形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラム
【課題】接触子の形状が理想的な球ではない場合であっても、測定点を正確に算出可能な形状測定装置、その形状測定方法並びに形状測定プログラムを提供する。
【解決手段】前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部212と、前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成部213と、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と214、前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出部215とを備える。
【解決手段】前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部212と、前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成部213と、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と214、前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出部215とを備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、接触子を用いて変位測定を行う三次元測定機などの形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
接触式プローブ(接触子)を使用した接触測定方式においては、一般に接触子は、球であると仮定し、その中心の位置を測定点として与える。この場合の測定点は、接触子が被測定物に接触している位置とは異なる為、被測定物の実形状に対して誤差を含んでいる。そこで、この誤差は、接触子の形状を理想的な球と考え、先端球の半径分オフセットすることで解消し、被測定物の実形状により近い座標値を得る補正処理を行ってきた。
【0003】
しかしながら、求めるべき被測定物上の位置は、接触子の形状に依存しており、高精度な測定点取得のためには、接触子の形状を考慮する必要がある。近年の測定精度の向上に伴い、接触子の形状を理想的な球としたこれまでの補正処理では、十分な精度が得られなくなってきているという実情もあり、新たな接触子形状を考慮した高精度な測定点取得方法の開発が望まれている。
【0004】
このようなことから、特許文献1では、校正の基準となる基準形状物を測定して求めた接触子の形状誤差データを用いて、接触子の形状誤差に起因した被測定物の測定誤差を補正するようにした形状測定装置が提案されている(特許文献1)。
【特許文献1】特開2002−357415号公報、段落0035〜0038
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、特許文献1に開示された形状測定装置は、接触子の先端が真球であると仮定して接触子の被測定物への接触位置を算出し、この算出された接触位置について対応する誤差データにより測定値を補正するようにしている。このため、接触子の先端が真円からずれることにより接触位置もずれる点を考慮していない。また、接触子が真円とは異なる任意形状である場合には、適用不可能であるという問題がある。
【0006】
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであって、接触子の形状が理想的な球ではない場合であっても、測定点を正確に算出可能な形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明に係る第1の形状測定装置は、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定装置において、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部と、前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成部と、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と、前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出部とを備えることを特徴とする
また、本発明に係る第2の形状測定装置は、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定装置において、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部と、前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出部と、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と、前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出部とを備えることを特徴とする。
【0008】
また、本発明に係る第1の形状測定方法は、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定方法において、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各前記擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成ステップと、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出ステップとを有することを特徴とする。
【0009】
また、本発明に係る第2の形状測定方法は、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定方法において、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出ステップと、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出ステップとを有することを特徴とする。
【0010】
また、本発明に係る第1の形状測定プログラムは、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定プログラムにおいて、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成ステップと、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出ステップとをコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする。
【0011】
また、本発明に係る第2の形状測定プログラムは、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定プログラムにおいて、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出ステップと、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出ステップとをコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、接触子の形状が理想的な球ではない場合であっても、測定点を正確に算出可能な形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラムを提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0013】
以下、本発明の一実施形態に係る形状測定装置を図面と共に説明する。
【0014】
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の概略構成を示す斜視図である。この形状測定装置は、三次元測定機1と、この三次元測定機1を駆動制御して必要な測定値を取り込むと共に形状処理に必要な演算処理を実行するコンピュータ2とから構成されている。
【0015】
三次元測定機1は、例えば図1に示すように構成されており、除震台10の上には、定盤11がその上面をベース面として水平面と一致するように載置され、この定盤11の両端側から立設されたビーム支持体12a,12bの上端でX軸方向に延びるビーム13を支持している。ビーム支持体12aは、その下端がY軸駆動機構14によってY軸方向に駆動される。また、ビーム支持体12bは、その下端がエアーベアリングによって定盤11にY軸方向に移動可能に支持されている。ビーム13は、垂直方向(Z軸方向)に延びるコラム15を支持する。コラム15は、ビーム13に沿ってX軸方向に駆動される。コラム15には、スピンドル16がコラム15に沿ってZ軸方向に駆動されるように設けられている。スピンドル16の下端には、接触式のプローブ17が装着されている。また、プローブ17の先端には、任意形状、例えば楕円球形状の接触子17aが形成されている。この接触子17aが、定盤11上に載置された被測定物31に接触したときに、タッチ信号が出力され、そのときの接触子17aの基準位置のXYZ座標値をコンピュータ2が取り込むようになっている。また、定盤11上の所定位置には、後述する機械座標系を構築するための基準球32が装着されている。この基準球32は、鋼球やセラミック球等である。
【0016】
コンピュータ2は、コンピュータ本体21、キーボード22、マウス23、CRT24及びプリンタ25を備えて構成されている。
【0017】
図2は、この形状測定装置の機能ブロック図である。
【0018】
三次元測定機1には、プローブ17をXYZ軸方向に駆動するためのXYZ軸モータ18と、XYZ軸方向の移動に伴って各軸方向の移動パルスを出力するXYZエンコーダ19とが内蔵されている。また、XYZエンコーダ19は、接触子17aが被測定物31に接触時、接触子17aの基準点(例えば、接触子17aの重心)の位置情報を取得する。得られた位置情報は、記憶部21bに格納される。
【0019】
コンピュータ2のコンピュータ本体21は、主として、例えばHDD、半導体メモリ等により構成される記憶部21aと、記憶部21aに格納された情報に基づき測定点を算出或いは三次元測定機1を駆動させる形状測定プログラム及びこのプログラムを実行するCPU等により実現される制御部21bとから構成されている。
【0020】
記憶部21aには、測定時の接触子17aの位置及び姿勢の情報、測定に使用した接触子形状の情報、その他、後述する制御部21bにより算出された情報等が格納される。
【0021】
制御部21bは、動作司令部211と、擬似測定点取得部212と、法線ベクトル生成部213と、接触子モデル配置部214と、測定点算出部215と、形状演算部216とを備えている。
【0022】
動作司令部211は、キーボード22,マウス23からの入力値に基づき、XYZ軸モータ18により、被測定物31の表面31aに接触子17aを追従させる。
【0023】
擬似測定点取得部212は、接触子17aの被測定物31への複数箇所での接触時における接触子17aの基準点(例えば、重心位置)の位置情報を擬似測定点として取得する。
【0024】
法線ベクトル生成部213は、擬似測定点から、例えば、自由曲面を生成し、それぞれの擬似測定点から自由曲面に直交する法線を求める方法、或いは各擬似測定点からの法線をその近傍の擬似測定点で特定される面に基づいて求める方法などにより、擬似測定点に沿った面を推定し、その面に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを生成する。
【0025】
接触子モデル配置部214は、予め設定されてある測定に使用される接触子17aの表面形状を特定する接触子モデル及び測定時の接触子17aの姿勢情報を記憶部21aから読み出す。そして、接触子モデル設置部214は、接触子モデルの基準点を擬似測定点に一致させると共に測定時の接触子と接触子モデルとの姿勢を一致させて接触子モデルを配置する。接触子モデル配置部214は、この処理を全ての擬似測定点に対して行う。なお、接触子モデルの基準点とは、その接触子モデルの特定の位置情報であり、XYZエンコーダ18により得られるプローブ17の位置情報と同一としている。
【0026】
測定点算出部215は、各法線ベクトルが各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する。
【0027】
表面形状決定部216は、測定点算出部215により算出された各測定点に基づき被測定物の形状を決定する。なお、これら制御部21bにより得られた情報は、記憶部21aに格納される。
【0028】
次に、図3に示すフローチャートに沿って、適宜、図4〜図7を参照して、第1実施形態に係る形状測定装置による測定点算出方法について説明する。なお、図4〜図7は、簡略化のため被測定物31の断面図として二次元的に示している。
【0029】
まず、図4に示すように、キーボード22及びマウス23を操作し、動作司令部211により、被測定物31の表面31aに接触子17aを接触させて、プローブ17をXY方向に面操作して、擬似測定点取得部212により擬似測定点A1〜Anを取得する(ステップS11)。なお、このステップS11の工程において、測定はポイント測定、スキャニング測定いずれであっても良い。
【0030】
つづいて、図5に示すように、法線ベクトル生成部213により擬似測定点A1〜Anから推定された自由曲面、又は近傍測定点から特定される面における法線ベクトルB1〜Bnを算出する(ステップS12)。
【0031】
そして、図6に示すように、接触子モデル配置部214により、接触子モデルCの所定の位置である基準点Dをそれぞれの擬似測定点A1〜Anに一致させると共に、測定時の接触子17aの姿勢と接触子モデルCの姿勢とを一致させて配置する(ステップS13)。なお、接触子モデル配置部214は、この処理を全ての擬似測定点A1〜Anに対して行う。
【0032】
つづいて、図7に示すように、測定点算出部215により、接触子モデルC1〜Cnの表面Ca1〜Canと法線ベクトルB1〜Bnとの交点を測定点E1〜Enとして算出し、形状決定部216によりこれら測定点E1〜Enに基づき被測定物31の形状を決定する(ステップS14)。以上で本フローは、終了する。
【0033】
(第2実施形態)
次に、図8を参照して、本発明の第2実施形態に係る形状測定装置を説明する。
【0034】
第2実施形態に係る形状測定装置は、第1実施形態と比較して、コンピュータ本体の制御部の構成のみが異なる構成であり、予め被測定物の表面形状を表面形状設定値として記憶部21aに入力しておき、その表面形状設定値に基づき被測定物の表面形状を算出するものである。
【0035】
すなわち、第2実施形態のコンピュータ2’の制御部21b’は、法線ベクトル生成部213の替わりに直交点算出部217と、設定値比較部218とを有し、これら以外の構成は、第1実施形態と同様の構成とされている。
【0036】
第2実施形態においては、予め記憶部21aに格納されている表面形状設定値に基づき、測定を行う。
【0037】
直交点算出部217は、測定により得られた擬似測定点から被測定物31の設計値で規定される表面(以下、表面形状設定値)への直交点を算出する。
【0038】
設定値比較部218は、測定点算出部215で後述のようにして得られた各測定点と、各直交点との間の距離を求める。また、設定値比較部218は、それぞれの距離の2乗和を評価量とし、その評価量が収束するまで、表面形状設定値或いは測定点を回転移動及び平行移動させる。
【0039】
次に、図9のフローチャートに沿って、適宜、図10〜図13を参照して、第2実施形態に係る形状測定装置の測定点算出方法について説明する。なお、図10〜図13は、簡略化のため被測定物31の断面図として二次元的に示している。
【0040】
まず、図10に示すように、表面形状設定値Fに基づき、動作司令部211により、被測定物31の表面31aに接触子17aを接触させて、プローブ17をXY方向に面操作して、被測定物31の表面31aを測定し、擬似測定点取得部212により接触子17aの擬似測定点A1〜Anを取得する(ステップS21)。なお、このステップS21の工程において、測定はポイント測定、スキャニング測定いずれであっても良い。
【0041】
つづいて、図11に示すように、直交点算出部217により、各擬似測定点A1〜Anから延びる表面形状設定値Fに直交する直交ベクトルG1〜Gnを算出すると共にその直交点H1〜Hnを算出する(ステップS22)。
【0042】
そして、上述した第1実施形態における図6に示したように、接触子モデル配置部214により、接触子モデルCの所定の位置である基準点Dをそれぞれの擬似測定点A1〜Anに一致させると共に、測定時の接触子17aの姿勢と接触子モデルCの姿勢とを一致させて配置する(ステップS23)。
【0043】
つづいて、図12に示すように、測定点算出部215により、それぞれの直交ベクトルG1〜Gnが、それぞれの接触子モデルC1〜Cnの表面Ca1〜Canと交わる交点を測定点I1〜Inとして算出し、表面形状決定部216により測定点に基づき被測定物31の形状を決定する(ステップS24)。
【0044】
そして、図13に示すように、設定値比較部218により、上記ステップS24において得られた各々の測定点I1〜Inと直交点H1〜Hnとの間の距離J1〜Jnの2乗和を算出する(ステップS25)。
【0045】
つづいて、設定値比較部218により、その評価量が収束したか否かが判断される(ステップS26)。
【0046】
ステップS26において、評価量が十分に収束したと判断された場合(ステップS26,Yes)、被測定物31の表面形状は決定し、本フローは終了する。
【0047】
一方、ステップS26において、評価量が十分に収束していないと判断された場合(ステップS26,No)、表面形状設定値Fを平行移動及び回転させ(ステップS27)、再び、ステップS22からの工程が繰り返し実行される。
【0048】
(第3実施形態)
次に、図14を参照して、本発明の第3実施形態に係る形状測定装置を説明する。第3実施形態に係る形状測定装置は、第2実施形態と比較して、コンピュータ本体の制御部の構成のみが異なる構成であり、接触子のモデル化を実行可能な構成である。ここで、接触子のモデル化とは、形状が既知の高精度な基準ワーク(例えば、半径既知の高精度な基準球など)を測定し、上述した第1及び第2実施形態で与えられたアルゴリズムを用いて得られる測定点と基準ワークとの比較を繰り返しながら、接触子モデルを高精度に求めるものである。つまり、第3実施形態に係る形状測定装置は、コンピュータ2’’の制御部21b’’に、さらに、上記接触子のモデル化を実行する接触子形状算出部219が加えられた構成である。なお、接触子モデルを表現する手法としては、自由曲面、二次曲面、三角形メッシュ等を利用することができる。
【0049】
次に、図15のフローチャートに沿って、適宜、図16及び図17を参照して第3実施形態に係る形状測定装置において、接触子モデルの算出方法について説明する。
【0050】
まず、図16に示すように形状が既知の高精度な基準ワーク33(例えば、基準球32等)を接触子17aの表面がまんべんなく接触するように様々な方向から測定を行う(ステップS31)。次に、接触子モデルの初期値を与える(ステップS32)。なお、この初期値としては記憶部21a等に記憶しておいた接触子17aの設計値を使用することが可能である。つづいて、ステップS31で得られた測定値からステップS32において与えられた接触子モデルの初期値を用いて、上述した第1或いは第2実施形態と同様の方法により、測定点を推定する(ステップS33)。そして、図17に示すように、測定点の推定値K1〜Knと基準ワークの設計値Lとを比較し、測定点の推定値K1〜Knを与えている接触子モデルMの面上の点(接触子モデル更新前の接触点)に対する本来の接触子モデルMの面上の点N1〜Nn(接触子モデル更新後の接触点)を求め(ステップS34)、接触子モデル更新前後の接触点は十分一致するか否か判断する(ステップS35)。ここで、接触子17aの接触子モデル更新前後の接触点が十分一致しない場合(ステップS35,NO)、接触子モデルを更新し、ステップS33から繰り返す(ステップS36)。一方、接触子モデルが十分一致する場合(ステップS35,YES)、接触子モデルを更新することなく、本フローを終了する。これにより、接触子モデルが高精度に求められる。
【0051】
以上、発明の実施形態を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において種々の変更、追加、置換等が可能である。例えば、上記実施形態では三次元測定を例に挙げたが、本発明は、三次元測定機に限らず、二次元測定機(例えば、コントレーサ等)に適応することもできる。このような二次元測定機に本発明を適応した場合、法線ベクトルは、自由曲線、多項式曲線、折れ線などに対して算出すればよい。また、上記実施形態では、接触子は、楕円球形状であるが、接触子の形状は、この形状に限られるものではない。
【図面の簡単な説明】
【0052】
【図1】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の概略構成図である。
【図2】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の機能ブロック図である。
【図3】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の測定点算出方法を説明するフローチャートである。
【図4】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図5】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図6】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図7】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図8】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の機能ブロック図である。
【図9】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の測定点算出方法を説明するフローチャートである。
【図10】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図11】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図12】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図13】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図14】本発明の第3実施形態に係る形状測定装置の機能ブロック図である。
【図15】本発明の第3実施形態に係る形状測定装置において、接触子モデルの算出方法を説明するフローチャートである。
【図16】本発明の第3実施形態に係る形状測定装置において、基準ワークを接触子の表面がまんべんなく接触するように測定する動作を説明する図である。
【図17】本発明の第3実施形態に係る形状測定装置において、接触子モデルによる測定点と基準ワークの設計値とが十分に一致しない例を説明する図である。
【符号の説明】
【0053】
1…三次元測定機、2…コンピュータ、10…除震台、11…定盤、12a,12b…ビーム支持体、13…ビーム、14…Y軸駆動機構、15…コラム、16…スピンドル、17…プローブ、17a…接触子、21…コンピュータ本体、22…キーボード、23…マウス、24…CRT、25…プリンタ、31…被測定物、32…基準球、111…駆動部、112…検出部、211…動作司令部、212…擬似測定点取得部、213…法線ベクトル生成部、214…接触子モデル配置部、215…測定点算出部、216…表面形状決定部、217…設定値比較部、218…直交点算出部、219…接触子形状算出部、A1〜An…擬似測定点、B1〜Bn…法線ベクトル、C…接触子モデル、D…基準点、E…測定点、F…表面形状設定値、G1〜Gn…直交ベクトル、H1〜Hn…直交点、I1〜In…測定点、J1〜Jn…測定点と直交点との間の距離。
【技術分野】
【0001】
本発明は、接触子を用いて変位測定を行う三次元測定機などの形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
接触式プローブ(接触子)を使用した接触測定方式においては、一般に接触子は、球であると仮定し、その中心の位置を測定点として与える。この場合の測定点は、接触子が被測定物に接触している位置とは異なる為、被測定物の実形状に対して誤差を含んでいる。そこで、この誤差は、接触子の形状を理想的な球と考え、先端球の半径分オフセットすることで解消し、被測定物の実形状により近い座標値を得る補正処理を行ってきた。
【0003】
しかしながら、求めるべき被測定物上の位置は、接触子の形状に依存しており、高精度な測定点取得のためには、接触子の形状を考慮する必要がある。近年の測定精度の向上に伴い、接触子の形状を理想的な球としたこれまでの補正処理では、十分な精度が得られなくなってきているという実情もあり、新たな接触子形状を考慮した高精度な測定点取得方法の開発が望まれている。
【0004】
このようなことから、特許文献1では、校正の基準となる基準形状物を測定して求めた接触子の形状誤差データを用いて、接触子の形状誤差に起因した被測定物の測定誤差を補正するようにした形状測定装置が提案されている(特許文献1)。
【特許文献1】特開2002−357415号公報、段落0035〜0038
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、特許文献1に開示された形状測定装置は、接触子の先端が真球であると仮定して接触子の被測定物への接触位置を算出し、この算出された接触位置について対応する誤差データにより測定値を補正するようにしている。このため、接触子の先端が真円からずれることにより接触位置もずれる点を考慮していない。また、接触子が真円とは異なる任意形状である場合には、適用不可能であるという問題がある。
【0006】
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであって、接触子の形状が理想的な球ではない場合であっても、測定点を正確に算出可能な形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明に係る第1の形状測定装置は、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定装置において、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部と、前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成部と、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と、前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出部とを備えることを特徴とする
また、本発明に係る第2の形状測定装置は、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定装置において、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部と、前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出部と、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と、前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出部とを備えることを特徴とする。
【0008】
また、本発明に係る第1の形状測定方法は、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定方法において、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各前記擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成ステップと、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出ステップとを有することを特徴とする。
【0009】
また、本発明に係る第2の形状測定方法は、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定方法において、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出ステップと、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出ステップとを有することを特徴とする。
【0010】
また、本発明に係る第1の形状測定プログラムは、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定プログラムにおいて、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成ステップと、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出ステップとをコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする。
【0011】
また、本発明に係る第2の形状測定プログラムは、被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定プログラムにおいて、前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出ステップと、前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出ステップとをコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、接触子の形状が理想的な球ではない場合であっても、測定点を正確に算出可能な形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラムを提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0013】
以下、本発明の一実施形態に係る形状測定装置を図面と共に説明する。
【0014】
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の概略構成を示す斜視図である。この形状測定装置は、三次元測定機1と、この三次元測定機1を駆動制御して必要な測定値を取り込むと共に形状処理に必要な演算処理を実行するコンピュータ2とから構成されている。
【0015】
三次元測定機1は、例えば図1に示すように構成されており、除震台10の上には、定盤11がその上面をベース面として水平面と一致するように載置され、この定盤11の両端側から立設されたビーム支持体12a,12bの上端でX軸方向に延びるビーム13を支持している。ビーム支持体12aは、その下端がY軸駆動機構14によってY軸方向に駆動される。また、ビーム支持体12bは、その下端がエアーベアリングによって定盤11にY軸方向に移動可能に支持されている。ビーム13は、垂直方向(Z軸方向)に延びるコラム15を支持する。コラム15は、ビーム13に沿ってX軸方向に駆動される。コラム15には、スピンドル16がコラム15に沿ってZ軸方向に駆動されるように設けられている。スピンドル16の下端には、接触式のプローブ17が装着されている。また、プローブ17の先端には、任意形状、例えば楕円球形状の接触子17aが形成されている。この接触子17aが、定盤11上に載置された被測定物31に接触したときに、タッチ信号が出力され、そのときの接触子17aの基準位置のXYZ座標値をコンピュータ2が取り込むようになっている。また、定盤11上の所定位置には、後述する機械座標系を構築するための基準球32が装着されている。この基準球32は、鋼球やセラミック球等である。
【0016】
コンピュータ2は、コンピュータ本体21、キーボード22、マウス23、CRT24及びプリンタ25を備えて構成されている。
【0017】
図2は、この形状測定装置の機能ブロック図である。
【0018】
三次元測定機1には、プローブ17をXYZ軸方向に駆動するためのXYZ軸モータ18と、XYZ軸方向の移動に伴って各軸方向の移動パルスを出力するXYZエンコーダ19とが内蔵されている。また、XYZエンコーダ19は、接触子17aが被測定物31に接触時、接触子17aの基準点(例えば、接触子17aの重心)の位置情報を取得する。得られた位置情報は、記憶部21bに格納される。
【0019】
コンピュータ2のコンピュータ本体21は、主として、例えばHDD、半導体メモリ等により構成される記憶部21aと、記憶部21aに格納された情報に基づき測定点を算出或いは三次元測定機1を駆動させる形状測定プログラム及びこのプログラムを実行するCPU等により実現される制御部21bとから構成されている。
【0020】
記憶部21aには、測定時の接触子17aの位置及び姿勢の情報、測定に使用した接触子形状の情報、その他、後述する制御部21bにより算出された情報等が格納される。
【0021】
制御部21bは、動作司令部211と、擬似測定点取得部212と、法線ベクトル生成部213と、接触子モデル配置部214と、測定点算出部215と、形状演算部216とを備えている。
【0022】
動作司令部211は、キーボード22,マウス23からの入力値に基づき、XYZ軸モータ18により、被測定物31の表面31aに接触子17aを追従させる。
【0023】
擬似測定点取得部212は、接触子17aの被測定物31への複数箇所での接触時における接触子17aの基準点(例えば、重心位置)の位置情報を擬似測定点として取得する。
【0024】
法線ベクトル生成部213は、擬似測定点から、例えば、自由曲面を生成し、それぞれの擬似測定点から自由曲面に直交する法線を求める方法、或いは各擬似測定点からの法線をその近傍の擬似測定点で特定される面に基づいて求める方法などにより、擬似測定点に沿った面を推定し、その面に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを生成する。
【0025】
接触子モデル配置部214は、予め設定されてある測定に使用される接触子17aの表面形状を特定する接触子モデル及び測定時の接触子17aの姿勢情報を記憶部21aから読み出す。そして、接触子モデル設置部214は、接触子モデルの基準点を擬似測定点に一致させると共に測定時の接触子と接触子モデルとの姿勢を一致させて接触子モデルを配置する。接触子モデル配置部214は、この処理を全ての擬似測定点に対して行う。なお、接触子モデルの基準点とは、その接触子モデルの特定の位置情報であり、XYZエンコーダ18により得られるプローブ17の位置情報と同一としている。
【0026】
測定点算出部215は、各法線ベクトルが各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する。
【0027】
表面形状決定部216は、測定点算出部215により算出された各測定点に基づき被測定物の形状を決定する。なお、これら制御部21bにより得られた情報は、記憶部21aに格納される。
【0028】
次に、図3に示すフローチャートに沿って、適宜、図4〜図7を参照して、第1実施形態に係る形状測定装置による測定点算出方法について説明する。なお、図4〜図7は、簡略化のため被測定物31の断面図として二次元的に示している。
【0029】
まず、図4に示すように、キーボード22及びマウス23を操作し、動作司令部211により、被測定物31の表面31aに接触子17aを接触させて、プローブ17をXY方向に面操作して、擬似測定点取得部212により擬似測定点A1〜Anを取得する(ステップS11)。なお、このステップS11の工程において、測定はポイント測定、スキャニング測定いずれであっても良い。
【0030】
つづいて、図5に示すように、法線ベクトル生成部213により擬似測定点A1〜Anから推定された自由曲面、又は近傍測定点から特定される面における法線ベクトルB1〜Bnを算出する(ステップS12)。
【0031】
そして、図6に示すように、接触子モデル配置部214により、接触子モデルCの所定の位置である基準点Dをそれぞれの擬似測定点A1〜Anに一致させると共に、測定時の接触子17aの姿勢と接触子モデルCの姿勢とを一致させて配置する(ステップS13)。なお、接触子モデル配置部214は、この処理を全ての擬似測定点A1〜Anに対して行う。
【0032】
つづいて、図7に示すように、測定点算出部215により、接触子モデルC1〜Cnの表面Ca1〜Canと法線ベクトルB1〜Bnとの交点を測定点E1〜Enとして算出し、形状決定部216によりこれら測定点E1〜Enに基づき被測定物31の形状を決定する(ステップS14)。以上で本フローは、終了する。
【0033】
(第2実施形態)
次に、図8を参照して、本発明の第2実施形態に係る形状測定装置を説明する。
【0034】
第2実施形態に係る形状測定装置は、第1実施形態と比較して、コンピュータ本体の制御部の構成のみが異なる構成であり、予め被測定物の表面形状を表面形状設定値として記憶部21aに入力しておき、その表面形状設定値に基づき被測定物の表面形状を算出するものである。
【0035】
すなわち、第2実施形態のコンピュータ2’の制御部21b’は、法線ベクトル生成部213の替わりに直交点算出部217と、設定値比較部218とを有し、これら以外の構成は、第1実施形態と同様の構成とされている。
【0036】
第2実施形態においては、予め記憶部21aに格納されている表面形状設定値に基づき、測定を行う。
【0037】
直交点算出部217は、測定により得られた擬似測定点から被測定物31の設計値で規定される表面(以下、表面形状設定値)への直交点を算出する。
【0038】
設定値比較部218は、測定点算出部215で後述のようにして得られた各測定点と、各直交点との間の距離を求める。また、設定値比較部218は、それぞれの距離の2乗和を評価量とし、その評価量が収束するまで、表面形状設定値或いは測定点を回転移動及び平行移動させる。
【0039】
次に、図9のフローチャートに沿って、適宜、図10〜図13を参照して、第2実施形態に係る形状測定装置の測定点算出方法について説明する。なお、図10〜図13は、簡略化のため被測定物31の断面図として二次元的に示している。
【0040】
まず、図10に示すように、表面形状設定値Fに基づき、動作司令部211により、被測定物31の表面31aに接触子17aを接触させて、プローブ17をXY方向に面操作して、被測定物31の表面31aを測定し、擬似測定点取得部212により接触子17aの擬似測定点A1〜Anを取得する(ステップS21)。なお、このステップS21の工程において、測定はポイント測定、スキャニング測定いずれであっても良い。
【0041】
つづいて、図11に示すように、直交点算出部217により、各擬似測定点A1〜Anから延びる表面形状設定値Fに直交する直交ベクトルG1〜Gnを算出すると共にその直交点H1〜Hnを算出する(ステップS22)。
【0042】
そして、上述した第1実施形態における図6に示したように、接触子モデル配置部214により、接触子モデルCの所定の位置である基準点Dをそれぞれの擬似測定点A1〜Anに一致させると共に、測定時の接触子17aの姿勢と接触子モデルCの姿勢とを一致させて配置する(ステップS23)。
【0043】
つづいて、図12に示すように、測定点算出部215により、それぞれの直交ベクトルG1〜Gnが、それぞれの接触子モデルC1〜Cnの表面Ca1〜Canと交わる交点を測定点I1〜Inとして算出し、表面形状決定部216により測定点に基づき被測定物31の形状を決定する(ステップS24)。
【0044】
そして、図13に示すように、設定値比較部218により、上記ステップS24において得られた各々の測定点I1〜Inと直交点H1〜Hnとの間の距離J1〜Jnの2乗和を算出する(ステップS25)。
【0045】
つづいて、設定値比較部218により、その評価量が収束したか否かが判断される(ステップS26)。
【0046】
ステップS26において、評価量が十分に収束したと判断された場合(ステップS26,Yes)、被測定物31の表面形状は決定し、本フローは終了する。
【0047】
一方、ステップS26において、評価量が十分に収束していないと判断された場合(ステップS26,No)、表面形状設定値Fを平行移動及び回転させ(ステップS27)、再び、ステップS22からの工程が繰り返し実行される。
【0048】
(第3実施形態)
次に、図14を参照して、本発明の第3実施形態に係る形状測定装置を説明する。第3実施形態に係る形状測定装置は、第2実施形態と比較して、コンピュータ本体の制御部の構成のみが異なる構成であり、接触子のモデル化を実行可能な構成である。ここで、接触子のモデル化とは、形状が既知の高精度な基準ワーク(例えば、半径既知の高精度な基準球など)を測定し、上述した第1及び第2実施形態で与えられたアルゴリズムを用いて得られる測定点と基準ワークとの比較を繰り返しながら、接触子モデルを高精度に求めるものである。つまり、第3実施形態に係る形状測定装置は、コンピュータ2’’の制御部21b’’に、さらに、上記接触子のモデル化を実行する接触子形状算出部219が加えられた構成である。なお、接触子モデルを表現する手法としては、自由曲面、二次曲面、三角形メッシュ等を利用することができる。
【0049】
次に、図15のフローチャートに沿って、適宜、図16及び図17を参照して第3実施形態に係る形状測定装置において、接触子モデルの算出方法について説明する。
【0050】
まず、図16に示すように形状が既知の高精度な基準ワーク33(例えば、基準球32等)を接触子17aの表面がまんべんなく接触するように様々な方向から測定を行う(ステップS31)。次に、接触子モデルの初期値を与える(ステップS32)。なお、この初期値としては記憶部21a等に記憶しておいた接触子17aの設計値を使用することが可能である。つづいて、ステップS31で得られた測定値からステップS32において与えられた接触子モデルの初期値を用いて、上述した第1或いは第2実施形態と同様の方法により、測定点を推定する(ステップS33)。そして、図17に示すように、測定点の推定値K1〜Knと基準ワークの設計値Lとを比較し、測定点の推定値K1〜Knを与えている接触子モデルMの面上の点(接触子モデル更新前の接触点)に対する本来の接触子モデルMの面上の点N1〜Nn(接触子モデル更新後の接触点)を求め(ステップS34)、接触子モデル更新前後の接触点は十分一致するか否か判断する(ステップS35)。ここで、接触子17aの接触子モデル更新前後の接触点が十分一致しない場合(ステップS35,NO)、接触子モデルを更新し、ステップS33から繰り返す(ステップS36)。一方、接触子モデルが十分一致する場合(ステップS35,YES)、接触子モデルを更新することなく、本フローを終了する。これにより、接触子モデルが高精度に求められる。
【0051】
以上、発明の実施形態を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において種々の変更、追加、置換等が可能である。例えば、上記実施形態では三次元測定を例に挙げたが、本発明は、三次元測定機に限らず、二次元測定機(例えば、コントレーサ等)に適応することもできる。このような二次元測定機に本発明を適応した場合、法線ベクトルは、自由曲線、多項式曲線、折れ線などに対して算出すればよい。また、上記実施形態では、接触子は、楕円球形状であるが、接触子の形状は、この形状に限られるものではない。
【図面の簡単な説明】
【0052】
【図1】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の概略構成図である。
【図2】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の機能ブロック図である。
【図3】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の測定点算出方法を説明するフローチャートである。
【図4】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図5】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図6】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図7】本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図8】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の機能ブロック図である。
【図9】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の測定点算出方法を説明するフローチャートである。
【図10】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図11】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図12】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図13】本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の接触子の動作を説明する図である。
【図14】本発明の第3実施形態に係る形状測定装置の機能ブロック図である。
【図15】本発明の第3実施形態に係る形状測定装置において、接触子モデルの算出方法を説明するフローチャートである。
【図16】本発明の第3実施形態に係る形状測定装置において、基準ワークを接触子の表面がまんべんなく接触するように測定する動作を説明する図である。
【図17】本発明の第3実施形態に係る形状測定装置において、接触子モデルによる測定点と基準ワークの設計値とが十分に一致しない例を説明する図である。
【符号の説明】
【0053】
1…三次元測定機、2…コンピュータ、10…除震台、11…定盤、12a,12b…ビーム支持体、13…ビーム、14…Y軸駆動機構、15…コラム、16…スピンドル、17…プローブ、17a…接触子、21…コンピュータ本体、22…キーボード、23…マウス、24…CRT、25…プリンタ、31…被測定物、32…基準球、111…駆動部、112…検出部、211…動作司令部、212…擬似測定点取得部、213…法線ベクトル生成部、214…接触子モデル配置部、215…測定点算出部、216…表面形状決定部、217…設定値比較部、218…直交点算出部、219…接触子形状算出部、A1〜An…擬似測定点、B1〜Bn…法線ベクトル、C…接触子モデル、D…基準点、E…測定点、F…表面形状設定値、G1〜Gn…直交ベクトル、H1〜Hn…直交点、I1〜In…測定点、J1〜Jn…測定点と直交点との間の距離。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定装置において、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部と、
前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する前記各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成部と、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と、
前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出部と
を備えることを特徴とする形状測定装置。
【請求項2】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定装置において、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部と、
前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出部と、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と、
前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出部と
を備えることを特徴とする形状測定装置。
【請求項3】
前記測定点と前記直交点との距離の2乗和を評価量とし、この評価量が収束するまで前記2乗和を最小にするように前記設計面或いは前記測定点を平行移動及び回転移動させる設定値比較部
を備えることを特徴とする請求項2記載の形状測定装置。
【請求項4】
校正の基準となる形状が既知である基準形状物を測定することにより、前記接触子モデルを算出する接触子形状算出部
を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の形状測定装置。
【請求項5】
前記基準形状物は、球形状の基準球であることを特徴とする請求項4記載の形状測定装置。
【請求項6】
前記接触子形状算出部は、
前記被測定物の測定値により前記接触子モデルの補正を行う
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項記載の形状測定装置。
【請求項7】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定方法において、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、
前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各前記擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成ステップと、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、
前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出ステップと
を有することを特徴とする形状測定方法。
【請求項8】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定方法において、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、
前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出ステップと、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、
前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出ステップと
を有することを特徴とする形状測定方法。
【請求項9】
前記測定点と前記直交点との距離の2乗和を評価量とし、この評価量が収束するまで前記2乗和を最小にするように前記設計面或いは前記測定点を平行移動及び回転移動させる設定値比較ステップ
を有することを特徴とする請求項8記載の形状測定方法。
【請求項10】
校正の基準となる基準球を測定することにより、前記接触子モデルを算出する接触子モデル算出ステップ
を有することを特徴とする請求項7乃至9のいずれか1項記載の形状測定方法。
【請求項11】
前記被測定物の測定値により前記接触子モデルの補正を行う接触子モデル補正ステップ
を有することを特徴とする請求項7乃至10のいずれか1項記載の形状測定方法。
【請求項12】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定プログラムにおいて、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、
前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成ステップと、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、
前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出ステップと
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする形状測定プログラム。
【請求項13】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定プログラムにおいて、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、
前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出ステップと、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、
前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出ステップと
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする形状測定プログラム。
【請求項14】
前記測定点と前記直交点との距離の2乗和を評価量とし、この評価量が収束するまで前記2乗和を最小にするように前記設計面或いは前記測定点を平行移動及び回転移動させる設定値比較ステップ
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする請求項13に記載の形状測定プログラム。
【請求項15】
校正の基準となる基準球を測定することにより、前記接触子モデルを算出する接触子モデル算出ステップ
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする請求項12乃至14のいずれか1項記載の形状測定プログラム。
【請求項16】
前記被測定物の測定値により前記接触子モデルの補正を行う接触子モデル補正ステップ
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする請求項12乃至15のいずれか1項記載の形状測定プログラム。
【請求項1】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定装置において、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部と、
前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する前記各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成部と、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と、
前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出部と
を備えることを特徴とする形状測定装置。
【請求項2】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定装置において、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得部と、
前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出部と、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置部と、
前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出部と
を備えることを特徴とする形状測定装置。
【請求項3】
前記測定点と前記直交点との距離の2乗和を評価量とし、この評価量が収束するまで前記2乗和を最小にするように前記設計面或いは前記測定点を平行移動及び回転移動させる設定値比較部
を備えることを特徴とする請求項2記載の形状測定装置。
【請求項4】
校正の基準となる形状が既知である基準形状物を測定することにより、前記接触子モデルを算出する接触子形状算出部
を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の形状測定装置。
【請求項5】
前記基準形状物は、球形状の基準球であることを特徴とする請求項4記載の形状測定装置。
【請求項6】
前記接触子形状算出部は、
前記被測定物の測定値により前記接触子モデルの補正を行う
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項記載の形状測定装置。
【請求項7】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定方法において、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、
前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各前記擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成ステップと、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、
前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出ステップと
を有することを特徴とする形状測定方法。
【請求項8】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定方法において、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、
前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出ステップと、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、
前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出ステップと
を有することを特徴とする形状測定方法。
【請求項9】
前記測定点と前記直交点との距離の2乗和を評価量とし、この評価量が収束するまで前記2乗和を最小にするように前記設計面或いは前記測定点を平行移動及び回転移動させる設定値比較ステップ
を有することを特徴とする請求項8記載の形状測定方法。
【請求項10】
校正の基準となる基準球を測定することにより、前記接触子モデルを算出する接触子モデル算出ステップ
を有することを特徴とする請求項7乃至9のいずれか1項記載の形状測定方法。
【請求項11】
前記被測定物の測定値により前記接触子モデルの補正を行う接触子モデル補正ステップ
を有することを特徴とする請求項7乃至10のいずれか1項記載の形状測定方法。
【請求項12】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定プログラムにおいて、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、
前記擬似測定点から前記擬似測定点に沿った面又は線を推定し、該面又は線に対する各擬似測定点からの法線ベクトルを算出する法線ベクトル生成ステップと、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、
前記各法線ベクトルが前記各配置された接触子モデルの表面と交わる点を測定点として算出する測定点算出ステップと
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする形状測定プログラム。
【請求項13】
被測定物表面に接触子を追従させて、前記被測定物表面の形状を測定する形状測定プログラムにおいて、
前記接触子の前記被測定物への複数箇所での接触時における前記接触子の基準点の位置座標を擬似測定点として取得する擬似測定点取得ステップと、
前記擬似測定点から前記被測定物の設計値で規定される表面への直交点を算出する直交点算出ステップと、
前記接触子の表面形状を特定する接触子モデルの基準点を前記擬似測定点に一致させると共に測定時の前記接触子と前記接触子モデルとの姿勢を一致させて前記接触子モデルを配置する接触子モデル配置ステップと、
前記擬似測定点と前記直交点とを結ぶ直線と前記接触子モデルの表面との交点を測定点として算出する測定点算出ステップと
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする形状測定プログラム。
【請求項14】
前記測定点と前記直交点との距離の2乗和を評価量とし、この評価量が収束するまで前記2乗和を最小にするように前記設計面或いは前記測定点を平行移動及び回転移動させる設定値比較ステップ
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする請求項13に記載の形状測定プログラム。
【請求項15】
校正の基準となる基準球を測定することにより、前記接触子モデルを算出する接触子モデル算出ステップ
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする請求項12乃至14のいずれか1項記載の形状測定プログラム。
【請求項16】
前記被測定物の測定値により前記接触子モデルの補正を行う接触子モデル補正ステップ
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする請求項12乃至15のいずれか1項記載の形状測定プログラム。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【公開番号】特開2007−212359(P2007−212359A)
【公開日】平成19年8月23日(2007.8.23)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−34231(P2006−34231)
【出願日】平成18年2月10日(2006.2.10)
【出願人】(000137694)株式会社ミツトヨ (979)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成19年8月23日(2007.8.23)
【国際特許分類】
【出願日】平成18年2月10日(2006.2.10)
【出願人】(000137694)株式会社ミツトヨ (979)
【Fターム(参考)】
[ Back to top ]