【課題】サリサイドプロセスにより金属シリサイド層を形成した半導体装置の性能を向上させる。
【解決手段】全反応方式のサリサイドプロセスを用いず、部分反応方式のサリサイドプロセスによりゲート電極８ａ，８ｂ、ｎ^＋型半導体領域９ｂおよびｐ^＋型半導体領域１０ｂの表面に金属シリサイド層４１を形成する。金属シリサイド層４１を形成する際の熱処理では、ランプまたはレーザを用いたアニール装置ではなく、カーボンヒータを用いた熱伝導型アニール装置を用いて半導体ウエハを熱処理することにより、少ないサーマルバジェットで精度良く薄い金属シリサイド層４１を形成し、最初の熱処理によって金属シリサイド層４１内にＮｉＳｉの微結晶を形成する。 （もっと読む）

【課題】 エレクトロマイグレーションの影響を低減できるＣｕ配線を備えた半導体装置
及びその製造方法を目的とする。
【解決手段】
Ｃｕ配線１０を備える半導体装置１において、
Ｃｕ配線１０の断面構造は、側部及び下部をバリアメタル２０に接し、上部を絶縁膜３
０に接し、絶縁膜３０に接するＣｕ配線１０の上部のグレインサイズが、Ｃｕ配線１０の
中央部のグレインサイズより小さ。さらに、バリアメタルに接するＣｕ配線１０の側部及
び下部のグレインサイズが、Ｃｕ配線１０の中央部のグレインサイズより小さい。 （もっと読む）

【課題】バイポーラトランジスタや縦型ＦＥＴ等の縦型デバイスを、絶縁膜マスクを用いた選択成長による、ボトムアップ構造にするすることで、精密な制御を要求される工程を削減できる製造方法を提供する。
【解決手段】導電性基板２０の第１主表面上に、第１絶縁膜３２、金属膜４２及び第２絶縁膜５２を順次に形成する。次に、第１絶縁膜、金属膜及び第２絶縁膜の、中央領域の部分を除去することにより、導電性基板を露出する成長用開口部７０を形成する。次に、成長用開口部内に、半導体成長部８２，８４を形成する。次に、第２絶縁膜の、中央領域の周囲の周辺領域内に設けられた引出電極領域の部分７２を除去することにより、金属膜を露出する引出電極用開口部を形成する。次に、引出電極用開口部内７２に、引出電極９０を形成する。次に、半導体成長部上及び導電性基板の第２主表面上にオーミック電極９２を形成する。 （もっと読む）

【課題】入射光の利用効率が高い太陽電池の提供。
【解決手段】基材、銀電極層、光電変換層及び透明電極層がこの順に積層されてなる太陽電池であって、前記銀電極層が、下記式（１）で表わされるβ−ケトカルボン酸銀（ただし、アセト酢酸銀を除く）を含有する金属銀の形成材料が加熱されて形成された金属銀を含むことを特徴とする太陽電池［前記式（１）において、Ｒは直鎖もしくは分枝のＣ_１〜Ｃ_２０アルキル基、またはフェニル基であり、Ｘは、同一であるかまたは異なり、水素原子、直鎖もしくは分枝のＣ_１〜Ｃ_２０アルキル基である。］。
［化１］
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【課題】プラズマエッチングチャンバ内でデュアルドープゲート構造をエッチングするための方法を提供する。
【解決手段】エッチングされるポリシリコンフィルムを保護するパターンを設ける工程、次いで、プラズマが点火され、保護されていないポリシリコンフィルムのほぼすべてがエッチングされる。次いで、シリコン含有ガスを導入しつつポリシリコンフィルムの残りをエッチングする。また、エッチング処理中にシリコン含有ガスを導入するよう構成されたエッチングチャンバ。 （もっと読む）

【課題】本発明は、簡素な製造工程でありながら、ボイドを発生させずにトランジスタセルの高密度化を実現する半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】半導体層６０にトレンチ型のゲート９０が形成され、該ゲート９０の両側に拡散層５０が形成されたトランジスタセルを複数含むセル部６１と、該セル部６１を囲むガードリング部６２とを有する半導体装置の製造方法であって、
前記ゲート９０及び前記拡散層５０が形成された前記半導体層６０の表面に、層間絶縁膜１２０を形成する工程と、
前記セル部６１に形成された前記層間絶縁膜１２０を、エッチバックにより薄膜化する工程と、
前記層間絶縁膜１２０の前記拡散層５０上の位置に、孔状又は溝状のコンタクト部１３０を形成する工程と、
前記層間絶縁膜１２０上に、金属膜１４０を形成する工程と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、コレクタ電極に含まれるアルミニウムがコレクタ層へ拡散することを防止でき、かつ安定した電気特性を有する電力半導体装置およびその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】基板の表面に形成されたエミッタおよびゲートと、該基板の裏面に形成されたコレクタ層と、該コレクタ層の該基板と接する面と反対の面に形成された酸化膜と、該酸化膜の該コレクタ層と接する面と反対の面に形成された、アルミニウムを含むコレクタ電極と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】従来から、チタン膜の結晶配向性は（００２）、スパッタリングを行う成膜室の水素分圧に比例して、高まることが知られている。しかし水素ガスは危険性が高いため、ボンベから直接供給することが難しい。水をプラズマ分解して水素発生させる方法があったが、同時に発生する酸素がチタン膜の膜質を低下させるため、問題であった。
【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法により、水をプラズマ分解して水素と酸素を発生させたのち、酸素を酸化膜生成用ガスと反応させて酸化物にすることで、成膜室から除去することができる。成膜室には水素のみが残留し、この状態でスパッタリングすることにより結晶配向性（００２）の高いチタン膜が得られ、この上部に窒化チタン膜、第２のチタン膜、アルミニウムを連続して成膜することにより、エレクトロマイグレーション耐性の高いアルミニウムが得られる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、高い信頼性を有するオーミック電極を備えた化合物半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】実施形態によれば、窒化物半導体層と、この窒化物半導体層上に設けられたオーミック電極と、を備え、前記オーミック電極は、前記窒化物半導体層との間で金属窒化物を形成する金属を含む第１電極層と、前記第１電極層上に設けられた、アルミニウム（Ａｌ）を含む第２電極層と、前記第２電極層の外面を被覆し、かつタングステン（Ｗ）を含む第３電極層と、前記第３電極層の外面を被覆し、かつ金（Ａｕ）を含む第４電極層と、を有することを特徴とする化合物半導体装置が提供される。 （もっと読む）