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国際特許分類[H01L25/00]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 複数の個々の半導体または他の固体装置からなる組立体 (14,678)

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【課題】マイグレーションの発生を抑制することによって、信頼性を向上させることが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】この半導体装置は、実装部品10と、この実装部品10が架橋状態で電気的に接続される、陽極配線21および陰極配線22と、陽極配線21の電圧と同極性を有し、陽極配線21および陰極配線22の間に配されるダミー配線23とを備えている。 (もっと読む)


【課題】リードフレーム上に半導体チップが載置された半導体装置において、サージに対する耐性の向上を図る。
【解決手段】ICチップ10Aを構成するP型の半導体基板10の表面には、N型の埋め込み層11及びエピタキシャル層12と、P型の半導体層13が配置されている。半導体基板10の裏面には金属薄膜30が配置され、その金属薄膜30と、金属のアイランド51の間には銀粒子等を含む導電性ペースト40が挟まれている。半導体層13の表面に配置されたパッド電極16にサージが印加されると、半導体層13から半導体基板10に流れるサージ電流は、金属薄膜30を通って金属のアイランド51に向かう。 (もっと読む)


【課題】バイパスキャパシタは、半導体基板上に形成される半導体装置と一体化されて形成されているが、半導体装置の製造工程が複雑になると言う欠点がある。
【解決手段】バイパスキャパシタをシート状にモジュール化して、半導体装置に対して外付けできるように構成されたバイパスキャパシタモジュールが得られる。 (もっと読む)


【課題】第1インダクタと第2インダクタを構成する金属材料のマイグレーションに起因して第1インダクタと第2インダクタの絶縁が確保できなくなることを、抑制する。
【解決手段】半導体チップ100は配線基板200の第1面上に実装されており、多層配線層を有している。第1インダクタ112は多層配線層に形成されており、巻き軸方向が配線基板200と水平方向を向いている。第2インダクタ122は多層配線層に形成されており、巻き軸方向が配線基板200と水平方向を向いている。第2インダクタ122は第1インダクタ112に対向している。封止樹脂400は、配線基板200の少なくとも第1面と、半導体チップ100とを封止している。溝500は、封止樹脂400と多層配線層の界面のうち、少なくとも第1インダクタ112と第2インダクタ122の間に位置している部分の全域に形成されている。 (もっと読む)


【課題】 EMIノイズの悪影響を低減することができる。
【解決手段】 圧電振動素子と、集積回路素子と、絶縁性のベース2と、蓋3とを有する表面実装型圧電発振器1の搭載構造であって、前記ベースの一主面の端部に複数の外部端子電極と、この間に圧電振動素子測定端子が形成され、外部回路基板の一主面には、前記外部端子電極が接続される配線パッドと配線が形成された導電領域55と、これらが形成されていない他領域56とを有しており、前記回路基板の配線パッドと前記ベースの外部端子電極を接合した際に、前記圧電振動素子測定端子が対向配置される他領域では、表面の絶縁層の下にグランド電極に接続される導電層562が形成されてなる。 (もっと読む)


【課題】 信頼性の高い固体電解コンデンサ上に半導体チップを搭載した半導体装置を提供する。
【解決手段】 アイランド12と電源リード23とGNDリード24とを有するリードフレームと、アイランド12に搭載されたシート状の固体電解コンデンサ25と、固体電解コンデンサ25上に搭載された、平面積が固体電解コンデンサ25より小さい半導体チップ11と、半導体チップ11と固体電解コンデンサ25、及び固体電解コンデンサ25と電源リード23またはGNDリード24と接続するボンディングワイヤ14とを有し、少なくとも固体電解コンデンサの陽極部1に溶接された陽極板7の接続部とボンディングワイヤ14の接続部が垂直方向投影部にて異なる位置にある。 (もっと読む)


【課題】化合物の生成という視点を転換し、新たな方法を採用して、電気抵抗を生じない電流回路装置およびこれを用いた電気抵抗を生じない電流を流す方法を提供する。
【解決手段】電気抵抗を生じない電流回路装置1は、第一極板32と第二極板34とを有し、第一極板32と第二極板34間に電位差を付与されたコンデンサーと、一端と他端とを有し、第一極板32側に一端側を、第二極板34側に他端側を符合させ、それぞれ電気的に絶縁させて第一極板32と第二極板34間に挿入する半導体20と、半導体20に、前記コンデンサーにより第一極板32から第二極板34へ印加される電圧と逆方向に他端から一端へ電圧降下を生じるように一定の拡散電流を流し得る定電流源10と、を含み、前記コンデンサーにより半導体20に印加される臨界電界Ec以上の電界による電圧と、定電流源10より流れる臨界電流Jc以下の一定の拡散電流による電圧降下を相殺させる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、薄型化並びに小型化を実現しつつ、樹脂封止体の磁性体に加わる応力を緩和することができるとともに、磁性体からの放熱効率を高め、磁性体の透磁率を向上することができる電子回路装置を提供する。
【解決手段】電子回路装置1において、第1の表面11A及びそれに対向する第2の表面11Bを有する基板11と、基板11に第1の表面11Aから第2の表面11Bに渡って配設され、第1の表面11A側に第3の表面3Aを有し、第2の表面11B側に第4の表面3Bを有する磁性体(第1のトランス3)と、第5の表面91A及びそれに対向する第6の表面91Bを有し、磁性体の第4の表面3B上に第5の表面91Aを向かい合わせて配設され、金属製板材により構成された第1の応力緩衝体91と、基板11、磁性体及び第1の応力緩衝体91の少なくとも第5の表面91Aを被覆する樹脂封止体17とを備える。 (もっと読む)


【課題】サイズやコストを増大させることなく、テスト容易なシステムインパッケージを実現するとともに、そのシステムインパッケージをテストボードとして活用する。
【解決手段】テスト容易化回路内装SIP1cは、少なくともその1つに集積回路チップが搭載された複数のコア基板を、絶縁樹脂層を介して貼り合わせて構成するとともに、コア基板に形成された配線層を、スルーホールを介して接続して構成される。そのコア基板の1つであるテスト容易化回路内装基板10cには、テスト対象の集積回路であるDUT121を装着するソケット122が搭載されており、また、そのソケット122内に設けられたポゴピン1220には、インピーダンス整合用のチップ抵抗1224、インダクタ1225などの受動素子が設けられている。 (もっと読む)


【課題】リードフレームのサイズを小さくすることを可能にして、装置全体の構成を小型化する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、リードフレーム22のチップマウント部23上に半導体チップ12をマウントし、全体を樹脂でモールドして構成されたものにおいて、チップマウント部23上に搭載され、両端に電極部を有する複数のチップ部品14と、複数のチップ部品14の各他方の電極部14bとリードフレーム22の複数のリード部24との各間にボンディングされたワイヤ16とを備え、複数のチップ部品14の各一方の電極部14aとチップマウント部23との間を導電性接着剤で接着し、複数のチップ部品14の各他方の電極部14bとチップマウント部23との間を絶縁性接着剤で接着したものである。 (もっと読む)


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