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国際特許分類[H01S5/32]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 誘導放出を用いた装置 (18,077) | 半導体レーザ (12,571) | 活性領域の構造または形状;活性領域に用いられる材料 (2,589) | PN接合からなるもの,例.ヘテロまたはダブルヘテロ構造 (897)

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【課題】Si、Ge、GaP等の間接型半導体を材料として用いる半導体レーザダイオードにおいて発光効率を向上させる。
【解決手段】順方向バイアス電圧を印加することにより活性層12に拡散電流を発生させ、発生された拡散電流により生じるジュール熱に基づいて何れか1以上の層11、12、13の表面形状及び/又はドーパント分布を変化させることを繰り返すとともに、順方向バイアス電圧により活性層12における伝導帯と価電子帯に反転分布を生じさせ、変化後の表面形状及び/又はドーパント分布に基づいて近接場光が発生した箇所では、反転分布を形成している伝導帯中の電子を非断熱過程に基づいて複数段階で誘導放出させることにより、拡散電流を減少させてジュール熱を低下させることにより、表面形状及び/又はドーパント分布を固定させるとともに、誘導放出により生成された光を共振面間で共振させることにより更なる誘導放出を誘発させる。 (もっと読む)


【課題】無秩序化領域を設けた構造であっても安定した発光特性とできる半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】一対の共振器面を有する半導体レーザ素子は、一対の共振器面に接するn型クラッド層3と、n型クラッド層3上に形成され、一対の共振器面に接するMQW活性層4と、MQW活性層4上に形成され、一対の共振器面に接する第1p型クラッド層5と、第1p型クラッド層5上に形成され、一対の共振器面に接するp型MQB層6と、p型MQB層6上に形成され、一対の共振器面に接するp型のリッジ部20とを備え、一対の共振器面それぞれにおいて、リッジ部20及びその直下のn型クラッド層3の途中に至るまでの領域のみが無秩序化領域30とされて構成されている。 (もっと読む)


【課題】新規のII−III−V化合物半導体を提供する。
【解決手段】本願は、Zn−(II)−III−Nにて示される新規の化合物半導体の形態の新たな組成物を提供する。このとき、上記IIIは、周期表のIII族に属する1つ以上の元素であり、上記(II)は、任意の元素であって、周期表のII族に属する1つ以上の元素である。上記化合物半導体の例としては、ZnGaN、ZnInN、ZnInGaN、ZnAlN、ZnAlGaN、ZnAlInN、および、ZnAlGaInNを挙げることができる。このタイプの化合物半導体は、従来、知られていないものである。 (もっと読む)


【課題】pn接合において整流性を保った状態で発光効率や発光強度を高めることが可能な発光素子を提供すること。
【解決手段】本発明に係る発光素子10は、ダイヤモンド半導体層からなり、p型のα層2とn型のβ層3との間に一つまたは複数のγ層4を配してなる発光素子であって、前記α層と前記β層は各々、電流を注入するための電極(第一電極5、第二電極6)を備えており、前記α層及び前記β層における電流の伝導機構が何れも300Kの温度においてホッピング伝導であるとともに、前記α層と前記β層とを貫通する順方向に電流を流した際に、紫外線を放出することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】電気変換効率が高い半導体レーザ装置を提供することを目的とする。
【解決手段】半導体レーザ装置において、活性層をp側クラッド層側に設けると共にn側ガイド層の屈折率をp側ガイド層の屈折率よりも高くする。n側ガイド層、活性層及びp側ガイド層が、アンドープの層またはドープ量が抑制された層である。n側ガイド層、活性層及びp側ガイド層の厚さの合計Dudpが、半導体レーザ装置の発振波長の0.5倍以上、かつ2μm以下である。 (もっと読む)


【課題】不純物ドーピングによる結合伸長効果に立脚した、直接遷移型半導体と同等レベルの強発光や強吸収を有する半導体材料を提供する。
【解決手段】四面体結合構造をなして結合した構成原子を含む母体半導体と、母体半導体に添加された異種原子Zとを有し、前記異種原子Zは結合間に導入されて結合長を伸長させたbond-center構造を形成し、前記異種原子Zに対して前記bond-center構造が1%以上含まれることを特徴とする半導体材料。 (もっと読む)


【課題】シリコンフォトニクスの光源に適用可能なシリコン発光素子を提供する。
【解決手段】第1の面と該第1の面の反対側にある第2の面とを有する第1導電型のシリコン基板と、シリコン基板の第1の面上に設けられた絶縁膜と、絶縁膜上に設けられ第1導電型と異なる第2導電型のシリコン層と、シリコン層上に設けられた第1の電極と、シリコン基板の第2の面上に設けられた第2の電極と、を備え、シリコン基板のキャリア濃度は、5×1015cm−3〜5×1018cm−3であり、シリコン層のキャリア濃度は、1×1017cm−3〜5×1019cm−3であり、且つ、シリコン基板のキャリア濃度より一桁以上大きく、絶縁膜の膜厚は、0.3nm〜5nmである。 (もっと読む)


【課題】通常のシリコンプロセスを用いて容易に形成可能な方法によって、シリコンなどの基板上に、シリコンやそれに順ずるゲルマニウムなどのIV族半導体を基本構成要素としたシリコンレーザー素子及びその製造方法の提供。
【解決手段】電子を注入するための第1の電極と、正孔を注入するための第2の電極と、前記第1及び第2の電極に電気的に接続された光を放出する発光部と、発光部からの光を伝送するための導波路を備え、前記1の電極、前記2の電極、及び発光部を単結晶シリコンとし、発光部は二酸化シリコン層で表面を覆われたシリコン極微細線であって、発光部は、二酸化シリコンよりも屈折率の高い導波路により覆われ、発光素子の上下に位置する絶縁膜の発光波長λにおける実効的な屈折率がnのときに、λ/2nの周期で光進行方向に沿って並設させる。 (もっと読む)


【課題】レーザ素子の信頼性を向上させることが可能な半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】この窒化物系半導体レーザ素子(半導体レーザ素子)1000は、光出射面1から近い順に、AlN膜41と、Al膜42と、AlN膜43とが形成された誘電体多層膜である第1変質防止層40と、第1変質防止層40の光出射面1側とは反対側の表面に形成されたAl膜51とを備える。そして、レーザ光の波長がλであり、AlN膜41、Al膜42およびAlN膜43の屈折率が、それぞれ、n1、n2およびn3である場合に、AlN膜41の厚みt1、Al膜42の厚みt2およびAlN膜43の厚みt3は、それぞれ、t1<λ/(4×n1)、t2<λ/(4×n2)およびt3<λ/(4×n3)に設定されている。 (もっと読む)


【課題】発光効率が向上可能な発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子は、n型シリコン酸化膜2と、p型シリコン窒化膜3とを備える。p型シリコン窒化膜3は、n型シリコン酸化膜2に接して形成され、n型シリコン酸化膜2およびp型シリコン窒化膜3は、p−n接合を形成する。n型シリコン酸化膜2は、n型Siからなる複数の量子ドット21を含む。p型シリコン窒化膜3は、p型Siからなる複数の量子ドット31を含む。n型シリコン酸化膜2側から電子を注入し、p型シリコン窒化膜3側から正孔を注入することによって、n型シリコン酸化膜2とp型シリコン窒化膜3との界面で発光する。 (もっと読む)


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