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国際特許分類[H05K3/34]の内容

国際特許分類[H05K3/34]に分類される特許

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【課題】部品の厚さの影響を受けることなく基材の下面に部品を確実に半田付けすることができる半田付け方法および半田付け装置を提供する。
【解決手段】カラー40とロッド45とプランジャ34を用いて電子部品11の上面11aに配した溶融前の板半田60が基板10の下面10bに接触した状態から、下動を規制した基板10に対し溶融前の板半田60および電子部品11を規定量だけ下動させることにより基板10の下面10bと溶融前の板半田60とを規定量だけ離間させる。そして、板半田60を溶融させることにより半田の凝集にて半田を基板10の下面10bに接触させ溶融させた半田の表面張力によって電子部品11を基板10の下面10b側に持ち上げて基板10の下面10bに電子部品11を半田付けする。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、プリンタ基板からの反射光を取り込んだ画像データを用いて正確な良否判定を行うことができ、良否判定の基準となる基準データの作成を短時間で行うことができるはんだ付け外観検査装置およびはんだ付け外観検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 投影データ作成部12は、パット4と接続端子21とのはんだ付け部の画像データをパット4の幅方向に投影処理した検査対象投影データを作成し、演算部14は、検査対象投影データと基準投影データ記憶部13に記憶されている基準投影データとを比較し、判定部15は、検査対象投影データと基準投影データとの比較結果に基づいてはんだ付け状態の良否を判定する。 (もっと読む)


【課題】
スルーホール10およびランド10aならびにパッド12の酸化防止とはんだ付け時の濡れ性向上を低コストで実現できるプリント回路基板の製造方法を提供する。
【解決手段】
プリント配線板2の表面2a側に形成されたスルーホール10のランド10aとパッド12とにクリームはんだが塗布された後にリフロー方式で電子部品がはんだ付けされる第1工程と、プリント配線板2の裏面2b側からスルーホール10に電子部品3のリード3aが挿入された後にプリント配線板2の表面2a側に形成されたランド10aにフラックスfが塗布されてフロー方式でリード3aがはんだ付けされる第2工程とを備えたプリント回路基板1の製造方法とした。 (もっと読む)


【課題】ビアの開口パターンの外観品質を安定的に正確に検査することを可能とした、あるいはそのようなビアの開口パターンの不具合の発生と強い相関関係のある、ビアの開口にて露出するランド部における銅(Cu)の溶出の発生の有無を安定的に正確に検査することを可能とした、プリント配線板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】銅配線パターン3のうちの少なくとも1本は、ビア7の開口にて露出しているランド部5と、当該ランド部5とは別の位置にて当該ランド部5の露出面積よりも小さな面積で表面が露出するように設けられた銅(Cu)溶出検知用リード部9とに接続されており、銅(Cu)溶出検知用リード部9の表面に無電解錫(Sn)めっき膜が形成されている。 (もっと読む)


【課題】高温度高湿度下においても電極部を確実に防湿保護でき、かつ電子部品のリペアを容易にする。
【解決手段】電子部品やそれが実装された電子回路基板1を、耐湿性および絶縁性を有する第1のコーティング剤で被覆して第1の被膜51を形成し、さらに第1のコーティング剤に増粘作用を有する添加剤を加えた第2のコーティング剤を塗布して第2の被膜52を形成して、実装構造体を被覆する。電子部品が挿入タイプであっても、そのピン状電極部44を少なくとも第2の被膜52によって十分な厚さで被覆保護できる。また、第1、第2のコーティング剤の主成分が同じであるので、電子部品のリペア時には同じ溶剤で第1、第2の被膜51、52を選択的に溶解または軟化させることができる。 (もっと読む)


【課題】部品の厚さの影響を受けることなく基材の下面に部品を確実に半田付けすることができる半田付け方法および半田付け装置を提供する。
【解決手段】電子部品11の上に溶融前の柱状半田50を載置するとともに、溶融前の柱状半田50の上に基板10を、基板10の下面10bが基材接触部材としての台座30の第1の凹部32の底面32aから離間する状態で載置する。そして、柱状半田50を溶融させることにより基板10を下動させて基板10の下面10bを台座30の第1の凹部32の底面32aに接触させるとともに溶融させた半田の表面張力によって電子部品11を基板10の下面10b側に持ち上げて基板10の下面10bに電子部品11を半田付けする。 (もっと読む)


【課題】リフロー時の半導体パッケージの反りの矯正やプリント基板の変形への追従が容易であり、半導体パッケージを薄くすることができる矯正キャップを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る矯正キャップ11は、半導体パッケージの表面と接触する接触面12を有し、接触面12は、熱処理時に変形して半導体パッケージの表面に変形力pを与えることを特徴とする。予め矯正キャップ11に下側に凸となるように形状を記憶させておく。熱処理時に、半導体パッケージ51が下に凸のように反ろうとする力qと矯正キャップ11が上に凸に戻ろうとする変形力pとが相殺されるため、半導体パッケージ51の反りを防止することができる。 (もっと読む)


【課題】 製造コストの低減等を図る。
【解決手段】 スルーホール9、9、・・・の開口縁に形成されたパッド部10b、10b、・・・を有する多層基板3と、ベース基板6と該ベース基板上に設けられ半田8、8、・・・が接合された金属パッド7、7、・・・とを有する回路基板5とを設け、スルーホールと金属パッドを位置合わせした状態で加熱光線100をスルーホールを通して半田に照射し該半田を溶融してスルーホールの開口縁に形成されたパッド部と回路基板の金属パッドとを接合するようにした。 (もっと読む)


【課題】B−ステージ化可能であって、しかも空隙を発生しない硬化性組成物の提供。
【解決手段】2つの別々に硬化する化学セット又は組成物を含む硬化性組成物であって、それらの硬化温度が十分に離れていて、一方の化学組成物がB−ステージ化で完全に硬化し、第2の化学組成物は、基板への半導体チップの最終取付など最終硬化が望まれるまで未硬化で残しておくことができる硬化性組成物。 (もっと読む)


【課題】ビアの開口パターンの外観品質を安定的に正確に検査することが可能であり、かつランド部5の表面に形成される無電解錫めっき膜に外観ムラや品質不良等が生じることを抑制ないしは解消することが可能である、プリント配線板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】ランド部5とは別の位置にてそのランド部5の露出面積よりも小さな面積で表面が露出し、その表面上に無電解錫めっき膜が設けられた銅溶出検知用リード部9を備えている。PSR膜6、15は、第1層6と第2層15とをこの順で絶縁性基板1上に積層してなるものであり、第1層6の膜厚T1が、銅配線パターン3の表面からの高さで8μm以上20μm以下であり、第2層の膜厚T2が、第2層15の表面からの高さで5μm以上20μm以下であり、かつビア7の開口面積を同じ面積の円に変換したと仮定したときの、ビア7のアスペクト比が、第1層6および第2層15のいずれも0.10以下となっている。 (もっと読む)


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