金属検出装置
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部２６から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを予め記憶しているメモリ３３を備え、設定手段３２は、その異物サンプルのデータに基づいて、判定手段３１によって検出可能な金属の大きさを表示器３６に表示させる。また、混入金属表示手段３４は、判定手段３１で被検査体に金属が異物していると判定されたとき、その混入金属の大きさを表示器３６に表示する。検出可能な金属の大きさや被検査体に混入している金属の大きさをユーザが直観的に把握できる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
本発明は、食品等の検査ラインに用いられ、被検査体に金属が混入しているかか否かを被検査体が搬送している間に検出する金属検出装置において、検出に必要なパラメータの設定操作や検出された金属の識別を直観的に行なえるようにするための技術に関する。
【背景技術】
食品等の検査ラインに用いられる金属検出装置としては、被検査体が搬送されている間に混入金属の検出が行なえるように、被検査体の搬送路に磁界を発生させ、被検査体に混入している金属による磁界の変化を検出する方法が採用されている。
図１９は、磁界の変化を検出する金属検出装置１０の構成を示している。
この金属検出機１０は、所定周波数の信号Ｄを出力する信号発生器１１と、信号Ｄを受けて被検査体１の搬送路２に所定周波数の交番磁界Ｅを発生する送信コイル１２と、その交番磁界Ｅを等量ずつ受ける位置で被検査体１の搬送方向に沿って配置され、互いに差動接続された２つの受信コイル１３ａ、１３ｂを有し、交番磁界Ｅ中を通過する物体による磁界の変化に対応した信号を検出するための磁界変化検出部１３と、磁界変化検出部１３の出力信号Ｒを信号Ｄと同一周波数の信号によって同期検波する検波部１６と、検波部１６の出力信号に基づいて被検査体１に金属が混入しているか否かを判定する制御部１７とを有している。
このように構成された従来の金属検出装置１０では、被検査体１が交番磁界Ｅ中に存在していないときには、２つの受信コイル１３ａ、１３ｂに生起される信号の振幅が等しく位相が反転している平衡状態となるため、信号Ｒの振幅はゼロとなり、検波部１６の出力もゼロとなるが、被検査体１が交番磁界Ｅ中に存在している場合には、被検査体１自身およびその被検査体１に混入している金属の影響により、２つの受信コイル１３ａ、１３ｂに生起される両信号の平衡状態がくずれ、被検査体１の移動に伴い、振幅および位相が変化する信号Ｒが出力される。
このときの信号Ｒには、混入金属の交番磁界Ｅへの影響によって生じる信号成分だけでなく、被検査体１自身（包装材等も含む）の交番磁界Ｅへの影響によって生じる信号成分が含まれており、この被検査体１自身による信号成分によって混入金属の検出限界が決定されてしまう。
この被検査体１自身の交番磁界への影響は、被検査体に含まれる水分の量、包装材の材質等によって大きく異なる。
このため、従来では、予め被検査体１の良品サンプルを交番磁界Ｅに通過させたときに検波部１６の出力信号の振幅が最小となるように、同期検波の位相を設定し、その最小の振幅値より大きな電圧値をしきい値として自動設定あるいは手動で入力設定したり、最小の振幅値に対する倍率を手動で指定してその指定値倍の電圧をしきい値と設定して、被検査体１に対する検査を行ない、被検査体１が交番磁界Ｅを通過したときに、検波部１６の出力信号の振幅がしきい値を越えたときにその被検査体１に金属異物が混入していると判定していた。
このように、金属検出のためのしきい値を電圧値や倍率値で設定する技術は、例えば、次の特許文献１に開示されている。
特許第２５７４６９４号
しかしながら、上記のように混入金属の有無を判定するためのしきい値を電圧値や倍率値で入力したり指定する方法では、ユーザ側ではどの程度の大きさの金属が検出できるかを直観的に知ることはできない。
また、混入金属有りと判定された被検査体にどの程度の大きさの金属が混入しているかを知ることができず、ユーザにとって使いやすいものとは言えなかった。
本発明は、この問題を解決して、判定のためのしきい値や被検査体に混入している金属をその大きさで表し、ユーザが直観的に把握でき、より使いやすい金属検出装置を提供することを目的としている。
【発明の開示】
前記目的を達成するために、本発明の請求の範囲１に記載の金属検出装置は、
信号発生器２１と、
前記信号発生器２１から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル２２と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル２３ａ、２３ｂを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部２３と、
前記磁界変化検出部２３の出力信号を、前記信号発生器２１から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部２６と、
前記検波部２６の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段３１と、
表示器３６とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部２６から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ３３を備え、
前記メモリ３３に記憶されている異物サンプルのデータに基づいて、前記判定手段３１によって検出可能な金属の大きさを前記表示器３６に表示させることを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲２に記載の金属検出装置は、請求の範囲１に記載の金属検出装置において、
操作部３５を備え、
該操作部３５の操作により前記異物サンプルの大きさを指定できるようにし、該指定された大きさに対応するしきい値を前記判定手段３１に設定することを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲３に記載の金属検出装置は、
信号発生器２１と、
前記信号発生器２１から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル２２と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル２３ａ、２３ｂを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部２３と、
前記磁界変化検出部２３の出力信号を、前記信号発生器２１から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部２６と、
前記検波部２６の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段３１と、
表示器３６とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部２６から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ３３と、
前記判定手段３１によって被検査体に金属が混入していると判定されたとき、該被検査体について前記検波部２６から出力された信号と、前記メモリ３３に記憶されている異物サンプルのデータとに基づいて、被検査体に混入している金属の大きさを求めて前記表示器３６に表示させる混入金属表示手段３４とを設けたことを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲４に記載の金属検出装置は、
信号発生器２１と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル２２と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル２３ａ、２３ｂを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部２３と、
前記磁界変化検出部２３の出力信号を、前記信号発生器２１から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部２６と、
前記検波部２６の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段３１と、
表示器３６とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部２６から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータを記憶するとともに、良品サンプルを交番磁界中に通過させた時に検波部２６から出力される信号のデータを記憶するメモリ３３を備え、
前記メモリ３３に記憶されている異物サンプルのデータと良品サンプルのデータに基づいて、異物サンプルと良品サンプルの出力比が最大となる最適検波位相を求め、さらに該最適検波位相における良品サンプルと各異物サンプルの検波出力の比と各異物サンプルの大きさの関係を求めるとともに、前記比の基準値に対応する前記しきい値を設定することを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲５に記載の金属検出装置は、請求の範囲４に記載の金属検出装置において、
前記交番磁界に対する前記搬送路の位置が変更可能であり、
変更により設定した異なる複数の前記位置において良品サンプルを前記交番磁界中に通過させて各位置ごとに前記しきい値を求め、各位置と当該各位置に対応する各しきい値によって検出可能な異物の大きさとを前記表示器３６に表示することを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲６に記載の金属検出装置は、請求の範囲１乃至５の何れかに記載の金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルを前記金属検出装置の前記交番磁界中にそれぞれ通過させて前記検波部２６から出力される信号のデータをマスターデータとして取得し、
当該マスターデータを他の前記金属検出装置の前記メモリ３３に記憶させるとともに、前記複数の異物サンプルを他の前記金属検出装置の交番磁界中にそれぞれ通過させて検波部２６から出力される信号のデータにより前記マスターデータを補正することを特徴としている。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の実施形態の構成を示す図である。
第２図は、実施形態の要部の設定モード時の処理手順を示すフローチャートである。
第３図は、異物サンプルの位置と磁界の変化との関係を説明するための図である。
第４図は、磁界の変化に対応した信号図である。
第５図は、検波出力のリサージュ波形図である。
第６図は、比と大きさとの関係を示す図である。
第７図は、設定されたしきい値に対応する大きさの表示例を示す図である。
第８図は、実施形態の要部の検査モード時の処理手順を示すフローチャートである。
第９図は、最適検波位相状態におけるリサージュ波形図である。
第１０図は、混入金属の大きさの表示例を示す図である。
第１１図は、検出可能な大きさの表示例を示す図である。
第１２図は、検波位相を求めるための別の方法を説明するための図である。
第１３図は、本発明の第２実施形態の正面図である。
第１４図は、本発明の第２実施形態の平面図である。
第１５図は、本発明の第２実施形態の側面図である。
第１６図は、本発明の第２実施形態において搬送路の位置を変更する状態を模式的に示す正面図である。
第１７図は、本発明の第２実施形態の要部の設定モード時の処理手順を示すフローチャートである。
第１８図は、本発明の第２実施形態において検出可能な大きさの表示例を示す図である。
第１９図は、従来装置の構成を示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態の第１の例を説明する。
図１は、本発明を適用した金属検出装置２０の構成を示している。
図１において、信号発生器２１は、所定周波数の信号Ｄを発生して送信コイル２２および後述する検波部２６に出力する。
送信コイル２２は、信号Ｄを受け、その信号Ｄに等しい周波数ｆの交番磁界Ｅを被検査体１の搬送路（一般的にはコンベアによって形成される）２に発生させる。
送信コイル２２が発生した交番磁界Ｅは、磁界変化検出部２３の２つの受信コイル２３ａ、２３ｂで受信される。磁界変化検出部２３は、交番磁界Ｅを通過する物体による磁界の変化に対応した信号を出力するためのものであり、２つの受信コイル２３ａ、２３ｂは、交番磁界Ｅをそれぞれ等量受ける位置で且つ被検査体１の搬送方向に沿って並び、互いに差動接続されている。
なお、送信コイル２２と２つの受信コイル２３ａ、２３ｂは、互いの相対位置が変化しないように、例えば搬送路２を囲むような共通の枠体に固定されている。
また、この送信コイル２２と受信コイル２３ａ、２３ｂの配置には、搬送路２を挟んで送信コイル２２と２つの受信コイル２３ａ、２３ｂとを対向させる場合、搬送路２を囲むように巻かれた送信コイル２２の前後にそれぞれ受信コイル２３ａ、２３ｂを同軸状に配置する場合、および搬送路２の上面または下面に送信コイル２２と２つの受信コイル２３ａ、２３ｂを同一平面上に配置する場合とがある。
２つの受信コイル２３ａ、２３ｂは、交番磁界Ｅを等量受ける位置で差動接続されているため、被検査体１や混入金属による交番磁界Ｅへの影響がないときには、２つの受信コイル２３ａ、２３ｂに生起される信号の振幅が等しく、位相が反転しているため、接続点間の信号Ｒの振幅はゼロとなる。
なお、ここでは、磁界変化検出部２３の２つの受信コイル２３ａ、２３ｂが差動接続されている場合について説明するが、２つの受信コイル２３ａ、２３ｂに生起される信号をアナログ減算器で減算処理するように磁界変化検出部２３を構成してもよい。また、２つの受信コイル２３ａ、２３ｂが受ける磁界が等量でない場合には、受信コイル２３ａ、２３ｂに生起される信号の差分を、可変抵抗器や増幅度の異なる増幅器によって補正してもよい。
また、搬送路２の近傍には、被検査体１が交番磁界Ｅ内に進入するタイミングを検出するための光学式の進入センサ２４が設けられている。なお、磁界への物品の進入は、後述する検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの振幅変化によって検知することもでき、その場合には、進入センサ２４は省略できる。
検波部２６は、磁界変化検出部２３の出力信号Ｒを信号Ｄと等しい周波数の信号によって同期検波する。
この実施形態の検波部２６は直交２相型で、信号Ｄを移相する移相器２６ａ、移相器２６ａの出力信号Ｌと信号Ｒとを混合するミキサ２６ｂ、ミキサ２６ｂの出力から被検査体１の搬送速度に対応した低周波成分を抽出するＢＰＦ２６ｃと、信号Ｌの位相を９０度移相する移相器２６ｄと、信号Ｒと移相器２６ｄの出力信号Ｌ′とを混合するミキサ２６ｅと、ミキサ２６ｅの出力から被検査体１の搬送速度に対応した低周波成分を抽出するＢＰＦ２６ｆとによって構成されている。
検波部２６の２つのＢＰＦ２６ｃ、２６ｆから出力される信号Ｘ、Ｙは、Ａ／Ｄ変換器２８、２９によってそれぞれディジタル値に変換され、コンピュータ構成の制御部３０に入力される。
制御部３０は、進入センサ２４の出力信号（あるいは前記したように検波部の出力信号Ｘ、Ｙの振幅変化）から交番磁界Ｅに対する被検査体１の進入を検知して検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの取り込みを行い、その取り込んだ信号のデータと予め設定されているしきい値とを比較することにより被検査体１に金属が混入しているか否かを判定し、その判定結果を出力する判定手段３１と、被検査体１の検査に必要な各種のパラメータを設定するための設定手段３２と、そのパラメータおよびパラメータ設定に必要なデータを記憶するための不揮発性のメモリ３３と、判定手段３１によって被検査体に金属が混入している判定されたとき、その混入している金属の大きさを後述する表示器３６に表示させる混入金属表示手段３４とを有している。
この制御部３０は、操作部３５および表示器３６と接続され、操作部３５によって設定モードが指定されたときには、設定手段３２による各種のパラメータの設定処理を行ない、操作部３５によって検査モードが指定されたときには、判定手段３１による被検査体１の金属の混入検査とその検査結果の出力処理を行なうとともに、被検査体に金属が混入していると判定された際には、その混入している金属の大きさを表示器３６に表示する。
なお、検査に必要なパラメータは、被検査体１の長さおよび搬送速度、信号発生器２１が出力する信号Ｄの周波数、検波部２６の検波位相（移相器２６ａの移相量）、異物の有無を判定するためのしきい値等である。
ここで、被検査体の長さや搬送速度は、検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの取り込み間隔や取り込み時間、検波部２６のＢＰＦ２６ｃ、２６ｆの帯域等を決定するためのパラメータであり、信号Ｄの周波数は、検出しようとする金属の種類や被検査体１自身（包装材を含む）の材質に応じて選択されるパラメータである。
また、検波部２６の検波位相は、混入金属に対する感度を決定するためのパラメータである。
また、判定のしきい値は、被検査体１に金属が混入されているか否かを判定するためのものであり、その設定処理は設定手段３２によって行なわれる。
設定手段３２は、これらのパラメータを操作部３５に対する操作で手動設定あるいは半自動設定できるように構成されているが、ここでは検波位相を最適値に設定し、その検波位相において異物の有無を判定するためのしきい値を設定するための処理について説明する。なお、図１では、検波位相の設定処理のために必要な信号線のみを記載しているが、実際には、信号発生器２１が出力する信号Ｄの周波数や検波部２６のＢＰＦ２６ｃ、２６ｆの帯域等を制御できるようになっている。
図２は、検波位相としきい値の設定に関する設定手段３２の処理手順を示すフローチャートであり、以下、このフローチャートにしたがって設定処理動作を説明する。
例えば、操作部３５の操作によって検波位相と判定のためのしきい値の設定処理が選択されると、移相器２６ａの移相量Δθを基準値（例えば０）に設定した状態で、メモリ３３の所定領域３３ａに異物サンプルのデータＤｍが記憶されているか否かを判定する（Ｓ１、Ｓ２）。
異物データＤｍが記憶されている場合には後述の処理Ｓ９へ移行し、異物データＤｍが記憶されていない場合には、検出対象の金属の異物サンプルＭｓの大きさを示すデータの入力を指示し、オペレータが操作部３５によってそのデータを入力すると、その異物サンプルＭｓを交番磁界Ｅ内に通過させるように指示する（Ｓ３〜Ｓ５）。これらの指示は例えば表示器３６の表示で行なう。
この指示を受けたオペレータは、例えば一つの異物サンプルＭｓ１の直径ｄ１を、大きさを示すデータとして操作部３５の操作によって入力してから、その異物サンプルＭｓ１を搬送路２に載せて交番磁界Ｅに通過させる。
なお、ここでは、異物サンプルおよび混入金属の大きさを直径で示す場合について説明するが、本発明における異物サンプルおよび混入金属の大きさは、直径以外に長さ、面積、体積で示す場合も含むものとする。
設定手段３２は、異物サンプルＭｓの磁界通過の指示を行なった後に、進入センサ２４の出力信号から物品の進入が検知されると、検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの取り込みを所定時間行ない、そのデータＤｍ（１）を直径データｄ１と対応付けてメモリ３３の所定領域３３ａに記憶する（Ｓ６、Ｓ７）。
ここで、異物サンプルＭｓ１が磁束を集める作用を有する鉄のような磁性体であるとすると、図３の（ａ）のように、異物サンプルＭｓ１が受信コイル２３ａの近傍を移動しているときには、送信コイル２２から出力される磁束のうち、もともと受信コイル２３ａと交わっていた磁束に加えて、受信コイル２３ｂと交わっていた磁束の一部が異物サンプルＭｓ１に吸引されて受信コイル２３ａと交わるため、受信コイル２３ａ側に生起される信号の振幅Ｖａが受信コイル２３ｂ側に生起される信号の振幅Ｖｂより大きくなる。
また、図３の（ｂ）のように、異物サンプルＭｓ１が２つの受信コイル２３ａ、２３ｂの中間の位置にあるときには、送信コイル２２から出力される磁束のうち、もともと受信コイル２３ａと交わっていた磁束の一部と、受信コイル２３ｂと交わっていた磁束の一部とが等量ずつ異物サンプルＭｓ１に吸引されるため、受信コイル２３ａ側に生起される信号の振幅Ｖａと受信コイル２３ｂ側に生起される信号の振幅Ｖｂとが等しくなる。
また、図３の（ｃ）のように、異物サンプルＭｓ１が受信コイル２３ｂの近傍を移動しているときには、送信コイル２２から出力される磁束のうち、もともと受信コイル２３ｂと交わっていた磁束に加えて、受信コイル２３ａと交わっていた磁束の一部が異物サンプルＭｓ１に吸引されて受信コイル２３ｂと交わるため、受信コイル２３ｂ側に生起される信号の振幅Ｖｂが受信コイル２３ａ側に生起される信号の振幅Ｖａより大きくなる。
したがって、異物サンプルＭｓ１が交番磁界Ｅを通過する際の信号Ｒの波形は、図４に示すように、振幅が増減変化する変調波となる。また、この信号Ｒに対して検波部２６の同期検波処理によって得られる信号Ｘの波形は、検波部２６の信号Ｌ、Ｌ′の振幅値を１とすれば、図４に示しているように信号Ｒの所定位相位置毎の瞬時値を結ぶ包絡線となり、信号Ｙの波形は信号Ｒの所定位相位置から９０度ずれた位置（信号Ｄの周期をＴとすればＴ／４だけずれた位置）毎の瞬時値を結ぶ包絡線となる。
このようにして得られた２つの信号Ｘ、Ｙで決まる座標点をｘｙ座標上にプロットすると、例えば図５の（ａ）に示す８の字の波形（リサージュ波形）Ｈｎが描かれる。
なお、上記のように交番磁界Ｅ中に金属の異物サンプルＭｓ１のみを通過させた場合には、波形Ｈｎのように、座標原点に対してほぼ対称で幅の狭いリサージュ波形が得られるので、波形全体の座標データの代わりに、頂点Ｑの座標（Ｘｍ，Ｙｍ）あるいはそれを極座標変換して得られる座標（ｒ、θ）を異物サンプルＭｓの特徴点のデータとして記憶してもよい。
ただし、原点からの距離ｒ、および角度θは、
ｒ＝（Ｘｍ２＋Ｙｍ２）１／２
θ＝ｔａｎ−１（Ｙｍ／Ｘｍ）
で表される。
このようにして直径ｄ１の異物サンプルＭｓのデータＤｍ（１）を取得してから、別の大きさの異物サンプルの直径データ入力指示と、磁界通過指示を前記同様に行い、交番磁界Ｅ中を通過した複数ｎの異物サンプルＭｓ１〜Ｍｓｎについての異物データＤｍ（１）〜Ｄｍ（ｎ）をそれぞれ求めて、その直径データｄ１〜ｄｎにそれぞれ対応付けてメモリ３３の所定領域３３ａに記憶する（Ｓ８）。
なお、同種の金属で大きさが異なる異物サンプルについて得られるリサージュ波形は、その頂点Ｑの極座標のうち、角度θがほぼ同一で、原点からの距離ｒが異物の大きさに応じて変化する相似形となる。
次に、移相器２６ａの移相量Δθを基準値（例えば０）に設定したままで、これから検査を行なおうとする被検査体１のうち、金属が混入していないことがわかっている良品サンプルを磁界Ｅ中に通過させるように指示する（Ｓ９）。
オペレータがこの指示にしたがって良品サンプルを搬送路２に置いて交番磁界Ｅ中を通過させると、設定手段３２は前記同様に物品の交番磁界Ｅへの進入を進入センサ２４の出力信号によって検知し（Ｓ１０）、検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの取り込みを所定時間行ない、その信号Ｘ、ＹのデータＤｇをメモリ３３の所定領域３３ｂに記憶する（Ｓ１１）。
この良品サンプルは、通常は非磁性体であるが、その良品サンプルに含まれる水分やアルミ包装材等によって磁界を変化させるため、異物サンプルＭｓを通過させたときと同様に、磁界変化検出部２３から振幅が増減変化する信号Ｒが出力され、その信号Ｒに対する検波部２６の同期検波処理により、例えば図５の（ａ）のリサージュ波形Ｈｇを描くような信号Ｘ、ＹのデータＤｇが得られる。
このようにして大きさが異なる複数の異物サンプルのデータと良品サンプルのデータが得られた段階で、設定手段３２は、これらのデータに基づいて、良品サンプル（被検査体自体）の検波出力に対して、例えば最小径の異物サンプルＭｓ（ｍｉｎ）の検波出力の比が最大となる位相を最適検波位相θｉとして求め、記憶する（Ｓ１２）。
この処理は、図５の（ａ）に示した２つのリサージュ波形Ｈｎ、Ｈｇのデータを用い、最小径の異物サンプルＭｓ（ｍｉｎ）の波形Ｈｎの各座標（前記点Ｑのみでもよい）からある検波位相θｄに対応した角度をもつ直線Ａまでの距離の最大値Ｌｎと、良品サンプルの波形Ｈｇの各座標から直線Ａまでの距離の最大値Ｌｇとの比α＝Ｌｎ／Ｌｇを異なる検波位相θｄについて求め、図５の（ｂ）のように、比αが最大となる位相を最適検波位相θｉと決定し、この最適検波位相θｉの情報を、被検査体１の検査時に検波部２６の移相器２６ａに設定するパラメータとしてメモリ３３の所定領域３３ｃに記憶する。
このようにして被検査体に対する最適検波位相θｉが得られた後、最適検波位相θｉにおける良品サンプルと各異物サンプルの検波出力との比αの値と、各異物サンプルの大きさ（直径）との関係が求められる（Ｓ１３）。
即ち、図６に示すように、各異物サンプルＭｓ１〜Ｍｓｎ毎の比α１〜αｎを求め、その直径と比の値を近似的に関係付ける直線Ｂ（曲線でもよい）の式を求める。なお、この図では異物サンプルＭｓ１から順番に径が大きくなっているものとする。
そして、比αが基準値αｒ（例えばαｒ＝２）と等しくなる電圧Ｖｒ（前記距離Ｌｇの２倍に相当する電圧）を、被検査体１の検査時に判定手段３１に設定するしきい値Ｖｒとして求め、これをメモリ３３に記憶する（Ｓ１４）。
さらに、基準値αｒに対応する金属異物の直径ｄｒを直線Ｂから求め、その直径値を、判定手段３１で検出可能な最小の金属異物の大きさとして、例えば図７のように表示器３６に表示させる（Ｓ１５）。
ユーザはこの表示を確認することで、被検査体１について検出可能な金属の異物の最小の大きさを直観的に把握できる。
そして、検査モードが指定されたときに、設定手段３２は、メモリ３３の所定領域３３ｃに記憶されている最適検波位相θｉの情報を移相器２６ａに設定して検波部２６の検波位相を最適検波位相θｉに設定し、また、被検査体１の検査に必要なしきい値Ｖｒ等を含む他のパラメータを必要な箇所に設定する。
このようにして検査に必要なパラメータが設定された状態で、前記判定手段３１による被検査体１に対する検査が行なわれる。
図８は、この検査モード中の処理手順を示すものであり、判定手段３１は、被検査体１が進入センサ２４によって検知されると（Ｓ２１）、検波信号Ｘ、Ｙを一定時間取り込み（Ｓ２２）、その信号の大きさとしきい値Ｖｒとを比較して、その被検査体１に金属が混入しているか否かを判定し（Ｓ２３）、その判定結果を出力する（Ｓ２４）。
この検査モード中に、前記異物サンプルＭｓと同種で直径がｄｒ以上の金属が混入した被検査体１が磁界Ｅ中を通過すると、検波部２６から出力される信号Ｘ、Ｙのリサージュ波形は、図５のリサージュ波形Ｈｎ、Ｈｇを図９に示すように最適検波位相θｉ分だけ回転させた（直線Ａがｘ軸に一致するように回転させた）リサージュ波形Ｈｎ′、Ｈｇ′を時間軸上で合成したものとなるが、ｙ軸に沿った信号Ｙについてみると、被検査体１が交番磁界Ｅを通過する時間内で被検査体１自身による磁界への影響によって生じる信号の振幅Ｖｇに対して、混入金属の影響によって生じる信号の振幅Ｖｎの比Ｖｎ／Ｖｇは前記距離の比αに対応して最大となり且つ基準値αｒ（＝２）以上となる。
即ち、上記のような最適検波位相θｉが設定されているとき、判定手段３１は信号Ｙの最大振幅としきい値Ｖｒとを比較して混入金属の有無を判定することになる。そして、このとき、信号Ｙの最大振幅は２Ｖｇ（＝Ｖｒ）以上でしきい値以上となるので、判定手段３１からは金属が混入していることを示す信号が出力される。
また、被検査体１に金属が混入していない場合には、図９のリサージュ波形Ｈｇ′に対応した信号Ｘ、Ｙのみが出力されることになり、信号Ｙの最大振幅はしきい値Ｖｒより小さいため、判定手段３１からは金属が混入していることを示す信号は出力されない。
また、判定手段３１が混入金属有りと判定した場合、混入金属表示手段３４は、そのときの信号Ｙの最大振幅と前記直線Ｂに基づいて、混入している金属のおおよその大きさを推定して、これを表示器３６に表示する（Ｓ２５）。
例えば、信号Ｙの最大振幅ＶｙとＶｇとの比αａ（＝Ｖｙ／Ｖｇ）と、最大振幅ＶｙからＶｇを減算した結果とＶｇとの比αｂ（＝（Ｖｙ−Ｖｇ）／Ｖｇ）とを求め、前記した直線Ｂの式と比αａから混入している混入金属の直径の上限値ｄａを求め、直線Ｂの式と比αｂから混入金属の直径の下限値ｄｂを求め、これを被検査体１に混入している金属の大きさの範囲として、例えば図１０に示すように表示器３６に表示する。
この表示を確認することで、ユーザは被検査体に混入していた金属の大きさを直観的に把握できる。
なお、ここでは、混入している金属の大きさの範囲を表示しているが、複数の異物サンプルＭｓ１〜Ｍｓｎのうち、その推定した大きさの範囲に含まれる異物サンプルの大きさを表示してもよい。
また、前記説明では、設定手段３２が、検出可能な金属の最小径のみを表示器３６に表示し、その最小径に対応するしきい値を自動設定していたが、ユーザが指定した大きさに対応するしきい値を設定してもよい。
この場合、図１１に示すように、検出可能な金属の大きさとして、異物サンプルのうち、最小径以上の異物サンプルの各直径を表示器３６に表示するとともに、それらの直径のいずれかを操作部３５の操作で指定できるようにし、ユーザの操作で直径が指定されたとき、その異物サンプルの最適検波位相における検波出力の最大値（あるいはそれより僅かに小さい値でもよい）をしきい値Ｖｒとして求めて設定する。
また、検出可能な金属の最小径のみを表示し、操作部３５の操作によって最小径以上の任意の直径を入力指定できるようにし、その指定された直径と前記直線Ｂとから比αの値を求め、その比の値と前記電圧Ｖｇとの積をしきい値Ｖｒとして求めて設定してもよい。
また、前記したように、検出可能な金属の大きさおよび被検査体に混入している金属の大きさを異物サンプルの大きさだけで近似的に表示する場合には、メモリ３３に記憶されている異物サンプルの検波出力のデータと被検査体の検波出力とから表示する大きさを選択することができ、前記した直線Ｂの関係を用いないでも済む。
また、上記説明では、各異物サンプルおよび良品サンプルを１回だけ磁界中に通過させてそのデータを求めていたが、同一サンプルについて複数回ずつ磁界中に通過させて、そのデータを平均化し、その平均化されたデータに基づいて、最適検波位相や、比と大きさとの関係を求めてもよい。
また、ここでは、磁界変化検出部２３の出力信号Ｒを直交２相型の検波部２６に入力して２つの信号Ｘ、Ｙを求め、その両信号のデータから最適検波位相を求めていたが、検波部２６が単相型、即ち、移相器２６ａ、ミキサ２６ｂ、ＢＰＦ２６ｃのみで構成されている場合でも本発明を適用できる。
この場合には、移相器２６ａの移相量を少しずつ変えながら、異物サンプルおよび良品サンプルに対する出力信号Ｘの波形（時間軸上の波形）のデータを求め、そのデータから図１２のように、移相量Δφに対する異物サンプルの振幅値の変化特性Ｘｎ（φ）と、移相量φに対する良品サンプルの振幅値の変化特性Ｘｇ（φ）とを求め、良品サンプルの振幅値Ｖｇに対して異物サンプルの振幅値Ｖｎの比β＝Ｖｎ／Ｖｇが最大となる移相量φｄを最適検波位相θｉと決定し、これを被検査体１の検査時に移相器２６ａに設定すれば、前記同様に、混入金属を高感度に検出することができる。
そして、その最適検波位相における検波出力と金属の大きさとの関係を求めておくことで、前記同様に検出可能な金属の大きさや、被検査体に混入している金属の大きさを表示することができる。
また、上記説明では、大きさの異なる複数の異物サンプルの異物データＤｍがメモリ３３に記憶されていない場合について説明したが、この異物データは、金属検出装置２０の製造者等が予めメモリ３３の所定領域３３ａに記憶しておいてもよい。
また、材質が異なる複数の異物サンプルについてのデータを、上記処理により予めメモリ３３の所定領域３３ａに記憶しておき、被検査体１に対する位相の設定処理の際に、その複数の異物データの任意の一つを選択できるようにして、その選択された異物データについて前記同様の処理を行なうこともできる。
以上説明したように、本発明の金属検出装置は、大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを予め記憶しているメモリを備え、その異物サンプルのデータに基づいて、判定手段によって検出可能な金属の大きさを表示器に表示させているため、ユーザは、被検査体に対して検出可能な金属の大きさを直観的に把握できる。
また、操作部の操作により異物サンプルの大きさを指定できるようにし、その指定された大きさに対応するしきい値を判定手段に設定するようにしたものでは、ユーザが電圧値やそれに対する倍数値ではなく、金属の大きさそのものの指定操作でしきい値の設定が行なえ、より直感的なしきい値設定操作が可能となる。
また、混入金属表示手段によって、被検査体に混入している金属の大きさを表示するものでは、被検査体に混入している金属の大きさを直観的に把握することができ、格段に使いやすくなる。
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態の第２の例を説明する。
なお、本例において以下に説明する構成、作用、効果以外については第１の例と実質的に同一であるので、上述した第１の例における説明（図面を含む）を援用して可及的に繰り返しを避け、必要に応じ第１の例における参照符号を用いて説明を行うものとする。
図１３〜図１５は本発明を適用した金属検出装置１２０の全体構造を示している。
これらの図において、金属検出装置１２０は、基台１２１、被検査体の搬送路をなすコンベア１３０、ヘッド１４０およびコントローラ１５０により構成されている。
基台１２１はコンベア１３０およびヘッド１４０を支持するためのものであり、その下部には、設置面（床面）に対する基台１２１の高さ調整ができるようにネジ式の脚１２２が設けられている。
コンベア１３０は、上向きに開いたコの字状に形成され互いに対向する状態で基台１２１の上部に固定された一対の側板１３１、１３２を有している。
両側板１３１、１３２の一端側（図１３、図１４で左端側）の上部の間には駆動ローラ１３３が回転自在に支持され、他端側上部の間には従動ローラ１３４が回転自在に支持されており、駆動ローラ１３３と従動ローラ１３４の間には搬入物品を搬送するための無端状の搬送ベルト１３５が掛け渡されている。
また、側板１３１、１３２の一端側上部と他端側上部の間には、駆動ローラ１３３側から従動ローラ１３４側へ移動する上側の搬送ベルト１３５を上面で支えて、搬入物品を水平に搬送させるための下板１３６が固定されている。なお、従動ローラ１３４側から駆動ローラ１３３側に戻る下側の搬送ベルト１３５は、この下板１３６の下面に近接した経路を移動するように構成されている。搬送ベルト１３５および下板１３６は、磁界に対する影響が極めて少ない合成樹脂材で形成されている。
また、駆動ローラ１３３は、その一端側に一体的に設けられているモータ１３７によって回転駆動される。
側板１３１、１３２の中央上方には横長の矩形枠状に形成されたヘッド１４０が配置されている。ヘッド１４０の中央に形成されている横長矩形の穴１４１には、コンベア１３０の搬送ベルト１３５および下板１３６が通過している。
ヘッド１４０の穴１４１の内壁部１４１ａは全周にわたって磁束を透過させる合成樹脂の板材で形成され、ヘッド１４０の内部には、その内壁部１４１ａを囲むようにして送信コイル２２が巻きつけられ、その送信コイル２２の前後に２つの受信コイル２３ａ、２３ｂが同軸状に巻きつけられている。
また、ヘッド１４０の外周部は、磁束を透過させない磁気シールド材で形成されている。
したがって、送信コイル２２が発生する磁界Ｅの磁束のほとんどは、ヘッド１４０の内部および穴１４１の内側を通過することになり、その磁束は２つの受信コイル２３ａ、２３ｂにほぼ等量ずつ交わる。
なお、送信コイル２２と２つの受信コイル２３ａ、２３ｂは、ヘッド１４０内に充填された接着材（図示せず）によって、その相対位置が変化しないように固定されている。
このヘッド１４０は図１３〜図１５に示しているように、平板状のベース板１４５上に固定されており、ベース板１４５の四隅部には基台１２１上部に固定されたボルト１２３がそれぞれ挿通し、各ボルト１２３に締め付けられた上下２個のナット１２４によって、ベース板１４５が固定されている。
このボルト１２３とナット１２４は、コンベア１３０に対するヘッド１４０の高さ、即ち、ヘッド１４０に対する被検査体の通過高さ位置を可変するための機構であり、各ボルト１２３に対するナット１２４の高さを変えることで、被検査体の通過高さ位置を相対的に可変することができる。
なお、ここでは、コンベア１３０の下板１３６の下側を通過する搬送ベルト１３５がヘッド１４０の穴１４１の下面に最も近接した位置、即ち、穴１４１に対して被検査体の通過高さが最も低い位置を基準位置とする。
基台１２１（コンベア１３０の側板１３１、１３２やヘッド１４０自体でもよい）には、コンベア１３０の一端側に搬入された被検査体がヘッド１４０の穴１４１に進入するタイミングを検出するための光学式の進入センサ２４が設けられている。なお、この物品の進入タイミングは、検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの振幅変化によって検知することもでき、その場合、進入センサ２４は省略できる。
ヘッド１４０の上部に設けられたコントローラ１５０には、コンベア１３０のモータ駆動、ヘッド１４０の送信コイル駆動、受信コイルからの信号に対する処理等を行なうための回路が内蔵されている。
次に、本例における作用を図１６〜図１８を参照して説明する。
本例の金属検出装置は、前述したようにコンベア１３０に対するヘッド１４０の位置（コンベア１３０の高さ）を調整することができる機構を備えており、コンベア１３０の高さ以外の条件が同一であってもコンベア１３０の高さを異なる値に設定すれば、被検査体に混入している金属の検出感度も異なったものとなる場合がある。
そこで、本例では、第１の例で説明したような制御手順により、予め記憶した異物サンプルのデータと良品サンプルのデータに基づいて判定手段により検出可能な金属の大きさを表示器に表示させ、または操作部の操作により異物サンプルの大きさを指定してしきい値設定を行うことにより被検査体に対して検出可能な金属の大きさを直観的に把握できるようにするだけでなく、さらにコンベア１３０の高さ（ヘッド１４０に対する相対的な位置）を変えて各位置ごとに第１の例で説明した制御動作を繰り返して前記しきい値をそれぞれ求め、各位置と当該各位置に対応する検出可能な異物の大きさを前記表示器に表示することにより、コンベア１３０の最も好ましい位置（最も感度の高い位置）を検出可能な異物の大きさとして表示し、任意に選択することができるようにしたものである。
図１６に模式的に示すように、ヘッド１４０に対するコンベア１３０の位置を、基準位置（ａ）と、基準位置（ａ）から所定寸法（例えば１０ｍｍ）上昇させた位置（ｂ）と、位置（ｂ）からさらに所定寸法（例えば１５ｍｍ、）上昇させた位置（ｃ）（従って基準位置からは２５ｍｍ）とにそれぞれ設定し、各位置ごとに、検出可能な金属異物の直径ｄｒを求める。
上記手順を図１７のフローチャートに従って説明するが、図１７においてステップＳ１０１からＳ１１５までは、第１の例において図２を参照して説明したステップＳ１からＳ１５までと同一であるので、前述したように第１の例における前記説明（図面を含む）を援用し、以下においてはＳ１１６以降の手順について説明する。
基準値αｒに対応する金属異物の直径ｄｒを直線Ｂから求めて判定手段３１で検出可能な最小の金属異物の大きさとして表示器３６に表示させた（Ｓ１１５）後、この基準値αｒ及び検出可能な最小の金属異物の大きさをメモリ３３に記憶する（Ｓ１１６）。なお、以上の１回目の手順はコンベア１３０を例えば図１６（ａ）に示す基準位置に設定した状態で実行する。
ここで、コンベア１３０の高さの変更を求める指示を表示器３６に表示させる（Ｓ１１７）。この指示を受けたオペレータは、前述したボルト１２３とナット１２４による機構を調整してコンベア１３０に対するヘッド１４０の高さを調整し、コンベア１３０のヘッド１４０に対する高さを変更する。本例では例えば図１６（ｂ）に示す位置に変更・設定し、操作部から変更後のコンベア位置を入力する。
本例では、コンベア１３０の位置をｍ回変え（例えば２回変えて図１６で示す３つの位置（ａ），（ｂ），（ｃ）に設定し）、各位置ごとに基準値αｒ及び検出可能な最小の金属異物の大きさを求める操作を繰り返すこととし、その繰り返し回数が満足されない場合には、良品サンプルの通過指示（Ｓ１０９）に始まり、各高さごとに基準値αｒ及び検出可能な最小の金属異物の大きさを記憶する（Ｓ１１６）までの動作を繰り返す（Ｓ１１８、ＮＯの場合）。
所定繰り返し回数ｍが満足された場合には（Ｓ１１８、ＹＥＳの場合）、基準値αｒ及び検出可能な最小の金属異物の大きさをコンベア高さごとに表示器３６に表示する（Ｓ１２０）。
図１８は、表示器３６の最終的な表示画面を示すものであり、異なる複数のコンベア高さ（基準位置からの変更量で表示）においてそれぞれ検出可能な異物（金属）の大きさが表示されており、さらにカーソルによって所望のコンベア高さ又は異物（金属）の大きさを選択してリターンキーで確認するように求める指示が表示がされている。
この指示を受けたオペレータは、操作部３５によりカーソルを操作して所望のコンベア高さ及び異物（金属）の大きさを選択し、コンベア高さをその値に設定することで、選択した異物（金属）の大きさを検出感度として設定することができる。
従って、検出感度が最も高く、異物の検出に最適なコンベア高さを選択して、高感度で異物の検出を行うことができる。又は、必ずしも最高の感度でなく、実際に必要とする検出感度及びコンベア高さを選択し、その高さにコンベア位置を設定して必要な検出感度を得ることもできる。
図１８に示すように、本例では３つの高さごとに検出可能な異物（金属）の大きさを表示し、その結果としては中間の図１６（ｂ）に示す位置において最も検出感度が高い結果となった場合を示した。すなわち、コンベア１３０はヘッド１４０に最も近い基準位置（図１６（ａ））や基準位置から相当離れた位置（図１６（ｃ））にあるよりも、これらの中間位置である基準位置から適当な距離だけ離れた位置（図１６（ｂ））にある場合に検出感度が最も高くなった。
しかしながら、この傾向は一例にすぎず、送信コイル１２２及び２つの受信コイル１２３ａ，１２３ｂがヘッド１４０のいかなる位置にどのような態様で設けられているか等のさらに具体的な構成により、コンベア１３０のヘッド１４０に対する最適な位置（感度が最も高くなる位置）は変化しうる。
しかし、基本的に本例の如き構成を有していれば、コンベア１３０の複数の位置について検出感度を表示して任意に選択できるので、コンベア１３０とヘッド１４０の機構的なバリエーションに係わらず、常に異物の検出に最適なコンベア高さを選択して、異物の検出を行うことができる効果に変わりはない。
また、本例ではコンベア高さの変更は、ヘッド１４０の昇降機構により手動で行っていたが、動力を用いた昇降機構により操作部３５からの操作で行うこととし、設定後のコンベア高さは自動的に制御部３０に入力されるようにしてもよい。その場合には、最終画面で所望のコンベア高さを選択した場合には、制御部３０の制御によりコンベア高さを自動的に当該高さに設定するように構成してもよい。
また、本例では、ヘッド１４０を昇降させてコンベア１３０のヘッド１４０に対する相対的な高さ（位置）を変更していたが、逆に固定されたヘッド１４０に対してコンベア１３０を昇降させてもよい。
また、本例では、コンベア１３０の位置を基準位置から順次段階的に上昇させて測定を繰り返したが、もちろん測定に先立って設定するコンベア１３０の位置は、どのような順序でも良い。例えば、最高位置、基準位置、最低位置の順でもよい。
以上説明した本発明の実施の形態の２つの例では、各金属検出装置ごとに複数の異物サンプルを交番磁界中に通過させて異物のデータを取得し、各装置ごとに各装置のメモリ３３に記憶させていた。しかし、このような異物サンプルのデータの取得は、マスター装置となる１台の特定の金属検出装置において原則として１回だけ行い、このデータをマスターデータとして他の多数の金属検出装置に移植して利用してもよい。
その場合、他の金属検出装置においては、当該マスターデータをメモリに記憶させるとともに、マスターデータの取得に用いた複数の異物サンプルを当該装置の交番磁界中に実際に通過させてデータを取得し、そのデータで前記マスターデータを補正するものとする。かかる構成とすれば、メモリに記憶する異物サンプルのデータの生成がマスター装置において一括して行え、しかも各金属検出装置ごとに補正するので微妙な各装置ごとのくせにも対応することができる。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【技術分野】
本発明は、食品等の検査ラインに用いられ、被検査体に金属が混入しているかか否かを被検査体が搬送している間に検出する金属検出装置において、検出に必要なパラメータの設定操作や検出された金属の識別を直観的に行なえるようにするための技術に関する。
【背景技術】
食品等の検査ラインに用いられる金属検出装置としては、被検査体が搬送されている間に混入金属の検出が行なえるように、被検査体の搬送路に磁界を発生させ、被検査体に混入している金属による磁界の変化を検出する方法が採用されている。
図１９は、磁界の変化を検出する金属検出装置１０の構成を示している。
この金属検出機１０は、所定周波数の信号Ｄを出力する信号発生器１１と、信号Ｄを受けて被検査体１の搬送路２に所定周波数の交番磁界Ｅを発生する送信コイル１２と、その交番磁界Ｅを等量ずつ受ける位置で被検査体１の搬送方向に沿って配置され、互いに差動接続された２つの受信コイル１３ａ、１３ｂを有し、交番磁界Ｅ中を通過する物体による磁界の変化に対応した信号を検出するための磁界変化検出部１３と、磁界変化検出部１３の出力信号Ｒを信号Ｄと同一周波数の信号によって同期検波する検波部１６と、検波部１６の出力信号に基づいて被検査体１に金属が混入しているか否かを判定する制御部１７とを有している。
このように構成された従来の金属検出装置１０では、被検査体１が交番磁界Ｅ中に存在していないときには、２つの受信コイル１３ａ、１３ｂに生起される信号の振幅が等しく位相が反転している平衡状態となるため、信号Ｒの振幅はゼロとなり、検波部１６の出力もゼロとなるが、被検査体１が交番磁界Ｅ中に存在している場合には、被検査体１自身およびその被検査体１に混入している金属の影響により、２つの受信コイル１３ａ、１３ｂに生起される両信号の平衡状態がくずれ、被検査体１の移動に伴い、振幅および位相が変化する信号Ｒが出力される。
このときの信号Ｒには、混入金属の交番磁界Ｅへの影響によって生じる信号成分だけでなく、被検査体１自身（包装材等も含む）の交番磁界Ｅへの影響によって生じる信号成分が含まれており、この被検査体１自身による信号成分によって混入金属の検出限界が決定されてしまう。
この被検査体１自身の交番磁界への影響は、被検査体に含まれる水分の量、包装材の材質等によって大きく異なる。
このため、従来では、予め被検査体１の良品サンプルを交番磁界Ｅに通過させたときに検波部１６の出力信号の振幅が最小となるように、同期検波の位相を設定し、その最小の振幅値より大きな電圧値をしきい値として自動設定あるいは手動で入力設定したり、最小の振幅値に対する倍率を手動で指定してその指定値倍の電圧をしきい値と設定して、被検査体１に対する検査を行ない、被検査体１が交番磁界Ｅを通過したときに、検波部１６の出力信号の振幅がしきい値を越えたときにその被検査体１に金属異物が混入していると判定していた。
このように、金属検出のためのしきい値を電圧値や倍率値で設定する技術は、例えば、次の特許文献１に開示されている。
特許第２５７４６９４号
しかしながら、上記のように混入金属の有無を判定するためのしきい値を電圧値や倍率値で入力したり指定する方法では、ユーザ側ではどの程度の大きさの金属が検出できるかを直観的に知ることはできない。
また、混入金属有りと判定された被検査体にどの程度の大きさの金属が混入しているかを知ることができず、ユーザにとって使いやすいものとは言えなかった。
本発明は、この問題を解決して、判定のためのしきい値や被検査体に混入している金属をその大きさで表し、ユーザが直観的に把握でき、より使いやすい金属検出装置を提供することを目的としている。
【発明の開示】
前記目的を達成するために、本発明の請求の範囲１に記載の金属検出装置は、
信号発生器２１と、
前記信号発生器２１から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル２２と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル２３ａ、２３ｂを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部２３と、
前記磁界変化検出部２３の出力信号を、前記信号発生器２１から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部２６と、
前記検波部２６の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段３１と、
表示器３６とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部２６から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ３３を備え、
前記メモリ３３に記憶されている異物サンプルのデータに基づいて、前記判定手段３１によって検出可能な金属の大きさを前記表示器３６に表示させることを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲２に記載の金属検出装置は、請求の範囲１に記載の金属検出装置において、
操作部３５を備え、
該操作部３５の操作により前記異物サンプルの大きさを指定できるようにし、該指定された大きさに対応するしきい値を前記判定手段３１に設定することを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲３に記載の金属検出装置は、
信号発生器２１と、
前記信号発生器２１から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル２２と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル２３ａ、２３ｂを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部２３と、
前記磁界変化検出部２３の出力信号を、前記信号発生器２１から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部２６と、
前記検波部２６の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段３１と、
表示器３６とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部２６から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ３３と、
前記判定手段３１によって被検査体に金属が混入していると判定されたとき、該被検査体について前記検波部２６から出力された信号と、前記メモリ３３に記憶されている異物サンプルのデータとに基づいて、被検査体に混入している金属の大きさを求めて前記表示器３６に表示させる混入金属表示手段３４とを設けたことを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲４に記載の金属検出装置は、
信号発生器２１と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル２２と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル２３ａ、２３ｂを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部２３と、
前記磁界変化検出部２３の出力信号を、前記信号発生器２１から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部２６と、
前記検波部２６の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段３１と、
表示器３６とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部２６から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータを記憶するとともに、良品サンプルを交番磁界中に通過させた時に検波部２６から出力される信号のデータを記憶するメモリ３３を備え、
前記メモリ３３に記憶されている異物サンプルのデータと良品サンプルのデータに基づいて、異物サンプルと良品サンプルの出力比が最大となる最適検波位相を求め、さらに該最適検波位相における良品サンプルと各異物サンプルの検波出力の比と各異物サンプルの大きさの関係を求めるとともに、前記比の基準値に対応する前記しきい値を設定することを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲５に記載の金属検出装置は、請求の範囲４に記載の金属検出装置において、
前記交番磁界に対する前記搬送路の位置が変更可能であり、
変更により設定した異なる複数の前記位置において良品サンプルを前記交番磁界中に通過させて各位置ごとに前記しきい値を求め、各位置と当該各位置に対応する各しきい値によって検出可能な異物の大きさとを前記表示器３６に表示することを特徴としている。
また、本発明の請求の範囲６に記載の金属検出装置は、請求の範囲１乃至５の何れかに記載の金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルを前記金属検出装置の前記交番磁界中にそれぞれ通過させて前記検波部２６から出力される信号のデータをマスターデータとして取得し、
当該マスターデータを他の前記金属検出装置の前記メモリ３３に記憶させるとともに、前記複数の異物サンプルを他の前記金属検出装置の交番磁界中にそれぞれ通過させて検波部２６から出力される信号のデータにより前記マスターデータを補正することを特徴としている。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の実施形態の構成を示す図である。
第２図は、実施形態の要部の設定モード時の処理手順を示すフローチャートである。
第３図は、異物サンプルの位置と磁界の変化との関係を説明するための図である。
第４図は、磁界の変化に対応した信号図である。
第５図は、検波出力のリサージュ波形図である。
第６図は、比と大きさとの関係を示す図である。
第７図は、設定されたしきい値に対応する大きさの表示例を示す図である。
第８図は、実施形態の要部の検査モード時の処理手順を示すフローチャートである。
第９図は、最適検波位相状態におけるリサージュ波形図である。
第１０図は、混入金属の大きさの表示例を示す図である。
第１１図は、検出可能な大きさの表示例を示す図である。
第１２図は、検波位相を求めるための別の方法を説明するための図である。
第１３図は、本発明の第２実施形態の正面図である。
第１４図は、本発明の第２実施形態の平面図である。
第１５図は、本発明の第２実施形態の側面図である。
第１６図は、本発明の第２実施形態において搬送路の位置を変更する状態を模式的に示す正面図である。
第１７図は、本発明の第２実施形態の要部の設定モード時の処理手順を示すフローチャートである。
第１８図は、本発明の第２実施形態において検出可能な大きさの表示例を示す図である。
第１９図は、従来装置の構成を示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態の第１の例を説明する。
図１は、本発明を適用した金属検出装置２０の構成を示している。
図１において、信号発生器２１は、所定周波数の信号Ｄを発生して送信コイル２２および後述する検波部２６に出力する。
送信コイル２２は、信号Ｄを受け、その信号Ｄに等しい周波数ｆの交番磁界Ｅを被検査体１の搬送路（一般的にはコンベアによって形成される）２に発生させる。
送信コイル２２が発生した交番磁界Ｅは、磁界変化検出部２３の２つの受信コイル２３ａ、２３ｂで受信される。磁界変化検出部２３は、交番磁界Ｅを通過する物体による磁界の変化に対応した信号を出力するためのものであり、２つの受信コイル２３ａ、２３ｂは、交番磁界Ｅをそれぞれ等量受ける位置で且つ被検査体１の搬送方向に沿って並び、互いに差動接続されている。
なお、送信コイル２２と２つの受信コイル２３ａ、２３ｂは、互いの相対位置が変化しないように、例えば搬送路２を囲むような共通の枠体に固定されている。
また、この送信コイル２２と受信コイル２３ａ、２３ｂの配置には、搬送路２を挟んで送信コイル２２と２つの受信コイル２３ａ、２３ｂとを対向させる場合、搬送路２を囲むように巻かれた送信コイル２２の前後にそれぞれ受信コイル２３ａ、２３ｂを同軸状に配置する場合、および搬送路２の上面または下面に送信コイル２２と２つの受信コイル２３ａ、２３ｂを同一平面上に配置する場合とがある。
２つの受信コイル２３ａ、２３ｂは、交番磁界Ｅを等量受ける位置で差動接続されているため、被検査体１や混入金属による交番磁界Ｅへの影響がないときには、２つの受信コイル２３ａ、２３ｂに生起される信号の振幅が等しく、位相が反転しているため、接続点間の信号Ｒの振幅はゼロとなる。
なお、ここでは、磁界変化検出部２３の２つの受信コイル２３ａ、２３ｂが差動接続されている場合について説明するが、２つの受信コイル２３ａ、２３ｂに生起される信号をアナログ減算器で減算処理するように磁界変化検出部２３を構成してもよい。また、２つの受信コイル２３ａ、２３ｂが受ける磁界が等量でない場合には、受信コイル２３ａ、２３ｂに生起される信号の差分を、可変抵抗器や増幅度の異なる増幅器によって補正してもよい。
また、搬送路２の近傍には、被検査体１が交番磁界Ｅ内に進入するタイミングを検出するための光学式の進入センサ２４が設けられている。なお、磁界への物品の進入は、後述する検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの振幅変化によって検知することもでき、その場合には、進入センサ２４は省略できる。
検波部２６は、磁界変化検出部２３の出力信号Ｒを信号Ｄと等しい周波数の信号によって同期検波する。
この実施形態の検波部２６は直交２相型で、信号Ｄを移相する移相器２６ａ、移相器２６ａの出力信号Ｌと信号Ｒとを混合するミキサ２６ｂ、ミキサ２６ｂの出力から被検査体１の搬送速度に対応した低周波成分を抽出するＢＰＦ２６ｃと、信号Ｌの位相を９０度移相する移相器２６ｄと、信号Ｒと移相器２６ｄの出力信号Ｌ′とを混合するミキサ２６ｅと、ミキサ２６ｅの出力から被検査体１の搬送速度に対応した低周波成分を抽出するＢＰＦ２６ｆとによって構成されている。
検波部２６の２つのＢＰＦ２６ｃ、２６ｆから出力される信号Ｘ、Ｙは、Ａ／Ｄ変換器２８、２９によってそれぞれディジタル値に変換され、コンピュータ構成の制御部３０に入力される。
制御部３０は、進入センサ２４の出力信号（あるいは前記したように検波部の出力信号Ｘ、Ｙの振幅変化）から交番磁界Ｅに対する被検査体１の進入を検知して検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの取り込みを行い、その取り込んだ信号のデータと予め設定されているしきい値とを比較することにより被検査体１に金属が混入しているか否かを判定し、その判定結果を出力する判定手段３１と、被検査体１の検査に必要な各種のパラメータを設定するための設定手段３２と、そのパラメータおよびパラメータ設定に必要なデータを記憶するための不揮発性のメモリ３３と、判定手段３１によって被検査体に金属が混入している判定されたとき、その混入している金属の大きさを後述する表示器３６に表示させる混入金属表示手段３４とを有している。
この制御部３０は、操作部３５および表示器３６と接続され、操作部３５によって設定モードが指定されたときには、設定手段３２による各種のパラメータの設定処理を行ない、操作部３５によって検査モードが指定されたときには、判定手段３１による被検査体１の金属の混入検査とその検査結果の出力処理を行なうとともに、被検査体に金属が混入していると判定された際には、その混入している金属の大きさを表示器３６に表示する。
なお、検査に必要なパラメータは、被検査体１の長さおよび搬送速度、信号発生器２１が出力する信号Ｄの周波数、検波部２６の検波位相（移相器２６ａの移相量）、異物の有無を判定するためのしきい値等である。
ここで、被検査体の長さや搬送速度は、検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの取り込み間隔や取り込み時間、検波部２６のＢＰＦ２６ｃ、２６ｆの帯域等を決定するためのパラメータであり、信号Ｄの周波数は、検出しようとする金属の種類や被検査体１自身（包装材を含む）の材質に応じて選択されるパラメータである。
また、検波部２６の検波位相は、混入金属に対する感度を決定するためのパラメータである。
また、判定のしきい値は、被検査体１に金属が混入されているか否かを判定するためのものであり、その設定処理は設定手段３２によって行なわれる。
設定手段３２は、これらのパラメータを操作部３５に対する操作で手動設定あるいは半自動設定できるように構成されているが、ここでは検波位相を最適値に設定し、その検波位相において異物の有無を判定するためのしきい値を設定するための処理について説明する。なお、図１では、検波位相の設定処理のために必要な信号線のみを記載しているが、実際には、信号発生器２１が出力する信号Ｄの周波数や検波部２６のＢＰＦ２６ｃ、２６ｆの帯域等を制御できるようになっている。
図２は、検波位相としきい値の設定に関する設定手段３２の処理手順を示すフローチャートであり、以下、このフローチャートにしたがって設定処理動作を説明する。
例えば、操作部３５の操作によって検波位相と判定のためのしきい値の設定処理が選択されると、移相器２６ａの移相量Δθを基準値（例えば０）に設定した状態で、メモリ３３の所定領域３３ａに異物サンプルのデータＤｍが記憶されているか否かを判定する（Ｓ１、Ｓ２）。
異物データＤｍが記憶されている場合には後述の処理Ｓ９へ移行し、異物データＤｍが記憶されていない場合には、検出対象の金属の異物サンプルＭｓの大きさを示すデータの入力を指示し、オペレータが操作部３５によってそのデータを入力すると、その異物サンプルＭｓを交番磁界Ｅ内に通過させるように指示する（Ｓ３〜Ｓ５）。これらの指示は例えば表示器３６の表示で行なう。
この指示を受けたオペレータは、例えば一つの異物サンプルＭｓ１の直径ｄ１を、大きさを示すデータとして操作部３５の操作によって入力してから、その異物サンプルＭｓ１を搬送路２に載せて交番磁界Ｅに通過させる。
なお、ここでは、異物サンプルおよび混入金属の大きさを直径で示す場合について説明するが、本発明における異物サンプルおよび混入金属の大きさは、直径以外に長さ、面積、体積で示す場合も含むものとする。
設定手段３２は、異物サンプルＭｓの磁界通過の指示を行なった後に、進入センサ２４の出力信号から物品の進入が検知されると、検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの取り込みを所定時間行ない、そのデータＤｍ（１）を直径データｄ１と対応付けてメモリ３３の所定領域３３ａに記憶する（Ｓ６、Ｓ７）。
ここで、異物サンプルＭｓ１が磁束を集める作用を有する鉄のような磁性体であるとすると、図３の（ａ）のように、異物サンプルＭｓ１が受信コイル２３ａの近傍を移動しているときには、送信コイル２２から出力される磁束のうち、もともと受信コイル２３ａと交わっていた磁束に加えて、受信コイル２３ｂと交わっていた磁束の一部が異物サンプルＭｓ１に吸引されて受信コイル２３ａと交わるため、受信コイル２３ａ側に生起される信号の振幅Ｖａが受信コイル２３ｂ側に生起される信号の振幅Ｖｂより大きくなる。
また、図３の（ｂ）のように、異物サンプルＭｓ１が２つの受信コイル２３ａ、２３ｂの中間の位置にあるときには、送信コイル２２から出力される磁束のうち、もともと受信コイル２３ａと交わっていた磁束の一部と、受信コイル２３ｂと交わっていた磁束の一部とが等量ずつ異物サンプルＭｓ１に吸引されるため、受信コイル２３ａ側に生起される信号の振幅Ｖａと受信コイル２３ｂ側に生起される信号の振幅Ｖｂとが等しくなる。
また、図３の（ｃ）のように、異物サンプルＭｓ１が受信コイル２３ｂの近傍を移動しているときには、送信コイル２２から出力される磁束のうち、もともと受信コイル２３ｂと交わっていた磁束に加えて、受信コイル２３ａと交わっていた磁束の一部が異物サンプルＭｓ１に吸引されて受信コイル２３ｂと交わるため、受信コイル２３ｂ側に生起される信号の振幅Ｖｂが受信コイル２３ａ側に生起される信号の振幅Ｖａより大きくなる。
したがって、異物サンプルＭｓ１が交番磁界Ｅを通過する際の信号Ｒの波形は、図４に示すように、振幅が増減変化する変調波となる。また、この信号Ｒに対して検波部２６の同期検波処理によって得られる信号Ｘの波形は、検波部２６の信号Ｌ、Ｌ′の振幅値を１とすれば、図４に示しているように信号Ｒの所定位相位置毎の瞬時値を結ぶ包絡線となり、信号Ｙの波形は信号Ｒの所定位相位置から９０度ずれた位置（信号Ｄの周期をＴとすればＴ／４だけずれた位置）毎の瞬時値を結ぶ包絡線となる。
このようにして得られた２つの信号Ｘ、Ｙで決まる座標点をｘｙ座標上にプロットすると、例えば図５の（ａ）に示す８の字の波形（リサージュ波形）Ｈｎが描かれる。
なお、上記のように交番磁界Ｅ中に金属の異物サンプルＭｓ１のみを通過させた場合には、波形Ｈｎのように、座標原点に対してほぼ対称で幅の狭いリサージュ波形が得られるので、波形全体の座標データの代わりに、頂点Ｑの座標（Ｘｍ，Ｙｍ）あるいはそれを極座標変換して得られる座標（ｒ、θ）を異物サンプルＭｓの特徴点のデータとして記憶してもよい。
ただし、原点からの距離ｒ、および角度θは、
ｒ＝（Ｘｍ２＋Ｙｍ２）１／２
θ＝ｔａｎ−１（Ｙｍ／Ｘｍ）
で表される。
このようにして直径ｄ１の異物サンプルＭｓのデータＤｍ（１）を取得してから、別の大きさの異物サンプルの直径データ入力指示と、磁界通過指示を前記同様に行い、交番磁界Ｅ中を通過した複数ｎの異物サンプルＭｓ１〜Ｍｓｎについての異物データＤｍ（１）〜Ｄｍ（ｎ）をそれぞれ求めて、その直径データｄ１〜ｄｎにそれぞれ対応付けてメモリ３３の所定領域３３ａに記憶する（Ｓ８）。
なお、同種の金属で大きさが異なる異物サンプルについて得られるリサージュ波形は、その頂点Ｑの極座標のうち、角度θがほぼ同一で、原点からの距離ｒが異物の大きさに応じて変化する相似形となる。
次に、移相器２６ａの移相量Δθを基準値（例えば０）に設定したままで、これから検査を行なおうとする被検査体１のうち、金属が混入していないことがわかっている良品サンプルを磁界Ｅ中に通過させるように指示する（Ｓ９）。
オペレータがこの指示にしたがって良品サンプルを搬送路２に置いて交番磁界Ｅ中を通過させると、設定手段３２は前記同様に物品の交番磁界Ｅへの進入を進入センサ２４の出力信号によって検知し（Ｓ１０）、検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの取り込みを所定時間行ない、その信号Ｘ、ＹのデータＤｇをメモリ３３の所定領域３３ｂに記憶する（Ｓ１１）。
この良品サンプルは、通常は非磁性体であるが、その良品サンプルに含まれる水分やアルミ包装材等によって磁界を変化させるため、異物サンプルＭｓを通過させたときと同様に、磁界変化検出部２３から振幅が増減変化する信号Ｒが出力され、その信号Ｒに対する検波部２６の同期検波処理により、例えば図５の（ａ）のリサージュ波形Ｈｇを描くような信号Ｘ、ＹのデータＤｇが得られる。
このようにして大きさが異なる複数の異物サンプルのデータと良品サンプルのデータが得られた段階で、設定手段３２は、これらのデータに基づいて、良品サンプル（被検査体自体）の検波出力に対して、例えば最小径の異物サンプルＭｓ（ｍｉｎ）の検波出力の比が最大となる位相を最適検波位相θｉとして求め、記憶する（Ｓ１２）。
この処理は、図５の（ａ）に示した２つのリサージュ波形Ｈｎ、Ｈｇのデータを用い、最小径の異物サンプルＭｓ（ｍｉｎ）の波形Ｈｎの各座標（前記点Ｑのみでもよい）からある検波位相θｄに対応した角度をもつ直線Ａまでの距離の最大値Ｌｎと、良品サンプルの波形Ｈｇの各座標から直線Ａまでの距離の最大値Ｌｇとの比α＝Ｌｎ／Ｌｇを異なる検波位相θｄについて求め、図５の（ｂ）のように、比αが最大となる位相を最適検波位相θｉと決定し、この最適検波位相θｉの情報を、被検査体１の検査時に検波部２６の移相器２６ａに設定するパラメータとしてメモリ３３の所定領域３３ｃに記憶する。
このようにして被検査体に対する最適検波位相θｉが得られた後、最適検波位相θｉにおける良品サンプルと各異物サンプルの検波出力との比αの値と、各異物サンプルの大きさ（直径）との関係が求められる（Ｓ１３）。
即ち、図６に示すように、各異物サンプルＭｓ１〜Ｍｓｎ毎の比α１〜αｎを求め、その直径と比の値を近似的に関係付ける直線Ｂ（曲線でもよい）の式を求める。なお、この図では異物サンプルＭｓ１から順番に径が大きくなっているものとする。
そして、比αが基準値αｒ（例えばαｒ＝２）と等しくなる電圧Ｖｒ（前記距離Ｌｇの２倍に相当する電圧）を、被検査体１の検査時に判定手段３１に設定するしきい値Ｖｒとして求め、これをメモリ３３に記憶する（Ｓ１４）。
さらに、基準値αｒに対応する金属異物の直径ｄｒを直線Ｂから求め、その直径値を、判定手段３１で検出可能な最小の金属異物の大きさとして、例えば図７のように表示器３６に表示させる（Ｓ１５）。
ユーザはこの表示を確認することで、被検査体１について検出可能な金属の異物の最小の大きさを直観的に把握できる。
そして、検査モードが指定されたときに、設定手段３２は、メモリ３３の所定領域３３ｃに記憶されている最適検波位相θｉの情報を移相器２６ａに設定して検波部２６の検波位相を最適検波位相θｉに設定し、また、被検査体１の検査に必要なしきい値Ｖｒ等を含む他のパラメータを必要な箇所に設定する。
このようにして検査に必要なパラメータが設定された状態で、前記判定手段３１による被検査体１に対する検査が行なわれる。
図８は、この検査モード中の処理手順を示すものであり、判定手段３１は、被検査体１が進入センサ２４によって検知されると（Ｓ２１）、検波信号Ｘ、Ｙを一定時間取り込み（Ｓ２２）、その信号の大きさとしきい値Ｖｒとを比較して、その被検査体１に金属が混入しているか否かを判定し（Ｓ２３）、その判定結果を出力する（Ｓ２４）。
この検査モード中に、前記異物サンプルＭｓと同種で直径がｄｒ以上の金属が混入した被検査体１が磁界Ｅ中を通過すると、検波部２６から出力される信号Ｘ、Ｙのリサージュ波形は、図５のリサージュ波形Ｈｎ、Ｈｇを図９に示すように最適検波位相θｉ分だけ回転させた（直線Ａがｘ軸に一致するように回転させた）リサージュ波形Ｈｎ′、Ｈｇ′を時間軸上で合成したものとなるが、ｙ軸に沿った信号Ｙについてみると、被検査体１が交番磁界Ｅを通過する時間内で被検査体１自身による磁界への影響によって生じる信号の振幅Ｖｇに対して、混入金属の影響によって生じる信号の振幅Ｖｎの比Ｖｎ／Ｖｇは前記距離の比αに対応して最大となり且つ基準値αｒ（＝２）以上となる。
即ち、上記のような最適検波位相θｉが設定されているとき、判定手段３１は信号Ｙの最大振幅としきい値Ｖｒとを比較して混入金属の有無を判定することになる。そして、このとき、信号Ｙの最大振幅は２Ｖｇ（＝Ｖｒ）以上でしきい値以上となるので、判定手段３１からは金属が混入していることを示す信号が出力される。
また、被検査体１に金属が混入していない場合には、図９のリサージュ波形Ｈｇ′に対応した信号Ｘ、Ｙのみが出力されることになり、信号Ｙの最大振幅はしきい値Ｖｒより小さいため、判定手段３１からは金属が混入していることを示す信号は出力されない。
また、判定手段３１が混入金属有りと判定した場合、混入金属表示手段３４は、そのときの信号Ｙの最大振幅と前記直線Ｂに基づいて、混入している金属のおおよその大きさを推定して、これを表示器３６に表示する（Ｓ２５）。
例えば、信号Ｙの最大振幅ＶｙとＶｇとの比αａ（＝Ｖｙ／Ｖｇ）と、最大振幅ＶｙからＶｇを減算した結果とＶｇとの比αｂ（＝（Ｖｙ−Ｖｇ）／Ｖｇ）とを求め、前記した直線Ｂの式と比αａから混入している混入金属の直径の上限値ｄａを求め、直線Ｂの式と比αｂから混入金属の直径の下限値ｄｂを求め、これを被検査体１に混入している金属の大きさの範囲として、例えば図１０に示すように表示器３６に表示する。
この表示を確認することで、ユーザは被検査体に混入していた金属の大きさを直観的に把握できる。
なお、ここでは、混入している金属の大きさの範囲を表示しているが、複数の異物サンプルＭｓ１〜Ｍｓｎのうち、その推定した大きさの範囲に含まれる異物サンプルの大きさを表示してもよい。
また、前記説明では、設定手段３２が、検出可能な金属の最小径のみを表示器３６に表示し、その最小径に対応するしきい値を自動設定していたが、ユーザが指定した大きさに対応するしきい値を設定してもよい。
この場合、図１１に示すように、検出可能な金属の大きさとして、異物サンプルのうち、最小径以上の異物サンプルの各直径を表示器３６に表示するとともに、それらの直径のいずれかを操作部３５の操作で指定できるようにし、ユーザの操作で直径が指定されたとき、その異物サンプルの最適検波位相における検波出力の最大値（あるいはそれより僅かに小さい値でもよい）をしきい値Ｖｒとして求めて設定する。
また、検出可能な金属の最小径のみを表示し、操作部３５の操作によって最小径以上の任意の直径を入力指定できるようにし、その指定された直径と前記直線Ｂとから比αの値を求め、その比の値と前記電圧Ｖｇとの積をしきい値Ｖｒとして求めて設定してもよい。
また、前記したように、検出可能な金属の大きさおよび被検査体に混入している金属の大きさを異物サンプルの大きさだけで近似的に表示する場合には、メモリ３３に記憶されている異物サンプルの検波出力のデータと被検査体の検波出力とから表示する大きさを選択することができ、前記した直線Ｂの関係を用いないでも済む。
また、上記説明では、各異物サンプルおよび良品サンプルを１回だけ磁界中に通過させてそのデータを求めていたが、同一サンプルについて複数回ずつ磁界中に通過させて、そのデータを平均化し、その平均化されたデータに基づいて、最適検波位相や、比と大きさとの関係を求めてもよい。
また、ここでは、磁界変化検出部２３の出力信号Ｒを直交２相型の検波部２６に入力して２つの信号Ｘ、Ｙを求め、その両信号のデータから最適検波位相を求めていたが、検波部２６が単相型、即ち、移相器２６ａ、ミキサ２６ｂ、ＢＰＦ２６ｃのみで構成されている場合でも本発明を適用できる。
この場合には、移相器２６ａの移相量を少しずつ変えながら、異物サンプルおよび良品サンプルに対する出力信号Ｘの波形（時間軸上の波形）のデータを求め、そのデータから図１２のように、移相量Δφに対する異物サンプルの振幅値の変化特性Ｘｎ（φ）と、移相量φに対する良品サンプルの振幅値の変化特性Ｘｇ（φ）とを求め、良品サンプルの振幅値Ｖｇに対して異物サンプルの振幅値Ｖｎの比β＝Ｖｎ／Ｖｇが最大となる移相量φｄを最適検波位相θｉと決定し、これを被検査体１の検査時に移相器２６ａに設定すれば、前記同様に、混入金属を高感度に検出することができる。
そして、その最適検波位相における検波出力と金属の大きさとの関係を求めておくことで、前記同様に検出可能な金属の大きさや、被検査体に混入している金属の大きさを表示することができる。
また、上記説明では、大きさの異なる複数の異物サンプルの異物データＤｍがメモリ３３に記憶されていない場合について説明したが、この異物データは、金属検出装置２０の製造者等が予めメモリ３３の所定領域３３ａに記憶しておいてもよい。
また、材質が異なる複数の異物サンプルについてのデータを、上記処理により予めメモリ３３の所定領域３３ａに記憶しておき、被検査体１に対する位相の設定処理の際に、その複数の異物データの任意の一つを選択できるようにして、その選択された異物データについて前記同様の処理を行なうこともできる。
以上説明したように、本発明の金属検出装置は、大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを予め記憶しているメモリを備え、その異物サンプルのデータに基づいて、判定手段によって検出可能な金属の大きさを表示器に表示させているため、ユーザは、被検査体に対して検出可能な金属の大きさを直観的に把握できる。
また、操作部の操作により異物サンプルの大きさを指定できるようにし、その指定された大きさに対応するしきい値を判定手段に設定するようにしたものでは、ユーザが電圧値やそれに対する倍数値ではなく、金属の大きさそのものの指定操作でしきい値の設定が行なえ、より直感的なしきい値設定操作が可能となる。
また、混入金属表示手段によって、被検査体に混入している金属の大きさを表示するものでは、被検査体に混入している金属の大きさを直観的に把握することができ、格段に使いやすくなる。
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態の第２の例を説明する。
なお、本例において以下に説明する構成、作用、効果以外については第１の例と実質的に同一であるので、上述した第１の例における説明（図面を含む）を援用して可及的に繰り返しを避け、必要に応じ第１の例における参照符号を用いて説明を行うものとする。
図１３〜図１５は本発明を適用した金属検出装置１２０の全体構造を示している。
これらの図において、金属検出装置１２０は、基台１２１、被検査体の搬送路をなすコンベア１３０、ヘッド１４０およびコントローラ１５０により構成されている。
基台１２１はコンベア１３０およびヘッド１４０を支持するためのものであり、その下部には、設置面（床面）に対する基台１２１の高さ調整ができるようにネジ式の脚１２２が設けられている。
コンベア１３０は、上向きに開いたコの字状に形成され互いに対向する状態で基台１２１の上部に固定された一対の側板１３１、１３２を有している。
両側板１３１、１３２の一端側（図１３、図１４で左端側）の上部の間には駆動ローラ１３３が回転自在に支持され、他端側上部の間には従動ローラ１３４が回転自在に支持されており、駆動ローラ１３３と従動ローラ１３４の間には搬入物品を搬送するための無端状の搬送ベルト１３５が掛け渡されている。
また、側板１３１、１３２の一端側上部と他端側上部の間には、駆動ローラ１３３側から従動ローラ１３４側へ移動する上側の搬送ベルト１３５を上面で支えて、搬入物品を水平に搬送させるための下板１３６が固定されている。なお、従動ローラ１３４側から駆動ローラ１３３側に戻る下側の搬送ベルト１３５は、この下板１３６の下面に近接した経路を移動するように構成されている。搬送ベルト１３５および下板１３６は、磁界に対する影響が極めて少ない合成樹脂材で形成されている。
また、駆動ローラ１３３は、その一端側に一体的に設けられているモータ１３７によって回転駆動される。
側板１３１、１３２の中央上方には横長の矩形枠状に形成されたヘッド１４０が配置されている。ヘッド１４０の中央に形成されている横長矩形の穴１４１には、コンベア１３０の搬送ベルト１３５および下板１３６が通過している。
ヘッド１４０の穴１４１の内壁部１４１ａは全周にわたって磁束を透過させる合成樹脂の板材で形成され、ヘッド１４０の内部には、その内壁部１４１ａを囲むようにして送信コイル２２が巻きつけられ、その送信コイル２２の前後に２つの受信コイル２３ａ、２３ｂが同軸状に巻きつけられている。
また、ヘッド１４０の外周部は、磁束を透過させない磁気シールド材で形成されている。
したがって、送信コイル２２が発生する磁界Ｅの磁束のほとんどは、ヘッド１４０の内部および穴１４１の内側を通過することになり、その磁束は２つの受信コイル２３ａ、２３ｂにほぼ等量ずつ交わる。
なお、送信コイル２２と２つの受信コイル２３ａ、２３ｂは、ヘッド１４０内に充填された接着材（図示せず）によって、その相対位置が変化しないように固定されている。
このヘッド１４０は図１３〜図１５に示しているように、平板状のベース板１４５上に固定されており、ベース板１４５の四隅部には基台１２１上部に固定されたボルト１２３がそれぞれ挿通し、各ボルト１２３に締め付けられた上下２個のナット１２４によって、ベース板１４５が固定されている。
このボルト１２３とナット１２４は、コンベア１３０に対するヘッド１４０の高さ、即ち、ヘッド１４０に対する被検査体の通過高さ位置を可変するための機構であり、各ボルト１２３に対するナット１２４の高さを変えることで、被検査体の通過高さ位置を相対的に可変することができる。
なお、ここでは、コンベア１３０の下板１３６の下側を通過する搬送ベルト１３５がヘッド１４０の穴１４１の下面に最も近接した位置、即ち、穴１４１に対して被検査体の通過高さが最も低い位置を基準位置とする。
基台１２１（コンベア１３０の側板１３１、１３２やヘッド１４０自体でもよい）には、コンベア１３０の一端側に搬入された被検査体がヘッド１４０の穴１４１に進入するタイミングを検出するための光学式の進入センサ２４が設けられている。なお、この物品の進入タイミングは、検波部２６の出力信号Ｘ、Ｙの振幅変化によって検知することもでき、その場合、進入センサ２４は省略できる。
ヘッド１４０の上部に設けられたコントローラ１５０には、コンベア１３０のモータ駆動、ヘッド１４０の送信コイル駆動、受信コイルからの信号に対する処理等を行なうための回路が内蔵されている。
次に、本例における作用を図１６〜図１８を参照して説明する。
本例の金属検出装置は、前述したようにコンベア１３０に対するヘッド１４０の位置（コンベア１３０の高さ）を調整することができる機構を備えており、コンベア１３０の高さ以外の条件が同一であってもコンベア１３０の高さを異なる値に設定すれば、被検査体に混入している金属の検出感度も異なったものとなる場合がある。
そこで、本例では、第１の例で説明したような制御手順により、予め記憶した異物サンプルのデータと良品サンプルのデータに基づいて判定手段により検出可能な金属の大きさを表示器に表示させ、または操作部の操作により異物サンプルの大きさを指定してしきい値設定を行うことにより被検査体に対して検出可能な金属の大きさを直観的に把握できるようにするだけでなく、さらにコンベア１３０の高さ（ヘッド１４０に対する相対的な位置）を変えて各位置ごとに第１の例で説明した制御動作を繰り返して前記しきい値をそれぞれ求め、各位置と当該各位置に対応する検出可能な異物の大きさを前記表示器に表示することにより、コンベア１３０の最も好ましい位置（最も感度の高い位置）を検出可能な異物の大きさとして表示し、任意に選択することができるようにしたものである。
図１６に模式的に示すように、ヘッド１４０に対するコンベア１３０の位置を、基準位置（ａ）と、基準位置（ａ）から所定寸法（例えば１０ｍｍ）上昇させた位置（ｂ）と、位置（ｂ）からさらに所定寸法（例えば１５ｍｍ、）上昇させた位置（ｃ）（従って基準位置からは２５ｍｍ）とにそれぞれ設定し、各位置ごとに、検出可能な金属異物の直径ｄｒを求める。
上記手順を図１７のフローチャートに従って説明するが、図１７においてステップＳ１０１からＳ１１５までは、第１の例において図２を参照して説明したステップＳ１からＳ１５までと同一であるので、前述したように第１の例における前記説明（図面を含む）を援用し、以下においてはＳ１１６以降の手順について説明する。
基準値αｒに対応する金属異物の直径ｄｒを直線Ｂから求めて判定手段３１で検出可能な最小の金属異物の大きさとして表示器３６に表示させた（Ｓ１１５）後、この基準値αｒ及び検出可能な最小の金属異物の大きさをメモリ３３に記憶する（Ｓ１１６）。なお、以上の１回目の手順はコンベア１３０を例えば図１６（ａ）に示す基準位置に設定した状態で実行する。
ここで、コンベア１３０の高さの変更を求める指示を表示器３６に表示させる（Ｓ１１７）。この指示を受けたオペレータは、前述したボルト１２３とナット１２４による機構を調整してコンベア１３０に対するヘッド１４０の高さを調整し、コンベア１３０のヘッド１４０に対する高さを変更する。本例では例えば図１６（ｂ）に示す位置に変更・設定し、操作部から変更後のコンベア位置を入力する。
本例では、コンベア１３０の位置をｍ回変え（例えば２回変えて図１６で示す３つの位置（ａ），（ｂ），（ｃ）に設定し）、各位置ごとに基準値αｒ及び検出可能な最小の金属異物の大きさを求める操作を繰り返すこととし、その繰り返し回数が満足されない場合には、良品サンプルの通過指示（Ｓ１０９）に始まり、各高さごとに基準値αｒ及び検出可能な最小の金属異物の大きさを記憶する（Ｓ１１６）までの動作を繰り返す（Ｓ１１８、ＮＯの場合）。
所定繰り返し回数ｍが満足された場合には（Ｓ１１８、ＹＥＳの場合）、基準値αｒ及び検出可能な最小の金属異物の大きさをコンベア高さごとに表示器３６に表示する（Ｓ１２０）。
図１８は、表示器３６の最終的な表示画面を示すものであり、異なる複数のコンベア高さ（基準位置からの変更量で表示）においてそれぞれ検出可能な異物（金属）の大きさが表示されており、さらにカーソルによって所望のコンベア高さ又は異物（金属）の大きさを選択してリターンキーで確認するように求める指示が表示がされている。
この指示を受けたオペレータは、操作部３５によりカーソルを操作して所望のコンベア高さ及び異物（金属）の大きさを選択し、コンベア高さをその値に設定することで、選択した異物（金属）の大きさを検出感度として設定することができる。
従って、検出感度が最も高く、異物の検出に最適なコンベア高さを選択して、高感度で異物の検出を行うことができる。又は、必ずしも最高の感度でなく、実際に必要とする検出感度及びコンベア高さを選択し、その高さにコンベア位置を設定して必要な検出感度を得ることもできる。
図１８に示すように、本例では３つの高さごとに検出可能な異物（金属）の大きさを表示し、その結果としては中間の図１６（ｂ）に示す位置において最も検出感度が高い結果となった場合を示した。すなわち、コンベア１３０はヘッド１４０に最も近い基準位置（図１６（ａ））や基準位置から相当離れた位置（図１６（ｃ））にあるよりも、これらの中間位置である基準位置から適当な距離だけ離れた位置（図１６（ｂ））にある場合に検出感度が最も高くなった。
しかしながら、この傾向は一例にすぎず、送信コイル１２２及び２つの受信コイル１２３ａ，１２３ｂがヘッド１４０のいかなる位置にどのような態様で設けられているか等のさらに具体的な構成により、コンベア１３０のヘッド１４０に対する最適な位置（感度が最も高くなる位置）は変化しうる。
しかし、基本的に本例の如き構成を有していれば、コンベア１３０の複数の位置について検出感度を表示して任意に選択できるので、コンベア１３０とヘッド１４０の機構的なバリエーションに係わらず、常に異物の検出に最適なコンベア高さを選択して、異物の検出を行うことができる効果に変わりはない。
また、本例ではコンベア高さの変更は、ヘッド１４０の昇降機構により手動で行っていたが、動力を用いた昇降機構により操作部３５からの操作で行うこととし、設定後のコンベア高さは自動的に制御部３０に入力されるようにしてもよい。その場合には、最終画面で所望のコンベア高さを選択した場合には、制御部３０の制御によりコンベア高さを自動的に当該高さに設定するように構成してもよい。
また、本例では、ヘッド１４０を昇降させてコンベア１３０のヘッド１４０に対する相対的な高さ（位置）を変更していたが、逆に固定されたヘッド１４０に対してコンベア１３０を昇降させてもよい。
また、本例では、コンベア１３０の位置を基準位置から順次段階的に上昇させて測定を繰り返したが、もちろん測定に先立って設定するコンベア１３０の位置は、どのような順序でも良い。例えば、最高位置、基準位置、最低位置の順でもよい。
以上説明した本発明の実施の形態の２つの例では、各金属検出装置ごとに複数の異物サンプルを交番磁界中に通過させて異物のデータを取得し、各装置ごとに各装置のメモリ３３に記憶させていた。しかし、このような異物サンプルのデータの取得は、マスター装置となる１台の特定の金属検出装置において原則として１回だけ行い、このデータをマスターデータとして他の多数の金属検出装置に移植して利用してもよい。
その場合、他の金属検出装置においては、当該マスターデータをメモリに記憶させるとともに、マスターデータの取得に用いた複数の異物サンプルを当該装置の交番磁界中に実際に通過させてデータを取得し、そのデータで前記マスターデータを補正するものとする。かかる構成とすれば、メモリに記憶する異物サンプルのデータの生成がマスター装置において一括して行え、しかも各金属検出装置ごとに補正するので微妙な各装置ごとのくせにも対応することができる。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号発生器（２１）と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル（２２）と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル（２３ａ、２３ｂ）を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部（２３）と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部（２６）と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段（３１）と、
表示器（３６）とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ（３３）を備え、
前記メモリに記憶されている異物サンプルのデータに基づいて、前記判定手段によって検出可能な金属の大きさを前記表示器に表示させることを特徴とする金属検出装置。
【請求項２】
操作部（３５）を備え、
該操作部の操作により前記異物サンプルの大きさを指定できるようにし、該指定された大きさに対応するしきい値を前記判定手段に設定することを特徴とする請求項１記載の金属検出装置。
【請求項３】
信号発生器（２１）と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル（２２）と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル（２３ａ、２３ｂ）を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部（２３）と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部（２６）と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段（３１）と、
表示器（３６）とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ（３３）と、
前記判定手段によって被検査体に金属が混入していると判定されたとき、該被検査体について前記検波部から出力された信号と、前記メモリに記憶されている異物サンプルのデータとに基づいて、被検査体に混入している金属の大きさを求めて前記表示器に表示させる混入金属表示手段（３４）とを設けたことを特徴とする金属検出装置。
【請求項４】
信号発生器（２１）と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル（２２）と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル（２３ａ、２３ｂ）を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部（２３）と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部（２６）と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段（３１）と、
表示器（３６）とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータを記憶するとともに、良品サンプルを交番磁界注に通過させた時に検波部から出力される信号のデータを記憶するメモリ（３３）を備え、
前記メモリに記憶されている異物サンプルのデータと良品サンプルのデータに基づいて、異物サンプルと良品サンプルの出力比が最大となる最適検波位相を求め、さらに該最適検波位相における良品サンプルと各異物サンプルの検波出力の比と各異物サンプルの大きさの関係を求めるとともに、前記比の基準値に対応する前記しきい値を設定することを特徴とする金属検出装置。
【請求項５】
前記交番磁界に対する前記搬送路の位置が変更可能であり、
変更により設定した異なる複数の前記位置において良品サンプルを前記交番磁界中に通過させて各位置ごとに前記しきい値を求め、各位置と当該各位置に対応する各しきい値によって検出可能な異物の大きさとを前記表示器に表示することを特徴とする請求項４記載の金属検出装置。
【請求項６】
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルを前記金属検出装置の前記交番磁界中にそれぞれ通過させて前記検波部から出力される信号のデータをマスターデータとして取得し、
当該マスターデータを他の前記金属検出装置の前記メモリに記憶させるとともに、前記複数の異物サンプルを他の前記金属検出装置の交番磁界中にそれぞれ通過させて検波部から出力される信号のデータにより前記マスターデータを補正することを特徴とする請求項１乃至５の何れかに記載の金属検出装置。
【請求項１】
信号発生器（２１）と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル（２２）と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル（２３ａ、２３ｂ）を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部（２３）と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部（２６）と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段（３１）と、
表示器（３６）とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ（３３）を備え、
前記メモリに記憶されている異物サンプルのデータに基づいて、前記判定手段によって検出可能な金属の大きさを前記表示器に表示させることを特徴とする金属検出装置。
【請求項２】
操作部（３５）を備え、
該操作部の操作により前記異物サンプルの大きさを指定できるようにし、該指定された大きさに対応するしきい値を前記判定手段に設定することを特徴とする請求項１記載の金属検出装置。
【請求項３】
信号発生器（２１）と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル（２２）と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル（２３ａ、２３ｂ）を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部（２３）と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部（２６）と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段（３１）と、
表示器（３６）とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ（３３）と、
前記判定手段によって被検査体に金属が混入していると判定されたとき、該被検査体について前記検波部から出力された信号と、前記メモリに記憶されている異物サンプルのデータとに基づいて、被検査体に混入している金属の大きさを求めて前記表示器に表示させる混入金属表示手段（３４）とを設けたことを特徴とする金属検出装置。
【請求項４】
信号発生器（２１）と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル（２２）と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された２つの受信コイル（２３ａ、２３ｂ）を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部（２３）と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部（２６）と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段（３１）と、
表示器（３６）とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータを記憶するとともに、良品サンプルを交番磁界注に通過させた時に検波部から出力される信号のデータを記憶するメモリ（３３）を備え、
前記メモリに記憶されている異物サンプルのデータと良品サンプルのデータに基づいて、異物サンプルと良品サンプルの出力比が最大となる最適検波位相を求め、さらに該最適検波位相における良品サンプルと各異物サンプルの検波出力の比と各異物サンプルの大きさの関係を求めるとともに、前記比の基準値に対応する前記しきい値を設定することを特徴とする金属検出装置。
【請求項５】
前記交番磁界に対する前記搬送路の位置が変更可能であり、
変更により設定した異なる複数の前記位置において良品サンプルを前記交番磁界中に通過させて各位置ごとに前記しきい値を求め、各位置と当該各位置に対応する各しきい値によって検出可能な異物の大きさとを前記表示器に表示することを特徴とする請求項４記載の金属検出装置。
【請求項６】
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルを前記金属検出装置の前記交番磁界中にそれぞれ通過させて前記検波部から出力される信号のデータをマスターデータとして取得し、
当該マスターデータを他の前記金属検出装置の前記メモリに記憶させるとともに、前記複数の異物サンプルを他の前記金属検出装置の交番磁界中にそれぞれ通過させて検波部から出力される信号のデータにより前記マスターデータを補正することを特徴とする請求項１乃至５の何れかに記載の金属検出装置。
【国際公開番号】ＷＯ２００４／０８６０９５
【国際公開日】平成１６年１０月７日（２００４．１０．７）
【発行日】平成１８年６月２９日（２００６．６．２９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−５０３９８９（Ｐ２００５−５０３９８９）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＪＰ２００４／００２８３８
【国際出願日】平成１６年３月５日（２００４．３．５）
【出願人】（３０２０４６００１）アンリツ産機システム株式会社 (238)
【Ｆターム（参考）】
【国際公開日】平成１６年１０月７日（２００４．１０．７）
【発行日】平成１８年６月２９日（２００６．６．２９）
【国際特許分類】
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＪＰ２００４／００２８３８
【国際出願日】平成１６年３月５日（２００４．３．５）
【出願人】（３０２０４６００１）アンリツ産機システム株式会社 (238)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]