説明

国際特許分類[H01L21/60]の内容

国際特許分類[H01L21/60]の下位に属する分類

国際特許分類[H01L21/60]に分類される特許

201 - 210 / 8,435


【解決手段】ボンディング装置を構成する物品認識装置は、基板のバンプに照明光を照射する第1照明と、該第1照明とは異なる角度から上記バンプに照明光を照射する第2照明と、上記バンプで反射した上記照明光の反射光を撮影する第1撮影手段とを備えている。上記第2照明の輝度を固定したまま、第1照明の輝度を変化させて(S3)、上記第1撮影手段が撮影した画像のうち、バンプが最も多く認識された画像を撮影した際における第1照明の輝度を記憶する(S7)。続いて第1照明の輝度を上記記憶した輝度で固定したまま、第2照明の輝度を変化させて(S9)、上記第1撮影手段が撮影した画像のうち、バンプが最も多く認識された画像を撮影した際における上記一方の照明の輝度を記憶する(S13)。
【効果】照明の設定値の設定を容易にかつ安定して行うことができる。 (もっと読む)


【課題】片持ち梁を有するワークの梁部分とリボンとを良好な接触状態で接合させることのできる接合方法を得ること。
【解決手段】本発明は、片持ち梁32を有するワーク30の片持ち梁と接合物31とを接合させる接合方法であって、中心線Cを中心に回転可能に支持された取付部に対してワークを固定するステップと、片持ち梁と接合物とを接合させる接合ツール20を接合部分に押し当てるステップと、を備え、ワークを固定するステップにおいて、ワークは、中心線から離れた位置で保持されるとともに、片持ち梁と接合物との接合部分が中心線の一部と一致し、片持ち梁が取付部の回転方向と平行な方向に延びるように配置される。 (もっと読む)


【課題】高密度のバンプピッチに対応可能な半導体パッケージ基板の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体パッケージ基板の製造方法は、接続パッド103を有するベース基板を準備する段階と、ベース基板上に、ポリイミドを含む保護層106および金属層を積層する段階と、金属層および保護層にオープン部を形成して接続パッドを露出させる段階と、オープン部にポストバンプ115を形成する段階と、金属層を除去する段階とを含んでなるものである。 (もっと読む)


【課題】実装後の接続信頼性が高く且つ電極パッドの配置密度の低下が生じにくい半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】半導体装置は、基板101の上に形成された電極パッド102と、電極パッド102の上に形成された補強突起電極103とを備えている。補強突起電極103は、電極パッド102と接合されたバンプ104及び該バンプを補強するバンプ補強構造105を有している。バンプ補強構造105は、基板101の上に形成され、電極パッド102の一部を露出する開口部を有する電極パッド周辺層141と、電極パッド周辺層141の上に形成され、バンプ104の側面の一部を覆う補強樹脂142とを含む。バンプ104は、開口部を埋め且つ電極パッド周辺層141の上に突出し、電極パッド周辺層141は、絶縁層144と多孔質層145とを含み、補強樹脂142は多孔質層145と接している。 (もっと読む)


【課題】TABテープの絶縁層に開口を容易に形成するとともに、開口の縁部におけるバリの発生を抑制したTABテープの製造方法を提供する。
【解決手段】金属箔2上に、スクリーン印刷により絶縁性樹脂3を塗布して、金属箔2が露出した開口5を有する絶縁層4を形成する工程と、絶縁層4を硬化して、開口5における縁部が面取り形状である絶縁層4を形成する工程と、金属箔2を、フォトリソグラフィを用いてエッチングして、配線の一部が開口5にて露出する配線パターン7を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】所定値以上の厚みを有するパッドを少ない工程数で形成することができる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、アルミ層22を、半導体基板上に形成された層間絶縁膜1の上方に堆積させる。アルミ層22上には、アルミ層24を堆積させる。パッド領域102のアルミ層24の上方に、フォトレジスト7を形成する。フォトレジスト7を用いてエッチングを行うことにより、パッド領域102にパッド上層52を形成するとともに、配線領域101のアルミ層24を除去する。そして、フォトレジスト8を、パッド領域102のパッド上層52を覆い、かつ、配線領域101で配線パターンを構成するように形成する。フォトレジスト8を用いてエッチングを行うことにより、パッド領域102にパッド下層51を形成するとともに、配線領域101に配線2を形成する。 (もっと読む)


【課題】電極間に導電性粒子を精度よく配置でき、電極間の導通信頼性を高めることができる接続構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る接続構造体1の製造方法では、第1の電極2bと、第1の電極2b上を覆っておりかつ第1の電極2bが部分的に露出するように複数の開口Xを有する絶縁膜2cとを表面2aに有する第1の接続対象部材2を用いて、第1の接続対象部材2の表面2a上に、硬化性成分と導電性粒子5を含む異方性導電材料により異方性導電材料層を積層する。その後、該異方性導電材料層上に第2の電極4bを表面4aに有する第2の接続対象部材4を積層し、異方性導電材料層を硬化させて硬化物層3を形成する。上記異方性導電材料の60〜150℃での最低溶融粘度は1000Pa・s以上、10000Pa・s以下である。 (もっと読む)


【課題】ノーマルレジスト構造のランドを有するプリント基板において、ランド上へのはんだ塗布量のばらつきを抑制しつつ、はんだの接続信頼性を向上すること。
【解決手段】ノーマルレジスト構造のランドを有するプリント基板であって、絶縁基材の一面上に形成されたランドの側面と、ランドを外部に露出させる開口部を有して絶縁基材の一面上に形成されたソルダーレジストの開口部側壁面との対向領域に、ランドの側面及び開口部の側壁面に接しつつ絶縁基材の一面から所定の高さを有する固形状の充填部材を設けた。この充填部材は、はんだ付け時のリフローによって溶融され、且つ、ランドの表面に対する濡れ性が、はんだ付け時にランドの上面に配置されるはんだの溶融状態よりも低い樹脂材料を用いて形成される。 (もっと読む)


【課題】生産性を低下させることなく、基板の外周部にレジスト残渣が発生することを抑制可能な厚膜レジストの現像方法、及び半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】回路素子層の上面に、厚膜レジストを形成する工程と、厚膜レジストを露光する工程と、露光後に、30〜50rpmの範囲内の一定の回転速度で炭化珪素基板を回転させながら、厚膜レジストの上方から現像液を供給することで、厚膜レジストの上面に現像液よりなるパドルを形成し、該パドルにより厚膜レジストを現像して、厚膜レジストに回路素子層の上面を露出する開口部を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極とソース電極との間に印加される電圧がソース電極パッドの電気抵抗による電圧降下で低下することを防止でき、安定した動作を実現できる電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】このGaN HFETによれば、ボンディング部16Bの第2のパッド部16B‐2は、電極接続部16Aが含有する複数の接続部分19のうちの第2の方向(ソース電極12とドレイン電極11が対向している方向)の一端に配置された接続部分19の上記第2の方向の外端を電極延在方向へ延長した仮想延長線L1に関して第1のパッド部16B‐1とは反対側に位置している。第2のパッド部16B‐2に接続された第2のソース配線24のボンディング箇所の第2の方向の位置を電極接続部16Aのソース電極12との接続部分19の第2の方向の位置と重ならないようにして、ソース電極12からの電流が第2のソース配線24に流れにくくできる。 (もっと読む)


201 - 210 / 8,435