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国際特許分類[H01L23/12]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体または他の固体装置の細部 (40,832) | マウント,例.分離できない絶縁基板 (9,861)

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【課題】突起構造と半導体素子の電極とを接続する構造において、突起構造と半導体素子の電極との間の接続信頼性を向上させる。
【解決手段】素子搭載用基板10は、絶縁樹脂層12と、絶縁樹脂層12の一方の主表面に設けられた配線層14と、配線層14と電気的に接続され、配線層14から絶縁樹脂層12側に突出している突起電極16と、を備える。突起電極16の側面には凹凸が形成され、突起電極16の頂部面よりも側面の方が表面粗さが大きくなっている。 (もっと読む)


【課題】再配線層形成工程、メタルポスト形成工程及び樹脂封止工程を経てウェハレベルで樹脂封止される半導体装置について、パッケージング工程の前後での素子の特性変動を低減させる。
【解決手段】素子が形成された半導体基板に対して、再配線層形成工程、メタルポスト形成工程及び樹脂封止工程を経てウェハレベルで樹脂封止される半導体装置について、上方から見てメタルポスト21の周縁と重なる位置に素子33,35,37を配置しないようにする。また、製造時におけるメタルポスト21に起因して生じる応力の影響を受ける、メタルポスト21の周縁から所定の範囲に素子の配置禁止領域21aを設け、配置禁止領域21aに素子33,35,37を配置しないようにする。 (もっと読む)


【課題】ノイズの遮蔽を十分に行うことができ、かつLSIを3次元的に配置する際に空間を有効的に利用することができるようにする。
【解決手段】配線基板100には半導体装置103が内蔵されている。配線基板100には、平面視で半導体装置103と重なる領域に互いに離間して設けられた複数の第1導体106と、複数の第1導体106の少なくとも一つを半導体装置103に接続するビア120と、半導体装置103を介して複数の第1導体106とは反対側に設けられ、平面視で複数の第1導体106を覆っている第2導体102と、複数の第1導体106を介して半導体装置103とは反対側に設けられ、平面視で第1導体106を覆っている第3導体101と、第2導体102と第3導体101によって挟まれた空間に、半導体装置103を囲むように設けられ、繰り返し構造を有する構造体とを備える。 (もっと読む)


【課題】冷熱サイクル負荷時において、回路層の表面にうねりやシワが発生することを抑制でき、かつ、セラミックス基板と回路層との接合界面に熱応力が作用することを抑制でき、冷熱サイクル信頼性に優れたパワーモジュール用基板を提供する。
【解決手段】セラミックス基板11の一方の面に回路層12が接合されてなり、この回路層12の表面に電子部品が搭載されるパワーモジュール用基板10であって、回路層12は、アルミニウムの母相中に析出物粒子が分散された析出分散型のアルミニウム合金で構成されており、回路層12の断面の走査型電子顕微鏡観察において、回路層12のうちセラミックス基板11との接合界面部分には、粒径0.1μm以上の析出物粒子の存在比率が3%未満とされた析出物欠乏層12Aが形成されており、回路層12の一方の面側においては、粒径0.1μm以上の析出物粒子の存在比率が3%以上とされていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】配線基板の反りを抑制すると共に、電気的な接続信頼性を向上させることのできる配線基板、半導体装置、及び配線基板の製造方法を提供する。
【解決手段】積層された絶縁層18,26,32,38に設けられ、半導体チップ14,15と電気的に接続される配線パターン21と、絶縁層26,32間に設けられた補強用の金属層27とを備え、絶縁層26に金属層27と接触すると共に金属層27の下方に配置された配線パターン21と電気的に接続される第1のビア28と、絶縁層32に金属層27と接触すると共に、金属層27の上方に配置された配線パターン21と電気的に接続される第2のビア33とを設け、金属層27が薄板状部分と、薄板状部分と電気的に分離された第1、第2のビアとの接続部分とからなり、第1のビアと接続部分とが、同一の導体金属で一体に形成され、搭載される半導体チップと対向する絶縁層部分に熱膨張係数緩和部材を設けた。 (もっと読む)


【課題】比較的シンプルな構成により基板と半導体素子との間の半田接合部の耐久性を向上させること。
【解決手段】基板1は、表面及び裏面の少なくとも一方に半導体素子を半田により接合するように構成される。ここで、半導体素子を接合する部位は、凹部2となっており、他の部位である外周縁部3よりも低い面となっている。凹部2は、外周縁部3の内側の部分である。基板1は、ガラス繊維層11を樹脂層12で覆うことにより形成される。半導体素子を接合する凹部2の面2aは、外周縁部3の面3aに比べてガラス繊維層11に近接している。基板1の凹部2の中の最薄部の厚さは、ガラス繊維層11の厚さよりも大きい。この基板1に適用される半導体素子は、ランドグリッドアレイの素子である。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、複数の積層チップパッケージを積層し互いに電気的に接続することを可能にする。
【解決手段】積層チップパッケージは、本体2と、本体2の側面に配置された複数のワイヤWを含む配線3を備えている。本体2は、階層部分10S1,10S2を含む主要部分2Mと、それぞれ主要部分2Mの上面、下面に配置されて複数のワイヤWに接続された複数の第1および第2の端子とを有している。各階層部分は、第1の面とその反対側の第2の面を有する半導体チップと、複数の電極を含んでいる。電極は、半導体チップに対して第2の面とは反対側に配置されている。階層部分10S1と階層部分10S2は、第2の面同士が対向するように接合されている。第1の端子4は階層部分10S1の電極を用いて構成され、第2の端子は階層部分10S2の電極を用いて構成されている。 (もっと読む)


【課題】配線間および配線と外部接続用電極との間にいわゆるイオンマイグレーションによるショートが発生しにくいようにすることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】シリコン基板1の周辺部上面、配線7を含む保護膜5の上面および外部接続用電極10の外周面にはコーティング膜11が設けられている。コーティング膜11は、AlおよびTi系無機物質によって形成された密着力向上膜11aと、該密着力向上膜の上面に形成された(C1017SiOを含む有機物質からなるフルオロカーボン膜11bとの2層構造となっている。この2層構造のコーティング膜11の膜厚は2〜10nmと比較的薄くすることができるので、配線7間および配線7と外部接続用電極10との間にいわゆるイオンマイグレーションによるショートが発生しにくいようにすることができる上、より一層の薄型化を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】コア層に空洞(cavity)を形成し、形成された空洞に半導体チップを内装して、厚さを減らすことができるようにした埋め込みボールグリッドアレイ基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁物質で形成されて内部に空洞110aaを備えているコア層110;コア層110の空洞110aaに実装されて内装される半導体素子120;コア層110の一面に形成されていて、ワイヤボンディングパッド140aaを含んだ回路パターンが形成されている第1回路層140a;コア層110の他面に形成されていて、半田ボールパッド140baを含んだ回路パターンが形成されている第2回路層140b;及び半導体素子120とワイヤボンディングパッド140aaを電気的に連結するワイヤ160を含むものである。 (もっと読む)


【課題】半導体レーザチップをパッケージングしてなる半導体パッケージの性能を向上する。
【解決手段】アイレット31と、アイレット31の一面から起立して設けられたヒートシンク32とを備え、アイレット31の一面に対して垂直なヒートシンク32の搭載面32aに、半導体レーザチップ11が搭載されるステム30である。ここでは、ヒートシンク32の搭載面32a側のアイレット31には、凹部40が形成されている。また、ヒートシンク32の搭載面32aに接するアイレット31には、凹部40の底面に接し、凹部40より深い穴部41cが形成されている。また、穴部41cには、ヒートシンク32の搭載面32a側から凹部40の底面側に係るようにヒートシンク32の搭載面32aに対して傾斜した傾斜面42aを有して光反射防止部42が形成されている。 (もっと読む)


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