記録装置、記録方法
【課題】ＣＡＶ方式により情報記録が行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に設けられた記録層とを有する光記録媒体に関して、上記記録層に対するマークの記録密度の向上を図り、以て上記記録層の記録容量の拡大を図る。
【解決手段】上記基準面に記録された半径位置情報に応じて基準信号の周波数を変化させて生成した記録クロックに基づき、上記記録層に対するマーク記録を行う。このように半径位置に応じてその周波数を変化させた記録クロックに基づいてマーク記録を行うようにすることで、光記録媒体が一定速度で回転駆動されることに応じて単純に上記記録層にＣＡＶ記録を行うようにした場合と比較して、上記記録層に対するマークの記録密度の向上を図ることができる。
【解決手段】上記基準面に記録された半径位置情報に応じて基準信号の周波数を変化させて生成した記録クロックに基づき、上記記録層に対するマーク記録を行う。このように半径位置に応じてその周波数を変化させた記録クロックに基づいてマーク記録を行うようにすることで、光記録媒体が一定速度で回転駆動されることに応じて単純に上記記録層にＣＡＶ記録を行うようにした場合と比較して、上記記録層に対するマークの記録密度の向上を図ることができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体について少なくとも記録を行う記録装置とその方法とに関するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−１３５１４４号公報
【特許文献２】特開２００８−１７６９０２号公報
【特許文献３】特開２００１−１１８２４５号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。
【０００４】
これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及している光記録媒体の次世代を担うべき光記録媒体に関して、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型（単にバルク型とも呼ばれる）の光記録媒体を提案している。
【０００５】
ここで、バルク記録とは、例えば図２１に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。
【０００６】
このようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０００７】
マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式と、ネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
ポジ型マイクロホログラム方式は、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
また、ネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。このネガ型マイクロホログラム方式では、初期化処理として、予めバルク層に干渉縞を形成しておく処理が必要となる。
【０００８】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空包、空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空包を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空包部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空包部分は記録マークとして機能し、これによって空包マークの形成による情報記録が実現される。
【０００９】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、上述のポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
【００１０】
ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク記録型（単にバルク型とも称する）の光記録媒体であるが、このようなバルク型の光記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層１０２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図２１に示したバルク型記録媒体１００の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。
【００１１】
このため実際において、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２２に示すような案内溝を有する基準となる反射面（基準面）を設けるようにされている。
具体的には、カバー層１０１の下面側に例えばピットやグルーブの形成による案内溝（位置案内子）がスパイラル状又は同心円状に形成され、そこに選択反射膜１０３が成膜される。そして、このように選択反射膜１０３が成膜されたカバー層１０２の下層側に対し、図中の中間層１０４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層１０２が積層される。
ここで、上記のようなピットやグルーブ等による案内溝の形成により、例えば半径位置情報や回転角度情報などの絶対位置情報（アドレス情報）の記録が行われている。以下の説明では、このような案内溝が形成され絶対位置情報の記録が行われた面（この場合は上記選択反射膜１０３の形成面）のことを、「基準面Ｒｅｆ」と称する。
【００１２】
また、上記のような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２３に示されるようにマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（以下、録再用レーザ光、或いは単に録再光とも称する）とは別途に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光（単にサーボ光とも称する）を照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１００に照射される。
【００１３】
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層１０２に到達してしまうと、当該バルク層１０２内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記サーボ用レーザ光として、録再用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、基準面Ｒｅｆに形成される反射膜としては、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜１０３を設けるものとしている。
【００１４】
以上の前提を踏まえた上で、図２３を参照し、バルク型記録媒体１００に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層１０２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層１０２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層１０２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜１０３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【００１５】
マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層１０２内の各層位置を対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝に追従するようにして行うことになる。
【００１６】
但し、上記録再用レーザ光は、マーク記録のために基準面Ｒｅｆよりも下層側に形成されたバルク層１０２に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための録再光用フォーカス機構が設けられることになる。
具体的に、このようなフォーカス機構としては、対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーションを変化させるエキスパンダを設けるようにする。すなわち、このように対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーションを変化させることで、録再用レーザ光の合焦位置を、サーボ用レーザ光とは独立して調整できるようにするものである。
【００１７】
このような録再用レーザ光についてのフォーカス機構を設けることで、前述のように対物レンズのフォーカス及びトラッキングサーボ制御が基準面Ｒｅｆからのサーボ用レーザ光の反射光に基づき行われることによって、録再用レーザ光の焦点位置を、バルク層１０２内の所要の情報記録層位置Ｌに合わせると共に、基準面Ｒｅｆに形成された案内溝の直下となる位置に制御することができる。
【００１８】
また、マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１００について再生を行う際は、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌ（再生時については情報記録層Ｌとも称する）に形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカス及びトラッキングサーボ制御を行えばよい。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
上記により説明したように、バルク型記録媒体１００に対する記録時には、サーボ用レーザ光で基準Ｒｅｆに対するフォーカスサーボ・トラッキングサーボをかけつつ、録再光用レーザ光をバルク層５内の所要の情報記録層位置Ｌに合焦させることで、マーク列をバルク層１０２内の所望の位置に記録できるようにしている。
【００２０】
ここで、前述のように基準面Ｒｅｆに対しては、例えばピット列（マーク列でもよい）やグルーブによる位置案内子の形成に伴い、絶対値位置情報等の情報記録が行われているが、このような基準面Ｒｅｆに対する情報記録は、ＣＬＶ（Constant Linear Velocity：線速度一定）方式ではなく、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity：角速度一定）方式で行われることが考えられる。
【００２１】
このように基準面Ｒｅｆに対する情報記録がＣＡＶ方式で行われる場合は、順当に考えれば、バルク型記録媒体１００をＣＡＶ回転（速度一定回転）させることになる。そして、このようにバルク型記録媒体１００をＣＡＶ回転させた場合には、当然のことながらバルク層１０２に対するマーク記録としても、ＣＡＶ方式にて行われることになる。
【００２２】
しかしながら、周知のようにＣＡＶ方式による記録は、ＣＬＶ方式による記録と比較して記録密度の低下を招くことになる。そのため、バルク層１０２の記録容量の低下が避けられないものとなってしまう。
【００２３】
本発明はこのような問題点に鑑み為されたもので、ＣＡＶ方式により情報記録が行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に設けられた記録層とを有する光記録媒体に関して、上記記録層に対するマークの記録密度の向上を図り、以て上記記録層の記録容量の拡大を図ることをその目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
上記のような問題点に鑑み、本発明では記録装置として以下のように構成することとした。
すなわち、半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体を、一定速度で回転駆動する回転駆動部を備える。
また、上記光記録媒体に対し、上記記録層に対して照射されるべき第１の光と上記基準面に対して照射されるべき第２の光とを共通の対物レンズを介して照射する光照射部を備える。
また、上記第２の光が上記基準面に対して合焦した状態で上記第１の光が上記記録層内の所要位置に合焦するように調整を行う合焦位置調整部を備える。
また、上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する受光部を備える。
また、上記受光部により得られた受光信号に基づき、再生クロックを生成する再生クロック生成部を備える。
また、上記受光部により得られた受光信号と上記再生クロックとに基づき上記基準面に記録された上記半径位置情報を検出する半径位置検出部を備える。
また、入力される基準信号の周波数を上記半径位置検出部により検出された半径位置情報に応じて変化させる周波数調整部を備える。
さらに、上記周波数調整部により得られた信号を記録クロックとして用いて上記第１の光の光源を発光駆動することで上記記録層に対するマーク記録を行う記録部を備えるようにした。
【００２５】
上記のように本発明では、半径位置情報を含む情報がＣＡＶ記録された基準面と記録層とを有する光記録媒体について、これを一定速度で回転駆動して上記記録層に対するマーク記録を行うことを前提としている。そしてこの前提下で本発明では、上記基準面に記録された半径位置情報に応じて基準信号の周波数を変化させて生成した記録クロックに基づき、上記記録層に対するマーク記録を行うものとしている。
このように半径位置に応じてその周波数を変化させた記録クロックに基づいてマーク記録を行うようにすることで、光記録媒体が一定速度で回転駆動されることに応じて単純に上記記録層にＣＡＶ記録を行うようにした場合と比較して、上記記録層に対するマークの記録密度の向上を図ることができる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、半径位置情報を含む情報がＣＡＶ記録された基準面と記録層とを有する光記録媒体を一定速度で回転駆動するという前提の下で、上記記録層に対するマーク記録を、半径位置に応じてその周波数を変化させた記録クロックに基づいて行うことで、上記記録層におけるマークの記録密度の向上を図ることができる。
この結果、上記記録層の記録容量を拡大できる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】先行例、及び実施の形態で記録／再生対象とするバルク型記録媒体の断面構造図である。
【図２】先行例、及び実施の形態の記録装置が備える光学系の構成を主に示した図である。
【図３】ｓｋｅｗに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。
【図４】レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。
【図５】先行例、及び実施の形態で用いるバルク型記録媒体の基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。
【図６】基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。
【図７】アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。
【図８】バルク型記録媒体の回転駆動に伴い基準面上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。
【図９】ピークポジション検出の具体的手法について説明するための図である。
【図１０】ピークタイミングを表すタイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。
【図１１】スポット位置ずれ補正の具体的な手法について説明するための図である。
【図１２】先行例としての記録装置全体の内部構成を示したブロック図である。
【図１３】クロック生成回路の内部構成を示した図である。
【図１４】selector信号生成・選択部の内部構成を示した図である。
【図１５】先行例の問題点について説明するための図である。
【図１６】実施の形態としての記録装置全体の内部構成を示したブロック図である。
【図１７】実施の形態としての記録手法による効果について説明するための図である。
【図１８】変形例としての記録装置の構成について説明するための図である。
【図１９】他の変形例としての記録装置の構成について説明するための図である。
【図２０】変形例としての光記録媒体の断面構造を示した図である。
【図２１】バルク記録方式について説明するための図である。
【図２２】基準面を備える実際のバルク型記録媒体の断面構造を例示した図である。
【図２３】バルク型記録媒体に対するマークの記録／再生手法について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
本明細書においては、実施の形態の説明に先立ち、先ずは本出願人が先に提案した先行例についての説明を行う。
説明は以下の順序で行う。
＜１．先行例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］
［1-2．光学系の構成］
［1-3．スポット位置ずれの問題］
［1-4．基準面の構造］
［1-5．アドレス情報について］
［1-6．トラッキングサーボの具体的な手法］
［1-7．具体的なスポット位置ずれ補正手法］
［1-8．記録装置の全体的な内部構成］
＜２．実施の形態＞
［2-1．先行例の問題］
［2-2．実施の形態の記録装置の構成］
＜３．変形例＞
【００２９】
＜１．先行例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］
図１は、先行例（及び実施の形態）において記録／再生対象とする光記録媒体の断面構造図を示している。
ここで、この先行例を含め、後述する実施の形態において記録／再生対象とする光記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
バルク型の光記録媒体とは、いわゆるバルク記録が行われる光記録媒体を指す。バルク記録とは、通常の多層光ディスクのような複数の記録膜が形成された多層構造は有さず、図のようなバルク層５としての記録層に対して逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行って多層記録を行う技術を指す。
【００３０】
図１において、バルク型記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対するレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。また、記録情報の再生としても、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対してレーザ光を照射して行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により情報の記録／再生が行われる記録媒体を総称したものである。
【００３１】
図示するようにバルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する記録装置（記録再生装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
【００３２】
また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向と一致する方向（すなわち記録装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。
【００３３】
バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録／再生位置を案内するための位置案内子として後述するピット列が形成されていることで、凹凸の断面形状が与えられている。カバー層２は、後述するピット列が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
なお、バルク型記録媒体１における上記ピット列の具体的な形成態様については後述する。
【００３４】
また、上記ピット列が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、先の図２３を参照して説明したようにバルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録／再生を行うための光（録再用レーザ光）を照射する一方で、上記のようなピット列などの位置案内子に基づきトラッキングやフォーカスのエラー信号を得るための光（サーボ用レーザ光）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ用レーザ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。
【００３５】
上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が積層（接着）されている。
バルク層５の形成材料（記録材料)としては、例えば先に挙げたポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式などのマイクロホログラム方式、或いはボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
なお、本発明において、バルク層に対するマーク記録の方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。以下の説明では一例として、上記のボイド記録方式が採用される場合を例示する。
【００３６】
ここで、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層５に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層５内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる（図２３を参照）。この場合もバルク層５内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、先の図２３の場合と同様に例えば第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定されているとする。
この場合、基準面Ｒｅｆからの各情報記録層位置Ｌへのオフセットｏｆ-Lの情報は、後述する記録再生装置１０（及び記録再生装置５０）におけるコントローラ４１に設定される。
【００３７】
［1-2．光学系の構成］
図２は、上記により説明したバルク型記録媒体１に対する記録／再生を行う記録装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、記録再生装置１０が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。
【００３８】
図４において、記録再生装置１０に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録再生装置１０における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、ここでは図示を省略したスピンドルモータ４３（図１２）による回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータ４３により回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光、サーボ用レーザ光を照射するために設けられる。
【００３９】
光学ピックアップＯＰ内には、マークによる情報記録、及びマークにより記録された情報の再生を行うための録再用レーザ光の光源である録再用レーザ１１と、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子を利用した位置制御を行うための光であるサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。
ここで、前述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長が異なる。本例の場合、録再用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６４０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされる。
【００４０】
また、光学ピックアップＯＰ内には、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１への出力端となる対物レンズ２０が設けられる。
さらには、上記録再用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための録再光用受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するためのサーボ光用受光部２９とが設けられる。
【００４１】
その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光を上記対物レンズ２０に導くと共に、上記対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からの録再用レーザ光の反射光を上記録再光用受光部２３に導くための光学系が形成される。
【００４２】
具体的に、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように録再用レーザ１１側から入射した録再用レーザ光については透過するように構成されている。
【００４３】
上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した録再用レーザ光は、固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、前述した録再光用フォーカス機構に相当するものであり、光源である録再用レーザ１１に近い側が固定レンズ１４とされ、録再用レーザ１１に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が録再用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、録再用レーザ光について独立したフォーカス制御を行う。
後述もするように、当該録再光用フォーカス機構におけるレンズ駆動部１６は、図１３に示すコントローラ４０によって、対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。
【００４４】
上記録再光用フォーカス機構を形成する固定レンズ１４及び可動レンズ１５を介した録再用レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した録再用レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
【００４５】
上記ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００４６】
ここで、再生時においては、上記のようにしてバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光が照射されることに応じて、バルク型記録媒体１（バルク層５内の再生対象の情報記録層Ｌに記録されたマーク列）より上記録再用レーザ光の反射光が得られる。このように得られた録再用レーザ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→録再光用フォーカス機構（可動レンズ１５→固定レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００４７】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する録再用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、録再用レーザ光１１側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した録再用レーザ光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射した録再用レーザ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００４８】
このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射された録再用レーザ光の反射光は、集光レンズ２２を介して録再光用受光部２３の受光面上に集光する。
【００４９】
また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した録再用レーザ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光をサーボ光用受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するように上記サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００５０】
上記偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００５１】
また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先の録再用レーザ光の場合と同様にして、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。
【００５２】
偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介してサーボ光用受光部２９の受光面上に集光する。
【００５３】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００５４】
また、この場合の光学ピックアップＯＰ内においては、位置センサ３０、及びｓｋｅｗセンサ３１が設けられるが、これらについては後に改めて説明する。
【００５５】
［1-3．スポット位置ずれの問題］
ここで、上記により説明したようなバルク記録方式を採用する場合には、いわゆるｓｋｅｗ（チルト）の発生やディスク偏芯に伴う対物レンズ２０のレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とに記録面内方向におけるスポット位置ずれが生じることが知られている。
【００５６】
図３は、ｓｋｅｗの発生に伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図３（ａ）に示すｓｋｅｗ無しの状態では、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置は記録面内方向において一致している。これに対し、図３（ｂ）に示すようなｓｋｅｗの発生に応じては、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光とに光軸のずれが生じ、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じてしまう。
【００５７】
また図４は、レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図４（ａ）に示すレンズシフト無しの状態では、対物レンズ２０が基準位置にあり、対物レンズ２０の中心と該対物レンズ２０に入射する各レーザ光の光軸ｃとが一致している。光学系は、このように対物レンズが基準位置にある状態において、各レーザ光の記録面内方向におけるスポット位置が一致するように設計されている。
【００５８】
これに対し、トラッキングサーボ制御により図４（ｂ）に示すようにディスク偏芯に追従するようにして対物レンズ２０が基準位置からシフトしてしまった場合（この場合は紙面左方向へのシフトとしている）には、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じる。
このようなレンズシフト起因のスポット位置ずれは、対物レンズ２０に対するサーボ用レーザ光と録再用レーザ光の入射態様の差によって生じるものとなる。具体的には、サーボ用レーザ光は対物レンズ２０に対して略平行光により入射するのに対し、録再用レーザ光は非平行光により入射することに起因するものである。
【００５９】
このようなｓｋｅｗやレンズシフトに起因したサーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置ずれが生じることによっては、バルク層５内における情報記録位置のずれが生じてしまう。つまり、先の説明からも理解されるように、記録時における録再用レーザ光のスポット位置は、サーボ用レーザ光の反射光に基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が行われることで制御されるので、上記のようなスポット位置ずれの発生に応じては、バルク層５内の意図した位置に記録を行うことができなくなってしまうものである。
【００６０】
このとき、ｓｋｅｗ・偏芯の発生量やトラックピッチ（位置案内子の形成間隔）の設定によっては、隣接するトラック間で情報記録位置が重なってしまう虞がある。具体的にディスクの偏芯やｓｋｅｗは、スピンドルモータ４３へのディスクのクランプのされかたなどにより、ディスクが装填されるごとに異なる態様で発生することがあるので、例えば或るディスクについてディスク付け替えを伴う追記が行われたとき、前回の記録時に生じていたｓｋｅｗ・偏芯の態様と追記時に生じるｓｋｅｗ・偏芯の態様とが異なることに起因して、既記録部分のマーク列と追記部分のマーク列とに重なりが生じたり、場合によっては交差してしまうという問題が生じるものである。
このようであると、正しく記録信号を再生することはできなくなる。
【００６１】
このようなマーク列の重なりや交差の発生を防止するための一つの手法として、基準面Ｒｅｆにおけるトラックピッチを広めに設定しておくということを挙げることができる。
しかしながら、このように基準面Ｒｅｆのトラックピッチを広げた場合には、当然のことながらバルク層５における記録容量の縮小化を招くものとなってしまう。
【００６２】
そこで、情報記録位置のずれ自体を防止するために、ｓｋｅｗやレンズシフトを検出した結果から、録再用レーザ光のスポット位置ずれを補正するということが行われる。
図３や図４を参照して理解されるように、ｓｋｅｗの発生量とスポット位置ずれ量、及びレンズシフト量とスポット位置ずれ量とは、それぞれ相関するものとなる。この点より、ｓｋｅｗ量の検出結果からｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれ補正量を求め、またレンズシフト量の検出結果からレンズシフト起因分のスポット位置ずれ補正量を求めた上で、それらの和を計算することで、ｓｋｅｗとレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量を算出できる。そして、このように算出した補正量に基づき、情報記録位置のずれを補正できる。
【００６３】
このような情報記録位置のずれ補正を行うために、記録再生装置１０には、先の図２に示した位置センサ３０及びｓｋｅｗセンサ３１を設けるものとしている。
図２において、位置センサ３０は、対物レンズ２０の近傍に設けられ、当該対物レンズ２０のトラッキング方向における位置（基準位置からの変位量）を検出する。すなわち、対物レンズ２０のレンズシフト量を検出するものである。
位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olは、後述するコントローラ４１に供給される。
なお、レンズシフト量を検出する手段としては上記位置センサ３０以外にも多様に考えられる。
【００６４】
また、ｓｋｅｗセンサ３１は、バルク型記録媒体１の傾き（ｓｋｅｗ）を検出する。例えばこの場合のｓｋｅｗセンサ３１は、バルク型記録媒体１に対して所定角度で光を照射する光照射部と、該光照射部により照射した光についてのバルク型記録媒体１からの反射光を受光する受光部とを備え、該受光部による上記反射光の受光位置のずれ量を検出することでバルク型記録媒体１の傾き量を検出する。
ｓｋｅｗセンサ３１による検出信号（ｓｋｅｗ検出信号ｓｋとする）としても、コントローラ４０に供給される。
なお、ｓｋｅｗを検出するための具体的な構成についても、上記により例示した構成に限定されるべきものではない。
【００６５】
ここで、上記の位置センサ３０やｓｋｅｗセンサ３１による検出結果に基づき得られた情報記録位置のずれ量に基づき情報記録位置を補正するための具体的手法の１つとしては、検出したずれ量に基づき、例えば録再用レーザ光の光軸を変化させるという手法を挙げることができる。具体的には、録再用レーザ光の光軸を例えばガルバノミラーなどを用いて変化させることで、情報記録位置のずれを補正することができる。
【００６６】
しかしながらこのように録再用レーザ光の光軸を変化させる手法で情報記録位置のずれ補正を行うためには、上記のガルバノミラーなどの別途の構成を追加する必要があり、これに伴って部品点数の増加や製造コストの増加を招くものとなってしまう。
【００６７】
そこで、先行例（及び後述する実施の形態も）においては、情報記録位置のずれ補正を、トラッキングサーボの対象位置を本来対象とすべき位置（つまり記録したいトラック）からずらすことで実現するものとしている。すなわち、先に説明したようなサーボ用レーザ光による位置案内子に従った対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が行われる下で、トラッキングサーボの対象位置を、記録したいトラックから補正量に応じた分だけずらすというものである。このことで、結果的に情報記録位置が上記記録したいトラック位置に合致するように制御することができる。
このようにトラッキングサーボの対象位置を本来の対象位置からずらす手法とすることで、例えば上記のような録再用レーザ光の光軸を調整するための別途の追加構成は不要とでき、その分、部品点数の削減や製造コストの削減を図ることができる。
【００６８】
［1-4．基準面の構造］
ここで、上記のようなサーボ用レーザ光によるトラッキングサーボの対象位置をオフセットさせることによる情報記録位置の補正を行うことに対応して、図１に示したバルク型記録媒体１には、その基準面Ｒｅｆに、以下で説明するような態様によるピット列を形成するものとしている。
【００６９】
図５は、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）の表面を一部拡大した平面図である。
この図５においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向としている。この場合、サーボ用レーザ光のスポットは、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、バルク型記録媒体１の半径方向である。
【００７０】
また図５において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。
【００７１】
ここで、図中の黒太線で表す間隔は、従来のバルク型記録媒体１において実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１では、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、半径方向において、従来限界の１トラック幅内に配列されていることになる。
【００７２】
但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。
【００７３】
そこで、本例においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、
１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。
というものである。
【００７４】
ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。
【００７５】
本例において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６４０、開口数ＮＡ＝０．６５の条件で行うものとしている。このことに対応して本実施の形態では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分（Ｔはチャネルビット）の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。つまりこのことによると、ｎ＝６Ｔとなる。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。
【００７６】
ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、次の図６を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図６では、図示の都合上、ピット列の種類（位相）がＡ〜Ｃの３種のみとされた場合を例示している。
また図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。
【００７７】
この図６を参照して分かるように、バルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆにおいては、それぞれ位相の異なる複数種のピット列（図６ではＡ〜Ｃの３種としているが実際にはＡ〜Ｆの６種となる）を１セットとし、該複数種のピット列の１セットがスパイラル状に形成されている。
このことで、上記複数種のピット列のうちの所要の１種のピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置はスパイラル状の軌跡を描くことになる。
【００７８】
また、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により形成されたものとなる。このことから、図示するよう複数種のピット列の個々は、半径方向において、そのピットの形成位置（ピットの形成可能位置）が同じ角度位置に揃えられるものとなる。
【００７９】
ここで、このように基準面ＲｅｆにてピットをＣＡＶ方式で記録するのは、ディスク上のどの領域においても図５に示したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするためである。
【００８０】
［1-5．アドレス情報について］
続いて、図７により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
図７において、先ず図７（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図７（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。
【００８１】
ここで、後述もするように、記録再生装置１０は、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において従来の光学限界を超えた間隔で配列されているという点である。すなわち、この場合においてビームスポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできなくなる。
このために本例の記録再生装置１０は、後述するように、選択したピット列におけるピット形成可能位置の区間のトラッキングエラー信号を抽出し、該抽出したトラッキングエラー信号に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるようにされる。
【００８２】
そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置の区間の和信号（後述のｓｕｍ信号）を抽出し、該抽出した和信号に基づきアドレス情報を検出するという手法が採られる。
【００８３】
このような情報検出の手法に対応するために、本例では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルビット（記録符号）の「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。
【００８４】
その上で、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図７（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。
【００８５】
このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うとしたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本例では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。
【００８６】
図７（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。
【００８７】
バルク型記録媒体１においては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここでアドレス情報としては、少なくとも絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度位置の情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。
【００８８】
なお、図７の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆに対しては、ピットがポジション記録されていることになる。ポジション記録とは、ピット（或いはマーク）の形成部分を「１」、それ以外の部分を「０」とする記録手法を指すものである。
【００８９】
［1-6．トラッキングサーボの具体的な手法］
上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列のうちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明するものとなる。
【００９０】
図８は、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図２に示したサーボ光用受光部２９としての複数の受光素子で得られた受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。
【００９１】
図示するようにして、バルク型記録媒体１の回転に伴いサーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。
【００９２】
ここで、この図の例ではサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大（絶対値）となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。
【００９３】
また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。
【００９４】
具体的に、上記クロックＣＬＫとしては、上記ｓｕｍ微分信号を用いることで、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成する。
クロックＣＬＫの生成手法としては、次の図９に示されるように、先ずは所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成する。そして、これらのＡＮＤをとることで、上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する。
クロックＣＬＫは、このように生成したタイミング信号を入力信号（参照信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行うことで生成する。
【００９５】
図１０は、上記の手順により生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図からも明らかなように、クロックＣＬＫとしては、ピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有する信号となる。具体的には、ピットＡ〜Ｆのピークポジションにその立ち上がりタイミングを有する信号となる。
【００９６】
このようなクロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。
具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずれたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。
【００９７】
これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。先行例及び実施の形態では、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表す期間内におけるトラッキングエラー信号に従ってトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列上にサーボ用レーザ光のビームスポットをトレースさせる。
【００９８】
このようにＡ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が可能となることで、録再用レーザ光による情報記録位置のずれの補正にあたって行われるべきサーボ用レーザ光のスポット位置のオフセットは、少なくともこれらＡ〜Ｆの各ピット列の間隔で行うことができる。つまりこれにより、録再用レーザ光による情報記録位置を従来の１トラック幅よりも狭い間隔で微調整することができる。具体的にこの場合は、従来の１トラック幅を６分割した精度により情報記録位置を補正することができる。
【００９９】
［1-7．具体的なスポット位置ずれ補正手法］
実際にスポット位置ずれ補正を行うにあたっては、上記のようなピット列の選択による１／６トラック幅の精度による情報記録位置の補正を可能とした上で、さらに細かな精度による補正も可能となるようにする。具体的には、選択したピット列についてのトラッキングエラー信号に対してオフセットを与えるなど、トラッキングサーボループ内にオフセットを付与することで、１／６トラック幅を超えるさらなる微調整を可能とするものである。
【０１００】
このようなトラッキングサーボループに対するオフセット付与による補正も含めた、スポット位置ずれ補正の具体的な手法について、次の図１１を参照して説明する。
図１１において、図１１（ａ），図１１（ｂ）ではそれぞれ基準面Ｒｅｆ上の半径方向に配列されたピット列とサーボ用レーザ光、録再用レーザ光のそれぞれのスポットを示しており、図１１（ａ）は無補正の状態、図１１（ｂ）は補正後の状態を示している。
【０１０１】
先ず図１１（ａ）において、無補正の状態では、サーボ用レーザ光の反射光に基づくトラッキングサーボ制御が行われることに伴い、サーボ用レーザ光のスポット位置は記録したいトラック（ピット列）上にあることになる。
そして、ｓｋｅｗやレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光のスポット位置は、図のように上記記録したいトラックからずれた位置にあることになる。具体的にこの図においては、録再用レーザ光のスポット位置ずれがピット列８．５本分生じている場合を例示している。
【０１０２】
このような録再用レーザ光のスポット位置のずれ量は、先の図２に示した位置センサ３０とｓｋｅｗセンサ３１とにより検出することができる。つまり換言すれば、このように生じる録再用レーザ光のスポット位置のずれを補正するための補正量の値（図１１（ｂ））は、これら位置センサ３０とｓｋｅｗセンサ３１の検出結果に基づいて算出するものである。
【０１０３】
このとき、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値そのものは、図１１（ｂ）に示されているような補正量の値を直接的に表すものではなく、当然のことながらこれら位置検出信号ｐｓ-olの値やｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値を正規化して、トラッキングサーボ対象位置のオフセット量としての補正量の値を算出することになる。
具体的に、本例においては、以下のような考え方に基づき、ｓｋｅｗ及びレンズシフトに起因するスポット位置ずれを補正するための補正量（トラッキングサーボ対象位置のオフセット量）AD_OFSを計算するものとしている。
先ず、ｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SKと、レンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SHとを個別に考え、
AD_SK＝（ｓｋ−offset_SK）×gain_SK ・・・［式１］
AD_SH＝（ｐｓ-ol−offset_SH）×gain_SH ・・・［式２］
とする。ここで［式１］において、offset_SK、gain_SKは、ｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値に基づきｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SKを求めるにたって設定された補正係数である。
同様に［式２］において、offset_SH、gain_SHは、位置検出信号ｐｓ-olの値に基づきレンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SHを求めるにたって設定された補正係数である。
このようにｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれについての補正量AD_SKとレンズシフト起因分のスポット位置ずれについての補正量AD_SHとを個別に扱うものとした上で、ｓｋｅｗ及びレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量AD_OFSを、次の［式３］により計算する。
AD_OFS＝AD_SK＋AD_SH＋Ｄ_alm ・・・［式３］
但し［式３］において、Ｄ_almは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の光軸位置のアライメントずれを表す補正係数である。
【０１０４】
上記のような［式１］〜［式３］の演算により、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とから、正規化された補正量AD_OFSを算出する。
【０１０５】
ここで、上記のように求めた補正量AD_OFSは、距離の情報となる。前述のように本例の場合、スポット位置ずれの補正は、トラッキングサーボの対象とするピット列の選択を伴うものとなるので、上記のようにして求まった補正量AD_OFSの値から、トラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定する処理を行う必要がある。具体的には、補正量AD_OFSの値をピット列の形成ピッチの値によって除算することで、図１１（ａ）の記録したいトラックからオフセットさせるべきピット列の本数が求まり、その結果から、トラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定するものである。
【０１０６】
また、上記除算を行った結果得られる余りの値は、補正のためにトラッキングサーボループに対して与えるべきオフセットの値を表すものであり、この値も取得しておく。具体的に図１１の例では、ピット列の形成ピッチの１／２の値が当該オフセットの値となる。
【０１０７】
ここで、このように補正量AD_OFSの値からトラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定する過程で得られるオフセットの値（補正のためにトラッキングサーボループに付与すべきオフセットの値）については、オフセットｏｆｓと称する。
また、上記のようにして補正量AD_OFSの値から特定したピット列（補正のためにトラッキングサーボの対象とすべきピット列）については、補正用対象ピット列と称する。
【０１０８】
上記のようにして補正量AD_OFSの値に基づき補正用対象ピット列の特定、及びオフセットｏｆｓの取得を行った上で、これらの情報に基づき、サーボ用レーザ光によるトラッキングサーボ対象位置をオフセットさせる。具体的には、上記補正用対象ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドして得られるトラッキングエラー信号に基づくトラッキングサーボ制御を行うことで、上記補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が行われるようにすると共に、その状態においてトラッキングサーボループ内に上記取得したオフセットｏｆｓを与えることで、トラッキングサーボの対象位置を上記補正量AD_OFSに応じた分だけオフセットさせる。
このような補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボ制御とトラッキングサーボループ内へのオフセットｏｆｓの付与とを行うことで、サーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御の目標値が、計算した補正量AD_OFSの値に応じた分だけオフセットされたことになる。従ってこのことで、サーボ用レーザ光のスポット位置は、図１１（ｂ）に示されるように、記録したいトラック位置から補正量AD_OFSの分だけオフセットされるものとなり、これに伴い、録再用レーザ光のスポット位置が、記録したいトラックに合わせ込まれることになる。つまりこの結果、情報記録位置のずれが補正されるものである。
確認のために述べておくと、上記のようにトラッキングサーボループ内に補正量AD_OFSから算出されたオフセットｏｆｓを与えることで、ピット列の形成間隔を超える精度での補正が実現される。
【０１０９】
なおこのとき、図１１の例のように補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上の値となる（つまりこの場合はピット列３本分以上の値となる）場合は、ジャンプパルスを与えて、サーボ用レーザ光のスポット位置を補正用対象ピット列の方向に移動させることで、selector信号の選択切り替えによるトラッキングサーボ対象のピット列の選択切り替えが可能な状態となるようにする。
先の図８や図１０を参照して理解されるように、或るピット列を対象としてトラッキングサーボをかけた状態において、selector信号の選択切り替えによりトラッキングサーボの対象として選択切り替え可能なピット列は、サーボ対象としているピット列を中心としてそれぞれ従来限界トラックの半本分（ピット列３本分）未満の距離内に位置するピット列までとなる。つまり図１１（ａ）のように補正前のサーボ対象のピット列がピット列Ａとされている状態では、selector信号の選択切り替えによりトラッキングサーボの対象として選択切り替え可能なピット列は、ピット列Ｂ、ピット列Ｃ、ピット列Ｆ、ピット列Ｅとなる。従って、図１１に示す例のように補正用対象ピット列が現在トラッキングサーボの対象としているピット列から従来限界トラックの半本分以上離れた位置にある場合には、トラッキングサーボを一瞬オフとした上で、上記補正対象ピット列の方向へのジャンプパルスを与えて、サーボ用レーザ光のスポット位置を補正用対象ピット列方向に移動させる。このとき与えるジャンプパルスの大きさは、現在トラッキングサーボの対象としているピット列から補正用対象ピット列までの距離に応じて変化させる。そして、該ジャンプパルスの付与を行った上で、補正用対象ピット列のselector信号を選択して該補正用対象ピット列についてのトラッキングエラー信号を得るものとし、該トラッキングエラー信号に基づくトラッキングサーボが行われるようにする。
このようにすることで、補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上となる場合にも、トラッキングサーボの対象ピット列を上記補正用対象ピット列に切り替えることができる。
【０１１０】
なお、計算した補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上である場合に補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボを行うための手法は、上記手法に限定されるべきものではなく、例えばトラッキングサーボの対象とするピット列を隣接するピット列に順次切り替えていって補正用対象ピット列に到達させるなど、他の手法を採ることもできる。
何れにしても、この場合のスポット位置ずれ補正の実現にあたっては、計算した補正量AD_OFSから特定した補正用対象ピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにすることに変わりはない。
【０１１１】
［1-8．記録装置の全体的な内部構成］
図１２は、上記により説明した手法によりスポット位置ずれ補正を行う、先行例としての記録再生装置１０の全体的な内部構成を示している。
なお図１２において、光学ピックアップＯＰの内部構成については、先の図２に示した構成のうち録再用レーザ１１、レンズ駆動部１６、２軸アクチュエータ２１、及び位置センサ３０のみを抽出して示している。
【０１１２】
図１２において、記録再生装置１０には、スピンドルモータ４３が設けられる。
スピンドルモータ４３は、ＦＧ（Frequency Generator）モータを備え、バルク型記録媒体１を一定速度（一定回転速度）で回転駆動する。
スピンドルモータ４３は、後述するコントローラ４１からの指示に応じてその回転の開始／停止を行う。
【０１１３】
また、記録再生装置１０には、バルク層５を対象とした記録／再生や、記録マークの再生時における対物レンズ２０のフォーカス／トラッキング制御（つまり録再用レーザ光の反射光に基づく位置制御）を行うための信号処理系の構成として、図中の記録処理部３２、録再光用マトリクス回路３３、再生処理部３４が設けられている。
【０１１４】
記録処理部３２には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３２は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
記録処理部３２は、後述するクロック生成回路３９により生成されるクロックＣＬＫ（再生クロック）を記録クロックとして入力し、該記録クロックに基づき上記生成した記録変調データ列に応じた記録パルスＲＣＰを生成する。そして該記録パルスＲＣＰにより光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１の発光駆動を行う。
【０１１５】
録再光用マトリクス回路３３は、図２に示した録再光用受光部２３としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-rp（出力電流）に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、上述した記録変調データ列を再生した再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-rpを生成する。
【０１１６】
録再光用マトリクス回路３３にて生成された上記再生信号ＲＦは、再生処理部３４に供給される。
また、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、録再光用サーボ回路３５に対して供給される。
【０１１７】
再生処理部３４は、上記再生信号ＲＦについて、２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
【０１１８】
また、録再光用サーボ回路３５は、マトリクス回路３３から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づきフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpをそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpに基づき、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
先の説明からも理解されるように、このような録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ２１（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。
【０１１９】
また、録再光用サーボ回路３５は、再生時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。
【０１２０】
また、記録再生装置１０においては、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、サーボ光用マトリクス回路３６、アドレス検出回路３７、サーボ光用サーボ回路３８、クロック生成回路３９、selector信号生成・選択部４０、サンプルホールド回路ＳＨ１、及び加算器４２が設けられる。
【０１２１】
サーボ光用マトリクス回路３６は、図２に示したサーボ光用受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的にこの場合のサーボ光用マトリクス回路３６は、プッシュプル信号ＰＰ、ｓｕｍ信号（和信号）、及びフォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
図示するようにプッシュプル信号ＰＰはサンプルホールド回路ＳＨ１に対して供給される。またフォーカスエラー信号ＦＥ-svはサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
またｓｕｍ信号はアドレス検出回路３７、及びクロック生成回路３９に対して供給される。
【０１２２】
アドレス検出回路３７は、selector信号生成・選択部４０により後述するようにして生成・選択されたselector信号を入力し、該selector信号が表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号がＨレベルの区間）で上記サーボ光用マトリクス回路３６からのｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報（少なくとも半径位置情報や回転角度位置情報を含む絶対位置情報）を検出する。
ここで、先の図７を参照して説明したように、本例の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路３７は、上記selector信号の立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図９で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路３７で検出されたアドレス情報は、コントローラ４１に対して供給される。
【０１２３】
クロック生成回路３９は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
図１３は、クロック生成回路３９の内部構成を示している。
図１３において、クロック生成回路３９内にはスライス回路３９Ａ、ｓｕｍ微分回路３９Ｂ、スライス回路３９Ｃ、ＡＮＤゲート回路３９Ｄ、及びＰＬＬ回路３９Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路３９Ａとｓｕｍ微分回路３９Ａとに入力される。スライス回路３９Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路３９Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路３９Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路３９Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路３９Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路３９Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路３９Ｄは、上記スライス回路３９Ａからの出力と上記スライス回路３９Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路３９Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路３９Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。
【０１２４】
図１２に戻り、クロック生成回路４５により生成されたクロックＣＬＫは、前述した記録処理部３２に対して供給されると共に、selector信号生成・選択部４０に対しても供給される。
【０１２５】
selector信号生成・選択部４０は、クロックＣＬＫに基づく各selector信号の生成、及び生成したselector信号のうちの指示されたselector信号の選択出力を行う。
【０１２６】
図１４は、selector信号生成・選択部４０の内部構成を示している。
図示するようにselector信号生成・選択部４０には、selector信号生成回路４５、及びselector信号選択回路４６が設けられる。
selector信号生成回路４５は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路４５は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
これら６種のselector信号はselector信号選択回路４６に対して供給される。
【０１２７】
selector信号選択回路４６は、入力した６種のselector信号のうちから、コントローラ４１より供給される選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号を選択・出力する。
【０１２８】
説明を図１２に戻す。
selector信号選択回路４６より出力されたselector信号は、前述したアドレス検出回路３７に供給されると共に、図のようにサンプルホールド回路ＳＨ１に対しても供給される。
【０１２９】
サンプルホールド回路ＳＨ１は、Ａ／Ｄ変換器を備え、サーボ光用マトリクス回路３６から供給されるプッシュプル信号ＰＰを上記selector信号の立ち上がりエッジでサンプルホールドする。
このようにしてサンプルホールド回路ＳＨ１によりselector信号に従ってプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドして得られるトラッキングエラー信号については、以下、トラッキングエラー信号ＴＥ-svと称する。
【０１３０】
図示するようにサンプルホールド回路ＳＨ１により得られたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、加算器４２を介してサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
またトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、コントローラ４１に対しても供給される。
【０１３１】
サーボ光用サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、及び加算器４２を介したトラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づき、それぞれフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
そして、記録時には、コントローラ４１からの指示に応じて、上記フォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svに基づいて、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動することで、サーボ用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、及び所要のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実現する。
【０１３２】
また、サーボ光用サーボ回路３８は、記録時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ２１のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作（ピット列間のジャンプ動作）を実現する。
【０１３３】
コントローラ４１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
例えばコントローラ４１は、前述したように予め各層位置に対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、深さ方向における記録位置の選択を行う。
【０１３４】
また、コントローラ４１は、先に説明したような記録／再生時の対物レンズ２０のサーボ制御切り替えを実現するための制御も行う。具体的にコントローラ４１は、記録時には、サーボ光用サーボ回路３８に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を指示し、また録再光用サーボ回路３５にはフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を停止するように指示を行う。
一方、再生時には、録再光用サーボ回路３５に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を指示し、サーボ光用サーボ回路３８に対しては、フォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を停止するように指示を行う。
【０１３５】
またコントローラ４１は、サーボ光用サーボ回路３８に対するシーク動作制御も行う。すなわち、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上における所定の目標アドレスに移動させるようにサーボ回路３８に対する指示、及びselector信号生成・選択部４０（selector信号選択回路４６）に対する選択信号SLCTによるselector信号の選択指示を行う。
【０１３６】
ここで、この場合におけるシーク動作制御は、大まかには例えば以下のような手順で行われることになる。
１）前述のスライド駆動部を利用した光学ピックアップＯＰ全体の移動による目標アドレス付近への移動
２）サーボ用レーザ光のフォーカスサーボＯＮ
３）ｓｕｍ信号に基づくクロックＣＬＫの生成＆各selector信号の生成
４）任意に選択したselector信号に基づき、任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実行
５）上記４）にてトラッキングサーボがかかることで、アドレス情報（ピット列を識別するための情報）が読めるので、そのアドレスから目標アドレスまでのピット列ジャンプを行う
コントローラ４１は、上記１）２）の動作が実行されるように、サーボ回路３８に対する指示を行う。またコントローラ４１は、上記４）における任意のselector信号の選択のために、選択信号SLCTにより、selector信号生成・選択部４０に対し予め定められた位相によるselector信号の選択指示を行う。
またコントローラ４１は、上記５）の動作の実現のために、上記４）によるトラッキングサーボがかかることに応じてアドレス検出回路３７により検出されるアドレス情報を入力し、該アドレス情報に基づき、目標アドレスまでに要するピット列のジャンプ本数を計算し、該ジャンプ本数分だけピット列ジャンプ動作を実行させるための指示をサーボ回路３８に対して行う。
【０１３７】
また、コントローラ４１は、先に説明したスポット位置ずれ補正に係る制御処理として、以下のような処理も実行する。
つまりコントローラ４１は、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とを逐次取得すると共に、これらｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と位置検出信号ｐｓ-olの値と、補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almとを用いた先の［式１］〜［式３］の演算を行うことで、補正量AD_OFSを逐次計算する。
そして、計算した補正量AD_OFSの値をピット列の形成ピッチの値により除算した結果に基づき、補正量AD_OFS分の補正を行うために選択すべき補正用対象ピット列を特定すると共に、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに与えるべきオフセットｏｆｓの値を取得する。
その上で、特定した補正用対象ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号の選択を、選択信号SLCTによってselector信号生成・選択部４０に指示すると共に、取得したオフセットｏｆｓの値を、加算器４２に出力してトラッキングエラー信号ＴＥ-svに対するオフセットｏｆｓの付与を実行させる。
なお、先に説明したように、計算した補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本以上となる場合は、サーボ光用サーボ回路３８に補正用対象ピット列が形成される方向へのジャンプパルスを与えることになる。
【０１３８】
また、コントローラ４１は、このようなスポット位置ずれ補正動作に伴いサーボ用レーザ光のスポット位置が本来対象とすべきピット列上からオフセットさせることに伴い生じるアドレス情報の誤差を補正するための処理も行う。具体的には、スポット位置ずれ補正動作の実行中において、アドレス検出回路３７にて得られるアドレス情報を、サーボ用レーザ光スポット位置のオフセット量（記録したいトラックから実際にサーボ対象としているピット列までのピット列本数）に応じて補正するものである。
【０１３９】
＜２．実施の形態＞
［2-1．先行例の問題］
ここで、上記のように先行例では、先の図３や図４にて説明したような情報記録位置のずれの補正を、トラッキングサーボの対象位置を本来の位置からオフセットさせることで行うとした場合において、より細かな精度での補正を可能とするために、基準面Ｒｅｆにて先の図６（及び図５）に示したようなフォーマットによるピット列を形成するものとしている。
そして、前述もしたように、図６に示すようなフォーマットとするときは、ディスク上のどの領域においても図５で説明したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするために、ピット列をＣＡＶ方式で記録することになる。
【０１４０】
このように基準面Ｒｅｆにてピット列がＣＡＶ記録されることに対応して、先行例においては、バルク層５に対する記録時において、バルク型記録媒体１を一定速度で回転駆動するようにされている。すなわち、先行例において、バルク層５へのマーク記録は、ＣＡＶ方式により行われるものである。
【０１４１】
しかしながら前述もしたように、ＣＡＶ記録は、ＣＬＶ記録と比較してマーク記録密度が低下する傾向となる。具体的には、次の図１５に示されるように外周側ほど記録マーク長が長くなる傾向となるので、その分、マーク記録密度が低下してしまうものである。
このようであると、バルク層５の記録容量の低下は避けられないものとなる。
【０１４２】
［2-2．実施の形態としての記録装置の構成］
上記のような問題点の解決を図るべく、本実施の形態においては、記録再生装置１０を改良した、次の図１６に示すような記録再生装置５０を提案する。
なお、図１６において、既に先の図１２において説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【０１４３】
この図１６と先の図１２とを比較して分かるように、実施の形態の記録再生装置５０は、先行例としての記録再生装置１０に対して、図中の記録クロック調整部５１を追加したものとなる。
【０１４４】
記録クロック調整部５１には、アドレス検出回路３７により検出されたアドレス情報（半径位置情報を含む）と、クロック生成回路３９にて生成されたクロックＣＬＫとが入力される。
記録クロック調整部５１は、上記アドレス情報として入力される半径位置情報に基づき、クロックＣＬＫの周波数を変化させる。そして、このように半径位置情報に基づきクロックＣＬＫの周波数を変化させた信号を、記録クロックとして記録処理部３２に出力する。
具体的に、記録クロック調整部５１は、上記半径位置情報から特定される現在の半径位置が外周側となるに従ってクロックＣＬＫの周波数を高めるように変化させる。
より具体的には、上記記録クロックの周波数をｆr、クロックＣＬＫの周波数をｆ0、最内周半径位置をｒ0、現在の半径位置をｒとしたとき、
ｆr＝ｆ0×ｒ／ｒ0 ・・・［式４］
によりクロックＣＬＫの周波数を変化させて記録クロックを生成する。
【０１４５】
この［式４］により生成した記録クロックに従って記録処理部３２によるマーク記録動作が実行されることで、バルク層５に対しては、マーク列があたかもＣＬＶ記録されたかのようになる。換言すれば、次の図１７に示すように、ディスク上のどの位置でもマーク記録密度を一定に保つことができるものである。
【０１４６】
このようにして本実施の形態の記録再生装置５０によれば、基準面ＲｅｆにＣＡＶ方式による情報記録が行われたことに対応してバルク型記録媒体１を一定速度で回転駆動する場合において、バルク層５内にマークを記録密度一定で記録することができる。つまりこの結果、バルク層５内におけるマークの記録密度を、ＣＡＶ記録を行う場合よりも高めることができる。
このようにマークの記録密度を高めることができることで、バルク層５の記録容量を拡大できる。
【０１４７】
＜３．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまので説明では、半径位置に応じて連続的にクロック周波数を変化させるものとしたが、バルク型記録媒体１を複数の半径領域に分割し、該半径領域ごとに段階的に周波数を変化させるようにもできる。
何れにしても、半径位置に応じてクロック周波数を変化させれば、単純にバルク層５にＣＡＶ記録を行う（つまりクロックＣＬＫなど一定周波数の信号を記録クロックとして用いた記録を行う）場合よりも、マーク記録密度の向上を図ることができ、それによって記録容量の拡大を図ることができる。
【０１４８】
また、これまでの説明では、ＦＧモータによりバルク型記録媒体１を一定速度で回転駆動するものとしたが、クロックＣＬＫ（再生クロック）に基づく回転速度制御を行うことで一定速度での回転駆動を実現することもできる。
【０１４９】
図１８は、このようにしてクロックＣＬＫに基づき一定速度での回転駆動を行う変形例としての記録再生装置６０の内部構成を示している。なお図１８において、既に先の図１２や図１６で説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
この図１８と先の図１６とを比較して分かるように、当該変形例としての記録再生装置６０は、先の記録再生装置５０に対しスピンドルサーボ回路６２が追加されると共に、ＦＧモータによるスピンドルモータ４３に代えて速度可変型のスピンドルモータ６１が設けられる。
スピンドルサーボ回路６２は、クロック生成回路３９からのクロックＣＬＫを現在のディスク回転速度情報として入力し、当該クロックＣＬＫの周波数が一定となるようにスピンドルモータ６１の回転速度を制御することで、バルク型記録媒体１を一定速度で回転させる。
この場合、コントローラ４１はスピンドルサーボ回路６２に対して回転停止／開始指示やキック／ブレーキの指示等を行い、スピンドルサーボ回路６２はこれらの指示に応じてもスピンドルモータ６１の回転を制御する。
【０１５０】
また、これまでの説明では、記録クロックは、基準面Ｒｅｆからの反射光に基づき生成したクロックＣＬＫを半径位置に応じて変化させて生成するものとしたが、記録クロックは、別途設けた信号発生器で生成した一定周波数による信号を、半径位置に応じて変化させて生成することもできる。
図１９は、このようにして記録クロックを生成する変形例（他の変形例）としての記録再生装置６５の内部構成を示している。なお図１９においても、既に先の図１２や図１６で説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
図１９と先の図１６とを比較して分かるように、当該変形例としての記録再生装置６５は、先の記録再生装置５０に対し信号発生器６６が追加されると共に、記録クロック調整部５１に代えて記録クロック調整部６７が設けられる。
信号発生器６６は一定周波数による信号を生成する。記録クロック調整部６７は、このように信号発生器６６により生成される一定周波数の信号について、その周波数を半径位置に応じて変化させて記録クロックを生成し、該記録クロックを記録処理部３２に対して与える。
【０１５１】
このように本発明における記録クロックの生成手法としては、上記信号発生器６６により生成した一定周波数による信号や実施の形態におけるクロックＣＬＫ（再生クロック）など、一定周波数となるように生成された基準信号の周波数を半径位置に応じて変化させるものであればよく、それにより、記録層におけるマーク記録密度の向上を図ることができる。
【０１５２】
また、これまでの説明では、基準面Ｒｅｆにおけるピット列は、スパイラル状に形成する場合を例示したが、同心円状に形成することもできる。
ピット列を同心円状に記録する場合、バルク層５に対するマーク記録は、適正な半径方向ピッチが得られるようにして行うことになる。
例えば、マーク列の半径方向における適正な形成ピッチが従来限界トラックピッチ（ピット列６本分）である場合、マーク列の記録は、ピット列１周の記録を完了した後に、順次６本のピット列をジャンプしながら行うといった手法を挙げることができる。すなわち、或るピット列を１周記録→６本のピット列ジャンプ→ジャンプ先のピット列を１周記録→６本のピット列ジャンプ・・・を繰り返して、いわば同心円状記録に近いかたちでマーク列の記録を行うものである。
【０１５３】
また、同心円の場合であっても、ピット列を徐々にわたっていくことによるスパイラル記録を実現できる。具体的にスパイラル記録は以下のようにして行う。
先ず、スパイラル記録の実現にあたっては、或るピット列を対象としたトラッキングサーボの実行中に、サーボ対象のピット列の外周側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svが並行して得られるようにしておく。つまりこの場合は、selector信号に応じたタイミングでｓｕｍ信号をサンプリングしてトラッキングエラー信号ＴＥ-svを得るための構成を、少なくとも２つ設けるものとし、それらのうち何れか一方の出力を加算器４１に選択出力できるようにしておく。
その上で、或るピット列についてのトラッキングサーボ実行中に、サーボループ内にその値が徐々に大となるオフセットを与える。このようなオフセットの付与により、スポット位置は徐々に外周側にシフトしていく。
上記オフセットの付与によりスポット位置が対象ピット列とその外周隣接ピット列との間の適当な位置（例えば中間位置）に到達したことに応じ、サーボ対象ピット列を外周隣接ピット列に切り替えると共に、サーボループ内に与えるオフセットの極性を反転させる。
オフセットの極性反転後は、オフセットの値が徐々に大となる（絶対値としては徐々に小となる）ことで、スポット位置は切り替え後の対象ピット列に徐々に近づいていくことになる（切り替え後のピット列からみるとスポット位置は内周側にずれた位置にあるため）。そして、その後もオフセットが与えられ続けると、スポット位置は切り替え後の対象ピット列を通過し（このときオフセットはゼロである）、その後、さらに外周側に隣接するピット列との間の適当な位置に到達する。このように外周隣接ピット列との間の適当な位置に到達したことに応じて、上記と同様にサーボ対象とするピット列を外周隣接ピット列に切り替えると共にオフセットの極性を反転させる。
このように、オフセットの付与と外周隣接ピット列へのサーボ対象ピット列の切り替えとによるいわば「ピット列わたり」を繰り返していくことで、上記オフセットの傾き（値の上昇率）に応じた任意ピッチによるスパイラル記録を実現できる。
【０１５４】
また、先の説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列として、Ａ〜Ｆの計６つを設定するものとし、半径方向においてはこれら６つのパターン（ピット列位相）によるピット列が繰り返し形成されるものとしたが、上記複数のピット列の数は６つに限定されるべきものではなく、より多くの本数、或いはより少ない本数とすることもできる。
【０１５５】
また、ピット列における各ピット形成可能位置の区間長は３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も同様の３Ｔ分の長さに設定する（つまりｎ＝６Ｔに設定する）場合を例示したが、これらはあくまで一例を示したものに過ぎない。これら各ピット形成可能位置の区間長、及びピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔については、先に挙げた１）２）の条件が満たされるようにして設定されればよいものである。
【０１５６】
またこれまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列に関して、外周側ほどピット列位相が進み内周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列したが、例えば逆に内周側ほどピット列位相が進み外周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列するなど、上記複数のピット列の配列パターンは、ピット列形成方向において光学限界を超えないという条件の下で様々なパターンの設定が可能である。
【０１５７】
また、基準面において位置案内子はピットによって形成するものとしたが、基準面における位置案内子はマークの記録により形成することもできる。
【０１５８】
また、基準面における情報記録のフォーマットは、図５や図６に示したようなフォーマットに限定されるべきものではなく、本発明において基準面は、少なくとも半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ方式で行われたものであればよい。
例えば図５や図６に示したフォーマットを採用しない場合、半径位置情報はウォブリンググルーブで記録することもできる。このように基準面にウォブリンググルーブで半径位置情報が記録される場合も本発明は好適に適用できる。
【０１５９】
また、これまでの説明では、本発明において記録対象とする光記録媒体がバルク型の光記録媒体とされる場合を例示したが、本発明としては、バルク層５ではなく、例えば次の図２０に示されるような複数の記録膜が形成された多層構造を有する記録層が設けられた光記録媒体（多層記録媒体７０とする）に対しても好適に適用できる。
図２０において、多層記録媒体７０は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図１に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜７１と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜７１は、基板７２上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
ここで、注意すべきは、上記半透明記録膜７１には、グルーブやピット列の形成に伴う位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体７０としても、スパイラル状又は同心円状の位置案内子は、基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。
【０１６０】
このような多層記録媒体７０の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜７１が形成されているため、記録時においても録再用レーザ光の反射光を用いたフォーカス制御を行うことができる。
すなわち、この場合の記録時において、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御は、当該録再光用レーザ光の反射光に基づいて可動レンズ１５（レンズ駆動部１６）を駆動することで、記録対象とする半透明記録膜７１に合焦させるようにして行うことになる。
一方、記録時における録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御に関しては、この場合もサーボ用レーザ光を用いて行うことになる。すなわち、この場合としても、記録時におけるトラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の基準面Ｒｅｆからの反射光に基づき対物レンズ２０を駆動することで、当該サーボ用レーザ光の焦点位置が基準面Ｒｅｆの位置案内子に追従するようにして行う。
【０１６１】
また、再生時には、この場合も既に記録されたマーク列に基づいて録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御を行うことができる。また、上記説明からも理解されるように、再生時においても、録再用レーザ光のフォーカスサーボ制御は、対象とする半透明記録膜７１（情報記録層Ｌ）からの反射光を利用して行うことができる。
つまりこの場合、再生時におけるサーボ制御は、実施の形態の場合と同様の手法で行うことになる。すなわち、再生時における録再用レーザ光のフォーカスサーボ制御は、録再用レーザ光の反射光に基づき、当該録再光用サーボ光が対象とする情報記録層Ｌに合焦するように対物レンズ２０を駆動することで行い、また録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御は、録再用レーザ光の反射光に基づき、当該録再光用サーボ光の焦点位置が記録済みマーク列を追従するように対物レンズ２０を駆動することで行う。
【０１６２】
また、これまでの説明では、基準面は、記録層の上層側に対して設けるものとしたが、基準面は記録層の下層側に設けることもできる。
【０１６３】
本発明において、光記録媒体としては、半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有するものであればよい。
【０１６４】
また、これまでの説明では、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光とは波長の異なる光を用いるものとしたが、これらを同一波長とすることもできる。その場合、ダイクロイックプリズム１９による分光ではなく、例えば偏光を利用した分光を行うことで、それぞれの反射光を別々の受光部に分岐して導くことができる。
このように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とを同一波長とできれば、光源としては１つのみを設ければ足るものとできる。
【０１６５】
またこれまでの説明では、本発明が光記録媒体に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光記録媒体（記録層）に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。
【符号の説明】
【０１６６】
１ バルク型記録媒体、２ カバー層、３ 選択反射膜、Ｒｅｆ 基準面、４ 中間層、５ バルク層、Ｌ マーク形成層位置（情報記録層位置）、１０,５０,６０,６５ 記録再生装置、１１ 録再用レーザ、１２,２５ コリメーションレンズ、１３,２６ 偏光ビームスプリッタ、１４ 固定レンズ、１５ 可動レンズ、１６ レンズ駆動部、１７ ミラー、１８,２７ １／４波長板、１９ ダイクロイックプリズム、２０ 対物レンズ、２１ ２軸アクチュエータ、２２,２８ 集光レンズ、２３ 録再光用受光部、２４ サーボ用レーザ、２９ サーボ光用受光部、３０ 位置センサ、３１ ｓｋｅｗセンサ、３２ 記録処理部、３３ 録再光用マトリクス回路、３４ 再生処理部、３５ 録再光用サーボ回路、３６ サーボ光用マトリクス回路、３７ アドレス検出回路、３８ サーボ光用サーボ回路、３９ クロック生成回路、３９Ａ,３９Ｃ スライス回路、３９Ｂ ｓｕｍ微分回路、３９Ｄ ＡＮＤゲート回路、３９Ｅ ＰＬＬ回路、４０ selector信号生成・選択部、４１ コントローラ、４２ 加算器、４３,６１ スピンドルモータ、ＳＨ１ サンプルホールド回路、４５ selector信号生成回路、４６ selector信号選択回路，５１,６７ 記録クロック調整部、６２ スピンドルサーボ回路、６６ 信号発生器
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体について少なくとも記録を行う記録装置とその方法とに関するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−１３５１４４号公報
【特許文献２】特開２００８−１７６９０２号公報
【特許文献３】特開２００１−１１８２４５号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。
【０００４】
これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及している光記録媒体の次世代を担うべき光記録媒体に関して、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型（単にバルク型とも呼ばれる）の光記録媒体を提案している。
【０００５】
ここで、バルク記録とは、例えば図２１に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。
【０００６】
このようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０００７】
マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式と、ネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
ポジ型マイクロホログラム方式は、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
また、ネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。このネガ型マイクロホログラム方式では、初期化処理として、予めバルク層に干渉縞を形成しておく処理が必要となる。
【０００８】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空包、空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空包を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空包部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空包部分は記録マークとして機能し、これによって空包マークの形成による情報記録が実現される。
【０００９】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、上述のポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
【００１０】
ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク記録型（単にバルク型とも称する）の光記録媒体であるが、このようなバルク型の光記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層１０２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図２１に示したバルク型記録媒体１００の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。
【００１１】
このため実際において、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２２に示すような案内溝を有する基準となる反射面（基準面）を設けるようにされている。
具体的には、カバー層１０１の下面側に例えばピットやグルーブの形成による案内溝（位置案内子）がスパイラル状又は同心円状に形成され、そこに選択反射膜１０３が成膜される。そして、このように選択反射膜１０３が成膜されたカバー層１０２の下層側に対し、図中の中間層１０４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層１０２が積層される。
ここで、上記のようなピットやグルーブ等による案内溝の形成により、例えば半径位置情報や回転角度情報などの絶対位置情報（アドレス情報）の記録が行われている。以下の説明では、このような案内溝が形成され絶対位置情報の記録が行われた面（この場合は上記選択反射膜１０３の形成面）のことを、「基準面Ｒｅｆ」と称する。
【００１２】
また、上記のような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２３に示されるようにマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（以下、録再用レーザ光、或いは単に録再光とも称する）とは別途に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光（単にサーボ光とも称する）を照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１００に照射される。
【００１３】
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層１０２に到達してしまうと、当該バルク層１０２内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記サーボ用レーザ光として、録再用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、基準面Ｒｅｆに形成される反射膜としては、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜１０３を設けるものとしている。
【００１４】
以上の前提を踏まえた上で、図２３を参照し、バルク型記録媒体１００に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層１０２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層１０２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層１０２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜１０３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【００１５】
マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層１０２内の各層位置を対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝に追従するようにして行うことになる。
【００１６】
但し、上記録再用レーザ光は、マーク記録のために基準面Ｒｅｆよりも下層側に形成されたバルク層１０２に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための録再光用フォーカス機構が設けられることになる。
具体的に、このようなフォーカス機構としては、対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーションを変化させるエキスパンダを設けるようにする。すなわち、このように対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーションを変化させることで、録再用レーザ光の合焦位置を、サーボ用レーザ光とは独立して調整できるようにするものである。
【００１７】
このような録再用レーザ光についてのフォーカス機構を設けることで、前述のように対物レンズのフォーカス及びトラッキングサーボ制御が基準面Ｒｅｆからのサーボ用レーザ光の反射光に基づき行われることによって、録再用レーザ光の焦点位置を、バルク層１０２内の所要の情報記録層位置Ｌに合わせると共に、基準面Ｒｅｆに形成された案内溝の直下となる位置に制御することができる。
【００１８】
また、マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１００について再生を行う際は、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌ（再生時については情報記録層Ｌとも称する）に形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカス及びトラッキングサーボ制御を行えばよい。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
上記により説明したように、バルク型記録媒体１００に対する記録時には、サーボ用レーザ光で基準Ｒｅｆに対するフォーカスサーボ・トラッキングサーボをかけつつ、録再光用レーザ光をバルク層５内の所要の情報記録層位置Ｌに合焦させることで、マーク列をバルク層１０２内の所望の位置に記録できるようにしている。
【００２０】
ここで、前述のように基準面Ｒｅｆに対しては、例えばピット列（マーク列でもよい）やグルーブによる位置案内子の形成に伴い、絶対値位置情報等の情報記録が行われているが、このような基準面Ｒｅｆに対する情報記録は、ＣＬＶ（Constant Linear Velocity：線速度一定）方式ではなく、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity：角速度一定）方式で行われることが考えられる。
【００２１】
このように基準面Ｒｅｆに対する情報記録がＣＡＶ方式で行われる場合は、順当に考えれば、バルク型記録媒体１００をＣＡＶ回転（速度一定回転）させることになる。そして、このようにバルク型記録媒体１００をＣＡＶ回転させた場合には、当然のことながらバルク層１０２に対するマーク記録としても、ＣＡＶ方式にて行われることになる。
【００２２】
しかしながら、周知のようにＣＡＶ方式による記録は、ＣＬＶ方式による記録と比較して記録密度の低下を招くことになる。そのため、バルク層１０２の記録容量の低下が避けられないものとなってしまう。
【００２３】
本発明はこのような問題点に鑑み為されたもので、ＣＡＶ方式により情報記録が行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に設けられた記録層とを有する光記録媒体に関して、上記記録層に対するマークの記録密度の向上を図り、以て上記記録層の記録容量の拡大を図ることをその目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
上記のような問題点に鑑み、本発明では記録装置として以下のように構成することとした。
すなわち、半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体を、一定速度で回転駆動する回転駆動部を備える。
また、上記光記録媒体に対し、上記記録層に対して照射されるべき第１の光と上記基準面に対して照射されるべき第２の光とを共通の対物レンズを介して照射する光照射部を備える。
また、上記第２の光が上記基準面に対して合焦した状態で上記第１の光が上記記録層内の所要位置に合焦するように調整を行う合焦位置調整部を備える。
また、上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する受光部を備える。
また、上記受光部により得られた受光信号に基づき、再生クロックを生成する再生クロック生成部を備える。
また、上記受光部により得られた受光信号と上記再生クロックとに基づき上記基準面に記録された上記半径位置情報を検出する半径位置検出部を備える。
また、入力される基準信号の周波数を上記半径位置検出部により検出された半径位置情報に応じて変化させる周波数調整部を備える。
さらに、上記周波数調整部により得られた信号を記録クロックとして用いて上記第１の光の光源を発光駆動することで上記記録層に対するマーク記録を行う記録部を備えるようにした。
【００２５】
上記のように本発明では、半径位置情報を含む情報がＣＡＶ記録された基準面と記録層とを有する光記録媒体について、これを一定速度で回転駆動して上記記録層に対するマーク記録を行うことを前提としている。そしてこの前提下で本発明では、上記基準面に記録された半径位置情報に応じて基準信号の周波数を変化させて生成した記録クロックに基づき、上記記録層に対するマーク記録を行うものとしている。
このように半径位置に応じてその周波数を変化させた記録クロックに基づいてマーク記録を行うようにすることで、光記録媒体が一定速度で回転駆動されることに応じて単純に上記記録層にＣＡＶ記録を行うようにした場合と比較して、上記記録層に対するマークの記録密度の向上を図ることができる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、半径位置情報を含む情報がＣＡＶ記録された基準面と記録層とを有する光記録媒体を一定速度で回転駆動するという前提の下で、上記記録層に対するマーク記録を、半径位置に応じてその周波数を変化させた記録クロックに基づいて行うことで、上記記録層におけるマークの記録密度の向上を図ることができる。
この結果、上記記録層の記録容量を拡大できる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】先行例、及び実施の形態で記録／再生対象とするバルク型記録媒体の断面構造図である。
【図２】先行例、及び実施の形態の記録装置が備える光学系の構成を主に示した図である。
【図３】ｓｋｅｗに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。
【図４】レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。
【図５】先行例、及び実施の形態で用いるバルク型記録媒体の基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。
【図６】基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。
【図７】アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。
【図８】バルク型記録媒体の回転駆動に伴い基準面上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。
【図９】ピークポジション検出の具体的手法について説明するための図である。
【図１０】ピークタイミングを表すタイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。
【図１１】スポット位置ずれ補正の具体的な手法について説明するための図である。
【図１２】先行例としての記録装置全体の内部構成を示したブロック図である。
【図１３】クロック生成回路の内部構成を示した図である。
【図１４】selector信号生成・選択部の内部構成を示した図である。
【図１５】先行例の問題点について説明するための図である。
【図１６】実施の形態としての記録装置全体の内部構成を示したブロック図である。
【図１７】実施の形態としての記録手法による効果について説明するための図である。
【図１８】変形例としての記録装置の構成について説明するための図である。
【図１９】他の変形例としての記録装置の構成について説明するための図である。
【図２０】変形例としての光記録媒体の断面構造を示した図である。
【図２１】バルク記録方式について説明するための図である。
【図２２】基準面を備える実際のバルク型記録媒体の断面構造を例示した図である。
【図２３】バルク型記録媒体に対するマークの記録／再生手法について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
本明細書においては、実施の形態の説明に先立ち、先ずは本出願人が先に提案した先行例についての説明を行う。
説明は以下の順序で行う。
＜１．先行例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］
［1-2．光学系の構成］
［1-3．スポット位置ずれの問題］
［1-4．基準面の構造］
［1-5．アドレス情報について］
［1-6．トラッキングサーボの具体的な手法］
［1-7．具体的なスポット位置ずれ補正手法］
［1-8．記録装置の全体的な内部構成］
＜２．実施の形態＞
［2-1．先行例の問題］
［2-2．実施の形態の記録装置の構成］
＜３．変形例＞
【００２９】
＜１．先行例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］
図１は、先行例（及び実施の形態）において記録／再生対象とする光記録媒体の断面構造図を示している。
ここで、この先行例を含め、後述する実施の形態において記録／再生対象とする光記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
バルク型の光記録媒体とは、いわゆるバルク記録が行われる光記録媒体を指す。バルク記録とは、通常の多層光ディスクのような複数の記録膜が形成された多層構造は有さず、図のようなバルク層５としての記録層に対して逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行って多層記録を行う技術を指す。
【００３０】
図１において、バルク型記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対するレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。また、記録情報の再生としても、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対してレーザ光を照射して行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により情報の記録／再生が行われる記録媒体を総称したものである。
【００３１】
図示するようにバルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する記録装置（記録再生装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
【００３２】
また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向と一致する方向（すなわち記録装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。
【００３３】
バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録／再生位置を案内するための位置案内子として後述するピット列が形成されていることで、凹凸の断面形状が与えられている。カバー層２は、後述するピット列が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
なお、バルク型記録媒体１における上記ピット列の具体的な形成態様については後述する。
【００３４】
また、上記ピット列が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、先の図２３を参照して説明したようにバルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録／再生を行うための光（録再用レーザ光）を照射する一方で、上記のようなピット列などの位置案内子に基づきトラッキングやフォーカスのエラー信号を得るための光（サーボ用レーザ光）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ用レーザ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。
【００３５】
上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が積層（接着）されている。
バルク層５の形成材料（記録材料)としては、例えば先に挙げたポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式などのマイクロホログラム方式、或いはボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
なお、本発明において、バルク層に対するマーク記録の方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。以下の説明では一例として、上記のボイド記録方式が採用される場合を例示する。
【００３６】
ここで、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層５に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層５内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる（図２３を参照）。この場合もバルク層５内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、先の図２３の場合と同様に例えば第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定されているとする。
この場合、基準面Ｒｅｆからの各情報記録層位置Ｌへのオフセットｏｆ-Lの情報は、後述する記録再生装置１０（及び記録再生装置５０）におけるコントローラ４１に設定される。
【００３７】
［1-2．光学系の構成］
図２は、上記により説明したバルク型記録媒体１に対する記録／再生を行う記録装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、記録再生装置１０が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。
【００３８】
図４において、記録再生装置１０に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録再生装置１０における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、ここでは図示を省略したスピンドルモータ４３（図１２）による回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータ４３により回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光、サーボ用レーザ光を照射するために設けられる。
【００３９】
光学ピックアップＯＰ内には、マークによる情報記録、及びマークにより記録された情報の再生を行うための録再用レーザ光の光源である録再用レーザ１１と、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子を利用した位置制御を行うための光であるサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。
ここで、前述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長が異なる。本例の場合、録再用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６４０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされる。
【００４０】
また、光学ピックアップＯＰ内には、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１への出力端となる対物レンズ２０が設けられる。
さらには、上記録再用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための録再光用受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するためのサーボ光用受光部２９とが設けられる。
【００４１】
その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光を上記対物レンズ２０に導くと共に、上記対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からの録再用レーザ光の反射光を上記録再光用受光部２３に導くための光学系が形成される。
【００４２】
具体的に、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように録再用レーザ１１側から入射した録再用レーザ光については透過するように構成されている。
【００４３】
上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した録再用レーザ光は、固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、前述した録再光用フォーカス機構に相当するものであり、光源である録再用レーザ１１に近い側が固定レンズ１４とされ、録再用レーザ１１に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が録再用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、録再用レーザ光について独立したフォーカス制御を行う。
後述もするように、当該録再光用フォーカス機構におけるレンズ駆動部１６は、図１３に示すコントローラ４０によって、対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。
【００４４】
上記録再光用フォーカス機構を形成する固定レンズ１４及び可動レンズ１５を介した録再用レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した録再用レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
【００４５】
上記ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００４６】
ここで、再生時においては、上記のようにしてバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光が照射されることに応じて、バルク型記録媒体１（バルク層５内の再生対象の情報記録層Ｌに記録されたマーク列）より上記録再用レーザ光の反射光が得られる。このように得られた録再用レーザ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→録再光用フォーカス機構（可動レンズ１５→固定レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００４７】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する録再用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、録再用レーザ光１１側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した録再用レーザ光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射した録再用レーザ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００４８】
このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射された録再用レーザ光の反射光は、集光レンズ２２を介して録再光用受光部２３の受光面上に集光する。
【００４９】
また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した録再用レーザ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光をサーボ光用受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するように上記サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００５０】
上記偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００５１】
また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先の録再用レーザ光の場合と同様にして、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。
【００５２】
偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介してサーボ光用受光部２９の受光面上に集光する。
【００５３】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００５４】
また、この場合の光学ピックアップＯＰ内においては、位置センサ３０、及びｓｋｅｗセンサ３１が設けられるが、これらについては後に改めて説明する。
【００５５】
［1-3．スポット位置ずれの問題］
ここで、上記により説明したようなバルク記録方式を採用する場合には、いわゆるｓｋｅｗ（チルト）の発生やディスク偏芯に伴う対物レンズ２０のレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とに記録面内方向におけるスポット位置ずれが生じることが知られている。
【００５６】
図３は、ｓｋｅｗの発生に伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図３（ａ）に示すｓｋｅｗ無しの状態では、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置は記録面内方向において一致している。これに対し、図３（ｂ）に示すようなｓｋｅｗの発生に応じては、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光とに光軸のずれが生じ、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じてしまう。
【００５７】
また図４は、レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図４（ａ）に示すレンズシフト無しの状態では、対物レンズ２０が基準位置にあり、対物レンズ２０の中心と該対物レンズ２０に入射する各レーザ光の光軸ｃとが一致している。光学系は、このように対物レンズが基準位置にある状態において、各レーザ光の記録面内方向におけるスポット位置が一致するように設計されている。
【００５８】
これに対し、トラッキングサーボ制御により図４（ｂ）に示すようにディスク偏芯に追従するようにして対物レンズ２０が基準位置からシフトしてしまった場合（この場合は紙面左方向へのシフトとしている）には、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じる。
このようなレンズシフト起因のスポット位置ずれは、対物レンズ２０に対するサーボ用レーザ光と録再用レーザ光の入射態様の差によって生じるものとなる。具体的には、サーボ用レーザ光は対物レンズ２０に対して略平行光により入射するのに対し、録再用レーザ光は非平行光により入射することに起因するものである。
【００５９】
このようなｓｋｅｗやレンズシフトに起因したサーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置ずれが生じることによっては、バルク層５内における情報記録位置のずれが生じてしまう。つまり、先の説明からも理解されるように、記録時における録再用レーザ光のスポット位置は、サーボ用レーザ光の反射光に基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が行われることで制御されるので、上記のようなスポット位置ずれの発生に応じては、バルク層５内の意図した位置に記録を行うことができなくなってしまうものである。
【００６０】
このとき、ｓｋｅｗ・偏芯の発生量やトラックピッチ（位置案内子の形成間隔）の設定によっては、隣接するトラック間で情報記録位置が重なってしまう虞がある。具体的にディスクの偏芯やｓｋｅｗは、スピンドルモータ４３へのディスクのクランプのされかたなどにより、ディスクが装填されるごとに異なる態様で発生することがあるので、例えば或るディスクについてディスク付け替えを伴う追記が行われたとき、前回の記録時に生じていたｓｋｅｗ・偏芯の態様と追記時に生じるｓｋｅｗ・偏芯の態様とが異なることに起因して、既記録部分のマーク列と追記部分のマーク列とに重なりが生じたり、場合によっては交差してしまうという問題が生じるものである。
このようであると、正しく記録信号を再生することはできなくなる。
【００６１】
このようなマーク列の重なりや交差の発生を防止するための一つの手法として、基準面Ｒｅｆにおけるトラックピッチを広めに設定しておくということを挙げることができる。
しかしながら、このように基準面Ｒｅｆのトラックピッチを広げた場合には、当然のことながらバルク層５における記録容量の縮小化を招くものとなってしまう。
【００６２】
そこで、情報記録位置のずれ自体を防止するために、ｓｋｅｗやレンズシフトを検出した結果から、録再用レーザ光のスポット位置ずれを補正するということが行われる。
図３や図４を参照して理解されるように、ｓｋｅｗの発生量とスポット位置ずれ量、及びレンズシフト量とスポット位置ずれ量とは、それぞれ相関するものとなる。この点より、ｓｋｅｗ量の検出結果からｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれ補正量を求め、またレンズシフト量の検出結果からレンズシフト起因分のスポット位置ずれ補正量を求めた上で、それらの和を計算することで、ｓｋｅｗとレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量を算出できる。そして、このように算出した補正量に基づき、情報記録位置のずれを補正できる。
【００６３】
このような情報記録位置のずれ補正を行うために、記録再生装置１０には、先の図２に示した位置センサ３０及びｓｋｅｗセンサ３１を設けるものとしている。
図２において、位置センサ３０は、対物レンズ２０の近傍に設けられ、当該対物レンズ２０のトラッキング方向における位置（基準位置からの変位量）を検出する。すなわち、対物レンズ２０のレンズシフト量を検出するものである。
位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olは、後述するコントローラ４１に供給される。
なお、レンズシフト量を検出する手段としては上記位置センサ３０以外にも多様に考えられる。
【００６４】
また、ｓｋｅｗセンサ３１は、バルク型記録媒体１の傾き（ｓｋｅｗ）を検出する。例えばこの場合のｓｋｅｗセンサ３１は、バルク型記録媒体１に対して所定角度で光を照射する光照射部と、該光照射部により照射した光についてのバルク型記録媒体１からの反射光を受光する受光部とを備え、該受光部による上記反射光の受光位置のずれ量を検出することでバルク型記録媒体１の傾き量を検出する。
ｓｋｅｗセンサ３１による検出信号（ｓｋｅｗ検出信号ｓｋとする）としても、コントローラ４０に供給される。
なお、ｓｋｅｗを検出するための具体的な構成についても、上記により例示した構成に限定されるべきものではない。
【００６５】
ここで、上記の位置センサ３０やｓｋｅｗセンサ３１による検出結果に基づき得られた情報記録位置のずれ量に基づき情報記録位置を補正するための具体的手法の１つとしては、検出したずれ量に基づき、例えば録再用レーザ光の光軸を変化させるという手法を挙げることができる。具体的には、録再用レーザ光の光軸を例えばガルバノミラーなどを用いて変化させることで、情報記録位置のずれを補正することができる。
【００６６】
しかしながらこのように録再用レーザ光の光軸を変化させる手法で情報記録位置のずれ補正を行うためには、上記のガルバノミラーなどの別途の構成を追加する必要があり、これに伴って部品点数の増加や製造コストの増加を招くものとなってしまう。
【００６７】
そこで、先行例（及び後述する実施の形態も）においては、情報記録位置のずれ補正を、トラッキングサーボの対象位置を本来対象とすべき位置（つまり記録したいトラック）からずらすことで実現するものとしている。すなわち、先に説明したようなサーボ用レーザ光による位置案内子に従った対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が行われる下で、トラッキングサーボの対象位置を、記録したいトラックから補正量に応じた分だけずらすというものである。このことで、結果的に情報記録位置が上記記録したいトラック位置に合致するように制御することができる。
このようにトラッキングサーボの対象位置を本来の対象位置からずらす手法とすることで、例えば上記のような録再用レーザ光の光軸を調整するための別途の追加構成は不要とでき、その分、部品点数の削減や製造コストの削減を図ることができる。
【００６８】
［1-4．基準面の構造］
ここで、上記のようなサーボ用レーザ光によるトラッキングサーボの対象位置をオフセットさせることによる情報記録位置の補正を行うことに対応して、図１に示したバルク型記録媒体１には、その基準面Ｒｅｆに、以下で説明するような態様によるピット列を形成するものとしている。
【００６９】
図５は、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）の表面を一部拡大した平面図である。
この図５においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向としている。この場合、サーボ用レーザ光のスポットは、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、バルク型記録媒体１の半径方向である。
【００７０】
また図５において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。
【００７１】
ここで、図中の黒太線で表す間隔は、従来のバルク型記録媒体１において実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１では、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、半径方向において、従来限界の１トラック幅内に配列されていることになる。
【００７２】
但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。
【００７３】
そこで、本例においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、
１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。
というものである。
【００７４】
ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。
【００７５】
本例において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６４０、開口数ＮＡ＝０．６５の条件で行うものとしている。このことに対応して本実施の形態では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分（Ｔはチャネルビット）の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。つまりこのことによると、ｎ＝６Ｔとなる。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。
【００７６】
ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、次の図６を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図６では、図示の都合上、ピット列の種類（位相）がＡ〜Ｃの３種のみとされた場合を例示している。
また図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。
【００７７】
この図６を参照して分かるように、バルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆにおいては、それぞれ位相の異なる複数種のピット列（図６ではＡ〜Ｃの３種としているが実際にはＡ〜Ｆの６種となる）を１セットとし、該複数種のピット列の１セットがスパイラル状に形成されている。
このことで、上記複数種のピット列のうちの所要の１種のピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置はスパイラル状の軌跡を描くことになる。
【００７８】
また、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により形成されたものとなる。このことから、図示するよう複数種のピット列の個々は、半径方向において、そのピットの形成位置（ピットの形成可能位置）が同じ角度位置に揃えられるものとなる。
【００７９】
ここで、このように基準面ＲｅｆにてピットをＣＡＶ方式で記録するのは、ディスク上のどの領域においても図５に示したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするためである。
【００８０】
［1-5．アドレス情報について］
続いて、図７により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
図７において、先ず図７（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図７（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。
【００８１】
ここで、後述もするように、記録再生装置１０は、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において従来の光学限界を超えた間隔で配列されているという点である。すなわち、この場合においてビームスポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできなくなる。
このために本例の記録再生装置１０は、後述するように、選択したピット列におけるピット形成可能位置の区間のトラッキングエラー信号を抽出し、該抽出したトラッキングエラー信号に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるようにされる。
【００８２】
そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置の区間の和信号（後述のｓｕｍ信号）を抽出し、該抽出した和信号に基づきアドレス情報を検出するという手法が採られる。
【００８３】
このような情報検出の手法に対応するために、本例では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルビット（記録符号）の「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。
【００８４】
その上で、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図７（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。
【００８５】
このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うとしたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本例では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。
【００８６】
図７（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。
【００８７】
バルク型記録媒体１においては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここでアドレス情報としては、少なくとも絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度位置の情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。
【００８８】
なお、図７の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆに対しては、ピットがポジション記録されていることになる。ポジション記録とは、ピット（或いはマーク）の形成部分を「１」、それ以外の部分を「０」とする記録手法を指すものである。
【００８９】
［1-6．トラッキングサーボの具体的な手法］
上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列のうちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明するものとなる。
【００９０】
図８は、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図２に示したサーボ光用受光部２９としての複数の受光素子で得られた受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。
【００９１】
図示するようにして、バルク型記録媒体１の回転に伴いサーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。
【００９２】
ここで、この図の例ではサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大（絶対値）となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。
【００９３】
また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。
【００９４】
具体的に、上記クロックＣＬＫとしては、上記ｓｕｍ微分信号を用いることで、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成する。
クロックＣＬＫの生成手法としては、次の図９に示されるように、先ずは所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成する。そして、これらのＡＮＤをとることで、上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する。
クロックＣＬＫは、このように生成したタイミング信号を入力信号（参照信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行うことで生成する。
【００９５】
図１０は、上記の手順により生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図からも明らかなように、クロックＣＬＫとしては、ピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有する信号となる。具体的には、ピットＡ〜Ｆのピークポジションにその立ち上がりタイミングを有する信号となる。
【００９６】
このようなクロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。
具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずれたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。
【００９７】
これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。先行例及び実施の形態では、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表す期間内におけるトラッキングエラー信号に従ってトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列上にサーボ用レーザ光のビームスポットをトレースさせる。
【００９８】
このようにＡ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が可能となることで、録再用レーザ光による情報記録位置のずれの補正にあたって行われるべきサーボ用レーザ光のスポット位置のオフセットは、少なくともこれらＡ〜Ｆの各ピット列の間隔で行うことができる。つまりこれにより、録再用レーザ光による情報記録位置を従来の１トラック幅よりも狭い間隔で微調整することができる。具体的にこの場合は、従来の１トラック幅を６分割した精度により情報記録位置を補正することができる。
【００９９】
［1-7．具体的なスポット位置ずれ補正手法］
実際にスポット位置ずれ補正を行うにあたっては、上記のようなピット列の選択による１／６トラック幅の精度による情報記録位置の補正を可能とした上で、さらに細かな精度による補正も可能となるようにする。具体的には、選択したピット列についてのトラッキングエラー信号に対してオフセットを与えるなど、トラッキングサーボループ内にオフセットを付与することで、１／６トラック幅を超えるさらなる微調整を可能とするものである。
【０１００】
このようなトラッキングサーボループに対するオフセット付与による補正も含めた、スポット位置ずれ補正の具体的な手法について、次の図１１を参照して説明する。
図１１において、図１１（ａ），図１１（ｂ）ではそれぞれ基準面Ｒｅｆ上の半径方向に配列されたピット列とサーボ用レーザ光、録再用レーザ光のそれぞれのスポットを示しており、図１１（ａ）は無補正の状態、図１１（ｂ）は補正後の状態を示している。
【０１０１】
先ず図１１（ａ）において、無補正の状態では、サーボ用レーザ光の反射光に基づくトラッキングサーボ制御が行われることに伴い、サーボ用レーザ光のスポット位置は記録したいトラック（ピット列）上にあることになる。
そして、ｓｋｅｗやレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光のスポット位置は、図のように上記記録したいトラックからずれた位置にあることになる。具体的にこの図においては、録再用レーザ光のスポット位置ずれがピット列８．５本分生じている場合を例示している。
【０１０２】
このような録再用レーザ光のスポット位置のずれ量は、先の図２に示した位置センサ３０とｓｋｅｗセンサ３１とにより検出することができる。つまり換言すれば、このように生じる録再用レーザ光のスポット位置のずれを補正するための補正量の値（図１１（ｂ））は、これら位置センサ３０とｓｋｅｗセンサ３１の検出結果に基づいて算出するものである。
【０１０３】
このとき、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値そのものは、図１１（ｂ）に示されているような補正量の値を直接的に表すものではなく、当然のことながらこれら位置検出信号ｐｓ-olの値やｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値を正規化して、トラッキングサーボ対象位置のオフセット量としての補正量の値を算出することになる。
具体的に、本例においては、以下のような考え方に基づき、ｓｋｅｗ及びレンズシフトに起因するスポット位置ずれを補正するための補正量（トラッキングサーボ対象位置のオフセット量）AD_OFSを計算するものとしている。
先ず、ｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SKと、レンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SHとを個別に考え、
AD_SK＝（ｓｋ−offset_SK）×gain_SK ・・・［式１］
AD_SH＝（ｐｓ-ol−offset_SH）×gain_SH ・・・［式２］
とする。ここで［式１］において、offset_SK、gain_SKは、ｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値に基づきｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SKを求めるにたって設定された補正係数である。
同様に［式２］において、offset_SH、gain_SHは、位置検出信号ｐｓ-olの値に基づきレンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量AD_SHを求めるにたって設定された補正係数である。
このようにｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれについての補正量AD_SKとレンズシフト起因分のスポット位置ずれについての補正量AD_SHとを個別に扱うものとした上で、ｓｋｅｗ及びレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量AD_OFSを、次の［式３］により計算する。
AD_OFS＝AD_SK＋AD_SH＋Ｄ_alm ・・・［式３］
但し［式３］において、Ｄ_almは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の光軸位置のアライメントずれを表す補正係数である。
【０１０４】
上記のような［式１］〜［式３］の演算により、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とから、正規化された補正量AD_OFSを算出する。
【０１０５】
ここで、上記のように求めた補正量AD_OFSは、距離の情報となる。前述のように本例の場合、スポット位置ずれの補正は、トラッキングサーボの対象とするピット列の選択を伴うものとなるので、上記のようにして求まった補正量AD_OFSの値から、トラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定する処理を行う必要がある。具体的には、補正量AD_OFSの値をピット列の形成ピッチの値によって除算することで、図１１（ａ）の記録したいトラックからオフセットさせるべきピット列の本数が求まり、その結果から、トラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定するものである。
【０１０６】
また、上記除算を行った結果得られる余りの値は、補正のためにトラッキングサーボループに対して与えるべきオフセットの値を表すものであり、この値も取得しておく。具体的に図１１の例では、ピット列の形成ピッチの１／２の値が当該オフセットの値となる。
【０１０７】
ここで、このように補正量AD_OFSの値からトラッキングサーボの対象とすべきピット列を特定する過程で得られるオフセットの値（補正のためにトラッキングサーボループに付与すべきオフセットの値）については、オフセットｏｆｓと称する。
また、上記のようにして補正量AD_OFSの値から特定したピット列（補正のためにトラッキングサーボの対象とすべきピット列）については、補正用対象ピット列と称する。
【０１０８】
上記のようにして補正量AD_OFSの値に基づき補正用対象ピット列の特定、及びオフセットｏｆｓの取得を行った上で、これらの情報に基づき、サーボ用レーザ光によるトラッキングサーボ対象位置をオフセットさせる。具体的には、上記補正用対象ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドして得られるトラッキングエラー信号に基づくトラッキングサーボ制御を行うことで、上記補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボ制御が行われるようにすると共に、その状態においてトラッキングサーボループ内に上記取得したオフセットｏｆｓを与えることで、トラッキングサーボの対象位置を上記補正量AD_OFSに応じた分だけオフセットさせる。
このような補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボ制御とトラッキングサーボループ内へのオフセットｏｆｓの付与とを行うことで、サーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御の目標値が、計算した補正量AD_OFSの値に応じた分だけオフセットされたことになる。従ってこのことで、サーボ用レーザ光のスポット位置は、図１１（ｂ）に示されるように、記録したいトラック位置から補正量AD_OFSの分だけオフセットされるものとなり、これに伴い、録再用レーザ光のスポット位置が、記録したいトラックに合わせ込まれることになる。つまりこの結果、情報記録位置のずれが補正されるものである。
確認のために述べておくと、上記のようにトラッキングサーボループ内に補正量AD_OFSから算出されたオフセットｏｆｓを与えることで、ピット列の形成間隔を超える精度での補正が実現される。
【０１０９】
なおこのとき、図１１の例のように補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上の値となる（つまりこの場合はピット列３本分以上の値となる）場合は、ジャンプパルスを与えて、サーボ用レーザ光のスポット位置を補正用対象ピット列の方向に移動させることで、selector信号の選択切り替えによるトラッキングサーボ対象のピット列の選択切り替えが可能な状態となるようにする。
先の図８や図１０を参照して理解されるように、或るピット列を対象としてトラッキングサーボをかけた状態において、selector信号の選択切り替えによりトラッキングサーボの対象として選択切り替え可能なピット列は、サーボ対象としているピット列を中心としてそれぞれ従来限界トラックの半本分（ピット列３本分）未満の距離内に位置するピット列までとなる。つまり図１１（ａ）のように補正前のサーボ対象のピット列がピット列Ａとされている状態では、selector信号の選択切り替えによりトラッキングサーボの対象として選択切り替え可能なピット列は、ピット列Ｂ、ピット列Ｃ、ピット列Ｆ、ピット列Ｅとなる。従って、図１１に示す例のように補正用対象ピット列が現在トラッキングサーボの対象としているピット列から従来限界トラックの半本分以上離れた位置にある場合には、トラッキングサーボを一瞬オフとした上で、上記補正対象ピット列の方向へのジャンプパルスを与えて、サーボ用レーザ光のスポット位置を補正用対象ピット列方向に移動させる。このとき与えるジャンプパルスの大きさは、現在トラッキングサーボの対象としているピット列から補正用対象ピット列までの距離に応じて変化させる。そして、該ジャンプパルスの付与を行った上で、補正用対象ピット列のselector信号を選択して該補正用対象ピット列についてのトラッキングエラー信号を得るものとし、該トラッキングエラー信号に基づくトラッキングサーボが行われるようにする。
このようにすることで、補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上となる場合にも、トラッキングサーボの対象ピット列を上記補正用対象ピット列に切り替えることができる。
【０１１０】
なお、計算した補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本分以上である場合に補正用対象ピット列を対象としたトラッキングサーボを行うための手法は、上記手法に限定されるべきものではなく、例えばトラッキングサーボの対象とするピット列を隣接するピット列に順次切り替えていって補正用対象ピット列に到達させるなど、他の手法を採ることもできる。
何れにしても、この場合のスポット位置ずれ補正の実現にあたっては、計算した補正量AD_OFSから特定した補正用対象ピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにすることに変わりはない。
【０１１１】
［1-8．記録装置の全体的な内部構成］
図１２は、上記により説明した手法によりスポット位置ずれ補正を行う、先行例としての記録再生装置１０の全体的な内部構成を示している。
なお図１２において、光学ピックアップＯＰの内部構成については、先の図２に示した構成のうち録再用レーザ１１、レンズ駆動部１６、２軸アクチュエータ２１、及び位置センサ３０のみを抽出して示している。
【０１１２】
図１２において、記録再生装置１０には、スピンドルモータ４３が設けられる。
スピンドルモータ４３は、ＦＧ（Frequency Generator）モータを備え、バルク型記録媒体１を一定速度（一定回転速度）で回転駆動する。
スピンドルモータ４３は、後述するコントローラ４１からの指示に応じてその回転の開始／停止を行う。
【０１１３】
また、記録再生装置１０には、バルク層５を対象とした記録／再生や、記録マークの再生時における対物レンズ２０のフォーカス／トラッキング制御（つまり録再用レーザ光の反射光に基づく位置制御）を行うための信号処理系の構成として、図中の記録処理部３２、録再光用マトリクス回路３３、再生処理部３４が設けられている。
【０１１４】
記録処理部３２には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３２は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
記録処理部３２は、後述するクロック生成回路３９により生成されるクロックＣＬＫ（再生クロック）を記録クロックとして入力し、該記録クロックに基づき上記生成した記録変調データ列に応じた記録パルスＲＣＰを生成する。そして該記録パルスＲＣＰにより光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１の発光駆動を行う。
【０１１５】
録再光用マトリクス回路３３は、図２に示した録再光用受光部２３としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-rp（出力電流）に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、上述した記録変調データ列を再生した再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-rpを生成する。
【０１１６】
録再光用マトリクス回路３３にて生成された上記再生信号ＲＦは、再生処理部３４に供給される。
また、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、録再光用サーボ回路３５に対して供給される。
【０１１７】
再生処理部３４は、上記再生信号ＲＦについて、２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
【０１１８】
また、録再光用サーボ回路３５は、マトリクス回路３３から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づきフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpをそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpに基づき、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
先の説明からも理解されるように、このような録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ２１（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。
【０１１９】
また、録再光用サーボ回路３５は、再生時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。
【０１２０】
また、記録再生装置１０においては、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、サーボ光用マトリクス回路３６、アドレス検出回路３７、サーボ光用サーボ回路３８、クロック生成回路３９、selector信号生成・選択部４０、サンプルホールド回路ＳＨ１、及び加算器４２が設けられる。
【０１２１】
サーボ光用マトリクス回路３６は、図２に示したサーボ光用受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的にこの場合のサーボ光用マトリクス回路３６は、プッシュプル信号ＰＰ、ｓｕｍ信号（和信号）、及びフォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
図示するようにプッシュプル信号ＰＰはサンプルホールド回路ＳＨ１に対して供給される。またフォーカスエラー信号ＦＥ-svはサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
またｓｕｍ信号はアドレス検出回路３７、及びクロック生成回路３９に対して供給される。
【０１２２】
アドレス検出回路３７は、selector信号生成・選択部４０により後述するようにして生成・選択されたselector信号を入力し、該selector信号が表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号がＨレベルの区間）で上記サーボ光用マトリクス回路３６からのｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報（少なくとも半径位置情報や回転角度位置情報を含む絶対位置情報）を検出する。
ここで、先の図７を参照して説明したように、本例の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路３７は、上記selector信号の立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図９で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路３７で検出されたアドレス情報は、コントローラ４１に対して供給される。
【０１２３】
クロック生成回路３９は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
図１３は、クロック生成回路３９の内部構成を示している。
図１３において、クロック生成回路３９内にはスライス回路３９Ａ、ｓｕｍ微分回路３９Ｂ、スライス回路３９Ｃ、ＡＮＤゲート回路３９Ｄ、及びＰＬＬ回路３９Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路３９Ａとｓｕｍ微分回路３９Ａとに入力される。スライス回路３９Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路３９Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路３９Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路３９Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路３９Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路３９Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路３９Ｄは、上記スライス回路３９Ａからの出力と上記スライス回路３９Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路３９Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路３９Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。
【０１２４】
図１２に戻り、クロック生成回路４５により生成されたクロックＣＬＫは、前述した記録処理部３２に対して供給されると共に、selector信号生成・選択部４０に対しても供給される。
【０１２５】
selector信号生成・選択部４０は、クロックＣＬＫに基づく各selector信号の生成、及び生成したselector信号のうちの指示されたselector信号の選択出力を行う。
【０１２６】
図１４は、selector信号生成・選択部４０の内部構成を示している。
図示するようにselector信号生成・選択部４０には、selector信号生成回路４５、及びselector信号選択回路４６が設けられる。
selector信号生成回路４５は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路４５は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
これら６種のselector信号はselector信号選択回路４６に対して供給される。
【０１２７】
selector信号選択回路４６は、入力した６種のselector信号のうちから、コントローラ４１より供給される選択信号SLCTにより指示された位相のselector信号を選択・出力する。
【０１２８】
説明を図１２に戻す。
selector信号選択回路４６より出力されたselector信号は、前述したアドレス検出回路３７に供給されると共に、図のようにサンプルホールド回路ＳＨ１に対しても供給される。
【０１２９】
サンプルホールド回路ＳＨ１は、Ａ／Ｄ変換器を備え、サーボ光用マトリクス回路３６から供給されるプッシュプル信号ＰＰを上記selector信号の立ち上がりエッジでサンプルホールドする。
このようにしてサンプルホールド回路ＳＨ１によりselector信号に従ってプッシュプル信号ＰＰをサンプルホールドして得られるトラッキングエラー信号については、以下、トラッキングエラー信号ＴＥ-svと称する。
【０１３０】
図示するようにサンプルホールド回路ＳＨ１により得られたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、加算器４２を介してサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
またトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、コントローラ４１に対しても供給される。
【０１３１】
サーボ光用サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、及び加算器４２を介したトラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づき、それぞれフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
そして、記録時には、コントローラ４１からの指示に応じて、上記フォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svに基づいて、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動することで、サーボ用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、及び所要のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実現する。
【０１３２】
また、サーボ光用サーボ回路３８は、記録時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ２１のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作（ピット列間のジャンプ動作）を実現する。
【０１３３】
コントローラ４１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
例えばコントローラ４１は、前述したように予め各層位置に対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、深さ方向における記録位置の選択を行う。
【０１３４】
また、コントローラ４１は、先に説明したような記録／再生時の対物レンズ２０のサーボ制御切り替えを実現するための制御も行う。具体的にコントローラ４１は、記録時には、サーボ光用サーボ回路３８に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を指示し、また録再光用サーボ回路３５にはフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を停止するように指示を行う。
一方、再生時には、録再光用サーボ回路３５に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を指示し、サーボ光用サーボ回路３８に対しては、フォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を停止するように指示を行う。
【０１３５】
またコントローラ４１は、サーボ光用サーボ回路３８に対するシーク動作制御も行う。すなわち、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上における所定の目標アドレスに移動させるようにサーボ回路３８に対する指示、及びselector信号生成・選択部４０（selector信号選択回路４６）に対する選択信号SLCTによるselector信号の選択指示を行う。
【０１３６】
ここで、この場合におけるシーク動作制御は、大まかには例えば以下のような手順で行われることになる。
１）前述のスライド駆動部を利用した光学ピックアップＯＰ全体の移動による目標アドレス付近への移動
２）サーボ用レーザ光のフォーカスサーボＯＮ
３）ｓｕｍ信号に基づくクロックＣＬＫの生成＆各selector信号の生成
４）任意に選択したselector信号に基づき、任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実行
５）上記４）にてトラッキングサーボがかかることで、アドレス情報（ピット列を識別するための情報）が読めるので、そのアドレスから目標アドレスまでのピット列ジャンプを行う
コントローラ４１は、上記１）２）の動作が実行されるように、サーボ回路３８に対する指示を行う。またコントローラ４１は、上記４）における任意のselector信号の選択のために、選択信号SLCTにより、selector信号生成・選択部４０に対し予め定められた位相によるselector信号の選択指示を行う。
またコントローラ４１は、上記５）の動作の実現のために、上記４）によるトラッキングサーボがかかることに応じてアドレス検出回路３７により検出されるアドレス情報を入力し、該アドレス情報に基づき、目標アドレスまでに要するピット列のジャンプ本数を計算し、該ジャンプ本数分だけピット列ジャンプ動作を実行させるための指示をサーボ回路３８に対して行う。
【０１３７】
また、コントローラ４１は、先に説明したスポット位置ずれ補正に係る制御処理として、以下のような処理も実行する。
つまりコントローラ４１は、ｓｋｅｗセンサ３１によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値とを逐次取得すると共に、これらｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と位置検出信号ｐｓ-olの値と、補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almとを用いた先の［式１］〜［式３］の演算を行うことで、補正量AD_OFSを逐次計算する。
そして、計算した補正量AD_OFSの値をピット列の形成ピッチの値により除算した結果に基づき、補正量AD_OFS分の補正を行うために選択すべき補正用対象ピット列を特定すると共に、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに与えるべきオフセットｏｆｓの値を取得する。
その上で、特定した補正用対象ピット列のピット形成可能位置のタイミングを表すselector信号の選択を、選択信号SLCTによってselector信号生成・選択部４０に指示すると共に、取得したオフセットｏｆｓの値を、加算器４２に出力してトラッキングエラー信号ＴＥ-svに対するオフセットｏｆｓの付与を実行させる。
なお、先に説明したように、計算した補正量AD_OFSが従来限界トラックの半本以上となる場合は、サーボ光用サーボ回路３８に補正用対象ピット列が形成される方向へのジャンプパルスを与えることになる。
【０１３８】
また、コントローラ４１は、このようなスポット位置ずれ補正動作に伴いサーボ用レーザ光のスポット位置が本来対象とすべきピット列上からオフセットさせることに伴い生じるアドレス情報の誤差を補正するための処理も行う。具体的には、スポット位置ずれ補正動作の実行中において、アドレス検出回路３７にて得られるアドレス情報を、サーボ用レーザ光スポット位置のオフセット量（記録したいトラックから実際にサーボ対象としているピット列までのピット列本数）に応じて補正するものである。
【０１３９】
＜２．実施の形態＞
［2-1．先行例の問題］
ここで、上記のように先行例では、先の図３や図４にて説明したような情報記録位置のずれの補正を、トラッキングサーボの対象位置を本来の位置からオフセットさせることで行うとした場合において、より細かな精度での補正を可能とするために、基準面Ｒｅｆにて先の図６（及び図５）に示したようなフォーマットによるピット列を形成するものとしている。
そして、前述もしたように、図６に示すようなフォーマットとするときは、ディスク上のどの領域においても図５で説明したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするために、ピット列をＣＡＶ方式で記録することになる。
【０１４０】
このように基準面Ｒｅｆにてピット列がＣＡＶ記録されることに対応して、先行例においては、バルク層５に対する記録時において、バルク型記録媒体１を一定速度で回転駆動するようにされている。すなわち、先行例において、バルク層５へのマーク記録は、ＣＡＶ方式により行われるものである。
【０１４１】
しかしながら前述もしたように、ＣＡＶ記録は、ＣＬＶ記録と比較してマーク記録密度が低下する傾向となる。具体的には、次の図１５に示されるように外周側ほど記録マーク長が長くなる傾向となるので、その分、マーク記録密度が低下してしまうものである。
このようであると、バルク層５の記録容量の低下は避けられないものとなる。
【０１４２】
［2-2．実施の形態としての記録装置の構成］
上記のような問題点の解決を図るべく、本実施の形態においては、記録再生装置１０を改良した、次の図１６に示すような記録再生装置５０を提案する。
なお、図１６において、既に先の図１２において説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
【０１４３】
この図１６と先の図１２とを比較して分かるように、実施の形態の記録再生装置５０は、先行例としての記録再生装置１０に対して、図中の記録クロック調整部５１を追加したものとなる。
【０１４４】
記録クロック調整部５１には、アドレス検出回路３７により検出されたアドレス情報（半径位置情報を含む）と、クロック生成回路３９にて生成されたクロックＣＬＫとが入力される。
記録クロック調整部５１は、上記アドレス情報として入力される半径位置情報に基づき、クロックＣＬＫの周波数を変化させる。そして、このように半径位置情報に基づきクロックＣＬＫの周波数を変化させた信号を、記録クロックとして記録処理部３２に出力する。
具体的に、記録クロック調整部５１は、上記半径位置情報から特定される現在の半径位置が外周側となるに従ってクロックＣＬＫの周波数を高めるように変化させる。
より具体的には、上記記録クロックの周波数をｆr、クロックＣＬＫの周波数をｆ0、最内周半径位置をｒ0、現在の半径位置をｒとしたとき、
ｆr＝ｆ0×ｒ／ｒ0 ・・・［式４］
によりクロックＣＬＫの周波数を変化させて記録クロックを生成する。
【０１４５】
この［式４］により生成した記録クロックに従って記録処理部３２によるマーク記録動作が実行されることで、バルク層５に対しては、マーク列があたかもＣＬＶ記録されたかのようになる。換言すれば、次の図１７に示すように、ディスク上のどの位置でもマーク記録密度を一定に保つことができるものである。
【０１４６】
このようにして本実施の形態の記録再生装置５０によれば、基準面ＲｅｆにＣＡＶ方式による情報記録が行われたことに対応してバルク型記録媒体１を一定速度で回転駆動する場合において、バルク層５内にマークを記録密度一定で記録することができる。つまりこの結果、バルク層５内におけるマークの記録密度を、ＣＡＶ記録を行う場合よりも高めることができる。
このようにマークの記録密度を高めることができることで、バルク層５の記録容量を拡大できる。
【０１４７】
＜３．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまので説明では、半径位置に応じて連続的にクロック周波数を変化させるものとしたが、バルク型記録媒体１を複数の半径領域に分割し、該半径領域ごとに段階的に周波数を変化させるようにもできる。
何れにしても、半径位置に応じてクロック周波数を変化させれば、単純にバルク層５にＣＡＶ記録を行う（つまりクロックＣＬＫなど一定周波数の信号を記録クロックとして用いた記録を行う）場合よりも、マーク記録密度の向上を図ることができ、それによって記録容量の拡大を図ることができる。
【０１４８】
また、これまでの説明では、ＦＧモータによりバルク型記録媒体１を一定速度で回転駆動するものとしたが、クロックＣＬＫ（再生クロック）に基づく回転速度制御を行うことで一定速度での回転駆動を実現することもできる。
【０１４９】
図１８は、このようにしてクロックＣＬＫに基づき一定速度での回転駆動を行う変形例としての記録再生装置６０の内部構成を示している。なお図１８において、既に先の図１２や図１６で説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
この図１８と先の図１６とを比較して分かるように、当該変形例としての記録再生装置６０は、先の記録再生装置５０に対しスピンドルサーボ回路６２が追加されると共に、ＦＧモータによるスピンドルモータ４３に代えて速度可変型のスピンドルモータ６１が設けられる。
スピンドルサーボ回路６２は、クロック生成回路３９からのクロックＣＬＫを現在のディスク回転速度情報として入力し、当該クロックＣＬＫの周波数が一定となるようにスピンドルモータ６１の回転速度を制御することで、バルク型記録媒体１を一定速度で回転させる。
この場合、コントローラ４１はスピンドルサーボ回路６２に対して回転停止／開始指示やキック／ブレーキの指示等を行い、スピンドルサーボ回路６２はこれらの指示に応じてもスピンドルモータ６１の回転を制御する。
【０１５０】
また、これまでの説明では、記録クロックは、基準面Ｒｅｆからの反射光に基づき生成したクロックＣＬＫを半径位置に応じて変化させて生成するものとしたが、記録クロックは、別途設けた信号発生器で生成した一定周波数による信号を、半径位置に応じて変化させて生成することもできる。
図１９は、このようにして記録クロックを生成する変形例（他の変形例）としての記録再生装置６５の内部構成を示している。なお図１９においても、既に先の図１２や図１６で説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。
図１９と先の図１６とを比較して分かるように、当該変形例としての記録再生装置６５は、先の記録再生装置５０に対し信号発生器６６が追加されると共に、記録クロック調整部５１に代えて記録クロック調整部６７が設けられる。
信号発生器６６は一定周波数による信号を生成する。記録クロック調整部６７は、このように信号発生器６６により生成される一定周波数の信号について、その周波数を半径位置に応じて変化させて記録クロックを生成し、該記録クロックを記録処理部３２に対して与える。
【０１５１】
このように本発明における記録クロックの生成手法としては、上記信号発生器６６により生成した一定周波数による信号や実施の形態におけるクロックＣＬＫ（再生クロック）など、一定周波数となるように生成された基準信号の周波数を半径位置に応じて変化させるものであればよく、それにより、記録層におけるマーク記録密度の向上を図ることができる。
【０１５２】
また、これまでの説明では、基準面Ｒｅｆにおけるピット列は、スパイラル状に形成する場合を例示したが、同心円状に形成することもできる。
ピット列を同心円状に記録する場合、バルク層５に対するマーク記録は、適正な半径方向ピッチが得られるようにして行うことになる。
例えば、マーク列の半径方向における適正な形成ピッチが従来限界トラックピッチ（ピット列６本分）である場合、マーク列の記録は、ピット列１周の記録を完了した後に、順次６本のピット列をジャンプしながら行うといった手法を挙げることができる。すなわち、或るピット列を１周記録→６本のピット列ジャンプ→ジャンプ先のピット列を１周記録→６本のピット列ジャンプ・・・を繰り返して、いわば同心円状記録に近いかたちでマーク列の記録を行うものである。
【０１５３】
また、同心円の場合であっても、ピット列を徐々にわたっていくことによるスパイラル記録を実現できる。具体的にスパイラル記録は以下のようにして行う。
先ず、スパイラル記録の実現にあたっては、或るピット列を対象としたトラッキングサーボの実行中に、サーボ対象のピット列の外周側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svが並行して得られるようにしておく。つまりこの場合は、selector信号に応じたタイミングでｓｕｍ信号をサンプリングしてトラッキングエラー信号ＴＥ-svを得るための構成を、少なくとも２つ設けるものとし、それらのうち何れか一方の出力を加算器４１に選択出力できるようにしておく。
その上で、或るピット列についてのトラッキングサーボ実行中に、サーボループ内にその値が徐々に大となるオフセットを与える。このようなオフセットの付与により、スポット位置は徐々に外周側にシフトしていく。
上記オフセットの付与によりスポット位置が対象ピット列とその外周隣接ピット列との間の適当な位置（例えば中間位置）に到達したことに応じ、サーボ対象ピット列を外周隣接ピット列に切り替えると共に、サーボループ内に与えるオフセットの極性を反転させる。
オフセットの極性反転後は、オフセットの値が徐々に大となる（絶対値としては徐々に小となる）ことで、スポット位置は切り替え後の対象ピット列に徐々に近づいていくことになる（切り替え後のピット列からみるとスポット位置は内周側にずれた位置にあるため）。そして、その後もオフセットが与えられ続けると、スポット位置は切り替え後の対象ピット列を通過し（このときオフセットはゼロである）、その後、さらに外周側に隣接するピット列との間の適当な位置に到達する。このように外周隣接ピット列との間の適当な位置に到達したことに応じて、上記と同様にサーボ対象とするピット列を外周隣接ピット列に切り替えると共にオフセットの極性を反転させる。
このように、オフセットの付与と外周隣接ピット列へのサーボ対象ピット列の切り替えとによるいわば「ピット列わたり」を繰り返していくことで、上記オフセットの傾き（値の上昇率）に応じた任意ピッチによるスパイラル記録を実現できる。
【０１５４】
また、先の説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列として、Ａ〜Ｆの計６つを設定するものとし、半径方向においてはこれら６つのパターン（ピット列位相）によるピット列が繰り返し形成されるものとしたが、上記複数のピット列の数は６つに限定されるべきものではなく、より多くの本数、或いはより少ない本数とすることもできる。
【０１５５】
また、ピット列における各ピット形成可能位置の区間長は３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も同様の３Ｔ分の長さに設定する（つまりｎ＝６Ｔに設定する）場合を例示したが、これらはあくまで一例を示したものに過ぎない。これら各ピット形成可能位置の区間長、及びピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔については、先に挙げた１）２）の条件が満たされるようにして設定されればよいものである。
【０１５６】
またこれまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列に関して、外周側ほどピット列位相が進み内周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列したが、例えば逆に内周側ほどピット列位相が進み外周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列するなど、上記複数のピット列の配列パターンは、ピット列形成方向において光学限界を超えないという条件の下で様々なパターンの設定が可能である。
【０１５７】
また、基準面において位置案内子はピットによって形成するものとしたが、基準面における位置案内子はマークの記録により形成することもできる。
【０１５８】
また、基準面における情報記録のフォーマットは、図５や図６に示したようなフォーマットに限定されるべきものではなく、本発明において基準面は、少なくとも半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ方式で行われたものであればよい。
例えば図５や図６に示したフォーマットを採用しない場合、半径位置情報はウォブリンググルーブで記録することもできる。このように基準面にウォブリンググルーブで半径位置情報が記録される場合も本発明は好適に適用できる。
【０１５９】
また、これまでの説明では、本発明において記録対象とする光記録媒体がバルク型の光記録媒体とされる場合を例示したが、本発明としては、バルク層５ではなく、例えば次の図２０に示されるような複数の記録膜が形成された多層構造を有する記録層が設けられた光記録媒体（多層記録媒体７０とする）に対しても好適に適用できる。
図２０において、多層記録媒体７０は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図１に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜７１と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜７１は、基板７２上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
ここで、注意すべきは、上記半透明記録膜７１には、グルーブやピット列の形成に伴う位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体７０としても、スパイラル状又は同心円状の位置案内子は、基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。
【０１６０】
このような多層記録媒体７０の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜７１が形成されているため、記録時においても録再用レーザ光の反射光を用いたフォーカス制御を行うことができる。
すなわち、この場合の記録時において、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御は、当該録再光用レーザ光の反射光に基づいて可動レンズ１５（レンズ駆動部１６）を駆動することで、記録対象とする半透明記録膜７１に合焦させるようにして行うことになる。
一方、記録時における録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御に関しては、この場合もサーボ用レーザ光を用いて行うことになる。すなわち、この場合としても、記録時におけるトラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の基準面Ｒｅｆからの反射光に基づき対物レンズ２０を駆動することで、当該サーボ用レーザ光の焦点位置が基準面Ｒｅｆの位置案内子に追従するようにして行う。
【０１６１】
また、再生時には、この場合も既に記録されたマーク列に基づいて録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御を行うことができる。また、上記説明からも理解されるように、再生時においても、録再用レーザ光のフォーカスサーボ制御は、対象とする半透明記録膜７１（情報記録層Ｌ）からの反射光を利用して行うことができる。
つまりこの場合、再生時におけるサーボ制御は、実施の形態の場合と同様の手法で行うことになる。すなわち、再生時における録再用レーザ光のフォーカスサーボ制御は、録再用レーザ光の反射光に基づき、当該録再光用サーボ光が対象とする情報記録層Ｌに合焦するように対物レンズ２０を駆動することで行い、また録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御は、録再用レーザ光の反射光に基づき、当該録再光用サーボ光の焦点位置が記録済みマーク列を追従するように対物レンズ２０を駆動することで行う。
【０１６２】
また、これまでの説明では、基準面は、記録層の上層側に対して設けるものとしたが、基準面は記録層の下層側に設けることもできる。
【０１６３】
本発明において、光記録媒体としては、半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有するものであればよい。
【０１６４】
また、これまでの説明では、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光とは波長の異なる光を用いるものとしたが、これらを同一波長とすることもできる。その場合、ダイクロイックプリズム１９による分光ではなく、例えば偏光を利用した分光を行うことで、それぞれの反射光を別々の受光部に分岐して導くことができる。
このように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とを同一波長とできれば、光源としては１つのみを設ければ足るものとできる。
【０１６５】
またこれまでの説明では、本発明が光記録媒体に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光記録媒体（記録層）に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。
【符号の説明】
【０１６６】
１ バルク型記録媒体、２ カバー層、３ 選択反射膜、Ｒｅｆ 基準面、４ 中間層、５ バルク層、Ｌ マーク形成層位置（情報記録層位置）、１０,５０,６０,６５ 記録再生装置、１１ 録再用レーザ、１２,２５ コリメーションレンズ、１３,２６ 偏光ビームスプリッタ、１４ 固定レンズ、１５ 可動レンズ、１６ レンズ駆動部、１７ ミラー、１８,２７ １／４波長板、１９ ダイクロイックプリズム、２０ 対物レンズ、２１ ２軸アクチュエータ、２２,２８ 集光レンズ、２３ 録再光用受光部、２４ サーボ用レーザ、２９ サーボ光用受光部、３０ 位置センサ、３１ ｓｋｅｗセンサ、３２ 記録処理部、３３ 録再光用マトリクス回路、３４ 再生処理部、３５ 録再光用サーボ回路、３６ サーボ光用マトリクス回路、３７ アドレス検出回路、３８ サーボ光用サーボ回路、３９ クロック生成回路、３９Ａ,３９Ｃ スライス回路、３９Ｂ ｓｕｍ微分回路、３９Ｄ ＡＮＤゲート回路、３９Ｅ ＰＬＬ回路、４０ selector信号生成・選択部、４１ コントローラ、４２ 加算器、４３,６１ スピンドルモータ、ＳＨ１ サンプルホールド回路、４５ selector信号生成回路、４６ selector信号選択回路，５１,６７ 記録クロック調整部、６２ スピンドルサーボ回路、６６ 信号発生器
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体を、一定速度で回転駆動する回転駆動部と、
上記光記録媒体に対し、上記記録層に対して照射されるべき第１の光と上記基準面に対して照射されるべき第２の光とを共通の対物レンズを介して照射する光照射部と、
上記第２の光が上記基準面に対して合焦した状態で上記第１の光が上記記録層内の所要位置に合焦するように調整を行う合焦位置調整部と、
上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する受光部と、
上記受光部により得られた受光信号に基づき、再生クロックを生成する再生クロック生成部と、
上記受光部により得られた受光信号と上記再生クロックとに基づき上記基準面に記録された上記半径位置情報を検出する半径位置検出部と、
入力される基準信号の周波数を上記半径位置検出部により検出された半径位置情報に応じて変化させる周波数調整部と、
上記周波数調整部により得られた信号を記録クロックとして用いて上記第１の光の光源を発光駆動することで上記記録層に対するマーク記録を行う記録部と
を備える記録装置。
【請求項２】
上記周波数調整部は、
上記半径位置情報が示す半径位置が外周側となるほど上記基準信号の周波数を高く変化させる
請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
上記周波数調整部は、
上記基準信号として上記再生クロックを入力し、上記半径位置情報に応じて上記再生クロックの周波数を変化させる
請求項１に記載の記録装置。
【請求項４】
上記回転駆動部は、
上記再生クロック生成部により生成される上記再生クロックに基づき上記光記録媒体を一定速度で回転駆動する
請求項１に記載の記録装置。
【請求項５】
上記記録層はバルク層とされ、上記バルク層内には予め複数の層位置が設定されており、
上記合焦位置調整部を制御して、上記バルク層内における所要の一の層位置に対して上記第１の光を合焦させる制御部を備える
請求項１に記載の記録装置。
【請求項６】
上記記録層は、
深さ方向の複数位置に記録膜が複数形成された多層構造を有する記録層とされ、
上記合焦位置調整部を制御して、上記記録層内における所要の一の記録膜に対して上記第１の光を合焦させる制御部を備える
請求項１に記載の記録装置。
【請求項７】
上記基準面は、
１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされていると共に、個々の上記ピット列上の上記ピットの形成可能位置におけるピットの形成有無のパターンにより、上記個々のピット列ごとに上記半径位置情報が記録されており、
上記半径位置検出部は、
上記再生クロック生成部により生成された上記再生クロックに基づき、上記基準面に形成されたそれぞれ異なるピット列位相を有する複数のピット列ごとにそのピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部と、
上記タイミング選択信号生成部により生成された上記複数のタイミング選択信号のうちから、指示されたタイミング選択信号を選択するタイミング選択信号選択部と、
上記タイミング選択信号選択部によって選択されたタイミング選択信号が表す上記ピットの形成可能位置のタイミングで、上記受光信号に基づき得られる再生信号のチャネルデータ値を判定し、その結果に基づき上記半径位置情報を検出する情報検出部と
を有して構成される
請求項５又は請求項６に記載の記録装置。
【請求項８】
半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体を、一定速度で回転駆動する回転駆動手順と、
上記光記録媒体に対し、上記記録層に対して照射されるべき第１の光と上記基準面に対して照射されるべき第２の光とを共通の対物レンズを介して照射する光照射手順と、
上記第２の光が上記基準面に対して合焦した状態で上記第１の光が上記記録層内の所要位置に合焦するように調整を行う合焦位置調整手順と、
上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する受光手順と、
上記受光手順により得た受光信号に基づき、再生クロックを生成する再生クロック生成手順と、
上記受光手順により得た受光信号と上記再生クロックとに基づき上記基準面に記録された上記半径位置情報を検出する半径位置検出手順と、
入力される基準信号の周波数を上記半径位置検出手順で検出した半径位置情報に応じて変化させる周波数調整手順と、
上記周波数調整手順により得た信号を記録クロックとして用いて上記第１の光の光源を発光駆動することで上記記録層に対するマーク記録を行う記録手順と
を有する記録方法。
【請求項１】
半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体を、一定速度で回転駆動する回転駆動部と、
上記光記録媒体に対し、上記記録層に対して照射されるべき第１の光と上記基準面に対して照射されるべき第２の光とを共通の対物レンズを介して照射する光照射部と、
上記第２の光が上記基準面に対して合焦した状態で上記第１の光が上記記録層内の所要位置に合焦するように調整を行う合焦位置調整部と、
上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する受光部と、
上記受光部により得られた受光信号に基づき、再生クロックを生成する再生クロック生成部と、
上記受光部により得られた受光信号と上記再生クロックとに基づき上記基準面に記録された上記半径位置情報を検出する半径位置検出部と、
入力される基準信号の周波数を上記半径位置検出部により検出された半径位置情報に応じて変化させる周波数調整部と、
上記周波数調整部により得られた信号を記録クロックとして用いて上記第１の光の光源を発光駆動することで上記記録層に対するマーク記録を行う記録部と
を備える記録装置。
【請求項２】
上記周波数調整部は、
上記半径位置情報が示す半径位置が外周側となるほど上記基準信号の周波数を高く変化させる
請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
上記周波数調整部は、
上記基準信号として上記再生クロックを入力し、上記半径位置情報に応じて上記再生クロックの周波数を変化させる
請求項１に記載の記録装置。
【請求項４】
上記回転駆動部は、
上記再生クロック生成部により生成される上記再生クロックに基づき上記光記録媒体を一定速度で回転駆動する
請求項１に記載の記録装置。
【請求項５】
上記記録層はバルク層とされ、上記バルク層内には予め複数の層位置が設定されており、
上記合焦位置調整部を制御して、上記バルク層内における所要の一の層位置に対して上記第１の光を合焦させる制御部を備える
請求項１に記載の記録装置。
【請求項６】
上記記録層は、
深さ方向の複数位置に記録膜が複数形成された多層構造を有する記録層とされ、
上記合焦位置調整部を制御して、上記記録層内における所要の一の記録膜に対して上記第１の光を合焦させる制御部を備える
請求項１に記載の記録装置。
【請求項７】
上記基準面は、
１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされていると共に、個々の上記ピット列上の上記ピットの形成可能位置におけるピットの形成有無のパターンにより、上記個々のピット列ごとに上記半径位置情報が記録されており、
上記半径位置検出部は、
上記再生クロック生成部により生成された上記再生クロックに基づき、上記基準面に形成されたそれぞれ異なるピット列位相を有する複数のピット列ごとにそのピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部と、
上記タイミング選択信号生成部により生成された上記複数のタイミング選択信号のうちから、指示されたタイミング選択信号を選択するタイミング選択信号選択部と、
上記タイミング選択信号選択部によって選択されたタイミング選択信号が表す上記ピットの形成可能位置のタイミングで、上記受光信号に基づき得られる再生信号のチャネルデータ値を判定し、その結果に基づき上記半径位置情報を検出する情報検出部と
を有して構成される
請求項５又は請求項６に記載の記録装置。
【請求項８】
半径位置情報を含む情報の記録がＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により行われた基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体を、一定速度で回転駆動する回転駆動手順と、
上記光記録媒体に対し、上記記録層に対して照射されるべき第１の光と上記基準面に対して照射されるべき第２の光とを共通の対物レンズを介して照射する光照射手順と、
上記第２の光が上記基準面に対して合焦した状態で上記第１の光が上記記録層内の所要位置に合焦するように調整を行う合焦位置調整手順と、
上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する受光手順と、
上記受光手順により得た受光信号に基づき、再生クロックを生成する再生クロック生成手順と、
上記受光手順により得た受光信号と上記再生クロックとに基づき上記基準面に記録された上記半径位置情報を検出する半径位置検出手順と、
入力される基準信号の周波数を上記半径位置検出手順で検出した半径位置情報に応じて変化させる周波数調整手順と、
上記周波数調整手順により得た信号を記録クロックとして用いて上記第１の光の光源を発光駆動することで上記記録層に対するマーク記録を行う記録手順と
を有する記録方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【公開番号】特開２０１１−２５８２８１（Ｐ２０１１−２５８２８１Ａ）
【公開日】平成２３年１２月２２日（２０１１．１２．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−１３２７４３（Ｐ２０１０−１３２７４３）
【出願日】平成２２年６月１０日（２０１０．６．１０）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１２月２２日（２０１１．１２．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年６月１０日（２０１０．６．１０）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
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