光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法
【課題】光ディスクの感度ムラの影響を低減して、記録パワー制御の精度を向上させる。
【解決手段】光ディスクの記録感度ムラの周期に関する情報を取得し、取得した周期に関する情報をもとにテスト記録の第１の開始位置と、周期の長さをθｔとして、第１の開始位置からθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置である第２の開始位置を算出する。また、大きさの順に隣り合う記録パワーを、第１の開始位置からのテスト記録と第２の開始位置からのテスト記録とにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行い、テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定し、測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行う。
【解決手段】光ディスクの記録感度ムラの周期に関する情報を取得し、取得した周期に関する情報をもとにテスト記録の第１の開始位置と、周期の長さをθｔとして、第１の開始位置からθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置である第２の開始位置を算出する。また、大きさの順に隣り合う記録パワーを、第１の開始位置からのテスト記録と第２の開始位置からのテスト記録とにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行い、テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定し、測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行う。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザーによって記録を行う光ディスク記録装置に係り、特に光ディスクに対して最適な記録パワーを設定して記録を行う光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に光ディスク記録の最適記録発光パワー（以下Ｐｏ：Optimum Write Power）を決定し制御する手法（以下ＯＰＣ：Optimum Power Control）では、Ｐｏを得るのに適した記録パワー（以下Ｐｍ）の近傍の数点を選び、これらのパワーでテスト記録を行うことによって得られる記録特性値（例えば、記録時の反射率の変化、記録後のアシンメトリ、振幅、変調度、ジッター等）を演算処理することでＰｏを算出していた（この演算処理を以下Ｐｏ演算と記述する）。
【０００３】
しかし、ＯＰＣを行う前の段階ではＰｍの正確な値は不明なので、予想される広範囲の記録パワーでテスト記録を行い、得られた記録特性値からＰｍを選択し、その近傍の記録特性値を用いてＰｏ演算を行っていた。
【０００４】
ＯＰＣでは光ディスクを回転させ、その連続した記録トラックにテスト記録を行う。テスト記録は記録パワーの大きさを変えながら行うが、従来はこの順番を単にパワーの低い方から高い方、またはその逆の方向へと変えながらテスト記録を行っていた。このため、記録パワーの大きさは光ディスクの位置に依存性を持ってしまう欠点があった。
【０００５】
従来のＯＰＣ手法の模式図を図１に示す。光ディスク１のほぼ同心円上に並べた円弧状の矢印は、光ディスク１にスパイラル状に刻まれた記録トラックをテスト記録する様子を表している。また、その内周側の数字は光ディスク１上の位置を示している。Ｐ（ｉ）は記録パワーで、対応する円弧状の矢印で示した各々の区間をこのパワーでテスト記録する。この図では説明を簡略化するために記録パワー系列のパワー個数（Ｎ）を８としたが、実際には様々な個数が用いられる。また同じく簡略化するために記録パワーＰ（ｉ）はｉが増えるに従ってパワーが高くなるとする。
【０００６】
【数１】
【０００７】
【数２】
図２はＯＰＣで得られるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。ここで、Ｅ（ｉ）は記録パワーＰ（ｉ）でテスト記録した時の記録特性値である。前述のようにＯＰＣではＰｏを得るのに適したパワーＰｍを選択し、その近傍の数点を選んでＰｏ演算を行う。図２の例ではＰｍとしてＰ（３）が選択され、その近傍の記録パワーＰ（２）、Ｐ（３）、Ｐ（４）とその記録特性値Ｅ（２）、Ｅ（３）、Ｅ（４）が選ばれた様子を示している。
【０００８】
さて、光ディスクに感度ムラが発生する要因は記録膜自体の特性ムラの他、カバー膜や反射膜の特性ムラ、指紋による汚れ等が挙げられるが、ＯＰＣに影響を与えるという点では光ディスクの反りや取り付け誤差による光学レンズとの相対位置、角度のズレ等によって生じる見かけ上のムラも含まれる。
【０００９】
これらのムラの多くは光ディスク上の位置に依存している。このため、従来の記録パワーを単純に大きい方から小さい方、またはその逆に変化させるテスト記録では、Ｐｍ近傍のパワーで記録する領域も近接するので、感度ムラの位置との組み合わせによって、その影響を受ける測定点の数が大きく変動してしまうという問題があった。
【００１０】
図３は光ディスクの感度ムラの分布の例を示す図、また図４は図３に示す感度ムラ分布を有する光ディスクに対するＯＰＣで得られるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。図３において、１１は感度ムラが存在する領域を表している。このような場合では、Ｐｏ演算に使う記録特性値Ｅ（２）、Ｅ（３）、Ｅ（４）の全てが感度ムラの影響を受けてしまい、この値を用いて算出されるＰｏの精度は著しく低下する。
【００１１】
これまで、このような感度ムラの影響を補償する手段として様々な方法が提案されている。しかしこれらの方法は予めテスト記録を行うエリアの記録特性を測定して補償演算を行ったり（例えば特許文献１、特許文献２を参照）、予めエリアの記録特性を整えたりする方法（例えば特許文献３を参照）であった。このような手法は記録と諸特性の測定という一連の動作を繰り返す必要があり、ＯＰＣ全体の処理が煩雑になる欠点があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００４−２５３０１６号公報
【特許文献２】特開２００２−３１９１３５号公報
【特許文献３】特開２０００−２５１２５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
上記のように、従来のＯＰＣでは、記録パワーの大きさを順列に並べた記録パワー系列を用いてテスト記録を行っているため、感度ムラの影響を受けてＰｏの算出精度が低下するという問題があった。また、予めテスト記録を行うエリアの記録特性を測定して補償演算を行ったり、予めエリアの記録特性を整えたりする方法では、記録と諸特性の測定という一連の動作を繰り返す必要があり、ＯＰＣ全体の処理が煩雑になるという課題があった。
【００１４】
本発明はこのようなことを鑑み、光ディスクの感度ムラの影響を低減して、記録パワー制御の精度を向上させることのできる光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記目的を達成するために、本発明の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法は、大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて光ディスクにテスト記録を行うテスト記録ステップと、テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行うステップとを具備する。
【００１６】
この発明によれば、記録特性値のディスク位置に対する依存性が低減し、光ディスクの感度ムラによる記録パワー制御の精度低下を防止することができる。
【００１７】
なお、本発明で言う記録パワーとは、例えば光学ピックアップにおけるレーザーの記録発光パワーであるが、本発明は、これに限定されるものではない。
【００１８】
本発明は、大きさの順に並べられた記録パワーの系列から、乱数を用いて、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を作成するステップを含むものであってもよい。この際、偶然、隣り合う記録パワーが並んでしまった場合には、これを解消するために、一方を他の記録パワーに入れ替えたり、再度順番の入れ替えをやり直すようにすればよい。
【００１９】
また、テスト記録ステップでは、大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、光ディスクの感度ムラの周期性を考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行うようにしてもよい。
【００２０】
光ディスクの感度ムラには、光ディスクの回転周期などによる依存性があることから、このように光ディスクの感度ムラの周期性をも考慮しつつ記録パワー系列の並びを決めることによって、光ディスクの感度ムラによる影響をより一層低減することができ、記録パワー制御の精度をより高めることができる。
【００２１】
光ディスクの感度ムラの周期性を考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えてテスト記録を行う方法としては、光ディスクの記録感度の周期に関する情報を取得し、取得した周期に関する情報をもとにテスト記録の第１の開始位置と次の第２の開始位置を算出し、大きさの順で隣り合う記録パワーを、第１の開始位置からのテスト記録と第２の開始位置からのテスト記録とにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行う方法などがある。それぞれの開始位置からのテスト記録に用いられる記録パワー系列の並びを、さらに乱数を用いて入れ替えるようにしてもよい。
【００２２】
また、光ディスクの記録感度の周期を算出し、この算出された周期をもとにテスト記録の第１の開始位置と次の第２の開始位置を算出するようにしてもよい。
【００２３】
さらに、テスト記録ステップでは、大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、光ディスクの内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行うようにしてもよい。
【００２４】
すなわち、光ディスクはその内周側のトラックと外周側のトラックでも記録感度に差があることがある。このような場合には、光ディスクの内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いてテスト記録を行うことが有効である。
【００２５】
光ディスクの内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えてテスト記録を行う具体的な方法としては、大きさの順で隣り合う記録パワーを、内周側のトラックと外周側のトラックとにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いてテスト記録を行う方法などがある。
【００２６】
また、光ディスクの内周側と外周側でのテスト記録に用いられる記録パワー系列の並びを、さらに乱数を用いて入れ替えるようにしてもよい。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、記録型光ディスクにおける最適記録パワーを決定する手法において、光ディスクの感度ムラの影響を低減して、記録パワー制御の精度向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】従来のＯＰＣ手法について説明するための図である。
【図２】ＯＰＣで得られるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。
【図３】光ディスクの記録感度のムラの分布の例を示す図である。
【図４】図３に示す感度ムラ分布を有する光ディスクに対するＯＰＣで得られるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態にかかる光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の最適記録パワー決定方法におけるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。
【図７】本発明の第１の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１０】第３の実施形態の最適記録パワー決定方法におけるディスク位置、記録パワー、および記録特性値の関係を示す図である。
【図１１】本発明の第４の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１２】第４の実施形態の最適記録パワー決定方法におけるディスク位置、記録パワー、および記録特性値の関係を示す図である。
【図１３】本発明の第５の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の第６の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１５】第６の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法に関して光ディスクの内周側と外周側の記録パワーの順番を示す図である。
【図１６】本発明の第７の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１７】第７の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法に関して光ディスクの内周側と外周側の記録パワーの順番を示す図である。
【図１８】本発明の第８の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００３０】
図５は本発明の実施の形態にかかる光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。同図において、１は光ディスク、２は光ディスク１を回転させるスピンドルモーターである。３は例えば半導体レーザーとその駆動回路、およびレンズ等の光学部品やアクチュエーターで構成される光学ピックアップである。４は光学ピックアップ３を光ディスク１の接線方向へ動かすスレッドモーターである。７は光学ピックアップ３から得られる信号から光ディスク１に記録されているデータ、位置情報、同期タイミング等を再生する再生装置である。５は光学ピックアップ３でモニターされる各種エラー情報や再生装置７から得られる同期タイミング等をもとにスピンドルモーター２、スレッドモーター４、および光学ピックアップ３のアクチュエーターを制御し、光ディスク１の回転数、光学ピックアップ３の位置および光学ピックアップ３から出力されるレーザー光の位置、光軸、チルト、フォーカス等を所望の状態に制御するサーボ装置である。６は光学ピックアップ３でモニターされる情報をもとに例えばレーザーの発光パワーなどを所望の値に制御するＡＰＣ（Automatic Power Control）装置である。８は光学ピックアップ３の情報から変調度、アシンメトリ、β値、ジッター等の記録特性値を測定する記録特性測定装置である。９は記録する情報をもとに光学ピックアップ３のレーザーの発光パワーを適切に変調する記録変調装置である。１０は各装置の制御装置で、シーケンサーや中央演算処理装置、メモリ等で構成される。
【００３１】
光ディスク１からデータを再生する際は、光学ピックアップ３から適切な光スポットを光ディスク１に照射し、サーボ装置５が光ディスク１を適切に回転させ、光学ピックアップ３を所望の位置に移動し、さらにアクチュエーター等を制御し、光スポットを光ディスク１上の記録トラックに走査させる。この状態で再生装置７が光ディスク１に記録されているデータを再生する。
【００３２】
光ディスク１にデータを記録する際は、前述のデータを再生している状態から記録変調装置９が光学ピックアップ３の発光波形を適切に変調して光ディスク１にデータを記録する。この時に必要な発光パワー情報は、この前にＯＰＣを行うことによって取得される。
【００３３】
本発明は、多くの感度ムラがディスク位置に依存する点に着目し、記録パワーを大きさの順に並べた記録パワー系列でテスト記録を行うのではなく、その順番を適当な方法で入れ替えて、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列でテスト記録を行うことで、ディスク位置に対する依存性を解消し、感度ムラの影響を低減するものである。
【００３４】
図６は本発明の原理を示す図である。これは図４に示したような感度ムラがあった場合に本発明を適用した例で、ディスク位置に対する記録パワーＰ（ｉ）の順番を、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように入れ替えている。このような記録パワー系列でテスト記録を行うと、記録特性値Ｅ（ｉ）のディスク位置に対する依存性が低減される。すなわち、図４で示した従来の方式ではＰｏ演算に使う記録特性値Ｅ（２），Ｅ（３），Ｅ（４）の全てが感度ムラの影響を受けてしまうが、本発明の原理に基づく図６の例では、感度ムラの影響を受けるのはＥ（２）だけである。したがって、得られるＰｏの精度は大きく向上する。
【００３５】
ここまで説明を分かり易くするために局所的に感度ムラが発生している例を示した。しかし実際には感度ムラが光ディスク１上の広範囲に分布していることが多く、ＯＰＣで得られるＰｏはその平均的な感度での値が望ましい。本発明はＰｏ演算に用いる記録特性値をディスク位置に対して離散的に分散させる効果があるので、従来の方式より平均値に近いＰｏが得られるという利点も挙げられる。
【００３６】
以下に、本発明の実施形態をより具体的に説明する。
【００３７】
図７は本発明の第１の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。本実施形態は、記録パワー系列における記録パワーＰ（ｉ）の順番を乱数によって入れ替える方式を採用したものである。
【００３８】
（ステップＳ１０１）まず、制御装置１０は、予め与えられている記録パワー系列から、乱数を用いて、記録パワーＰ（ｉ）の順番を、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように入れ替えた記録パワー系列を作成し、これを制御装置１０の中のメモリに格納する。なお、予め与えられている記録パワー系列とは、記録パワーが大きさの順に並べられた系列である。乱数を用いた入れ替え処理によって、偶然、隣り合う記録パワーが並んでしまった場合には、これを解消するために、一方を他の記録パワーに入れ替えたり、再度順番の入れ替えをやり直すようにする。
【００３９】
（ステップＳ１０２）制御装置１０は、メモリに格納された記録パワー系列を用いて光ディスク１へのテスト記録を実行するように制御を行う。
【００４０】
（ステップＳ１０３）次に、制御装置１０は、テスト記録が行われた位置の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００４１】
（ステップＳ１０４）次に、制御装置１０は、記録特性測定装置８により測定された記録特性値を用いてＰｏ演算を実行する。
【００４２】
（ステップＳ１０５）これまでの手順によって感度ムラの影響が低減されたＰｏが得られる。
【００４３】
本発明の主旨は、テスト記録のために用いられる記録パワーの順番と光ディスクの感度ムラの依存性を低減させることであるので、予め、乱数を用いて、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列の情報をメモリに格納しておき、ＯＰＣでは毎回その記録パワー系列を用いてテスト記録を行うようにしてもよい。このようにすると、ある記録パワーＰ（ｉ）とその近傍の記録パワーＰ（ｈ）がある程度の距離をもって光ディスク上に一様に分布するような最適な配置を毎回実現できるというメリットがある。
【００４４】
図８は、この手法を採用した本発明の第２の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００４５】
（ステップＳ２０１）まず、制御装置１０は、予めメモリに格納された、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列の情報を用いてテスト記録を実行するように制御を行う。記録パワー系列は１種類でもよいが、記録パワーの並びが異なる複数の記録パワー系列をメモリに格納しておき、その中から適当な記録パワー系列を選択してテスト記録を行ってもよい。以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０３〜Ｓ１０５と同じである。
【００４６】
ＯＰＣに影響を与える感度ムラとしては、光ディスクの反りや取り付け誤差による光学レンズとの相対位置、角度のズレ等によって生じる見かけ上の感度ムラもある。この類の感度ムラは光ディスクを回転させて記録トラック上を走査すると光ディスクの回転周期、またはその整数分の１の周期の感度変動として観測される。記録パワーの順番を入れ替える時にこの感度の周期性も考慮すると更にＰｏ精度を高めることができる。
【００４７】
図９は、この手法を採用した本発明の第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。また、図１０はこの方式を採用した場合のディスク位置、記録パワーＰ（ｉ）、記録特性値Ｅ（ｉ）の関係を示す図である。
【００４８】
ここでは説明を簡単にするために、記録パワー系列のデータ個数Ｎを１０とし、感度変動は周期θｔの正弦波状であるとする。図１０はＰｍとして｛Ｐ（５）＋Ｐ（６）｝／２が選択され、Ｐｏ演算に使う記録特性値がＥ（４），Ｅ（５），Ｅ（６），Ｅ（７）である状態を示している。
【００４９】
正弦波の性質から、ある位置θａと、そこからθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置θｂの感度との平均は全体の感度の平均にほぼ等しい。従って大きさの順で隣り合う記録パワーＰ（ｉ）と記録パワーＰ（ｉ＋１）を、それぞれ位置θａと位置θｂに配置することによって、より平均感度に近いＰｏの値が得られる。
【００５０】
図１０の例では、位置θａからテスト記録Ａを行い、位置θａからθｔ／２だけ離れた位置θｂから次のテスト記録Ｂを行っている。テスト記録Ａではｉが偶数となるＰ（ｉ）の記録パワーでテスト記録し、テスト記録Ｂでは、対応するテスト記録Ａでのｉに１を加算したＰ（ｉ＋１）、即ちｉが奇数となる記録パワーでテスト記録を行っている。このようにしてテスト記録を行うことによって、記録パワーＰ（ｉ）での記録位置と記録パワーＰ（ｉ＋１）での記録位置との距離は常にθｔ／２となる。
【００５１】
以下に、この性質を利用した第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を図９により説明する。
【００５２】
（ステップＳ３０１）光ディスクの回転数、光軸からの傾き等の情報はサーボ装置５から得られるので、制御装置１０はこれを観測し、記録感度周期θｔを算出する。ここで数周期分の測定を行ってθｔを測定してもよいが、十分な精度が得られるなら１／４周期程度の観測結果から算出してもかまわない。
【００５３】
（ステップＳ３０２）次に、制御装置１０は、テスト記録の開始位置θａから次の開始位置θｂを次式により算出する。
【００５４】
【数３】
ここで、テスト記録に使う記録トラック長の面ではｋは小さい方が効率的であるから、値として１を用いるのが望ましい。しかし位置θａから始まるテスト記録が位置θｂに重なってしまう場合は適切に大きな値でもかまわない。
【００５５】
（ステップＳ３０３）次に、制御装置１０は、位置θａからｉが偶数の記録パワーＰ（ｉ）でテスト記録を行うように制御を行う。記録パワー系列における記録パワーの順番は次式を適用する。
【００５６】
【数４】
（ステップＳ３０４）次に、制御装置１０は、位置θｂからｉが奇数のＰ（ｉ）でテスト記録を行うように制御を行う。記録パワー系列における記録パワーの順番は次式を適用する。
【００５７】
【数５】
なお、ステップＳ３０３とステップＳ３０４は一連の記録動作であってかまわない。
【００５８】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０３〜Ｓ１０５と同じである。
【００５９】
上記の第３の実施形態では、位置θａや位置θｂからテスト記録される記録パワーＰ（ｉ）がその大きさの順に並んでいるが、第１の実施形態と同様にこれを乱数によって入れ替えてもかまわない。
【００６０】
図１１は、この手法を採用した本発明の第４の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。また、図１２はこの方式を採用した場合のディスク位置、記録パワーＰ（ｉ）、および記録特性値Ｅ（ｉ）の関係を示す図である。
【００６１】
（ステップＳ４０１）光ディスクの回転数、光軸からの傾き等の情報はサーボ装置５から得られるので、制御装置１０はこれを観測し、記録感度周期θｔを算出する。ここで数周期分の測定を行ってθｔを測定してもよいが、十分な精度が得られるなら１／４周期程度の観測結果から算出してもかまわない。
【００６２】
（ステップＳ４０２）制御装置１０は、テスト記録の開始位置θａから次の開始位置θｂを式(3)により算出する。
【００６３】
ここで、テスト記録に使う記録トラック長の面ではｋは小さい方が効率的であるから、値として１を用いるのが望ましい。しかし位置θａから始まるテスト記録が位置θｂに重なってしまう場合は適切に大きな値でもかまわない。
【００６４】
（ステップＳ４０３）制御装置１０は、０，１，２、・・・，Ｎ／２−１の異なる要素を持つ配列Ｍｊを作成し、その要素の順番を入れ替える。
【００６５】
【数６】
（ｊ＝０，１，２，…，Ｎ／２−１）
（ステップＳ４０４）次に、制御装置１０は、位置θａからテスト記録を実行するように制御を行う。このとき用いられる記録パワー系列における記録パワーＰ（ｉ）の順番は次式を適用する。
【００６６】
【数７】
（ステップＳ４０５）次に、制御装置１０は、位置θｂからテスト記録を実行するように制御を行う。このとき用いられる記録パワー系列における記録パワーＰ（ｉ）の順番は次式を適用する。
【００６７】
【数８】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０３〜Ｓ１０５と同じである。
【００６８】
本発明は概算の周期情報でも効果が得られるので、予め光ディスクの形状や特性から感度周期θｔを算出し、これに配慮した記録パワーの順番を決めておいてもかまわない。例えば図１２に示したような、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワーの順番を予め制御装置１０のメモリに保存しておき、ＯＰＣでは毎回この順番でテスト記録を行う方法である。この方法では第２の実施形態と同様に記録パワーの順番を常に最適化できる利点がある。
【００６９】
図１３は、上記の手法を用いた本発明の第５の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００７０】
（ステップＳ５０１）まず、制御装置１０は、メモリから予め想定した光ディスクの感度周期θｔの情報を呼び出す。
【００７１】
（ステップＳ５０２）次に、制御装置１０は、テスト記録を最初に開始する位置をθａとし、式(3)から次の位置θｂを算出する。
【００７２】
（ステップＳ５０３）次に、制御装置１０は、メモリから、位置θａからのテスト記録用の記録パワーの順番を呼び出し、位置θａからのテスト記録Ａを実行する。ここで、記録パワーの順番は１種類でもよいが、数種類をメモリに格納しておき、その中から適当な順番を選択してもかまわない。
【００７３】
（ステップＳ５０４）次に、制御装置１０は、位置θｂからのテスト記録用の記録パワーの順番を呼び出し、位置θｂからテスト記録Ｂを実行する。この場合においても、記録パワーの順番を数種類メモリに格納しておき、その中から適当な順番を選択してもかまわない。
【００７４】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０３〜Ｓ１０５と同じである。
【００７５】
なお、説明の便宜上ステップＳ５０１、Ｓ５０２、Ｓ５０３、Ｓ５０４を分けて説明したが、実用上はこれらの手順を一つにまとめて一連のテスト記録としてもかまわない。
【００７６】
光ディスクはその内周側のトラックと外周側のトラックでも記録感度に差がある。このような場合は、光ディスク１の内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いてテスト記録を行うことが有効である。
【００７７】
図１４は上記の手法を採用した本発明の第６の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。図１５は光ディスクの内周側と外周側の記録パワーＰ（ｉ）の順番を示す図である。図１５に示すように、本実施形態は光ディスクの内周側でｉが偶数の記録パワーＰ（ｉ）でのテスト記録を行い、外周側でｉが奇数の記録パワーＰ（ｉ）でのテスト記録を行う。
【００７８】
以下、図１４のフローチャートに従って本実施形態の動作を説明する。
【００７９】
（ステップＳ６０１）まず、制御装置１０は、光ディスク１の内周側で、ｉが偶数のＰ（ｉ）でのテスト記録を実行するように制御を行う。
【００８０】
（ステップＳ６０２）次に、制御装置１０は、テスト記録が行われた内周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００８１】
（ステップＳ６０３）次に、制御装置１０は、光ディスク１の外周側でｉが奇数のＰ（ｉ）でのテスト記録を実行する。
【００８２】
（ステップＳ６０４）次に、制御装置１０は、テスト記録が行われた外周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００８３】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０４、Ｓ１０５と同じである。
【００８４】
内周側と外周側のテスト記録のパワーの順番は、第２の実施形態と同様に乱数を用いて入れ替えてもよい。
【００８５】
図１６は上記の手法を採用した本発明の第７の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。図１７は光ディスクの内周側と外周側の記録パワーＰ（ｉ）の順番を示す図である。
【００８６】
（ステップＳ７０１）まず制御装置１０は、式(6)で定義される、０，１，２，・・・，Ｎ／２−１の異なる要素を持つ配列Ｍｊを作成し、その要素の順番を入れ替える。
【００８７】
（ステップＳ７０２）次に、制御装置１０は、光ディスク１の内周側にてテスト記録を実行するように制御を行う。このとき記録パワーの順番は式(7)を適用する。
【００８８】
（ステップＳ７０３）次に、制御装置１０は、記録した内周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００８９】
（ステップＳ７０４）次に、制御装置１０は、光ディスクの外周側にてテスト記録を実行するように制御を行う。このとき記録パワーの順番は式(8)を適用する。
【００９０】
（ステップＳ７０５）次に、制御装置１０は、記録した外周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００９１】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０４、Ｓ１０５と同じである。
【００９２】
第２の実施形態と同様に、光ディスクの内周、外周で行うテスト記録のパワーの順番を予め決めて制御装置１０のメモリに保存しておいてもよい。
【００９３】
図１８はこの手法を採用した本発明の第８の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００９４】
（ステップＳ８０１）まず、制御装置１０は、予めメモリに格納された内周側用の記録パワー系列で、光ディスクの内周側にテスト記録を実行する。記録パワー系列の並びは１種類でもよいが、記録パワーの順番をメモリに数種類格納しておき、その中から適当なものを選択してもかまわない。
【００９５】
（ステップＳ８０２）次に、制御装置１０は、光ディスクの内周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００９６】
（ステップＳ８０３）次に、制御装置１０は、予めメモリに格納された記録パワーの順番で、光ディスク１の外周側にテスト記録を実行する。記録パワーの順番は１種類でもよいが、記録パワーの順番をメモリに数種類格納しておき、その中から適当なものを選択してもかまわない。
【００９７】
（ステップＳ８０４）次に、制御装置１０は、光ディスクの外周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００９８】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０４、Ｓ１０５と同じである。
【００９９】
以上、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いてテスト記録を行い、Ｐｏを算出する方法に関する幾つかの実施形態を示したが、本発明は、これらの実施形態に示されるものに限定されるものではなく、光ディスクの位置に対する記録パワーの大きさの依存性を解消できれば、他の方法を用いてもかまわない。 以上説明した実施形態によれば、ＯＰＣにおける感度ムラの影響を容易に低減できる。ＯＰＣ精度が向上すると、記録パワー誤差に対して性能余裕の少ない光ディスクでも所望の記録性能を得ることが可能となる。
【０１００】
従来は感度ムラを軽減するために、テスト記録前の前処理を行う、ＯＰＣを複数回繰り返す、またはテスト記録の物理長を長くする等の対応が必要であったが、本実施形態はテスト記録法自体に感度ムラを低減させる効果があるので、前処理やＯＰＣを複数回繰り返す必要な無くＯＰＣ実行時間を短縮できる。同様にテスト記録長も短くできるので光ディスクの記録領域の節約にも繋がる。
【０１０１】
また、本発明は、従来の手法との併用も容易で、更なる感度ムラの影響を低減させる効果が期待できる。
【符号の説明】
【０１０２】
１ 光ディスク
２ スピンドルモーター
３ 光学ピックアップ
４ スレッドモーター
５ サーボ装置
６ ＡＰＣ装置
７ 再生装置
８ 記録特性測定装置
９ 記録変調装置
１０ 制御装置
１１ 感度ムラの領域
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザーによって記録を行う光ディスク記録装置に係り、特に光ディスクに対して最適な記録パワーを設定して記録を行う光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に光ディスク記録の最適記録発光パワー（以下Ｐｏ：Optimum Write Power）を決定し制御する手法（以下ＯＰＣ：Optimum Power Control）では、Ｐｏを得るのに適した記録パワー（以下Ｐｍ）の近傍の数点を選び、これらのパワーでテスト記録を行うことによって得られる記録特性値（例えば、記録時の反射率の変化、記録後のアシンメトリ、振幅、変調度、ジッター等）を演算処理することでＰｏを算出していた（この演算処理を以下Ｐｏ演算と記述する）。
【０００３】
しかし、ＯＰＣを行う前の段階ではＰｍの正確な値は不明なので、予想される広範囲の記録パワーでテスト記録を行い、得られた記録特性値からＰｍを選択し、その近傍の記録特性値を用いてＰｏ演算を行っていた。
【０００４】
ＯＰＣでは光ディスクを回転させ、その連続した記録トラックにテスト記録を行う。テスト記録は記録パワーの大きさを変えながら行うが、従来はこの順番を単にパワーの低い方から高い方、またはその逆の方向へと変えながらテスト記録を行っていた。このため、記録パワーの大きさは光ディスクの位置に依存性を持ってしまう欠点があった。
【０００５】
従来のＯＰＣ手法の模式図を図１に示す。光ディスク１のほぼ同心円上に並べた円弧状の矢印は、光ディスク１にスパイラル状に刻まれた記録トラックをテスト記録する様子を表している。また、その内周側の数字は光ディスク１上の位置を示している。Ｐ（ｉ）は記録パワーで、対応する円弧状の矢印で示した各々の区間をこのパワーでテスト記録する。この図では説明を簡略化するために記録パワー系列のパワー個数（Ｎ）を８としたが、実際には様々な個数が用いられる。また同じく簡略化するために記録パワーＰ（ｉ）はｉが増えるに従ってパワーが高くなるとする。
【０００６】
【数１】
【０００７】
【数２】
図２はＯＰＣで得られるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。ここで、Ｅ（ｉ）は記録パワーＰ（ｉ）でテスト記録した時の記録特性値である。前述のようにＯＰＣではＰｏを得るのに適したパワーＰｍを選択し、その近傍の数点を選んでＰｏ演算を行う。図２の例ではＰｍとしてＰ（３）が選択され、その近傍の記録パワーＰ（２）、Ｐ（３）、Ｐ（４）とその記録特性値Ｅ（２）、Ｅ（３）、Ｅ（４）が選ばれた様子を示している。
【０００８】
さて、光ディスクに感度ムラが発生する要因は記録膜自体の特性ムラの他、カバー膜や反射膜の特性ムラ、指紋による汚れ等が挙げられるが、ＯＰＣに影響を与えるという点では光ディスクの反りや取り付け誤差による光学レンズとの相対位置、角度のズレ等によって生じる見かけ上のムラも含まれる。
【０００９】
これらのムラの多くは光ディスク上の位置に依存している。このため、従来の記録パワーを単純に大きい方から小さい方、またはその逆に変化させるテスト記録では、Ｐｍ近傍のパワーで記録する領域も近接するので、感度ムラの位置との組み合わせによって、その影響を受ける測定点の数が大きく変動してしまうという問題があった。
【００１０】
図３は光ディスクの感度ムラの分布の例を示す図、また図４は図３に示す感度ムラ分布を有する光ディスクに対するＯＰＣで得られるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。図３において、１１は感度ムラが存在する領域を表している。このような場合では、Ｐｏ演算に使う記録特性値Ｅ（２）、Ｅ（３）、Ｅ（４）の全てが感度ムラの影響を受けてしまい、この値を用いて算出されるＰｏの精度は著しく低下する。
【００１１】
これまで、このような感度ムラの影響を補償する手段として様々な方法が提案されている。しかしこれらの方法は予めテスト記録を行うエリアの記録特性を測定して補償演算を行ったり（例えば特許文献１、特許文献２を参照）、予めエリアの記録特性を整えたりする方法（例えば特許文献３を参照）であった。このような手法は記録と諸特性の測定という一連の動作を繰り返す必要があり、ＯＰＣ全体の処理が煩雑になる欠点があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００４−２５３０１６号公報
【特許文献２】特開２００２−３１９１３５号公報
【特許文献３】特開２０００−２５１２５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
上記のように、従来のＯＰＣでは、記録パワーの大きさを順列に並べた記録パワー系列を用いてテスト記録を行っているため、感度ムラの影響を受けてＰｏの算出精度が低下するという問題があった。また、予めテスト記録を行うエリアの記録特性を測定して補償演算を行ったり、予めエリアの記録特性を整えたりする方法では、記録と諸特性の測定という一連の動作を繰り返す必要があり、ＯＰＣ全体の処理が煩雑になるという課題があった。
【００１４】
本発明はこのようなことを鑑み、光ディスクの感度ムラの影響を低減して、記録パワー制御の精度を向上させることのできる光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記目的を達成するために、本発明の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法は、大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて光ディスクにテスト記録を行うテスト記録ステップと、テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行うステップとを具備する。
【００１６】
この発明によれば、記録特性値のディスク位置に対する依存性が低減し、光ディスクの感度ムラによる記録パワー制御の精度低下を防止することができる。
【００１７】
なお、本発明で言う記録パワーとは、例えば光学ピックアップにおけるレーザーの記録発光パワーであるが、本発明は、これに限定されるものではない。
【００１８】
本発明は、大きさの順に並べられた記録パワーの系列から、乱数を用いて、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を作成するステップを含むものであってもよい。この際、偶然、隣り合う記録パワーが並んでしまった場合には、これを解消するために、一方を他の記録パワーに入れ替えたり、再度順番の入れ替えをやり直すようにすればよい。
【００１９】
また、テスト記録ステップでは、大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、光ディスクの感度ムラの周期性を考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行うようにしてもよい。
【００２０】
光ディスクの感度ムラには、光ディスクの回転周期などによる依存性があることから、このように光ディスクの感度ムラの周期性をも考慮しつつ記録パワー系列の並びを決めることによって、光ディスクの感度ムラによる影響をより一層低減することができ、記録パワー制御の精度をより高めることができる。
【００２１】
光ディスクの感度ムラの周期性を考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えてテスト記録を行う方法としては、光ディスクの記録感度の周期に関する情報を取得し、取得した周期に関する情報をもとにテスト記録の第１の開始位置と次の第２の開始位置を算出し、大きさの順で隣り合う記録パワーを、第１の開始位置からのテスト記録と第２の開始位置からのテスト記録とにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行う方法などがある。それぞれの開始位置からのテスト記録に用いられる記録パワー系列の並びを、さらに乱数を用いて入れ替えるようにしてもよい。
【００２２】
また、光ディスクの記録感度の周期を算出し、この算出された周期をもとにテスト記録の第１の開始位置と次の第２の開始位置を算出するようにしてもよい。
【００２３】
さらに、テスト記録ステップでは、大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、光ディスクの内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行うようにしてもよい。
【００２４】
すなわち、光ディスクはその内周側のトラックと外周側のトラックでも記録感度に差があることがある。このような場合には、光ディスクの内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いてテスト記録を行うことが有効である。
【００２５】
光ディスクの内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えてテスト記録を行う具体的な方法としては、大きさの順で隣り合う記録パワーを、内周側のトラックと外周側のトラックとにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いてテスト記録を行う方法などがある。
【００２６】
また、光ディスクの内周側と外周側でのテスト記録に用いられる記録パワー系列の並びを、さらに乱数を用いて入れ替えるようにしてもよい。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、記録型光ディスクにおける最適記録パワーを決定する手法において、光ディスクの感度ムラの影響を低減して、記録パワー制御の精度向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】従来のＯＰＣ手法について説明するための図である。
【図２】ＯＰＣで得られるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。
【図３】光ディスクの記録感度のムラの分布の例を示す図である。
【図４】図３に示す感度ムラ分布を有する光ディスクに対するＯＰＣで得られるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態にかかる光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の最適記録パワー決定方法におけるディスク位置と記録パワーおよび記録特性値との関係を示す図である。
【図７】本発明の第１の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１０】第３の実施形態の最適記録パワー決定方法におけるディスク位置、記録パワー、および記録特性値の関係を示す図である。
【図１１】本発明の第４の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１２】第４の実施形態の最適記録パワー決定方法におけるディスク位置、記録パワー、および記録特性値の関係を示す図である。
【図１３】本発明の第５の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の第６の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１５】第６の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法に関して光ディスクの内周側と外周側の記録パワーの順番を示す図である。
【図１６】本発明の第７の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１７】第７の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法に関して光ディスクの内周側と外周側の記録パワーの順番を示す図である。
【図１８】本発明の第８の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００３０】
図５は本発明の実施の形態にかかる光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。同図において、１は光ディスク、２は光ディスク１を回転させるスピンドルモーターである。３は例えば半導体レーザーとその駆動回路、およびレンズ等の光学部品やアクチュエーターで構成される光学ピックアップである。４は光学ピックアップ３を光ディスク１の接線方向へ動かすスレッドモーターである。７は光学ピックアップ３から得られる信号から光ディスク１に記録されているデータ、位置情報、同期タイミング等を再生する再生装置である。５は光学ピックアップ３でモニターされる各種エラー情報や再生装置７から得られる同期タイミング等をもとにスピンドルモーター２、スレッドモーター４、および光学ピックアップ３のアクチュエーターを制御し、光ディスク１の回転数、光学ピックアップ３の位置および光学ピックアップ３から出力されるレーザー光の位置、光軸、チルト、フォーカス等を所望の状態に制御するサーボ装置である。６は光学ピックアップ３でモニターされる情報をもとに例えばレーザーの発光パワーなどを所望の値に制御するＡＰＣ（Automatic Power Control）装置である。８は光学ピックアップ３の情報から変調度、アシンメトリ、β値、ジッター等の記録特性値を測定する記録特性測定装置である。９は記録する情報をもとに光学ピックアップ３のレーザーの発光パワーを適切に変調する記録変調装置である。１０は各装置の制御装置で、シーケンサーや中央演算処理装置、メモリ等で構成される。
【００３１】
光ディスク１からデータを再生する際は、光学ピックアップ３から適切な光スポットを光ディスク１に照射し、サーボ装置５が光ディスク１を適切に回転させ、光学ピックアップ３を所望の位置に移動し、さらにアクチュエーター等を制御し、光スポットを光ディスク１上の記録トラックに走査させる。この状態で再生装置７が光ディスク１に記録されているデータを再生する。
【００３２】
光ディスク１にデータを記録する際は、前述のデータを再生している状態から記録変調装置９が光学ピックアップ３の発光波形を適切に変調して光ディスク１にデータを記録する。この時に必要な発光パワー情報は、この前にＯＰＣを行うことによって取得される。
【００３３】
本発明は、多くの感度ムラがディスク位置に依存する点に着目し、記録パワーを大きさの順に並べた記録パワー系列でテスト記録を行うのではなく、その順番を適当な方法で入れ替えて、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列でテスト記録を行うことで、ディスク位置に対する依存性を解消し、感度ムラの影響を低減するものである。
【００３４】
図６は本発明の原理を示す図である。これは図４に示したような感度ムラがあった場合に本発明を適用した例で、ディスク位置に対する記録パワーＰ（ｉ）の順番を、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように入れ替えている。このような記録パワー系列でテスト記録を行うと、記録特性値Ｅ（ｉ）のディスク位置に対する依存性が低減される。すなわち、図４で示した従来の方式ではＰｏ演算に使う記録特性値Ｅ（２），Ｅ（３），Ｅ（４）の全てが感度ムラの影響を受けてしまうが、本発明の原理に基づく図６の例では、感度ムラの影響を受けるのはＥ（２）だけである。したがって、得られるＰｏの精度は大きく向上する。
【００３５】
ここまで説明を分かり易くするために局所的に感度ムラが発生している例を示した。しかし実際には感度ムラが光ディスク１上の広範囲に分布していることが多く、ＯＰＣで得られるＰｏはその平均的な感度での値が望ましい。本発明はＰｏ演算に用いる記録特性値をディスク位置に対して離散的に分散させる効果があるので、従来の方式より平均値に近いＰｏが得られるという利点も挙げられる。
【００３６】
以下に、本発明の実施形態をより具体的に説明する。
【００３７】
図７は本発明の第１の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。本実施形態は、記録パワー系列における記録パワーＰ（ｉ）の順番を乱数によって入れ替える方式を採用したものである。
【００３８】
（ステップＳ１０１）まず、制御装置１０は、予め与えられている記録パワー系列から、乱数を用いて、記録パワーＰ（ｉ）の順番を、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように入れ替えた記録パワー系列を作成し、これを制御装置１０の中のメモリに格納する。なお、予め与えられている記録パワー系列とは、記録パワーが大きさの順に並べられた系列である。乱数を用いた入れ替え処理によって、偶然、隣り合う記録パワーが並んでしまった場合には、これを解消するために、一方を他の記録パワーに入れ替えたり、再度順番の入れ替えをやり直すようにする。
【００３９】
（ステップＳ１０２）制御装置１０は、メモリに格納された記録パワー系列を用いて光ディスク１へのテスト記録を実行するように制御を行う。
【００４０】
（ステップＳ１０３）次に、制御装置１０は、テスト記録が行われた位置の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００４１】
（ステップＳ１０４）次に、制御装置１０は、記録特性測定装置８により測定された記録特性値を用いてＰｏ演算を実行する。
【００４２】
（ステップＳ１０５）これまでの手順によって感度ムラの影響が低減されたＰｏが得られる。
【００４３】
本発明の主旨は、テスト記録のために用いられる記録パワーの順番と光ディスクの感度ムラの依存性を低減させることであるので、予め、乱数を用いて、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列の情報をメモリに格納しておき、ＯＰＣでは毎回その記録パワー系列を用いてテスト記録を行うようにしてもよい。このようにすると、ある記録パワーＰ（ｉ）とその近傍の記録パワーＰ（ｈ）がある程度の距離をもって光ディスク上に一様に分布するような最適な配置を毎回実現できるというメリットがある。
【００４４】
図８は、この手法を採用した本発明の第２の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００４５】
（ステップＳ２０１）まず、制御装置１０は、予めメモリに格納された、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列の情報を用いてテスト記録を実行するように制御を行う。記録パワー系列は１種類でもよいが、記録パワーの並びが異なる複数の記録パワー系列をメモリに格納しておき、その中から適当な記録パワー系列を選択してテスト記録を行ってもよい。以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０３〜Ｓ１０５と同じである。
【００４６】
ＯＰＣに影響を与える感度ムラとしては、光ディスクの反りや取り付け誤差による光学レンズとの相対位置、角度のズレ等によって生じる見かけ上の感度ムラもある。この類の感度ムラは光ディスクを回転させて記録トラック上を走査すると光ディスクの回転周期、またはその整数分の１の周期の感度変動として観測される。記録パワーの順番を入れ替える時にこの感度の周期性も考慮すると更にＰｏ精度を高めることができる。
【００４７】
図９は、この手法を採用した本発明の第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。また、図１０はこの方式を採用した場合のディスク位置、記録パワーＰ（ｉ）、記録特性値Ｅ（ｉ）の関係を示す図である。
【００４８】
ここでは説明を簡単にするために、記録パワー系列のデータ個数Ｎを１０とし、感度変動は周期θｔの正弦波状であるとする。図１０はＰｍとして｛Ｐ（５）＋Ｐ（６）｝／２が選択され、Ｐｏ演算に使う記録特性値がＥ（４），Ｅ（５），Ｅ（６），Ｅ（７）である状態を示している。
【００４９】
正弦波の性質から、ある位置θａと、そこからθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置θｂの感度との平均は全体の感度の平均にほぼ等しい。従って大きさの順で隣り合う記録パワーＰ（ｉ）と記録パワーＰ（ｉ＋１）を、それぞれ位置θａと位置θｂに配置することによって、より平均感度に近いＰｏの値が得られる。
【００５０】
図１０の例では、位置θａからテスト記録Ａを行い、位置θａからθｔ／２だけ離れた位置θｂから次のテスト記録Ｂを行っている。テスト記録Ａではｉが偶数となるＰ（ｉ）の記録パワーでテスト記録し、テスト記録Ｂでは、対応するテスト記録Ａでのｉに１を加算したＰ（ｉ＋１）、即ちｉが奇数となる記録パワーでテスト記録を行っている。このようにしてテスト記録を行うことによって、記録パワーＰ（ｉ）での記録位置と記録パワーＰ（ｉ＋１）での記録位置との距離は常にθｔ／２となる。
【００５１】
以下に、この性質を利用した第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を図９により説明する。
【００５２】
（ステップＳ３０１）光ディスクの回転数、光軸からの傾き等の情報はサーボ装置５から得られるので、制御装置１０はこれを観測し、記録感度周期θｔを算出する。ここで数周期分の測定を行ってθｔを測定してもよいが、十分な精度が得られるなら１／４周期程度の観測結果から算出してもかまわない。
【００５３】
（ステップＳ３０２）次に、制御装置１０は、テスト記録の開始位置θａから次の開始位置θｂを次式により算出する。
【００５４】
【数３】
ここで、テスト記録に使う記録トラック長の面ではｋは小さい方が効率的であるから、値として１を用いるのが望ましい。しかし位置θａから始まるテスト記録が位置θｂに重なってしまう場合は適切に大きな値でもかまわない。
【００５５】
（ステップＳ３０３）次に、制御装置１０は、位置θａからｉが偶数の記録パワーＰ（ｉ）でテスト記録を行うように制御を行う。記録パワー系列における記録パワーの順番は次式を適用する。
【００５６】
【数４】
（ステップＳ３０４）次に、制御装置１０は、位置θｂからｉが奇数のＰ（ｉ）でテスト記録を行うように制御を行う。記録パワー系列における記録パワーの順番は次式を適用する。
【００５７】
【数５】
なお、ステップＳ３０３とステップＳ３０４は一連の記録動作であってかまわない。
【００５８】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０３〜Ｓ１０５と同じである。
【００５９】
上記の第３の実施形態では、位置θａや位置θｂからテスト記録される記録パワーＰ（ｉ）がその大きさの順に並んでいるが、第１の実施形態と同様にこれを乱数によって入れ替えてもかまわない。
【００６０】
図１１は、この手法を採用した本発明の第４の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。また、図１２はこの方式を採用した場合のディスク位置、記録パワーＰ（ｉ）、および記録特性値Ｅ（ｉ）の関係を示す図である。
【００６１】
（ステップＳ４０１）光ディスクの回転数、光軸からの傾き等の情報はサーボ装置５から得られるので、制御装置１０はこれを観測し、記録感度周期θｔを算出する。ここで数周期分の測定を行ってθｔを測定してもよいが、十分な精度が得られるなら１／４周期程度の観測結果から算出してもかまわない。
【００６２】
（ステップＳ４０２）制御装置１０は、テスト記録の開始位置θａから次の開始位置θｂを式(3)により算出する。
【００６３】
ここで、テスト記録に使う記録トラック長の面ではｋは小さい方が効率的であるから、値として１を用いるのが望ましい。しかし位置θａから始まるテスト記録が位置θｂに重なってしまう場合は適切に大きな値でもかまわない。
【００６４】
（ステップＳ４０３）制御装置１０は、０，１，２、・・・，Ｎ／２−１の異なる要素を持つ配列Ｍｊを作成し、その要素の順番を入れ替える。
【００６５】
【数６】
（ｊ＝０，１，２，…，Ｎ／２−１）
（ステップＳ４０４）次に、制御装置１０は、位置θａからテスト記録を実行するように制御を行う。このとき用いられる記録パワー系列における記録パワーＰ（ｉ）の順番は次式を適用する。
【００６６】
【数７】
（ステップＳ４０５）次に、制御装置１０は、位置θｂからテスト記録を実行するように制御を行う。このとき用いられる記録パワー系列における記録パワーＰ（ｉ）の順番は次式を適用する。
【００６７】
【数８】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０３〜Ｓ１０５と同じである。
【００６８】
本発明は概算の周期情報でも効果が得られるので、予め光ディスクの形状や特性から感度周期θｔを算出し、これに配慮した記録パワーの順番を決めておいてもかまわない。例えば図１２に示したような、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワーの順番を予め制御装置１０のメモリに保存しておき、ＯＰＣでは毎回この順番でテスト記録を行う方法である。この方法では第２の実施形態と同様に記録パワーの順番を常に最適化できる利点がある。
【００６９】
図１３は、上記の手法を用いた本発明の第５の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００７０】
（ステップＳ５０１）まず、制御装置１０は、メモリから予め想定した光ディスクの感度周期θｔの情報を呼び出す。
【００７１】
（ステップＳ５０２）次に、制御装置１０は、テスト記録を最初に開始する位置をθａとし、式(3)から次の位置θｂを算出する。
【００７２】
（ステップＳ５０３）次に、制御装置１０は、メモリから、位置θａからのテスト記録用の記録パワーの順番を呼び出し、位置θａからのテスト記録Ａを実行する。ここで、記録パワーの順番は１種類でもよいが、数種類をメモリに格納しておき、その中から適当な順番を選択してもかまわない。
【００７３】
（ステップＳ５０４）次に、制御装置１０は、位置θｂからのテスト記録用の記録パワーの順番を呼び出し、位置θｂからテスト記録Ｂを実行する。この場合においても、記録パワーの順番を数種類メモリに格納しておき、その中から適当な順番を選択してもかまわない。
【００７４】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０３〜Ｓ１０５と同じである。
【００７５】
なお、説明の便宜上ステップＳ５０１、Ｓ５０２、Ｓ５０３、Ｓ５０４を分けて説明したが、実用上はこれらの手順を一つにまとめて一連のテスト記録としてもかまわない。
【００７６】
光ディスクはその内周側のトラックと外周側のトラックでも記録感度に差がある。このような場合は、光ディスク１の内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いてテスト記録を行うことが有効である。
【００７７】
図１４は上記の手法を採用した本発明の第６の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。図１５は光ディスクの内周側と外周側の記録パワーＰ（ｉ）の順番を示す図である。図１５に示すように、本実施形態は光ディスクの内周側でｉが偶数の記録パワーＰ（ｉ）でのテスト記録を行い、外周側でｉが奇数の記録パワーＰ（ｉ）でのテスト記録を行う。
【００７８】
以下、図１４のフローチャートに従って本実施形態の動作を説明する。
【００７９】
（ステップＳ６０１）まず、制御装置１０は、光ディスク１の内周側で、ｉが偶数のＰ（ｉ）でのテスト記録を実行するように制御を行う。
【００８０】
（ステップＳ６０２）次に、制御装置１０は、テスト記録が行われた内周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００８１】
（ステップＳ６０３）次に、制御装置１０は、光ディスク１の外周側でｉが奇数のＰ（ｉ）でのテスト記録を実行する。
【００８２】
（ステップＳ６０４）次に、制御装置１０は、テスト記録が行われた外周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００８３】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０４、Ｓ１０５と同じである。
【００８４】
内周側と外周側のテスト記録のパワーの順番は、第２の実施形態と同様に乱数を用いて入れ替えてもよい。
【００８５】
図１６は上記の手法を採用した本発明の第７の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。図１７は光ディスクの内周側と外周側の記録パワーＰ（ｉ）の順番を示す図である。
【００８６】
（ステップＳ７０１）まず制御装置１０は、式(6)で定義される、０，１，２，・・・，Ｎ／２−１の異なる要素を持つ配列Ｍｊを作成し、その要素の順番を入れ替える。
【００８７】
（ステップＳ７０２）次に、制御装置１０は、光ディスク１の内周側にてテスト記録を実行するように制御を行う。このとき記録パワーの順番は式(7)を適用する。
【００８８】
（ステップＳ７０３）次に、制御装置１０は、記録した内周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００８９】
（ステップＳ７０４）次に、制御装置１０は、光ディスクの外周側にてテスト記録を実行するように制御を行う。このとき記録パワーの順番は式(8)を適用する。
【００９０】
（ステップＳ７０５）次に、制御装置１０は、記録した外周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００９１】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０４、Ｓ１０５と同じである。
【００９２】
第２の実施形態と同様に、光ディスクの内周、外周で行うテスト記録のパワーの順番を予め決めて制御装置１０のメモリに保存しておいてもよい。
【００９３】
図１８はこの手法を採用した本発明の第８の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００９４】
（ステップＳ８０１）まず、制御装置１０は、予めメモリに格納された内周側用の記録パワー系列で、光ディスクの内周側にテスト記録を実行する。記録パワー系列の並びは１種類でもよいが、記録パワーの順番をメモリに数種類格納しておき、その中から適当なものを選択してもかまわない。
【００９５】
（ステップＳ８０２）次に、制御装置１０は、光ディスクの内周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００９６】
（ステップＳ８０３）次に、制御装置１０は、予めメモリに格納された記録パワーの順番で、光ディスク１の外周側にテスト記録を実行する。記録パワーの順番は１種類でもよいが、記録パワーの順番をメモリに数種類格納しておき、その中から適当なものを選択してもかまわない。
【００９７】
（ステップＳ８０４）次に、制御装置１０は、光ディスクの外周側の記録特性値を記録特性測定装置８により測定する。
【００９８】
以降の動作は第１の実施形態のステップＳ１０４、Ｓ１０５と同じである。
【００９９】
以上、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いてテスト記録を行い、Ｐｏを算出する方法に関する幾つかの実施形態を示したが、本発明は、これらの実施形態に示されるものに限定されるものではなく、光ディスクの位置に対する記録パワーの大きさの依存性を解消できれば、他の方法を用いてもかまわない。 以上説明した実施形態によれば、ＯＰＣにおける感度ムラの影響を容易に低減できる。ＯＰＣ精度が向上すると、記録パワー誤差に対して性能余裕の少ない光ディスクでも所望の記録性能を得ることが可能となる。
【０１００】
従来は感度ムラを軽減するために、テスト記録前の前処理を行う、ＯＰＣを複数回繰り返す、またはテスト記録の物理長を長くする等の対応が必要であったが、本実施形態はテスト記録法自体に感度ムラを低減させる効果があるので、前処理やＯＰＣを複数回繰り返す必要な無くＯＰＣ実行時間を短縮できる。同様にテスト記録長も短くできるので光ディスクの記録領域の節約にも繋がる。
【０１０１】
また、本発明は、従来の手法との併用も容易で、更なる感度ムラの影響を低減させる効果が期待できる。
【符号の説明】
【０１０２】
１ 光ディスク
２ スピンドルモーター
３ 光学ピックアップ
４ スレッドモーター
５ サーボ装置
６ ＡＰＣ装置
７ 再生装置
８ 記録特性測定装置
９ 記録変調装置
１０ 制御装置
１１ 感度ムラの領域
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの記録感度ムラの周期に関する情報を取得するステップと、
前記取得した周期に関する情報をもとにテスト記録の第１の開始位置と、前記周期の長さをθｔとして、前記第１の開始位置からθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置である第２の開始位置を算出するステップと、
大きさの順に隣り合う記録パワーを、前記第１の開始位置からのテスト記録と前記第２の開始位置からのテスト記録とにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、前記光ディスクにテスト記録を行うステップと、
前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、
前記測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行うステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項２】
光ディスクの記録感度ムラの周期を算出するステップと、
前記算出された周期をもとにテスト記録の第１の開始位置と、前記周期の長さをθｔとして、前記第１の開始位置からθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置である第２の開始位置を算出するステップと、
大きさの順に隣り合う記録パワーを、前記第１の開始位置からのテスト記録と前記第２の開始位置からのテスト記録とに割り振った記録パワー系列を用いて、前記光ディスクにテスト記録を行うステップと、
前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、
前記測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行うステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項３】
大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、光ディスクの内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行うテスト記録ステップと、
前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、
前記測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行うステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法であって、
前記テスト記録ステップは、大きさの順に隣り合う記録パワーを、内周側のトラックと外周側のトラックとにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、前記光ディスクにテスト記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項５】
記録パワーを変更可能な光ピックアップと、
前記光ピックアップの情報から記録特性を測定する記録特性測定部と、
光ディスクの記録感度ムラの周期に関する情報をもとにテスト記録の第１の開始位置と、前記周期の長さをθｔとして、前記第１の開始位置からθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置である第２の開始位置を算出し、大きさの順に隣り合う記録パワーを、前記第１の開始位置からのテスト記録と前記第２の開始位置からのテスト記録とにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、前記光ディスクにテスト記録を行い、前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を前記記録特性測定部より取得し、この取得した記録特性値をもとに最適記録パワーを求める制御部と
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１】
光ディスクの記録感度ムラの周期に関する情報を取得するステップと、
前記取得した周期に関する情報をもとにテスト記録の第１の開始位置と、前記周期の長さをθｔとして、前記第１の開始位置からθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置である第２の開始位置を算出するステップと、
大きさの順に隣り合う記録パワーを、前記第１の開始位置からのテスト記録と前記第２の開始位置からのテスト記録とにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、前記光ディスクにテスト記録を行うステップと、
前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、
前記測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行うステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項２】
光ディスクの記録感度ムラの周期を算出するステップと、
前記算出された周期をもとにテスト記録の第１の開始位置と、前記周期の長さをθｔとして、前記第１の開始位置からθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置である第２の開始位置を算出するステップと、
大きさの順に隣り合う記録パワーを、前記第１の開始位置からのテスト記録と前記第２の開始位置からのテスト記録とに割り振った記録パワー系列を用いて、前記光ディスクにテスト記録を行うステップと、
前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、
前記測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行うステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項３】
大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、光ディスクの内周側のトラックと外周側のトラックでの記録感度の違いを考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて、光ディスクにテスト記録を行うテスト記録ステップと、
前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、
前記測定された記録特性値をもとに最適記録パワーの算出を行うステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法であって、
前記テスト記録ステップは、大きさの順に隣り合う記録パワーを、内周側のトラックと外周側のトラックとにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、前記光ディスクにテスト記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項５】
記録パワーを変更可能な光ピックアップと、
前記光ピックアップの情報から記録特性を測定する記録特性測定部と、
光ディスクの記録感度ムラの周期に関する情報をもとにテスト記録の第１の開始位置と、前記周期の長さをθｔとして、前記第１の開始位置からθｔ／２×ｋ（ｋは奇数）だけ離れた位置である第２の開始位置を算出し、大きさの順に隣り合う記録パワーを、前記第１の開始位置からのテスト記録と前記第２の開始位置からのテスト記録とにそれぞれ割り振った記録パワー系列を用いて、前記光ディスクにテスト記録を行い、前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を前記記録特性測定部より取得し、この取得した記録特性値をもとに最適記録パワーを求める制御部と
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【公開番号】特開２０１０−２６７３８１（Ｐ２０１０−２６７３８１Ａ）
【公開日】平成２２年１１月２５日（２０１０．１１．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−１９２５９３（Ｐ２０１０−１９２５９３）
【出願日】平成２２年８月３０日（２０１０．８．３０）
【分割の表示】特願２００６−１１７３６６（Ｐ２００６−１１７３６６）の分割
【原出願日】平成１８年４月２１日（２００６．４．２１）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年１１月２５日（２０１０．１１．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年８月３０日（２０１０．８．３０）
【分割の表示】特願２００６−１１７３６６（Ｐ２００６−１１７３６６）の分割
【原出願日】平成１８年４月２１日（２００６．４．２１）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
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