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国際特許分類[H01L21/60]の内容

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【課題】本明細書では、半導体素子の表面に形成されている電極パッドを従来の半導体装置よりも小型化し得る技術を提供する。
【解決手段】本明細書で開示する半導体装置の製造方法は、半導体素子20の表面に形成されている信号パッド40と、リードフレーム60の一端側に備えられる爪部62の先端と、を対向させ、次いで、信号パッド40と爪部62の先端とが対向する状態を維持したまま、コンプレッションモールド法によって、半導体素子20と、メインパッド30と、信号パッド40と、リードフレーム60の一端側と、ボンディングワイヤ70の一端側とをモールド樹脂で封止する。コンプレッションモールドでは、その成形圧力によって爪部62の先端を信号パッド40方向に付勢することで、リードフレーム60と信号パッド40とを電気的に接続させる。 (もっと読む)


【課題】信号特性の劣化を抑制した半導体チップを提供する。
【解決手段】半導体基板11の少なくとも一方の面に形成された終端パッド15と、一端が終端パッド15と接続されて、半導体基板11を貫通して形成された伝送体14と、ミリ波帯高周波信号が伝送体14を伝送した際の信号特性の劣化を抑制する少なくとも1つ以上の信号劣化抑制部と、を備える。また、上記半導体チップ10と、低周波信号又は直流バイアスの少なくとも1つの信号の伝導路をなす低周波用の信号線路が設けられると共に、半導体チップ10がバンプ接続に搭載されて、低周波信号用の信号線路を介した信号を半導体チップ10に入出力されるチップ搭載基板20とを備える。 (もっと読む)


【課題】フリップチップ・パッケージにおけるアンダーフィル工程の改良に関するものであり、接合部分(電極端子)の補強を確実にすると共に、フィレットを好適な形状で形成し、半導体素子(チップ)の剥離,クラックなどの発生を抑制し、接続信頼性の高い半導体装置を得ることのできる半導体パッケージ用基板を用いた半導体パッケージの製造方法を提供する。
【解決手段】配線基板の表面に半導体素子をフリップチップ実装して、配線基板と半導体素子との間をアンダーフィル樹脂で封止する工程を備える半導体パッケージの製造方法において、実装される半導体素子の4隅近傍にあたる配線基板の表面に、充填されるアンダーフィル樹脂を堰き止めるためのブロック状の部材を配置形成する工程を具備することを特徴とする半導体パッケージの製造方法を採用する。 (もっと読む)


【課題】本明細書では、半導体素子の表面に形成されている電極パッドを従来の半導体装置よりも小型化し得る技術を提供する。
【解決手段】本明細書で開示する半導体装置の製造方法は、半導体素子20の表面に形成されている信号パッド40と、リードフレーム60の一端側に備えられる爪部62の先端とを対向させ、次いで、信号パッド40と爪部62の先端とが対向する状態を維持したままリードフレーム60を加熱することにより、爪部62の先端を信号パッド40に向かって付勢しない直線状態から爪部62の先端を信号パッドに向かって付勢する湾曲状態へと変化させる。リードフレーム60が第1状態から第2状態に変化することで、爪部62の先端が信号パッド40の表面に押付けられて、リードフレーム60が信号パッド40に電気的に接続する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置とプリント基板で適用可能なプロセスが異なる際に、コストあるいは回路面積の増加を抑制する。
【解決手段】半導体装置1は、その底面に規則的に配置された複数の裏面電極10を備える。複数の第1裏面電極10aは、M行N列(M、Nは4以上の整数)のマトリクス状に配置される仮想的な格子点のうち、半導体装置1の最外周の複数の第1格子点30aに対応する箇所に設けられる。複数の第2裏面電極10bは、最外周を除く(M−2)行(N−2)列の格子点から複数の格子点を間引いた結果残る複数の第2格子点に対応する箇所に配置される。 (もっと読む)


【課題】表面実装技術において、フラックスの洗浄工程を不要とし、製造コストの削減、生産性を向上させ、硬化後の塗布樹脂及びアンダーフィル樹脂等に気泡やボイド等が全く生じない活性樹脂組成物の提供。
【解決手段】プリント配線基板1表面の少なくとも一部に下記活性樹脂組成物3を塗布し、表面実装部品4をプリント配線基板1上に搭載し、リフロー半田付けを行い、アンダーフィル樹脂11を充填し、その後、塗布樹脂3及びアンダーフィル樹脂11を加熱硬化する表面実装技術であって、アンダーフィル樹脂11の充填前及び/又は後に、真空操作及び/又は塗布樹脂3とアンダーフィル樹脂11の何れの硬化温度よりも低い温度での加熱を行う。活性樹脂組成物3は、エポキシ樹脂100重量部に対し、ブロックカルボン酸化合物1〜50重量部カルボン酸化合物1〜10重量部、並びに硬化反応開始温度150℃以上の硬化剤1〜30重量部を含有する。 (もっと読む)


【課題】より簡便に樹脂突起に形成された凹部の深さ(樹脂の除去量)を検査することができる半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置の製造方法は、第1の面を有する半導体基板と、前記第1の面に位置する第1電極及び第2電極と、前記第1の面に位置する第1樹脂突起及び第2樹脂突起と、前記第1樹脂突起の第1の部分を覆い、前記第1電極に接続された第1配線と、前記第1樹脂突起の第2の部分を覆い、前記第2電極に接続された第2配線と、を有する構造体を用意する第1工程と、前記第1樹脂突起の前記第1の部分と前記第2の部分の間の第3の部分の一部と、前記第2樹脂突起の少なくとも一部と、を同時にエッチングする第2工程と、前記第2工程後の前記第2樹脂突起の形状から、前記第2工程のエッチングにおける前記第3の部分の除去量が適正であるかを判断する第3工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】小型で精密かつ均一な形状のボールを速やかに形成し、ワイヤのループ高を最小化すると共に、ワイヤボンディング用の各種消耗部品の取替え費用及び取替え時間を節約可能にする半導体パッケージのワイヤボンディングシステムを提供する。
【解決手段】ワイヤをボール形成位置に供給するワイヤ供給装置100と、二酸化炭素レーザビームを少なくとも1本以上出力するレーザビーム出力装置10と、レーザビーム出力装置から出力されるレーザビームをボール形成位置に案内するレーザビーム案内装置20と、を含む。これにより、ボールの成形性と生産性とを向上し、ワイヤの物性変性を最小化して、ワイヤのループ高を最小化し、消耗部品の取替え費用及び取替え時間を節約する。 (もっと読む)


【課題】カメラによる突起状電極及び/又はアライメントマークのコントラスト像の認識を容易にし、高精度な接合を行うことのできる半導体チップ接合体の製造方法を提供する。
【解決手段】突起状電極、又は、突起状電極及びアライメントマークを有し、マトリックスとしての樹脂成分と樹脂成分に不溶な固体成分とを含有する封止樹脂層が前記突起状電極及び/又は前記アライメントマークを被覆するように設けられた半導体チップを準備する工程と、前記封止樹脂層に対して、600nm以上の波長を含む光を光軸が斜めになるように照射し、前記突起状電極及び/又は前記アライメントマークのコントラスト像をカメラにより認識させる工程と、被接合体としての基板又はその他の半導体チップに対して、前記半導体チップの位置調整を行う工程と、前記半導体チップの前記突起状電極と、前記基板又はその他の半導体チップの電極部とを接合するとともに、前記封止樹脂層を硬化させる工程とを有する半導体チップ接合体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】熱放散性や製造容易性に優れ、かつ水分等の異物の侵入を抑えたCSP構造の半導体装置、並びにその半導体装置を構成するリードフレームを形成するための異形断面条及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様において、突起3が形成された部分であるアウターリードとしての2つの厚肉部2A、及び2つの厚肉部2Aの間のインナーリードとしての薄肉部2Bを有するリードフレーム5Aと、ボンディングワイヤ12を介して薄肉部2Bに電気的に接続される半導体チップ11と、リードフレーム5A及び半導体チップ11を封止する樹脂パッケージ14と、を含み、リードフレーム5Aの上面及び下面の樹脂パッケージ14に接触する部分に、突起3に平行な線状の微小溝4A、4Bが形成され、微小溝4A、4Bの深さは前記突起の高さよりも小さく、2つの厚肉部2Aの一部が樹脂パッケージ14の底面及び側面に露出する半導体装置を提供する。 (もっと読む)


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