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国際特許分類[H01L27/10]の内容

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【課題】低電源電圧でもSNMと書き込みマージンを両立させたSRAMを備える。
【解決手段】SRAMは、複数列に対応して設けられた複数のセル電源線、電源電圧を供給する電源線、及び前記複数のセル電源線にそれぞれ対応して設けられ、各々はその対応するメモリセル電源線と前記電源線との間を電気的に接続する複数の電源回路を含む。メモリセルの各々は、第1及び第2のPチャネル型トランジスタと、第1ないし第4のNチャネル型トランジスタと第1及び第2の記憶ノードとを有するCMOSラッチ回路で構成される。電源回路は、第1の状態時にはその接続するセル電源線に第1の電圧を供給し、第2の状態時にはその接続するセル電源線に前記第1の電圧よりも低い第2の電圧を供給する、 (もっと読む)


【課題】非接触でデータの送受信が可能な半導体装置は、鉄道乗車カードや電子マネーカ
ードなどの一部では普及しているが、さらなる普及のためには、安価な半導体装置を提供
することが急務の課題であった。上記の実情を鑑み、単純な構造のメモリを含む半導体装
置を提供して、安価な半導体装置及びその作製方法の提供を課題とする。
【解決手段】有機化合物を含む層を有するメモリとし、メモリ素子部に設けるTFTのソ
ース電極またはドレイン電極をエッチングにより加工し、メモリのビット線を構成する導
電層とする。 (もっと読む)


【課題】高品質な配線を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の領域100及び第2の領域200に設けられた第1の絶縁層10と、第1の領域に設けられた第1の絶縁層上に形成された第2の絶縁層11aと、第2の領域200に設けられた第1の絶縁層上に形成され、第2の絶縁層と略同一の高さを有する第3の絶縁層11cと、第1の領域に設けられた第1の絶縁層上及び第2の絶縁層の両方の側壁に形成された第1の配線層13aと、第2の領域に設けられた第1の絶縁層上、及び第3の絶縁層の上面及び側壁上に形成された第2の配線層13bと、第1の絶縁層、第2の絶縁層、第1の配線層、及び第2の配線層を覆う第4の絶縁層15と、第1の領域に設けられた第4の絶縁層内に形成され、第1の配線層に接続された第1のコンタクトプラグ17aと、第2の領域に設けられた第4の絶縁層内に形成され、第2の配線層に接続された第2のコンタクトプラグ17bと、を備える。 (もっと読む)


【課題】半導体チップを積層して半導体装置を製造する際に、当該半導体チップの回路の不良電子素子を救済し、半導体装置の歩留まりを向上させる。
【解決手段】ウェハ10を厚み方向に貫通する一対の貫通電極50〜52を形成し、デバイス層11に一対の貫通電極50〜52を短絡する共有配線24、26、28を形成し、デバイス層11の表面11aにおいて異なる場所につながる一対のフロントバンプ20〜22を形成する。一対の貫通電極50〜52に対して異なる極性で電圧を印加し、一対の貫通電極50〜52のうちの一の貫通電極50〜52上にバックバンプ80〜82を形成する。ウェハ10を積層し、一のウェハ10上のバックバンプ80〜82と、他のデバイス層11上のフロントバンプ20〜22とを接続する。 (もっと読む)


【課題】消費電力の低減と干渉の抑制を実現できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、直列に多段接続された第1及び第2のチップと制御チップとを備える。第1及び第2のチップのそれぞれの転送制御部は、識別信号が制御チップから供給されると当該識別信号後段のチップへ伝送し、制御チップが供給するクロック信号のn番目のパルスに基づいて、識別信号が表す識別情報を第2の記憶領域に書き込み、書き込みが終了するまでクロック信号の後段のチップへの伝送を阻止する。制御チップは、コマンドによって第1及び第2のチップを排他的にアクセスし、第1及び第2のチップのスイッチ制御回路は、コマンド及び識別情報に応じてそれぞれ対応する第1のスイッチ回路を互いに排他的に制御する。 (もっと読む)


【課題】光信号を直接不揮発的に記憶する光不揮発性メモリを提供すること。
【解決手段】第1導電型を有する第1半導体層12と、前記第1導電型とは異なる第2導電型を有する第2半導体層16と、前記第1半導体層と前記第2半導体層とに挟まれ、逆バイアスが印加されることにより受光し、順バイアスが印加されることにより発光する活性層14と、前記活性層の受光する光の強さによって磁化方向が変化する強磁性体層20と、を具備する光不揮発性メモリ。 (もっと読む)


【課題】生産性の高い不揮発性半導体記憶装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態は、基板の主面に対して垂直な第1軸に沿って積層された複数の電極膜と、複数の電極膜を第1軸に沿って貫通する複数の半導体層と、複数の電極膜と半導体層との間に設けられたメモリ膜と、を含む不揮発性半導体記憶装置の製造方法であって、複数の電極膜となる複数の第1膜と複数の第2膜とを交互に積層して、第1積層体を形成する工程と、第1軸に沿い複数の第1膜を支持する支持部を形成する工程と、第1積層体を第1軸に沿って貫通する第1の孔を形成し、第1の孔を介して第2膜を除去し、複数の第1膜どうしの間に間隙が形成された第2積層体を形成する工程と、第2積層体の複数の第1膜を第1軸に沿って貫通する貫通孔を形成する工程と、複数の貫通孔の中に、メモリ膜及び半導体層を埋め込む工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】抵抗変化型記憶素子を用いた半導体装置の耐タンパ性を向上させること。
【解決手段】半導体装置は、1ビットのセルデータを記憶するユニットセル(10)と、制御回路(100)とを備える。ユニットセル(10)は、n個(nは2以上の整数)の抵抗変化型記憶素子(31)を備える。それらn個の抵抗変化型記憶素子(31)のうち少なくとも1つが、セルデータが記録される有効素子(40)である。セルデータの読み出し時、制御回路(100)は、少なくとも有効素子(40)を選択し、有効素子(40)に記録されているデータをセルデータとして読み出す。 (もっと読む)


【課題】短チャネル効果を抑制させつつ微細化を行い、低消費電力化した半導体装置を提供する。
【解決手段】重畳する第1のトランジスタおよび第2のトランジスタからなる第1のインバータと、重畳する第3のトランジスタおよび第4のトランジスタからなる第2のインバータと、第1の選択トランジスタと、第2の選択トランジスタと、を有し、第1のインバータの出力端子、第2のインバータの入力端子および第1の選択トランジスタのソースおよびドレインの一方が接続され、第2のインバータの出力端子、第1のインバータの入力端子および第2の選択トランジスタのソースおよびドレインの一方が接続されることによって、微細化したSRAM回路を形成する。 (もっと読む)


【課題】FinFETの特性が均一な集積回路装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る集積回路装置は、半導体基板の上面に形成され、第1方向に延びる複数本のフィンと、前記フィン間に配置された素子分離絶縁膜と、前記第1方向に対して交差した第2方向に延び、前記素子分離絶縁膜上に設けられたゲート電極と、前記フィンを前記ゲート電極から絶縁する絶縁膜と、を備える。そして、連続して配列された複数本の前記フィンが配置された第1領域においては、前記素子分離絶縁膜の上面は前記フィンの上端よりも下方の第1の位置に位置し、前記第1領域から見て前記第2方向に位置する第2領域においては、前記素子分離絶縁膜の上面は前記フィンの上端よりも上方の第2の位置に位置する。また、前記第2領域においては、前記素子分離絶縁膜が前記フィンの側面の全体を覆っている。 (もっと読む)


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