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国際特許分類[H05K3/34]の内容

国際特許分類[H05K3/34]に分類される特許

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【課題】放熱用スルーホールからのはんだの漏れを防止する。
【解決手段】放熱用電極12aを備えた電子部品12を、放熱用スルーホール16が形成されたプリント配線板14へと接合する方法であって、プリント配線板は、その第1面14cに放熱用パッド14aを備え、放熱用パッドの上面から、第1面14cに対向する第2面14dにまでプリント配線板を貫通する孔部としての放熱用スルーホールが形成されており、放熱用スルーホールとその周辺を含む領域を除くスルーホール外領域にクリームはんだを塗布する工程と、スルーホール領域にリフロー用接着剤20を塗布する工程と、放熱用電極を放熱用パッドに位置合わせした上で電子部品をプリント配線板に搭載し、クリームはんだのリフローによる電子部品とプリント配線板とのはんだ付けと、リフロー用接着剤の硬化とを行う工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】はんだの濡れ性および広がり性に優れた水溶性フラックスを提供すること。
【解決手段】下記(A)成分および(B)成分を含有する水溶性フラックス。(A)成分:(a1)重合性不飽和二重結合を有するカルボン酸無水物に由来する構造単位、および(a2)前記構造単位(a1)を加水分解することによって得られる構造単位から選択される少なくとも1種の構造単位を有し、かつ(a3)アルキルビニルエーテル由来の構造単位を有する重合体。(B)成分:活性剤として、塩化水素酸のアミン塩、臭化水素酸のアミン塩、カルボン酸、カルボン酸のアンモニウム塩、カルボン酸のアミン塩および多価フェノール類から選択される少なくとも1種。 (もっと読む)


【課題】新規な構成の充填デバイスを提供する。
【解決手段】ボール受容要素15中のアパーチャ16のアレイにボール22を充填するための充填デバイス18および方法であって、この充填デバイス18は、以下:下方表面に開口部を含み、そして供給用のボール22を収容するためのチャンバを部分的に規定するハウジングであって、このハウジングは、使用時に、アパーチャ16のアレイを含むボール受容要素15の上に移動可能に配置されている、ハウジング;および、少なくともこのハウジングの開口部の領域にわたってボール22の限られた数の層を維持するように、チャンバ中に収容されたボール22を分配するための、ハウジング内に配置された分配手段、を備える。 (もっと読む)


【課題】基板の接続パッドの配置高さがばらついている場合であっても、全ての接続パッドにフラックスを安定して供給できると共に、狭ピッチの接続パッドに容易に対応できる粘着材供給装置を提供する。
【解決手段】シリコン基板部10と、シリコン基板部10の下面側に突出して設けられたシリコン転写ピン12と、シリコン転写ピン12の付け根部又は先端部に設けられて、上下方向に収縮する弾性樹脂層14とを含む。ディスペンス方式の粘着材供給装置のシリコンノズルの付け根部又は先端部に弾性樹脂層を設けてもよい。 (もっと読む)


【課題】半田接合強度が強く、信頼性が高い電子装置を提供することである。
【解決手段】プリント基板に電子部品が搭載された電子装置の製造方法であって、プリント基板における円形状パッドの該円形よりも大きな楕円形状の開口を有するマスクを、該マスクの楕円形状開口が該プリント基板の円形状パッドに対応するよう配置するマスク配置工程と、前記マスク配置工程で配置されたマスクの開口を介して、前記プリント基板の円形状パッドの表面全域を食み出して覆うように半田ペーストを楕円形状に印刷する半田ペースト印刷工程と、前記半田ペースト印刷工程の後、前記プリント基板の円形状パッドに対応させて電子部品のパッドを配置し、加熱して半田付けを行う半田付け工程とを具備する。 (もっと読む)


【課題】 端子間が狭ピッチの半導体装置をプリント配線板にはんだによって実装する時、半導体装置に熱反りが生じても、ブリッジや未はんだを防止し、プロセス上問題無く実装できる構造を提案することを目的とする。
【解決手段】 プリント配線板の複数のランドの配置は、コーナ部が前記第1のランド、中心部又は最内周部が前記第3のランド、前記第1のランドと前記第3のランドの間が、前記第2のランドで有る。 (もっと読む)


【課題】半導体装置とその製造方法において、半導体部品と回路基板との位置合わせを容易にすること。
【解決手段】表面に複数の第1の電極22が形成された第1の回路基材20と、第1の回路基材20の上方に設けられ、第1の電極22の各々の上方に第1の貫通孔30aと第2の貫通孔30bとが形成された第2の回路基材30と、第2の回路基材30の上方に設けられた半導体パッケージ50と、第1の貫通孔30aと第2の貫通孔30b内に設けられ、第1の電極22と半導体パッケージ50とを接続する複数の第1のバンプ51とを有する半導体装置による。 (もっと読む)


【課題】パワー半導体モジュールのリード端子間の半田ブリッジを防止し、さらにプリント配線板のスペースを有効に活用することができるパワー半導体モジュールのプリント配線板への実装構造を提供すること。
【解決手段】複数のリード端子を有するパワー半導体モジュール2と、上面からリード端子が挿通される貫通孔が設けられたプリント配線板1とを有し、プリント配線板1の一部の貫通孔の開口縁部の両面にランド14a、14bを設け、貫通孔の内壁面とランド14a、14bの両面にスルーホールメッキ15を施して半田と親和性を有するスルーホール13a、13bを形成すると共に、スルーホール13a、13bに隣接する他の貫通孔を半田と親和性のない非スルーホール16とし、プリント配線板1の下面のランド14a、14bを除いた面にシルク12を形成した。 (もっと読む)


【課題】小型の集積回路や底面に端子が形成された集積回路が実装された検査対象基板、および内層実装型の検査対象基板を短時間で確実に検査する。
【解決手段】集積回路X1,X2・・が実装された検査対象基板Pの良否を電気的に検査する回路基板検査装置であって、検査対象の集積回路Xに電磁波を選択的に照射した状態において、集積回路Xにおける電源端子Tvが接続されているべき電源パターンPvと信号端子Tsが接続されているべき信号パターンPsとの間の電気的パラメータ、および信号パターンPsと集積回路Xにおけるグランド端子Tgが接続されているべきグランドパターンPgとの間の電気的パラメータを測定し、測定した電気的パラメータに基づいて各導体パターンPv,Ps,Pgに対する各端子Tv,Ts,Tgの接続状態の良否を検査する。 (もっと読む)


【課題】半田と基材との接続強度が高いとともに、半田が破壊されたり半田と電極との電気的接続が不完全になることを抑制できる配線基板を提供すること。
【解決手段】絶縁性を有する板状の基材11と、基材11の一方の表面11Aから基材11の厚さ方向に窪んで形成され、表面11Aに交差する内側面を有する穴11Bと、球状の半田を接続する接続面12Aを有し、穴11Bの底11Dに配置された電極12と、を有し、前記内側面は、接続面12Aの面方向に対して傾斜して形成された第一内側面13と、穴11Bの周方向で第一内側面13と異なる位置に設けられ、穴11Bと表面11Aとの境界に位置する表面側輪郭線11Cのうち、第一内側面13の位置に位置する表面側輪郭線11Cよりも穴11Bの径方向で相対的に外側に表面側輪郭線11Cが位置する第二内側面14と、を有する。 (もっと読む)


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