説明

国際特許分類[H01L27/144]の内容

国際特許分類[H01L27/144]の下位に属する分類

国際特許分類[H01L27/144]に分類される特許

51 - 60 / 127


【課題】ウェハ1枚当たりの赤外線センサの取れ数の減少を抑えつつ、ウェハごとに2種類の熱電要素のゼーベック係数を管理することが可能な赤外線センサの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1の基礎となるウェハ200の一表面側へのn形ポリシリコン層34(第1の熱電要素)の形成と同時に第1シート抵抗モニタ部234を形成し、且つ、ウェハ200の上記一表面側へのp形ポリシリコン層35(第2の熱電要素)の形成と同時に第2シート抵抗モニタ部235を形成するようにし、第1シート抵抗モニタ部234のシート抵抗および第2シート抵抗モニタ部235のシート抵抗それぞれを測定し、予めデータベース化されているシート抵抗とゼーベック係数との関係に基づいて、第1シート抵抗モニタ部234および第2シート抵抗モニタ部235のゼーベック係数がそれぞれの管理規格範囲内にある良品か管理規格範囲外にある不良品かを判定する。 (もっと読む)


【課題】貫通電極を生産性良く形成できる貫通電極の構造を提供する。
【解決手段】配線基板1は、第1面2aと第1面2aと対向する第2面2bとを貫通して開口するビアホール2cを有する基板2と、ビアホール2cの面に設置され基板2と同じ材質のシード膜5と、基板2の第1面2aに設置され熱酸化膜を含む第1絶縁膜3とシード膜5を囲む場所とに設置され熱酸化膜を含む第3絶縁膜6と、ビアホール2c内でシード膜5に囲まれた導電体7と、を有する。 (もっと読む)


【課題】フォトセンサを有する半導体装置において、外光のノイズを軽減し、且つトランジスタのオフ電流によるリークが原因となるノイズも低減する。
【解決手段】マトリクス状に配置された複数のフォトセンサを有する。複数のフォトセンサはそれぞれ、光電変換素子と増幅回路とを有する。バックライトを点灯して被検出物に光を照射して第p行目のフォトセンサでリセット動作及び蓄積動作を行った後、バックライトを非点灯として第(p+1)行目のフォトセンサでリセット動作及び蓄積動作を行い、その後全行のフォトセンサの選択動作を順次行う。隣接する行のフォトセンサで得られた出力信号の差分を取得し、差分を用いて被検出物の撮像画像の生成や被検出物の存在する領域の検出を行う。増幅回路は蓄積された電荷を保持するトランジスタを有し、当該トランジスタはチャネルが酸化物半導体層に形成される。 (もっと読む)


【課題】結露に起因する画質低下を抑制することが可能な放射線撮像装置および放射線撮像表示システムを提供する。
【解決手段】放射線撮像装置は、光電変換素子を有するセンサー基板10と、センサー基板上に設けられた非イオン性層20と、非イオン性層上に設けられると共に、放射線の波長を光電変換素子の感度域の波長に変換する波長変換部材30とを備える。入射した放射線は、波長変換部材を通過後、光電変換素子111Aにおいて受光され、その受光量に対応する電気信号(画像情報)が得られる。波長変換部材とセンサー基板10との間に、結露によって水が溜まると、水に含まれるイオン成分と光電変換素子(光電変換素子の電極等)とのカップリングが生じ、暗電流が増加することがあるが、非イオン性層20が設けられていることにより、そのようなカップリングが抑制され、暗電流が生じにくい。 (もっと読む)


【課題】高エネルギーγ線等の高エネルギー放射線に対しても、高感度かつ高いエネルギー識別能力を有するとともに、高い画像分解能を備えた半導体放射線画像検出器を得るための製造方法を提供する。
【解決手段】CdTe単結晶ウェーハ11上にp型CdTe単結晶層12をMOVPE法によりエピタキシャル成長させて形成する。次にp型Si単結晶基板14に導電性樹脂をコートし、前記CdTe単結晶ウェーハ上のp型CdTe単結晶層12と貼り合わせて硬化する。さらにCdTe単結晶ウェーハ11の非接合面およびSi単結晶基板14の非接合面にAuを蒸着して電極15および16を形成する。その後、溝17をCdTe単結晶ウェーハ側の電極16側よりSi単結晶基板14の内部に到達する深さで、X方向およびY方向にそれぞれ形成する。 (もっと読む)


【課題】 波長域1800nm程度にまで受光感度を有し、微弱な光に対応して、暗電流を低くできる受光素子等を提供する。
【解決手段】 選択拡散によってpn接合15が形成され、受光層3は、第1の組成のInGa1−xAs3aと第2の組成のInGa1−yAs3bとが交互に2対以上積層されてなり、第1の組成のInGa1−xAs3aはその吸収端波長が1.8μm〜1.75μmの間にあり、かつ第2の組成のInGa1−yAs3bはそれより短く、InP窓層5と受光層3との間に、該InP窓層および受光層に接してInPに格子整合するIn0.53Ga0.47AsまたはInAl0.48As0.52の中間層4が位置することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】センサ素子領域が形成されない領域を抑制し、センサ素子領域を広く確保したチップを形成することができる、フォトマスク、露光方法、及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】フォトマスク10では、センサ素子領域22の短辺側のみにガードリングパターン24aが設けられた第1エリア20と、センサ素子領域22の長辺に沿うような形状、かつガードリングパターン24aと接続されるように両端部が鉤状に曲折したガードリングパターン24bを線対称に一対形成された第2エリア40と、が形成されている。当該フォトマスク10を用いてウエハ基板50上に露光装置のブラインド機能を用いて各領域を露光する際は、ガードリングパターン24aの端部及びガードリングパターン24bの端部が接続されるように繰り返し露光すると共に、ガードリングパターン24aの端部同士が接続されるように繰り返し露光する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、白キズの出現が起きないようにすることを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、下方側がX線入射面となったX線透過性基板17と、このX線透過性基板17の上面側に順次設けた薄膜状電極18、正孔注入阻止層19、光変換膜層20、電子注入阻止層21とを備え、前記X線透過性基板の上面には凹部32を有し、前記X線透過性基板17の凹部32の上方に対応する薄膜状電極18部分は、前記凹部32によって左右または前後に分離された構成とした。 (もっと読む)


【課題】シンチレータで発生した長波長成分の光による放射線画像のボケを抑制しながら、長波長成分の光を有効利用する。
【解決手段】制御部64は、シンチレータ37により放射線から変換された光の長波長成分90bが反射層25を透過して放射線検知用光検出部26に検出されたときに、センサパネル23の光電変換部をリセットして電荷蓄積モードに移行させる。シンチレータ37で発生した光の短波長成分90aは、柱状結晶39内を全反射しながら反射層25に向けて進行し、反射層25により反射されてセンサパネル23に向かうので、センサパネル23の検出光量が増加する。シンチレータ37で発生した光の長波長成分90bは、反射層25を透過してセンサパネル23には反射されないので、放射線画像のボケを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、例えば、薄膜状電極、正孔注入阻止層などにキズや、ムラが発生した場合でも、それによる陰の出現が起きないようにすることを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、下方側がX線入射面となったX線透過性基板17と、このX線透過性基板17の上面側の上方に順次設けた薄膜状電極18、正孔注入阻止層19、光変換膜層20、電子注入阻止層21とを備え、前記正孔注入阻止層19および薄膜状電極18を貫通し、前記X線透過性基板の上面に達する凹部32を形成。 (もっと読む)


51 - 60 / 127