが回転する。回転軸８Ａの回転でチャック８Ｃに取り付けられている被照射体６が所定角度回転する。移動体１０の所定ピッチの移動でバー９が移動すると、本体８Ｄはバー９に対して相対的にスライドする。被照射体６は、アノード電極５Ｂの直下に留まる。 （もっと読む）

【課題】トリチウムを大気中に拡散させることなく、リチウムターゲット流を形成するリチウムループの中からトリチウムを大気に拡散させることなく、安全にトリチウムを除去する。
【解決手段】リチウムループのトリチウム除去装置は、リチウム流に陽子線を衝突させ、中性子を発生する中性子源１と、この中性子源１を通過したリチウムを流路９を通して流入させ、一時的に貯留するリチウムタンク１１と、このリチウムタンク１１のリチウムを供給側の流路９’を通して前記中性子源１に還流し、供給するリチウムポンプ１７とを有する。トリチウムを含む水素ガスが集まりやすいリチウムタンク１１とリチウムポンプ１７を不活性ガスを含む密閉容器７内に封入し、万が一密閉容器７にトリチウムを含む水素ガスが漏れても水素同位体除去フィルタによって除去する。 （もっと読む）

【課題】 窓部材が劣化するのを抑制することができる電子線照射装置及び電子線透過ユニットを提供する。
【解決手段】 電子線透過ユニット５０は、電子線を発生する電子銃と、電子銃が発生した電子線を通過させる電子線通過孔が設けられた筐体と、を具備する電子線照射装置において、電子線通過孔の出射側開口部に配置されて、電子線通過孔を通過した電子線を透過させるためのものである。電子線透過ユニット５０は、出射側開口部に取り付けられるための窓枠体５０Ａと、窓枠体５０Ａの内側に配置されたメッシュ部５２ｂを有する支持部材５２と、メッシュ部５２ｂ上に支持された窓部材５５と、メッシュ部５２ｂと窓部材５５との間に配置された介在層５９と、を備えている。窓部材５５は、炭素を含む材料からなり、メッシュ部５２ｂは、鉄を含む材料からなる。 （もっと読む）

【課題】 窓部材及び窓枠体が高温になるのを抑制することができる電子線照射装置を提供する。
【解決手段】 電子線照射装置１は、電子線ＥＢを発生する電子銃４０と、電子銃４０が発生した電子線ＥＢを入射させる入射側開口部３３ａ、及び電子線ＥＢを出射させる出射側開口部３３ｂが設けられた走査管３３と、出射側開口部３３ｂに配置された電子線透過ユニット５０と、を備えている。電子線透過ユニット５０は、出射側開口部３３ｂに取り付けられた窓枠体５０Ａと、窓枠体５０Ａの内側に配置され、走査管３３の内側を通過した電子線ＥＢを透過させる窓部材５５と、を有している。窓枠体５０Ａの熱伝導率は、走査管３３の熱伝導率以上となっている。 （もっと読む）

【課題】スポットの集合の照射中における異常発生時のビーム出射処理（中断、再開）を適切に行うことにより、照射精度を上げて、安全かつ効率的に照射する。
【解決手段】シンクロトロン１２と、走査電磁石５Ａ，５Ｂを有し、シンクロトロン１２から出射されたイオンビームを走査するスキャニング照射装置１５と、シンクロトロン１２からのイオンビームの出射をビーム出射停止指令に基づいて停止させ、この状態で走査電磁石５Ａ，５Ｂを制御することによりイオンビームの照射位置（スポット）を変更させ、この変更後にシンクロトロン１２からのイオンビームの出射を開始させる。ある照射スポットへのビームの照射中に、照射継続可能な比較的軽度な異常が発生した場合に、直ちにビーム出射を停止せず、その照射スポットを含む予め定義されたスポットの集合に属する全スポットについての照射を完了させた時点でビーム出射を停止する。 （もっと読む）

【課題】電子線に基づいて発生する放射線を確実に遮蔽することができ、かつ、電子線照射装置を遮蔽する搬送構造の設置面積を低減する。
【解決手段】搬送構造２００は、電子線照射装置１００と、壁面で区画される搬送通路３５０上に設けられた照射領域Ｒと、搬送通路の一部を構成する第１通路３５２と、第１通路と鉛直方向の高さを異にするとともに、照射領域からの距離が当該第１通路よりも遠い距離に位置する第２通路３５４と、第１通路と第２通路とを接続する第１昇降通路３７０と、第１通路を区画する壁面および第１昇降通路を区画する壁面の少なくともいずれか一方に設けられ、第１通路から第２通路への放射線の直進入射を遮蔽する遮蔽部３３０とを備える。 （もっと読む）