集合コネクタハウジング、集合コネクタ、及び電子装置
【課題】 複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに接続可能とする集合ハウジングを提供する。
【解決手段】 複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに対して挿抜可能に収容する集合コネクタハウジングは、前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを、前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと、を有する。
【解決手段】 複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに対して挿抜可能に収容する集合コネクタハウジングは、前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを、前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと、を有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、集合コネクタハウジング、集合コネクタ、及び電子装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子計算機の大規模システム化に伴い、高速大容量のネットワーク接続を実現するために、コネクタの多ピン化、小型化、高精度化が進展している。こうした電子計算機システムにおいて、多数の架間ケーブルを一本一本接続するには膨大な作業量と正確な作業技術を要する。特に多ピン高精度コネクタの場合、コネクタ１個を手で持って挿入する際に、斜め挿入によってコネクタのピン曲がりが発生する危険性がある。
【０００３】
ディジタルカメラ等の携帯機器においても、電子機器相互間の送受信や、充電用にコネクタが用いられている。携帯機器でコネクタ同士を結合する際の誤差を吸収するために、コネクタを一定範囲で動けるように構成したフローティング構造が提案されている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００４】
このフローティング構造は、コネクタ挿入方向と垂直な面内で、コネクタが全方向に可動となる隙間と弾性を有する。そのため、移動側コネクタが相手側コネクタに挿入されるときに、挿入方向の軸に対する回転、傾きが発生するおそれがある。
【０００５】
このような携帯機器のコネクタ用フローティング構造を、サーバシステムやコンピュータシステムなどの大掛かりなコネクタ構造にそのまま適用することはできない。一般に大規模コンピュータシステムでは、断面が四角形のコネクタが一方向に多数並べられた固定側コネクタに対して、多数の移動側コネクタを接続するが、複数のコネクタを一括して接続しようとすると、各コネクタの回転あるいは傾きの量に応じて、移動側コネクタ同士のコネクタ間隔の位置ずれ誤差を厳しくしなければならないからである。一度に接続するコネクタの数が多くなればなるほど、位置ずれ誤差をさらに厳しくする必要がある。
【０００６】
さらに、上記のフローティング構造では、可動基板とその支持部や、弾性部材などを設置するため、コネクタ挿入方向から見て、コネクタ外形よりも大きな設置面積が必要となる。このため、フローティング構造の設置面積よりも狭い間隔で配置された固定側コネクタ群に対しては対応できないという物理的な問題がある。また、この構成では、アダプタや可撓性ケーブルで中継するため、高速伝送システムでは、中継部材による伝送ロスが懸念される。
【０００７】
これらの事情により、多数の単体形コネクタをプリント基板上に配置した固定側コネクタ群に対して、単体形の移動側コネクタ群を、プリント基板等による中継なしに一括して接続することのできるコネクタ接続構造が望まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００５−１２９４５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
一度の挿抜動作で、複数のコネクタを一括して相手側コネクタに対して接続または抜脱することのできる集合コネクタハウジングと、これを用いた集合コネクタおよび電子機器を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
第１の観点では、複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに対して挿抜可能に収容する集合コネクタハウジングを提供する。集合コネクタハウジングは、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタ挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有する。
【００１１】
第２の観点では、集合コネクタを提供する。集合コネクタは、
複数のコネクタと、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタ挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有する。
【００１２】
第３の観点では、上述した集合コネクタを用いた電子装置を提供する。電子装置は、
基板上に配置された複数の第１コネクタと、
前記第１コネクタに結合される複数の第２コネクタを含む上記集合コネクタと、
を含む
【発明の効果】
【００１３】
複数のコネクタを一括して相手側コネクタに対して接続または抜脱することができる。これにより、接続作業の高品質化と省力化を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】電子装置の固定側コネクタ群と移動側コネクタの一部を示す概略構成図である。
【図２】実施形態の試験装置の概略構成図である。
【図３】実施例１の集合コネクタのコネクタユニットの概略構成図である。
【図４】図３のコネクタユニットに含まれる移動側コネクタの概略構成図である。
【図５】図３のコネクタユニットに含まれるコネクタハウジングの概略構成図である。
【図６】実施例１の集合コネクタで用いられる中間ブロックの一部を示す概略構成図である。
【図７】実施形態の集合コネクタハウジングで用いられるホルダの概略構成図である。
【図８】実施例２のコネクタユニットと中間ブロックの一部を示す概略構成図である。
【図９】実施例２のコネクタハウジングを示す概略構成図である。
【図１０】実施例３のコネクタユニットの概略構成図である。
【図１１】図１０のコネクタユニットのＭ−Ｍ断面図である。
【図１２】実施例３の中間ブロックの概略構成図である。
【図１３】実施例４のコネクタブロックの分解斜視図である。
【図１４】図１３のコネクタブロックのＥ−Ｅ断面図である。
【図１５】実施例４のコネクタブロックと中間ブロックを示す概略構成図である。
【図１６】実施例５のセキュア機構を示す概略構成図である。
【図１７】図１６の変形例を示す図である。
【図１８】電子機器へのホルダの設置例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下で、図面を参照して発明の実施形態を説明する。実施形態では、複数台の電子計算機をネットワーク接続する架間ケーブルに適用するコネクタ接続構造を例にとって説明する。
【００１６】
図１は、電子計算機１０の固定側コネクタ群と、移動側コネクタ２の一部を示す概略図である。プリント基板１２上に多数の固定側コネクタ１が搭載されている。このコネクタ搭載基板は、コネクタ１の機能テストが完了する前の中間完成品１１である。中間完成品１１は、補強板１３に保持されている。
【００１７】
プリント基板１２上の各コネクタ１（適宜、「固定側コネクタ１」とする）に対して、移動側のコネクタ２（適宜、「移動側コネクタ２」とする）が電気的に接続される。図１では単一の移動側コネクタ２のみが描かれているが、実際には、固定側コネクタ１に対応する個数の移動側コネクタ２が接続される。
【００１８】
移動側コネクタ２は、接続ケーブル９の端部で、コネクタの先端が突出するようにコネクタハウジング３に収容されている。このコネクタハウジング３は、コネクタ２を単体で接続する単体接続用コネクタハウジングである。複数の電子計算機１０をネットワーク状に接続する場合、移動側コネクタ２をひとつずつ対応する固定側コネクタ１に接続するのでは非常に効率が悪い。したがって、実施形態では、複数の移動側コネクタ２を、一度の動作で一括して固定側コネクタ１に接続する集合コネクタハウジングと、これを用いた集合コネクタおよび電子装置を提供する。
【００１９】
この場合、移動側コネクタ２の各々に製造ばらつきがあること、また、複数の移動側コネクタ２を一定間隔で配置する際に位置ずれ誤差が生じることから、一括接続の際に、各コネクタ２の製造ばらつきや位置ずれ誤差を吸収できる構成が必要となる。
【００２０】
製造ばらつきや位置ずれを吸収するためにコネクタ２の全周に遊びを設けると、各コネクタ２において挿入軸（Ｚ軸）まわりの回転、傾きがばらばらに生じてしまうので、移動側コネクタ２の許容位置ずれ誤差を厳しくせざるをえない。これを避けるために、具体的な実施例では、コネクタ挿入方向であるＺ軸に垂直なＸＹ平面において、許容位置ずれ範囲内で各コネクタ２のＸ軸方向の動きと、Ｙ軸方向の動きを独立して許容する構成を提供する。具体的には、後述するように、コネクタ挿通孔内で各コネクタを第１の方向（たとえばＸ方向またはＹ方向）に可動に保持する第１のハウジングと、ハウジング挿通孔内で第１のハウジングを第２の方向（たとえばＹ方向またはＸ方向）に可動に保持する第２のハウジングとで、集合コネクタハウジングを構成する。
【００２１】
図２は、図１の中間完成品１１を電子計算機１０から補強板１３ごと取り外して、試験装置９０で機能試験を行なうときの概略図である。この試験装置９０も、集合コネクタ構造を有する電子装置の一例である。試験装置９０は、複数の移動側コネクタ２を保持する中間ブロック５０１が所定の配置で並べられた集合ブロック６０１を有する。集合ブロック６０１は、複数の移動側コネクタ２を一括して相手側の固定側コネクタ１に接続することのできる集合コネクタ６０１として機能する。集合ブロック（または集合コネクタ）６０１は、後述の各実施例で述べるように、各移動側コネクタ２が所定の許容誤差範囲内で、Ｘ方向とＹ方向に互いに独立して可動となる構成を有する。
【００２２】
この例では、集合ブロック６０１において、中間ブロック５０１がＹ軸方向に多数配置され、Ｘ軸方向に２列に並べられているが、この例に限られるわけではなく、少なくとも１つの中間ブロック５０１を含めばよい。各中間ブロック５０１は、Ｘ軸方向に沿って配列された複数の移動側コネクタ２を収容する。移動側コネクタ２は、その長辺方向がＹ軸方向と平行になるように配置されている。集合ブロック６０１は、集合ホルダ６により中間ブロック５０１を保持する。
【００２３】
集合ブロック６０１は、シャフト等の回転軸９６の回りに回動可能に試験装置９０に取り付けられている。試験対象となる中間完成品１１を補強板１３ごと試験装置９０にセットする際には、集合ブロック６０１をシャフト９６の回りに回転させて開く。中間完成品１１を試験装置９０にセットしたならば、集合ブロック６０１を矢印の方向に回転させて閉じる。そうすると、複数の移動側コネクタ２の各々が対応する固定側コネクタ１に一括して挿入される。このとき、各移動側コネクタ２を所定の範囲内（製造ばらつき、位置ずれ許容範囲などを考慮した範囲内）で、挿入方向（Ｚ方向）と直交する平面内でＸ方向とＹ方向に独立して動くことができるようにすることで、コネクタごとの誤差を吸収する。これを実現するための具体的な構成を、以下の実施例で説明する。
【００２４】
なお、集合ブロック６０１を片側のシャフト９６まわりに保持するかわりに、中間ブロック５０１が一列ずつ並べられた２つの集合ブロック６０１を、試験装置９０の両側に設けられた２本のシャフト（不図示）で保持して、両開き構成としてもよい。あるいは、中間ブロック５０１を列方向に２以上のグループに分けて、集合ブロック６０１をＹ方向に複数段に分割して開閉する構成としてもよい。
【実施例１】
【００２５】
図３〜図７を参照して、実施例１の集合コネクタハウジング及び集合コネクタを説明する。図３は、ケーブル９に接続された移動側コネクタ２をコネクタハウジング４に収容したコネクタユニット４０１の概略構成図、図４は図３の移動側コネクタ２の概略構成図、図５は図３のコネクタハウジング４の概略構成図である。図３に示すように、コネクタユニット４０１において、移動側コネクタ２の先端は、コネクタハウジング４から突出して、固定側コネクタ１（図２参照）と接続可能になっている。移動側コネクタ２の基部、及びこれに接続されるケーブル９の一部は、コネクタハウジング４により保持されている。
【００２６】
図４に示すように、移動側コネクタ２において、固定側コネクタ１と結合されるときに許容される位置ずれ誤差の値は、移動側コネクタ２の先端挿入面のＹ方向に延びる面取り２２と、Ｘ方向に延びる面取り２３と、固定側コネクタ１の形状との関係で決まる。ここで、コネクタ結合時の移動側コネクタ２に許容される位置ずれ誤差のＸ方向の許容値を±（ＵＬx） 、Ｙ方向許容値を±（ＵＬｙ）とする。Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸の位置関係は図４に示すとおりである。移動側コネクタ２は、側面に突起２１を有し、図５に示すコネクタハウジングの切り欠き４１と係合する。
【００２７】
図５において、コネクタハウジング４は、挿入方向の先端側に移動側コネクタ２の突起２１と係合する切欠４１と、挿入方向の後端側（ケーブル９側）に、孔４２を有する。コネクタハウジング４は、図３のように接着、あるいは図示しないカシメ、ネジ止め等により移動側コネクタ２と一体化され、コネクタユニット４０１を構成する。
【００２８】
図６は、図３のコネクタユニット４０１を中間ホルダ５に組み付けた中間ブロック５０１Ａの概略構成図である。中間ホルダ５は複数の角穴（コネクタ挿通孔）５１を有する。角穴５１は、コネクタユニット４０１の挿入方向（Ｚ方向）と垂直なＸ方向に、複数形成されている。コネクタユニット４０１の先端側は角穴５１に挿入される。コネクタユニット４０１はまた、コネクタハウジング４の後端側で、孔４２によって中間ホルダ５及びルーフ５７に設けられているピン５２を受け取る。コネクタハウジング４の孔４２とピン５２の拘束条件は、コネクタユニット４０１のＺ軸方向の動きを止めながら、Ｘ方向の揺動（回動）を妨げないものとする。コネクタハウジング４が弾性を有する薄板等で形成されてそれ自体でＸ方向に変位可能な場合は、ピン５２と孔４２に代えてネジ止めとしてもよい。
【００２９】
コネクタユニット４０１のＸ方向の寸法をＬ１、中間ホルダ５の角穴５１のＸ方向の寸法をＬ２、コネクタ２のＸ方向の位置ずれ許容値を±（ＵＬx）とすると、
（Ｌ２−Ｌ１）／２＜（ＵＬｘ） （１）
の関係が成り立つようにする。これにより、中間ホルダ５に組みつけられた移動側コネクタ２を、±（ＵＬｘ）の範囲内でＸ方向に可動とすることができる。
【００３０】
このとき、角穴５１のＹ方向の寸法Ｌ９は、コネクタユニット４０１のＸ方向への自由な動きを阻害しない程度のわずかな隙間を有する寸法とする。
【００３１】
図６では、図示の便宜上、単一のコネクタユニット４０１のみが描かれているが、角穴５１に複数のコネクタユニット４０１を組み付けて、中間ブロック５０１Ａを構成する。実施例１では、中間ブロック５０１Ａの中間ホルダ５は、複数の移動側コネクタ２を相手方コネクタ１に一括して挿抜する集合コネクタハウジングの第１のハウジングとなる。第１のハウジングは、移動側コネクタを挿通させる角穴（コネクタ挿通孔）５１内で移動側コネクタ２を挿入方向（Ｚ方向）と垂直な第１の方向（実施例１ではＸ方向）に可動となるように保持する。
【００３２】
次に、複数の中間ブロック５０１Ａを、図７に示す集合ホルダ６に組み付けて集合ブロック６０１（図２参照）を構成する。集合ホルダ６は複数の角穴（ハウジング挿通孔）６１を有し、角穴６１に図６の中間ブロック５０１Ａが挿入される。
【００３３】
角穴６１のＹ方向の寸法をＬ４、Ｘ方向の寸法をＬ４１とすると、Ｌ４と、中間ブロック５０１ＡのＹ方向の寸法Ｌ３（図６参照）との関係は、
（Ｌ４−Ｌ３）／２＜（ＵＬｙ） （２）
となる。これにより、中間ブロック５０１Ａに含まれる各移動側コネクタ２は、Ｙ方向の位置ずれ許容範囲内で、Ｙ方向に動くことが可能になる。このＹ方向の動きは、中間ブロック５０１Ａ内における各コネクタ２のＸ方向への動きとは独立したものとなる。
【００３４】
角穴６１のＸ方向の寸法Ｌ４１は、中間ブロック５０１Ａがコネクタ挿入方向（Ｚ方向）に移動するのを阻害しない程度の隙間を有するが、中間ブロック５０１Ａ（すなわち各コネクタ２）のＸ方向への動きを許容する遊びは含まれていない。図７の構成例では集合ホルダ６は、中間ブロック５０１ＡのＸ方向への動きを規制しつつ、コネクタ挿入方向（Ｚ方向）への円滑な挿入を案内するガイド６３と、中間ブロック５０１ＡのＹ方向の動きを寸法Ｌ４で規制するガイド６２とを有する。
【００３５】
この集合ホルダ６は、第２のハウジングとして機能する。第２のハウジングは、移動側コネクタ２を、コネクタ挿入方向（Ｚ方向）と第１方向（Ｘ方向）の各々に対して垂直なＹ方向に可動となるように保持する。
【００３６】
図６の中間ブロック５０１Ａを組み付けて作製した集合ブロック６０１を図２の試験機９０に組み付ける場合は、固定側コネクタ１と集合ブロック６０１の移動側コネクタ２の挿入軸がそれぞれ一致する位置にくるように、事前に位置調整がされている。
【００３７】
図２の試験装置で機能試験が完了した後は、集合ブロック６０１を開けてすべての移動側コネクタを一括して抜脱し、補強板１３ごとコネクタ付きプリント基板１２を取り外す。取り出したプリント基板１２を図１の電子計算機１０の所定の箇所に設置する。電子計算機１０を別の計算機と接続してシステム化するときにも、集合ブロック６０１として形成された集合コネクタで一括してケーブル接続することができる。
【００３８】
実施例１では、中間ホルダ５は、移動側コネクタ２をＸ方向に可動とする第１のハウジングとして機能する。集合ホルダ６は、移動側コネクタ２をＸ方向の動きとは独立してＹ方向に可動とする第２のハウジングとして機能する。第１ハウジングと第２ハウジングとで、集合コネクタハウジングを構成する。
【００３９】
集合コネクタハウジングに複数の移動側コネクタ２を組み込むことによって、一括した挿脱が可能な集合コネクタ６０１（図２参照）が実現される。移動側コネクタ２のＸ方向への自由度は、移動側コネクタ２ごとに与えられ、Ｙ方向への移動度は中間部ロック５０１Ａ単位で与えられる。各移動側コネクタ２がＸ方向とＹ方向に独立して移動可能に保持されるため、誤差条件を厳しく設定しなくても製造ばらつき、配置の位置ずれ等の誤差を適切に吸収することができる。このような集合コネクタ６０１を試験装置や電子計算機に連結することによって、効率的なコネクタ構造を有する電子装置が実現される。
【実施例２】
【００４０】
図８〜９は、実施例２の集合コネクタハウジング及び集合コネクタを説明するための図である。図８は実施例２の中間ブロック５０１Ｂの概略構成図、図９は図８の中間部ロック５０１Ｂで用いられるコネクタハウジング４０の概略構成図である。実施例２では、移動側コネクタ２を所定範囲内でＸ方向に可動とする構造を、実施例１と異なる構成で実現する。
【００４１】
図８に示すように、中間ブロック５０１Ｂは、中間ホルダ５０と、中間ホルダ５０に保持される複数のコネクタユニット４０２を含む。コネクタユニット４０２は、移動側コネクタ２と、これを収容するコネクタハウジング４０を含む。中間ホルダ５０は、挿入方向の先端側に、複数のコネクタユニット４０２を挿通させる開口（コネクタ挿通孔）５０２を有する。中間ホルダ５０はまた、コネクタユニット４０２の挿入方向（Ｚ方向）に沿ってケーブル側（後端側）に位置する第１ピン５２と、挿入方向の先端側に位置する第２ピン５４を有する。第１ピン５２及び第２ピン５４は、それぞれ固定側コネクタ１（図１参照）の配置間隔に合致するピッチで、Ｘ方向に沿って複数個配置されている。
【００４２】
図９に示すように、コネクタハウジング４０は、中間ホルダ５０の第１ピン５２と嵌合する第１の孔４２と、中間ホルダ５０の第２ピン５４と嵌合する第２の長円孔４４を有する。コネクタハウジング４０内に移動側コネクタ２を収容してコネクタユニット４０２とする。移動側コネクタ２をコネクタハウジング４０内へ収容する際に、コネクタハウジング４０の切り欠き４１を移動側コネクタの突起２１（図４参照）と係合させ、さらに接着やカシメ、ネジ止め（不図示）などの固定手段でコネクタ２とコネクタハウジング４０を一体化して、コネクタユニット４０２を構成する。
【００４３】
図８に戻り、複数のコネクタユニット４０２を中間ホルダ５０の開口５０２内に挿入して、中間ブロック５０１Ｂを構成する。コネクタユニット４０２の長円孔４４はＸ方向に長軸を有する。コネクタユニット４０２が中間ホルダ５０の開口５０２に挿通されて中間ホルダ５０の第２ピン５４と嵌合すると、第２ピン５４は長円孔４４の中でＸ方向に可動となる。他方、中間ホルダ５０の第１ピンとコネクタユニットの孔４２との拘束条件は、実施例１と同様に、コネクタユニット４０２のＺ方向の動きを止めつつ、Ｘ方向の揺動（回動）を妨げないものである。
【００４４】
コネクタハウジング４０の長円孔４４のＸ方向の寸法Ｌ８（図９参照）と、中間ホルダ５０の第２ピン５４の直径Φ１との関係は、
（Ｌ８−Φ１）／２＜（ＵＬｘ） （３）
となる。これにより、移動側コネクタ２は、Ｘ方向の位置ずれ許容範囲内でＸ方向に可動となる。
【００４５】
このような中間ブロック５０１Ｂを、図７の集合ホルダ６に組み付けて集合コネクタ６０１（図２参照）を構成する。中間ブロック５０１ＢのＹ方向の寸法Ｌ５は、集合ホルダ６の角穴６１のＹ方向の寸法Ｌ４に対して、
（Ｌ４−Ｌ５）／２＜（ＵＬｙ） （４）
の関係を満たす。これにより、移動側コネクタ２は、Ｙ方向の位置ずれ許容範囲内でＹ方向に可動となる。
【００４６】
実施例２でも、各移動側コネクタ２のＸ方向の自由度はコネクタ単位で与えられ、Ｙ方向の自由度は中間ブロック５０１Ｂ単位で与えられる。実施例２では、コネクタハウジング４０の長円孔４４と嵌合する第２ピン５４を有する中間ホルダ５０が、移動側コネクタ２をＸ方向に可動となるように保持する第１ハウジングとなる。１以上の角穴６１を有する集合ホルダ６が、各移動側コネクタ２をＹ方向に可動に保持する第２のハウジングとなる。第１のハウジングと第２のハウジングで集合コネクタハウジングを構成する。
【００４７】
集合コネクタハウジングに複数の移動側コネクタ２を組み付けることによって、集合コネクタ６０１（図２参照）が実現される。集合コネクタを所望の機器に結合することによって、効率的なコネクタ構造を有する電子装置が実現される。
【実施例３】
【００４８】
図１０〜１２は、実施例３の集合コネクタハウジング及び集合コネクタを説明するための図である。図１０は実施例３のコネクタユニット４０３の概略構成図、図１１は図１０のＭ−Ｍ断面図、図１２は、複数のコネクタユニットを組み付けた中間ブロックの図である。実施例３では、コネクタユニットのコネクタハウジングにて、移動側コネクタ２のＹ方向への動きを可能にする。
【００４９】
図１０において、コネクタユニット４０３は、移動側コネクタ２と、これを収容するコネクタハウジング３０を含む。コネクタハウジング３０は、移動側コネクタ２を挿通させるコネクタ挿通孔５０３と、コネクタ挿入方向の先端側で、移動側コネクタ２の突起２１と係合する係合穴３５を有する。挿入方向（Ｚ方向）の後端側で、実施例１で用いた中間ホルダ５（図６参照）のピン５２と嵌合する孔４２を有する。コネクタハウジング３０で移動側コネクタ２のＹ方向の動きに自由度を与えるために、コネクタハウジング３０のＹ方向の寸法を所定の関係を満たすように設定する。
【００５０】
図１１に示すように、移動側コネクタ２のＹ方向の寸法をＬ６、コネクタハウジング３０のＹ方向の内寸法をＬ７とすると、Ｌ６とＬ７は、
（Ｌ７−Ｌ６）／２＜（ＵＬｙ） （５）
の関係を満たす。これによって、移動側コネクタ２はＵＬｙの範囲内でＹ方向に自由に動くことができる。
【００５１】
図１２は、このようなコネクタユニット４０３を、図６の中間ホルダ５に複数個組み付けた中間ブロック５０１Ｃの概略図である。コネクタユニット４０３のＸ方向の寸法Ｌ１１と、中間ホルダ５の角穴５１のＸ方向の寸法Ｌ２は、
（Ｌ２−Ｌ１１）／２＜（ＵＬｘ） （６）
の関係を満たす。
【００５２】
この場合、各移動側コネクタ２は、コネクタハウジング３０内でのＹ方向の動きとは独立して、Ｘ方向に可動となる。すなわち、実施例３では、Ｘ方向の自由度もＹ方向の自由度も、コネクタ単位で与えられる。この構成では、中間ホルダ５の角穴５１のＹ方向の寸法Ｌ９は、コネクタユニット４０３の円滑な挿入を阻害しないサイズであればよく、コネクタユニット４０３のＹ方向の寸法Ｌ１０（図１１参照）とほぼ同等か若干大きく設定される。
【００５３】
実施例３では、コネクタユニット４０３を構成するコネクタハウジング３０が、移動側コネクタ２をＹ方向（第１の方向）に可動とする第１のハウジングとなる。複数の角穴５１を有する中間ホルダ５が、移動側コネクタ２をＸ方向（第２の方向）に可動とする第２のハウジングとなる。第１のハウジングと第２のハウジングで、集合ハウジングを構成する。
【００５４】
実施例３の場合、コネクタハウジング３０と、中間ホルダ５によって集合コネクタハウジングを構成するので、集合コネクタハウジングに複数の移動側コネクタ２を組み付けた中間ブロック５０１Ｃが、集合コネクタとなる。すなわち、中間ブロック５０１Ｃを固定側コネクタ１（図２参照）に差し込むことで、複数の移動側コネクタ２を一度の動作で一括接続することができる。
【００５５】
中間ブロック５０１Ｃをさらに複数段配置して大型の集合コネクタとしてもよい。たとえば、図７に示す集合ホルダ６の角穴６１に、中間ブロック５０１Ｃを組み付ける。このとき、中間ブロック５０１Ｃにおいて、すでに移動側コネクタ２のＸ方向の動きの自由度と、Ｙ方向の動きの自由度が独立して確保されているので（中間ホルダ５の角穴５１によるＸ方向の自由度と、コネクタハウジング３０におけるＹ方向の自由度）、集合ホルダ６の角穴６１にＹ方向の遊びを持たせる必要はない。したがって、中間ホルダ５のＹ方向の寸法Ｌ３と、集合ホルダ６の角穴６１のＹ方向の寸法Ｌ４（図７参照）との関係は、移動側コネクタ２が固定側コネクタ１と対向するように中間ブロック（集合コネクタ）５０１Ｃを円滑に案内し保持する機能が達成できるサイズであればよい。
【００５６】
実施例３の中間ブロック５０１Ｃを複数組み付けた集合ホルダを、図２のように試験装置９０に取り付けることによって、実施例１、２と同様に一括接続が容易に行なわれる。
【実施例４】
【００５７】
図１３〜図１５を参照して、実施例４の集合コネクタおよび集合コネクタハウジングの構成を説明する。図１３は、実施例４のコネクタブロック３０１の分解斜視図、図１４は図１３のＥ−Ｅ断面図、図１５は、図１３のコネクタブロック３０１を複数組み付けた中間ブロック（集合コネクタ）５０１Ｄの概略図である。
【００５８】
実施例４では、コネクタブロック３０１で、移動側コネクタ２のＸ方向の動きと、Ｙ方向の動きに、相互に独立した所定範囲内の自由度を与える。
【００５９】
図１３において、コネクタユニット４０４は、移動側コネクタ２と、コネクタハウジング３２を含む。移動側コネクタ２は、その先端部がコネクタハウジング３２から突出するように、コネクタハウジング３２のコネクタ挿通孔５０４に挿通される。移動側コネクタ２の突起２１がコネクタハウジング３２の穴３３に嵌合する。コネクタハウジングの穴３３は、Ｙ方向に長く形成され、突起２１がＹ方向に可動となる。これにより、移動側コネクタ２が、コネクタハウジング３２内でＹ方向に可動に保持される。コネクタハウジング３２は、挿入方向（Ｚ方向）の先端側と後端側にピン３４を有する。このコネクタユニット４０４を、コネクタホルダ３６，３７で挟み込んで保持する。コネクタホルダ３７は、Ｘ方向に長く形成されたコネクタ溝３８を有し、コネクタハウジングのピン３４をＸ方向に可動に受け取る。コネクタホルダ３７はまた、後述する中間ホルダ５０のピン５４を受けとる穴３９を有する。
【００６０】
コネクタハウジング３２のピン３４の直径Φ２と、コネクタホルダ３７のコネクタ溝３８のＸ方向の寸Ｌ１８の間には、
（Ｌ１８−Φ２）／２＜（ＵＬｘ） （７）
の関係が成り立つ。コネクタブロック３０１においては、この寸法範囲内で移動側コネクタ２がＸ方向に可動となる。
【００６１】
図１４に示すように、移動側コネクタ２は、コネクタハウジング３２のコネクタ挿通孔５０４に挿通されている。コネクタハウジング３２のＹ方向の内寸Ｌ１４と、移動側コネクタ２のＹ方向の寸法Ｌ６との間には、
（Ｌ１４−Ｌ６）／２＜（ＵＬｙ） （８）
の関係が成り立つ。
【００６２】
このコネクタユニット４０４は、コネクタホルダ３６，３７の組立後のハウジング挿通孔５０５内に挿通されている。ハウジング挿通孔５０５のＹ方向の寸法は、コネクタハウジング３２がコネクタホルダ３６，３７内でＸ方向に自由に動くのを妨げない程度の寸法となっている。
【００６３】
このように、実施例４では、移動側コネクタ２をＹ方向に移動可能に保持するコネクタハウジング３２が第１のハウジングとなる。コネクタユニット４０４をコネクタ溝３８内でＸ方向に可動とするコネクタホルダ３６，３８が第２のハウジングとなる。このようなコネクタブロック３０１を図８の中間ホルダ５０に複数個組み付けることによって、集合コネクタとしての中間ブロック５０１Ｄを構成することができる。
【００６４】
図１５は、中間ブロック５０１Ｄの概略構成図である。中間ホルダ５０のピン５２、５４がコネクタホルダの穴３９と嵌合することによって、コネクタブロック３０１が中間ホルダ５０に固定されて一体化する。コネクタブロック３０１において、移動側コネクタ２のＸ方向の動きとＹ方向の動きが独立して確保されているので、コネクタブロック３０１を中間ホルダ５０に組みつける際に、Ｘ方向、Ｙ方向の遊びを与える必要はない。
【００６５】
この中間ブロック５０１Ｄは、複数の移動側コネクタ２がそれぞれＸ方向とＹ方向に可動となって固定側コネクタ１に一括して接続される集合コネクタとなる。
【００６６】
（変形例）
図１３，１４に示すコネクタブロック３０１を、図８の中間ホルダ５０に組み付ける構成に代えて、図７の集合ホルダ６に複数組み付けて集合コネクタとしてもよい。この場合は、集合ホルダ６の角穴６１は、コネクタブロック３０１がコネクタ挿入方向に滑らかに動くように、角穴の寸法Ｌ４とＬ４１が、コネクタブロック３０１の寸法Ｌ１２とＬ１３に対して若干の隙間を有する程度でよい。集合ホルダ６の角穴６１は、コネクタブロック３０１をコネクタ挿入方向に案内するガイド６２、６３を有する（図７参照）。
【００６７】
この集合コネクタを図２の試験機９０に取り付けることによって、複数の移動側コネクタ２を、被試験体の固定側コネクタ１に対して一括して接続することができる。ガイド６２，６３により、コネクタ挿入軸に対して斜めに挿入される危険から解放されるため、機能試験作業を繰り返し行う場合に、作業の効率化と高品質化に効果がある。
【実施例５】
【００６８】
図１６は、実施例５のセキュア機構付きの集合コネクタ６０１を示す概略図である。セキュア機構は、複数の移動側コネクタ２を、固定側コネクタ２に対して一括して接続、抜き取りする際に、コネクタ１、２に加えられる過度の負荷や、それに起因する破損などを防止して、接続を確実にするための機構である。
【００６９】
（負荷軽減機構）
セキュア機構の第１の例として、集合コネクタ６０１は、負荷軽減機構７００Ａを有する。図１６では、中間完成品１１が機能試験のために試験装置９０に設置されている。プリント基板１２上の固定側コネクタ１に対して、集合ホルダ６に保持される中間ブロック５０１の移動側コネクタ２を一括して接続する状態が、挿入方向と水平な断面図で示されている。
【００７０】
負荷軽減機構７００Ａは、実施例１〜４の中間ブロック５０１Ａ、５０１Ｂ、５０１Ｃ、及び５０１Ｄ（中間ブロック５０１と総称する）が集合ホルダ６から脱落するのを防止するとともに、複数の移動側コネクタ２が中間ブロック単位で固定側コネクタ１群に一括接続、又は一括抜脱されるときの負荷を軽減する。
【００７１】
負荷軽減機構７００Ａは、レバー７を含む。レバー７は、集合ホルダ６に設けられたピン７４の回りに回転可能に形成された回転穴７１と、中間ホルダ５（あるいは中間ホルダ５０）に設けたピン７３に沿って摺動する長円穴７２を有する。
【００７２】
レバー７は、中間ブロック５０１の両側に左右対称に取り付けられる。移動側コネクタ２が固定側コネクタ１から最も離れる時にレバー7の取手部７ａが挿入方向（Ｚ方向）の後端部、すなわちコネクタ２が抜き取られる方向を向くように設定されている。両側のレバー７の取手部７ａを同時に内側Ａ方向に回転させると、移動側コネクタ２が固定側コネクタ１に向かって移動する。レバー７の取手部７ａがＺ軸と直交する付近で、移動側コネクタ２と固定側コネクタ１が結合するように、レバー７の回転穴７１と長円穴７２を配置する。レバー７の回転穴７１と長円穴７２は、図１６と逆に配置してもよい。
【００７３】
レバー７を有する集合コネクタ（集合ブロック）６０１を図２の試験機９０に取り付けることによって、移動側コネクタ２の固定側コネクタ１への結合及び結合解除をブロック単位で行うことが容易になる。また、試験機９０に取り付けた集合コネクタ６０１を開閉する際に、中間ブロック５０１（５０１Ａ〜５０１Ｄを含む）が集合ホルダ６から脱落するのを防止する。中間ブロック５０１は集合ブロック６０１に常に保持されているため、移動側コネクタ２のハンドリングが不要となり、機能試験作業を効率化する効果がある。
【００７４】
さらに、レバー７の取手部７ａが中間ブロック５０１のＸ方向外側に広がらないように構成されているため、中間ブロック５０１をＸ方向に隣接して狭い間隔で配置できる効果がある。
【００７５】
図１７は、図１６の負荷軽減機構の変形例７００Ｂを示す図である。負荷軽減機構７００Ｂのレバー７は、図１５と同様に、中間ホルダ５（あるいは中間ホルダ５０）に設けたピン７３を中心に回転する回転穴７１と、集合ホルダ６に設けたピン７４に沿って摺動する長円穴７２を有し、中間ブロック５０１の両側に左右対称に取り付けられるが、取り付ける向きが異なる。
【００７６】
すなわち、図１７の変形例では、移動側コネクタ２が固定側コネクタ１から最も離れる時に、レバー７の取手部７ａが中間ブロック５０１の両外側に広がるとともに、固定側コネクタ１に近い側に位置する。コネクタ接続時には、両側のレバー７の取手部７ａを固定側コネクタ１から離れる方向に回転させる。これにより、移動側コネクタ２が固定側コネクタ１に向かって移動する。レバー7の取手部７ａがＺ軸と直交する位置からさらに約４５度回転する範囲内で、移動側コネクタ２と固定側コネクタ１が結合するように、レバー７の回転穴７１と長円穴７２を配置する。レバー７の回転穴７１と長円穴７２は、図１７と逆に配置してもよい。
【００７７】
この変形例によれば、集合コネクタ（集合ブロック）６０１を図２の試験機９０に取り付けることによって、移動側コネクタ２の固定側コネクタ１への結合及び結合解除をブロック単位で行うことを容易にする。また、試験機９０に取り付けた集合ブロック６０１を開閉する際に、中間ブロック５０１が集合ホルダ６から脱落するのを防止する。中間部ロック５０１は、集合ブロック６０１に常に保持されているため、移動側コネクタ２のハンドリングが不要となる。その結果、機能試験作業を効率化できる。
【００７８】
さらに、レバー７の取手部７ａが中間ブロック５０１のケーブル接続側に入り込まないので、ケーブル９のルート確保の自由度が高くなる。
【００７９】
（仮止め機構）
セキュア機構の第２の例として、集合コネクタ（集合ブロック）６０１は、仮止め機構を有する。仮止め機構は、実施例１〜４の中間ブロック５０１Ａ〜５０１Ｄ（中間ブロック５０１と総称する）が集合ホルダ６の案内ガイド６２、６３（図７参照）に沿ってＺ軸方向に移動する動きを、ある位置で仮止めする。
【００８０】
図１６のばね付きボール８が、中間ホルダ５（或いは中間ホルダ５０）の穴５５に嵌合して、中間ブロック５０１がコネクタ挿入方向（Ｚ方向）に動くのを止める。レバー７でコネクタ２を結合する動作をすると、ボール８が穴５５から外れるようにばね付きボール８のばね圧力を設定する。仮止めする位置は、中間ブロック５０１の移動側コネクタ２が固定側コネクタ１から最も離れる位置になるように設定しておく。ばね付きボール８の設置場所は、Ｘ方向のガイド６３の片方か両方、またはＹ方向のガイド６２の片方か両方のどちらでもよい。また、ばね付きボール８は、薄板ばね等に穴５５に嵌合する突起を付与したもので代用してもよい。
【００８１】
この構成は、図１７の変形例にも当てはまる。仮止め機構を設けたことにより、図２の試験機９０で集合ブロック６０１を閉じて、被試験体と向き合う状態にする途中で、移動側コネクタ２が意図に反して動いた場合でも、固定側コネクタ１と衝突することを防止することができる。
【００８２】
（破損防止機能）
セキュア機構の第３の例として、集合コネクタ（集合ブロック６０１）は、破損防止機構を有する。破損防止機構は、実施例１〜４で移動側コネクタ２群が、固定側コネクタ１群に一括して接続される際に、コネクタ相互に必要以上の力がかかって破損しないように保護する機能を付与する。この破損防止機能は、たとえばストッパ１５によって実現される。
【００８３】
図１６の中間ブロック５０１の移動側コネクタ２が最も固定側コネクタ１から離れる状態で、集合ブロック６０１を被試験体（中間完成品）１１対して位置決めした時に、中間ブロック５０１の移動側コネクタ２の結合面と、固定側コネクタ１の結合最終面の間隔寸法をＬ２１、ストッパ１５と中間ホルダ５（或いは中間ホルダ５０）の先端面（固定側コネクタ１との対向面）との間隔寸法をＬ２２とすると、Ｌ２２はＬ２１と近似し、かつ、Ｌ２１以下とならないように、ストッパ１５を被試験体（中間完成品）１１、又は試験機９０に設置する。同様の構成が、図１７にも当てはまる。
【００８４】
本実施例によれば、図１６でレバー７を使用して大きな結合力を与えても、固定側コネクタ１と移動側コネクタ２には、余分は応力が掛らないので、固定側コネクタ１及び移動側コネクタ２を破損しない効果がある。
【実施例６】
【００８５】
図１８は、実施例６の電子装置の概略構成図である。実施例６では、被試験体である中間完成品１１を電子計算機１０に組み込んだままで、コネクタを一括接続して機能試験を行なう。中間完成品１１は、プリント基板１２上に複数の固定側コネクタが配置され、補強板１３に保持されている。
【００８６】
中間完成品１１の対応する位置に、集合ホルダ６０を被せて固定する。集合ホルダ６０は複数の角穴６１を有する。各角穴６１のＸ方向に延びる内壁６２と、Ｙ方向に延びる内壁６３は、複数の移動側コネクタ２を収容する中間ブロック５０１Ａ〜５０１Ｄを案内するガイド壁として機能する。機能試験の際には、角穴６１に集合コネクタとして機能する中間ブロック５０１を順次差し込んでいく。ガイド壁６２，６３は、移動側コネクタ２の挿入軸が、固定側コネクタ１の受取軸と一致するように、中間ブロック５０１を固定コネクタ１側に案内する。
【００８７】
実施例６によれば、図２のように被試験体である中間完成品１１を電子計算機１０から取り外して試験装置に設置する必要がない。したがって、電子計算機１０を設置した後でも適用可能となり、運用の自由度を拡張することができる。
【００８８】
以上の実施例によれば、多数のコネクタを一括して挿抜することができるので、作業効率化を向上することができる。また、接続に中継基板などの中継物を必要としないので、伝送ロスを低減できる。コネクタ間隔が狭い配置にも対応可能である。
【００８９】
各移動側コネクタが、挿入方向と垂直な面内で、互いに直交する第１の方向（たとえばＸ方向）と第２の方向（たとえばＹ方向）に独立して動くことができる。したがって、移動側コネクタの回転や傾きを防止して、Ｘ方向あるいはＹ方向に配列された複数個の移動側コネクタを固定側コネクタ群に対して、一括して同時接続することを確実にできる。
【００９０】
また、移動側コネクタを密に配列しつつ各々を可動に保持できる構成としたので、固定側のコネクタ群の間隔が狭い高密度のコネクタ配置にも対応可能である。
【００９１】
以上の説明に対して、以下の付記を提示する。
（付記１）
複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに対して挿抜可能に収容する集合コネクタハウジングであって、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有することを特徴とする集合コネクタハウジング。
（付記２）
前記第１のハウジングの前記コネクタ挿通孔は、前記複数のコネクタの各々を個別に前記第１方向へ可動に保持し、
前記第２のハウジングの前記ハウジング挿通孔は、前記複数のコネクタを、２以上の前記コネクタを含むブロック単位で可動に保持する
ことを特徴とする付記１に記載の集合コネクタハウジング。
（付記３）
前記第１のハウジングは、前記複数のコネクタの各々を挿通する複数の前記コネクタ挿通孔を有し、
前記第２のハウジングは、前記第１のハウジングを、前記第１方向と独立して、前記第２方向に可動に保持する１以上のハウジング挿通孔(61)を有することを特徴とする付記１又は２に記載の集合コネクタハウジング。
（付記４）
前記第１のハウジングは、前記各コネクタ上に設けられた前記第１方向に伸長する長円孔と嵌合するピンを有し、前記コネクタ挿通孔内で前記各コネクタを前記第１方向に可動に保持し、
前記第２のハウジングは、前記第１のハウジングを、前記第１方向と独立して、前記第２方向に可動に保持する１以上のハウジング挿通孔を有することを特徴とする付記１又は２に記載の集合コネクタハウジング。
（付記５）
前記第１のハウジングの前記コネクタ挿通孔は、前記複数のコネクタの各々を個別に前記第１方向へ可動に保持し、
前記第２のハウジングの前記ハウジング挿通孔は、前記複数のコネクタの各々を個別に前記第２方向へ可動に保持する
ことを特徴とする付記１に記載の集合コネクタハウジング。
（付記６）
前記第１のハウジングは、前記第１方向に細長に形成されて前記コネクタ上の突起と係合する穴を有し、
前記第２のハウジングは、複数の前記第１のハウジングの各々を独立して前記第２方向に可動に保持する複数の前記ハウジング挿通孔を有する
ことを特徴とする付記１又は５に記載の集合コネクタハウジング。
（付記７）
前記第１のハウジングは、前記第１方向に細長に形成されて前記コネクタ上のピンと嵌合する穴と、前記第２のハウジングと嵌合するピンとを有し、
前記第２のハウジングは、前記第２方向に細長に延びて前記第１のハウジングの前記ピンと嵌合するコネクタ溝を有する
ことを特徴とする付記１又は５に記載の集合コネクタハウジング。
（付記８）
前記コネクタの前記第１方向の長さをＬ１、前記コネクタ挿通孔の前記第１方向の長さをＬ２、前記コネクタに許容される前記第１方向への位置ずれ誤差をＵＬｘとしたときに、（Ｌ２−Ｌ１）／２＜ＵＬｘの関係を満たすことを特徴とする付記１に記載の集合コネクタハウジング。
（付記９）
前記第１のハウジングの前記第２方向への長さをＬ３、前記ハウジング挿通孔の前記第２方向の長さをＬ４、前記コネクタに許容される前記第２方向への位置ずれ誤差をＵＬｙとしたときに、（Ｌ４−Ｌ３）／２＜ＵＬｙの関係を満たすことを特徴とする付記１に記載の集合コネクタハウジング。
（付記１０）
複数のコネクタと、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有することを特徴とする集合コネクタ。
（付記１１）
前記複数のコネクタを、相手側コネクタとの接続位置へ押し出し、前記相手方コネクタとの接続位置から後退させるレバー、
をさらに有することを特徴とする付記１０に記載の集合コネクタ。
（付記１２）
前記複数のコネクタの前記接続位置への移動を所定の位置で仮止めする仮止め機構、
をさらに有することを特徴とする付記１０に記載の集合コネクタ。
（付記１３）
基板上に配置された複数の第１コネクタと、
前記第１コネクタに結合される複数の第２コネクタを有する付記１２記載の集合コネクタと、
を含む電子装置。
（付記１４）
前記集合コネクタを、前記基板に対して開閉可能に支持する回動軸、
をさらに含むことを特徴とする付記１３に記載の電子装置。
（付記１５）
前記基板上に、前記集合コネクタを受け止めるストッパ、
をさらに含むことを特徴とする付記１３又は１４に記載の電子装置。
【産業上の利用可能性】
【００９２】
複数のコネクタを用いた接続機構、コンピュータシステム、試験装置などの電子装置に適用可能である。
【符号の説明】
【００９３】
１ 固定側コネクタ
２ 移動側コネクタ
４、３０、３２、４０ コネクタハウジング
５、５０ 中間ホルダ
６、６０ 集合ホルダ
９ ケーブル
３６，３７ コネクタホルダ
５１ 角穴（コネクタ挿通孔あるいはハウジング挿通孔）
５０２、５０３、５０４ コネクタ挿通孔
６１ 角穴（ハウジング挿通孔）
９０ 試験装置（電子装置）
３０１ コネクタブロック
４０１、４０２、４０３，４０４ コネクタユニット
５０１、５０１Ａ、５０１Ｂ、５０１Ｃ、５０１Ｄ 中間ブロック
６０１ 集合ブロック（集合コネクタ）
【技術分野】
【０００１】
本発明は、集合コネクタハウジング、集合コネクタ、及び電子装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子計算機の大規模システム化に伴い、高速大容量のネットワーク接続を実現するために、コネクタの多ピン化、小型化、高精度化が進展している。こうした電子計算機システムにおいて、多数の架間ケーブルを一本一本接続するには膨大な作業量と正確な作業技術を要する。特に多ピン高精度コネクタの場合、コネクタ１個を手で持って挿入する際に、斜め挿入によってコネクタのピン曲がりが発生する危険性がある。
【０００３】
ディジタルカメラ等の携帯機器においても、電子機器相互間の送受信や、充電用にコネクタが用いられている。携帯機器でコネクタ同士を結合する際の誤差を吸収するために、コネクタを一定範囲で動けるように構成したフローティング構造が提案されている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００４】
このフローティング構造は、コネクタ挿入方向と垂直な面内で、コネクタが全方向に可動となる隙間と弾性を有する。そのため、移動側コネクタが相手側コネクタに挿入されるときに、挿入方向の軸に対する回転、傾きが発生するおそれがある。
【０００５】
このような携帯機器のコネクタ用フローティング構造を、サーバシステムやコンピュータシステムなどの大掛かりなコネクタ構造にそのまま適用することはできない。一般に大規模コンピュータシステムでは、断面が四角形のコネクタが一方向に多数並べられた固定側コネクタに対して、多数の移動側コネクタを接続するが、複数のコネクタを一括して接続しようとすると、各コネクタの回転あるいは傾きの量に応じて、移動側コネクタ同士のコネクタ間隔の位置ずれ誤差を厳しくしなければならないからである。一度に接続するコネクタの数が多くなればなるほど、位置ずれ誤差をさらに厳しくする必要がある。
【０００６】
さらに、上記のフローティング構造では、可動基板とその支持部や、弾性部材などを設置するため、コネクタ挿入方向から見て、コネクタ外形よりも大きな設置面積が必要となる。このため、フローティング構造の設置面積よりも狭い間隔で配置された固定側コネクタ群に対しては対応できないという物理的な問題がある。また、この構成では、アダプタや可撓性ケーブルで中継するため、高速伝送システムでは、中継部材による伝送ロスが懸念される。
【０００７】
これらの事情により、多数の単体形コネクタをプリント基板上に配置した固定側コネクタ群に対して、単体形の移動側コネクタ群を、プリント基板等による中継なしに一括して接続することのできるコネクタ接続構造が望まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００５−１２９４５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
一度の挿抜動作で、複数のコネクタを一括して相手側コネクタに対して接続または抜脱することのできる集合コネクタハウジングと、これを用いた集合コネクタおよび電子機器を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
第１の観点では、複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに対して挿抜可能に収容する集合コネクタハウジングを提供する。集合コネクタハウジングは、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタ挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有する。
【００１１】
第２の観点では、集合コネクタを提供する。集合コネクタは、
複数のコネクタと、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタ挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有する。
【００１２】
第３の観点では、上述した集合コネクタを用いた電子装置を提供する。電子装置は、
基板上に配置された複数の第１コネクタと、
前記第１コネクタに結合される複数の第２コネクタを含む上記集合コネクタと、
を含む
【発明の効果】
【００１３】
複数のコネクタを一括して相手側コネクタに対して接続または抜脱することができる。これにより、接続作業の高品質化と省力化を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】電子装置の固定側コネクタ群と移動側コネクタの一部を示す概略構成図である。
【図２】実施形態の試験装置の概略構成図である。
【図３】実施例１の集合コネクタのコネクタユニットの概略構成図である。
【図４】図３のコネクタユニットに含まれる移動側コネクタの概略構成図である。
【図５】図３のコネクタユニットに含まれるコネクタハウジングの概略構成図である。
【図６】実施例１の集合コネクタで用いられる中間ブロックの一部を示す概略構成図である。
【図７】実施形態の集合コネクタハウジングで用いられるホルダの概略構成図である。
【図８】実施例２のコネクタユニットと中間ブロックの一部を示す概略構成図である。
【図９】実施例２のコネクタハウジングを示す概略構成図である。
【図１０】実施例３のコネクタユニットの概略構成図である。
【図１１】図１０のコネクタユニットのＭ−Ｍ断面図である。
【図１２】実施例３の中間ブロックの概略構成図である。
【図１３】実施例４のコネクタブロックの分解斜視図である。
【図１４】図１３のコネクタブロックのＥ−Ｅ断面図である。
【図１５】実施例４のコネクタブロックと中間ブロックを示す概略構成図である。
【図１６】実施例５のセキュア機構を示す概略構成図である。
【図１７】図１６の変形例を示す図である。
【図１８】電子機器へのホルダの設置例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下で、図面を参照して発明の実施形態を説明する。実施形態では、複数台の電子計算機をネットワーク接続する架間ケーブルに適用するコネクタ接続構造を例にとって説明する。
【００１６】
図１は、電子計算機１０の固定側コネクタ群と、移動側コネクタ２の一部を示す概略図である。プリント基板１２上に多数の固定側コネクタ１が搭載されている。このコネクタ搭載基板は、コネクタ１の機能テストが完了する前の中間完成品１１である。中間完成品１１は、補強板１３に保持されている。
【００１７】
プリント基板１２上の各コネクタ１（適宜、「固定側コネクタ１」とする）に対して、移動側のコネクタ２（適宜、「移動側コネクタ２」とする）が電気的に接続される。図１では単一の移動側コネクタ２のみが描かれているが、実際には、固定側コネクタ１に対応する個数の移動側コネクタ２が接続される。
【００１８】
移動側コネクタ２は、接続ケーブル９の端部で、コネクタの先端が突出するようにコネクタハウジング３に収容されている。このコネクタハウジング３は、コネクタ２を単体で接続する単体接続用コネクタハウジングである。複数の電子計算機１０をネットワーク状に接続する場合、移動側コネクタ２をひとつずつ対応する固定側コネクタ１に接続するのでは非常に効率が悪い。したがって、実施形態では、複数の移動側コネクタ２を、一度の動作で一括して固定側コネクタ１に接続する集合コネクタハウジングと、これを用いた集合コネクタおよび電子装置を提供する。
【００１９】
この場合、移動側コネクタ２の各々に製造ばらつきがあること、また、複数の移動側コネクタ２を一定間隔で配置する際に位置ずれ誤差が生じることから、一括接続の際に、各コネクタ２の製造ばらつきや位置ずれ誤差を吸収できる構成が必要となる。
【００２０】
製造ばらつきや位置ずれを吸収するためにコネクタ２の全周に遊びを設けると、各コネクタ２において挿入軸（Ｚ軸）まわりの回転、傾きがばらばらに生じてしまうので、移動側コネクタ２の許容位置ずれ誤差を厳しくせざるをえない。これを避けるために、具体的な実施例では、コネクタ挿入方向であるＺ軸に垂直なＸＹ平面において、許容位置ずれ範囲内で各コネクタ２のＸ軸方向の動きと、Ｙ軸方向の動きを独立して許容する構成を提供する。具体的には、後述するように、コネクタ挿通孔内で各コネクタを第１の方向（たとえばＸ方向またはＹ方向）に可動に保持する第１のハウジングと、ハウジング挿通孔内で第１のハウジングを第２の方向（たとえばＹ方向またはＸ方向）に可動に保持する第２のハウジングとで、集合コネクタハウジングを構成する。
【００２１】
図２は、図１の中間完成品１１を電子計算機１０から補強板１３ごと取り外して、試験装置９０で機能試験を行なうときの概略図である。この試験装置９０も、集合コネクタ構造を有する電子装置の一例である。試験装置９０は、複数の移動側コネクタ２を保持する中間ブロック５０１が所定の配置で並べられた集合ブロック６０１を有する。集合ブロック６０１は、複数の移動側コネクタ２を一括して相手側の固定側コネクタ１に接続することのできる集合コネクタ６０１として機能する。集合ブロック（または集合コネクタ）６０１は、後述の各実施例で述べるように、各移動側コネクタ２が所定の許容誤差範囲内で、Ｘ方向とＹ方向に互いに独立して可動となる構成を有する。
【００２２】
この例では、集合ブロック６０１において、中間ブロック５０１がＹ軸方向に多数配置され、Ｘ軸方向に２列に並べられているが、この例に限られるわけではなく、少なくとも１つの中間ブロック５０１を含めばよい。各中間ブロック５０１は、Ｘ軸方向に沿って配列された複数の移動側コネクタ２を収容する。移動側コネクタ２は、その長辺方向がＹ軸方向と平行になるように配置されている。集合ブロック６０１は、集合ホルダ６により中間ブロック５０１を保持する。
【００２３】
集合ブロック６０１は、シャフト等の回転軸９６の回りに回動可能に試験装置９０に取り付けられている。試験対象となる中間完成品１１を補強板１３ごと試験装置９０にセットする際には、集合ブロック６０１をシャフト９６の回りに回転させて開く。中間完成品１１を試験装置９０にセットしたならば、集合ブロック６０１を矢印の方向に回転させて閉じる。そうすると、複数の移動側コネクタ２の各々が対応する固定側コネクタ１に一括して挿入される。このとき、各移動側コネクタ２を所定の範囲内（製造ばらつき、位置ずれ許容範囲などを考慮した範囲内）で、挿入方向（Ｚ方向）と直交する平面内でＸ方向とＹ方向に独立して動くことができるようにすることで、コネクタごとの誤差を吸収する。これを実現するための具体的な構成を、以下の実施例で説明する。
【００２４】
なお、集合ブロック６０１を片側のシャフト９６まわりに保持するかわりに、中間ブロック５０１が一列ずつ並べられた２つの集合ブロック６０１を、試験装置９０の両側に設けられた２本のシャフト（不図示）で保持して、両開き構成としてもよい。あるいは、中間ブロック５０１を列方向に２以上のグループに分けて、集合ブロック６０１をＹ方向に複数段に分割して開閉する構成としてもよい。
【実施例１】
【００２５】
図３〜図７を参照して、実施例１の集合コネクタハウジング及び集合コネクタを説明する。図３は、ケーブル９に接続された移動側コネクタ２をコネクタハウジング４に収容したコネクタユニット４０１の概略構成図、図４は図３の移動側コネクタ２の概略構成図、図５は図３のコネクタハウジング４の概略構成図である。図３に示すように、コネクタユニット４０１において、移動側コネクタ２の先端は、コネクタハウジング４から突出して、固定側コネクタ１（図２参照）と接続可能になっている。移動側コネクタ２の基部、及びこれに接続されるケーブル９の一部は、コネクタハウジング４により保持されている。
【００２６】
図４に示すように、移動側コネクタ２において、固定側コネクタ１と結合されるときに許容される位置ずれ誤差の値は、移動側コネクタ２の先端挿入面のＹ方向に延びる面取り２２と、Ｘ方向に延びる面取り２３と、固定側コネクタ１の形状との関係で決まる。ここで、コネクタ結合時の移動側コネクタ２に許容される位置ずれ誤差のＸ方向の許容値を±（ＵＬx） 、Ｙ方向許容値を±（ＵＬｙ）とする。Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸の位置関係は図４に示すとおりである。移動側コネクタ２は、側面に突起２１を有し、図５に示すコネクタハウジングの切り欠き４１と係合する。
【００２７】
図５において、コネクタハウジング４は、挿入方向の先端側に移動側コネクタ２の突起２１と係合する切欠４１と、挿入方向の後端側（ケーブル９側）に、孔４２を有する。コネクタハウジング４は、図３のように接着、あるいは図示しないカシメ、ネジ止め等により移動側コネクタ２と一体化され、コネクタユニット４０１を構成する。
【００２８】
図６は、図３のコネクタユニット４０１を中間ホルダ５に組み付けた中間ブロック５０１Ａの概略構成図である。中間ホルダ５は複数の角穴（コネクタ挿通孔）５１を有する。角穴５１は、コネクタユニット４０１の挿入方向（Ｚ方向）と垂直なＸ方向に、複数形成されている。コネクタユニット４０１の先端側は角穴５１に挿入される。コネクタユニット４０１はまた、コネクタハウジング４の後端側で、孔４２によって中間ホルダ５及びルーフ５７に設けられているピン５２を受け取る。コネクタハウジング４の孔４２とピン５２の拘束条件は、コネクタユニット４０１のＺ軸方向の動きを止めながら、Ｘ方向の揺動（回動）を妨げないものとする。コネクタハウジング４が弾性を有する薄板等で形成されてそれ自体でＸ方向に変位可能な場合は、ピン５２と孔４２に代えてネジ止めとしてもよい。
【００２９】
コネクタユニット４０１のＸ方向の寸法をＬ１、中間ホルダ５の角穴５１のＸ方向の寸法をＬ２、コネクタ２のＸ方向の位置ずれ許容値を±（ＵＬx）とすると、
（Ｌ２−Ｌ１）／２＜（ＵＬｘ） （１）
の関係が成り立つようにする。これにより、中間ホルダ５に組みつけられた移動側コネクタ２を、±（ＵＬｘ）の範囲内でＸ方向に可動とすることができる。
【００３０】
このとき、角穴５１のＹ方向の寸法Ｌ９は、コネクタユニット４０１のＸ方向への自由な動きを阻害しない程度のわずかな隙間を有する寸法とする。
【００３１】
図６では、図示の便宜上、単一のコネクタユニット４０１のみが描かれているが、角穴５１に複数のコネクタユニット４０１を組み付けて、中間ブロック５０１Ａを構成する。実施例１では、中間ブロック５０１Ａの中間ホルダ５は、複数の移動側コネクタ２を相手方コネクタ１に一括して挿抜する集合コネクタハウジングの第１のハウジングとなる。第１のハウジングは、移動側コネクタを挿通させる角穴（コネクタ挿通孔）５１内で移動側コネクタ２を挿入方向（Ｚ方向）と垂直な第１の方向（実施例１ではＸ方向）に可動となるように保持する。
【００３２】
次に、複数の中間ブロック５０１Ａを、図７に示す集合ホルダ６に組み付けて集合ブロック６０１（図２参照）を構成する。集合ホルダ６は複数の角穴（ハウジング挿通孔）６１を有し、角穴６１に図６の中間ブロック５０１Ａが挿入される。
【００３３】
角穴６１のＹ方向の寸法をＬ４、Ｘ方向の寸法をＬ４１とすると、Ｌ４と、中間ブロック５０１ＡのＹ方向の寸法Ｌ３（図６参照）との関係は、
（Ｌ４−Ｌ３）／２＜（ＵＬｙ） （２）
となる。これにより、中間ブロック５０１Ａに含まれる各移動側コネクタ２は、Ｙ方向の位置ずれ許容範囲内で、Ｙ方向に動くことが可能になる。このＹ方向の動きは、中間ブロック５０１Ａ内における各コネクタ２のＸ方向への動きとは独立したものとなる。
【００３４】
角穴６１のＸ方向の寸法Ｌ４１は、中間ブロック５０１Ａがコネクタ挿入方向（Ｚ方向）に移動するのを阻害しない程度の隙間を有するが、中間ブロック５０１Ａ（すなわち各コネクタ２）のＸ方向への動きを許容する遊びは含まれていない。図７の構成例では集合ホルダ６は、中間ブロック５０１ＡのＸ方向への動きを規制しつつ、コネクタ挿入方向（Ｚ方向）への円滑な挿入を案内するガイド６３と、中間ブロック５０１ＡのＹ方向の動きを寸法Ｌ４で規制するガイド６２とを有する。
【００３５】
この集合ホルダ６は、第２のハウジングとして機能する。第２のハウジングは、移動側コネクタ２を、コネクタ挿入方向（Ｚ方向）と第１方向（Ｘ方向）の各々に対して垂直なＹ方向に可動となるように保持する。
【００３６】
図６の中間ブロック５０１Ａを組み付けて作製した集合ブロック６０１を図２の試験機９０に組み付ける場合は、固定側コネクタ１と集合ブロック６０１の移動側コネクタ２の挿入軸がそれぞれ一致する位置にくるように、事前に位置調整がされている。
【００３７】
図２の試験装置で機能試験が完了した後は、集合ブロック６０１を開けてすべての移動側コネクタを一括して抜脱し、補強板１３ごとコネクタ付きプリント基板１２を取り外す。取り出したプリント基板１２を図１の電子計算機１０の所定の箇所に設置する。電子計算機１０を別の計算機と接続してシステム化するときにも、集合ブロック６０１として形成された集合コネクタで一括してケーブル接続することができる。
【００３８】
実施例１では、中間ホルダ５は、移動側コネクタ２をＸ方向に可動とする第１のハウジングとして機能する。集合ホルダ６は、移動側コネクタ２をＸ方向の動きとは独立してＹ方向に可動とする第２のハウジングとして機能する。第１ハウジングと第２ハウジングとで、集合コネクタハウジングを構成する。
【００３９】
集合コネクタハウジングに複数の移動側コネクタ２を組み込むことによって、一括した挿脱が可能な集合コネクタ６０１（図２参照）が実現される。移動側コネクタ２のＸ方向への自由度は、移動側コネクタ２ごとに与えられ、Ｙ方向への移動度は中間部ロック５０１Ａ単位で与えられる。各移動側コネクタ２がＸ方向とＹ方向に独立して移動可能に保持されるため、誤差条件を厳しく設定しなくても製造ばらつき、配置の位置ずれ等の誤差を適切に吸収することができる。このような集合コネクタ６０１を試験装置や電子計算機に連結することによって、効率的なコネクタ構造を有する電子装置が実現される。
【実施例２】
【００４０】
図８〜９は、実施例２の集合コネクタハウジング及び集合コネクタを説明するための図である。図８は実施例２の中間ブロック５０１Ｂの概略構成図、図９は図８の中間部ロック５０１Ｂで用いられるコネクタハウジング４０の概略構成図である。実施例２では、移動側コネクタ２を所定範囲内でＸ方向に可動とする構造を、実施例１と異なる構成で実現する。
【００４１】
図８に示すように、中間ブロック５０１Ｂは、中間ホルダ５０と、中間ホルダ５０に保持される複数のコネクタユニット４０２を含む。コネクタユニット４０２は、移動側コネクタ２と、これを収容するコネクタハウジング４０を含む。中間ホルダ５０は、挿入方向の先端側に、複数のコネクタユニット４０２を挿通させる開口（コネクタ挿通孔）５０２を有する。中間ホルダ５０はまた、コネクタユニット４０２の挿入方向（Ｚ方向）に沿ってケーブル側（後端側）に位置する第１ピン５２と、挿入方向の先端側に位置する第２ピン５４を有する。第１ピン５２及び第２ピン５４は、それぞれ固定側コネクタ１（図１参照）の配置間隔に合致するピッチで、Ｘ方向に沿って複数個配置されている。
【００４２】
図９に示すように、コネクタハウジング４０は、中間ホルダ５０の第１ピン５２と嵌合する第１の孔４２と、中間ホルダ５０の第２ピン５４と嵌合する第２の長円孔４４を有する。コネクタハウジング４０内に移動側コネクタ２を収容してコネクタユニット４０２とする。移動側コネクタ２をコネクタハウジング４０内へ収容する際に、コネクタハウジング４０の切り欠き４１を移動側コネクタの突起２１（図４参照）と係合させ、さらに接着やカシメ、ネジ止め（不図示）などの固定手段でコネクタ２とコネクタハウジング４０を一体化して、コネクタユニット４０２を構成する。
【００４３】
図８に戻り、複数のコネクタユニット４０２を中間ホルダ５０の開口５０２内に挿入して、中間ブロック５０１Ｂを構成する。コネクタユニット４０２の長円孔４４はＸ方向に長軸を有する。コネクタユニット４０２が中間ホルダ５０の開口５０２に挿通されて中間ホルダ５０の第２ピン５４と嵌合すると、第２ピン５４は長円孔４４の中でＸ方向に可動となる。他方、中間ホルダ５０の第１ピンとコネクタユニットの孔４２との拘束条件は、実施例１と同様に、コネクタユニット４０２のＺ方向の動きを止めつつ、Ｘ方向の揺動（回動）を妨げないものである。
【００４４】
コネクタハウジング４０の長円孔４４のＸ方向の寸法Ｌ８（図９参照）と、中間ホルダ５０の第２ピン５４の直径Φ１との関係は、
（Ｌ８−Φ１）／２＜（ＵＬｘ） （３）
となる。これにより、移動側コネクタ２は、Ｘ方向の位置ずれ許容範囲内でＸ方向に可動となる。
【００４５】
このような中間ブロック５０１Ｂを、図７の集合ホルダ６に組み付けて集合コネクタ６０１（図２参照）を構成する。中間ブロック５０１ＢのＹ方向の寸法Ｌ５は、集合ホルダ６の角穴６１のＹ方向の寸法Ｌ４に対して、
（Ｌ４−Ｌ５）／２＜（ＵＬｙ） （４）
の関係を満たす。これにより、移動側コネクタ２は、Ｙ方向の位置ずれ許容範囲内でＹ方向に可動となる。
【００４６】
実施例２でも、各移動側コネクタ２のＸ方向の自由度はコネクタ単位で与えられ、Ｙ方向の自由度は中間ブロック５０１Ｂ単位で与えられる。実施例２では、コネクタハウジング４０の長円孔４４と嵌合する第２ピン５４を有する中間ホルダ５０が、移動側コネクタ２をＸ方向に可動となるように保持する第１ハウジングとなる。１以上の角穴６１を有する集合ホルダ６が、各移動側コネクタ２をＹ方向に可動に保持する第２のハウジングとなる。第１のハウジングと第２のハウジングで集合コネクタハウジングを構成する。
【００４７】
集合コネクタハウジングに複数の移動側コネクタ２を組み付けることによって、集合コネクタ６０１（図２参照）が実現される。集合コネクタを所望の機器に結合することによって、効率的なコネクタ構造を有する電子装置が実現される。
【実施例３】
【００４８】
図１０〜１２は、実施例３の集合コネクタハウジング及び集合コネクタを説明するための図である。図１０は実施例３のコネクタユニット４０３の概略構成図、図１１は図１０のＭ−Ｍ断面図、図１２は、複数のコネクタユニットを組み付けた中間ブロックの図である。実施例３では、コネクタユニットのコネクタハウジングにて、移動側コネクタ２のＹ方向への動きを可能にする。
【００４９】
図１０において、コネクタユニット４０３は、移動側コネクタ２と、これを収容するコネクタハウジング３０を含む。コネクタハウジング３０は、移動側コネクタ２を挿通させるコネクタ挿通孔５０３と、コネクタ挿入方向の先端側で、移動側コネクタ２の突起２１と係合する係合穴３５を有する。挿入方向（Ｚ方向）の後端側で、実施例１で用いた中間ホルダ５（図６参照）のピン５２と嵌合する孔４２を有する。コネクタハウジング３０で移動側コネクタ２のＹ方向の動きに自由度を与えるために、コネクタハウジング３０のＹ方向の寸法を所定の関係を満たすように設定する。
【００５０】
図１１に示すように、移動側コネクタ２のＹ方向の寸法をＬ６、コネクタハウジング３０のＹ方向の内寸法をＬ７とすると、Ｌ６とＬ７は、
（Ｌ７−Ｌ６）／２＜（ＵＬｙ） （５）
の関係を満たす。これによって、移動側コネクタ２はＵＬｙの範囲内でＹ方向に自由に動くことができる。
【００５１】
図１２は、このようなコネクタユニット４０３を、図６の中間ホルダ５に複数個組み付けた中間ブロック５０１Ｃの概略図である。コネクタユニット４０３のＸ方向の寸法Ｌ１１と、中間ホルダ５の角穴５１のＸ方向の寸法Ｌ２は、
（Ｌ２−Ｌ１１）／２＜（ＵＬｘ） （６）
の関係を満たす。
【００５２】
この場合、各移動側コネクタ２は、コネクタハウジング３０内でのＹ方向の動きとは独立して、Ｘ方向に可動となる。すなわち、実施例３では、Ｘ方向の自由度もＹ方向の自由度も、コネクタ単位で与えられる。この構成では、中間ホルダ５の角穴５１のＹ方向の寸法Ｌ９は、コネクタユニット４０３の円滑な挿入を阻害しないサイズであればよく、コネクタユニット４０３のＹ方向の寸法Ｌ１０（図１１参照）とほぼ同等か若干大きく設定される。
【００５３】
実施例３では、コネクタユニット４０３を構成するコネクタハウジング３０が、移動側コネクタ２をＹ方向（第１の方向）に可動とする第１のハウジングとなる。複数の角穴５１を有する中間ホルダ５が、移動側コネクタ２をＸ方向（第２の方向）に可動とする第２のハウジングとなる。第１のハウジングと第２のハウジングで、集合ハウジングを構成する。
【００５４】
実施例３の場合、コネクタハウジング３０と、中間ホルダ５によって集合コネクタハウジングを構成するので、集合コネクタハウジングに複数の移動側コネクタ２を組み付けた中間ブロック５０１Ｃが、集合コネクタとなる。すなわち、中間ブロック５０１Ｃを固定側コネクタ１（図２参照）に差し込むことで、複数の移動側コネクタ２を一度の動作で一括接続することができる。
【００５５】
中間ブロック５０１Ｃをさらに複数段配置して大型の集合コネクタとしてもよい。たとえば、図７に示す集合ホルダ６の角穴６１に、中間ブロック５０１Ｃを組み付ける。このとき、中間ブロック５０１Ｃにおいて、すでに移動側コネクタ２のＸ方向の動きの自由度と、Ｙ方向の動きの自由度が独立して確保されているので（中間ホルダ５の角穴５１によるＸ方向の自由度と、コネクタハウジング３０におけるＹ方向の自由度）、集合ホルダ６の角穴６１にＹ方向の遊びを持たせる必要はない。したがって、中間ホルダ５のＹ方向の寸法Ｌ３と、集合ホルダ６の角穴６１のＹ方向の寸法Ｌ４（図７参照）との関係は、移動側コネクタ２が固定側コネクタ１と対向するように中間ブロック（集合コネクタ）５０１Ｃを円滑に案内し保持する機能が達成できるサイズであればよい。
【００５６】
実施例３の中間ブロック５０１Ｃを複数組み付けた集合ホルダを、図２のように試験装置９０に取り付けることによって、実施例１、２と同様に一括接続が容易に行なわれる。
【実施例４】
【００５７】
図１３〜図１５を参照して、実施例４の集合コネクタおよび集合コネクタハウジングの構成を説明する。図１３は、実施例４のコネクタブロック３０１の分解斜視図、図１４は図１３のＥ−Ｅ断面図、図１５は、図１３のコネクタブロック３０１を複数組み付けた中間ブロック（集合コネクタ）５０１Ｄの概略図である。
【００５８】
実施例４では、コネクタブロック３０１で、移動側コネクタ２のＸ方向の動きと、Ｙ方向の動きに、相互に独立した所定範囲内の自由度を与える。
【００５９】
図１３において、コネクタユニット４０４は、移動側コネクタ２と、コネクタハウジング３２を含む。移動側コネクタ２は、その先端部がコネクタハウジング３２から突出するように、コネクタハウジング３２のコネクタ挿通孔５０４に挿通される。移動側コネクタ２の突起２１がコネクタハウジング３２の穴３３に嵌合する。コネクタハウジングの穴３３は、Ｙ方向に長く形成され、突起２１がＹ方向に可動となる。これにより、移動側コネクタ２が、コネクタハウジング３２内でＹ方向に可動に保持される。コネクタハウジング３２は、挿入方向（Ｚ方向）の先端側と後端側にピン３４を有する。このコネクタユニット４０４を、コネクタホルダ３６，３７で挟み込んで保持する。コネクタホルダ３７は、Ｘ方向に長く形成されたコネクタ溝３８を有し、コネクタハウジングのピン３４をＸ方向に可動に受け取る。コネクタホルダ３７はまた、後述する中間ホルダ５０のピン５４を受けとる穴３９を有する。
【００６０】
コネクタハウジング３２のピン３４の直径Φ２と、コネクタホルダ３７のコネクタ溝３８のＸ方向の寸Ｌ１８の間には、
（Ｌ１８−Φ２）／２＜（ＵＬｘ） （７）
の関係が成り立つ。コネクタブロック３０１においては、この寸法範囲内で移動側コネクタ２がＸ方向に可動となる。
【００６１】
図１４に示すように、移動側コネクタ２は、コネクタハウジング３２のコネクタ挿通孔５０４に挿通されている。コネクタハウジング３２のＹ方向の内寸Ｌ１４と、移動側コネクタ２のＹ方向の寸法Ｌ６との間には、
（Ｌ１４−Ｌ６）／２＜（ＵＬｙ） （８）
の関係が成り立つ。
【００６２】
このコネクタユニット４０４は、コネクタホルダ３６，３７の組立後のハウジング挿通孔５０５内に挿通されている。ハウジング挿通孔５０５のＹ方向の寸法は、コネクタハウジング３２がコネクタホルダ３６，３７内でＸ方向に自由に動くのを妨げない程度の寸法となっている。
【００６３】
このように、実施例４では、移動側コネクタ２をＹ方向に移動可能に保持するコネクタハウジング３２が第１のハウジングとなる。コネクタユニット４０４をコネクタ溝３８内でＸ方向に可動とするコネクタホルダ３６，３８が第２のハウジングとなる。このようなコネクタブロック３０１を図８の中間ホルダ５０に複数個組み付けることによって、集合コネクタとしての中間ブロック５０１Ｄを構成することができる。
【００６４】
図１５は、中間ブロック５０１Ｄの概略構成図である。中間ホルダ５０のピン５２、５４がコネクタホルダの穴３９と嵌合することによって、コネクタブロック３０１が中間ホルダ５０に固定されて一体化する。コネクタブロック３０１において、移動側コネクタ２のＸ方向の動きとＹ方向の動きが独立して確保されているので、コネクタブロック３０１を中間ホルダ５０に組みつける際に、Ｘ方向、Ｙ方向の遊びを与える必要はない。
【００６５】
この中間ブロック５０１Ｄは、複数の移動側コネクタ２がそれぞれＸ方向とＹ方向に可動となって固定側コネクタ１に一括して接続される集合コネクタとなる。
【００６６】
（変形例）
図１３，１４に示すコネクタブロック３０１を、図８の中間ホルダ５０に組み付ける構成に代えて、図７の集合ホルダ６に複数組み付けて集合コネクタとしてもよい。この場合は、集合ホルダ６の角穴６１は、コネクタブロック３０１がコネクタ挿入方向に滑らかに動くように、角穴の寸法Ｌ４とＬ４１が、コネクタブロック３０１の寸法Ｌ１２とＬ１３に対して若干の隙間を有する程度でよい。集合ホルダ６の角穴６１は、コネクタブロック３０１をコネクタ挿入方向に案内するガイド６２、６３を有する（図７参照）。
【００６７】
この集合コネクタを図２の試験機９０に取り付けることによって、複数の移動側コネクタ２を、被試験体の固定側コネクタ１に対して一括して接続することができる。ガイド６２，６３により、コネクタ挿入軸に対して斜めに挿入される危険から解放されるため、機能試験作業を繰り返し行う場合に、作業の効率化と高品質化に効果がある。
【実施例５】
【００６８】
図１６は、実施例５のセキュア機構付きの集合コネクタ６０１を示す概略図である。セキュア機構は、複数の移動側コネクタ２を、固定側コネクタ２に対して一括して接続、抜き取りする際に、コネクタ１、２に加えられる過度の負荷や、それに起因する破損などを防止して、接続を確実にするための機構である。
【００６９】
（負荷軽減機構）
セキュア機構の第１の例として、集合コネクタ６０１は、負荷軽減機構７００Ａを有する。図１６では、中間完成品１１が機能試験のために試験装置９０に設置されている。プリント基板１２上の固定側コネクタ１に対して、集合ホルダ６に保持される中間ブロック５０１の移動側コネクタ２を一括して接続する状態が、挿入方向と水平な断面図で示されている。
【００７０】
負荷軽減機構７００Ａは、実施例１〜４の中間ブロック５０１Ａ、５０１Ｂ、５０１Ｃ、及び５０１Ｄ（中間ブロック５０１と総称する）が集合ホルダ６から脱落するのを防止するとともに、複数の移動側コネクタ２が中間ブロック単位で固定側コネクタ１群に一括接続、又は一括抜脱されるときの負荷を軽減する。
【００７１】
負荷軽減機構７００Ａは、レバー７を含む。レバー７は、集合ホルダ６に設けられたピン７４の回りに回転可能に形成された回転穴７１と、中間ホルダ５（あるいは中間ホルダ５０）に設けたピン７３に沿って摺動する長円穴７２を有する。
【００７２】
レバー７は、中間ブロック５０１の両側に左右対称に取り付けられる。移動側コネクタ２が固定側コネクタ１から最も離れる時にレバー7の取手部７ａが挿入方向（Ｚ方向）の後端部、すなわちコネクタ２が抜き取られる方向を向くように設定されている。両側のレバー７の取手部７ａを同時に内側Ａ方向に回転させると、移動側コネクタ２が固定側コネクタ１に向かって移動する。レバー７の取手部７ａがＺ軸と直交する付近で、移動側コネクタ２と固定側コネクタ１が結合するように、レバー７の回転穴７１と長円穴７２を配置する。レバー７の回転穴７１と長円穴７２は、図１６と逆に配置してもよい。
【００７３】
レバー７を有する集合コネクタ（集合ブロック）６０１を図２の試験機９０に取り付けることによって、移動側コネクタ２の固定側コネクタ１への結合及び結合解除をブロック単位で行うことが容易になる。また、試験機９０に取り付けた集合コネクタ６０１を開閉する際に、中間ブロック５０１（５０１Ａ〜５０１Ｄを含む）が集合ホルダ６から脱落するのを防止する。中間ブロック５０１は集合ブロック６０１に常に保持されているため、移動側コネクタ２のハンドリングが不要となり、機能試験作業を効率化する効果がある。
【００７４】
さらに、レバー７の取手部７ａが中間ブロック５０１のＸ方向外側に広がらないように構成されているため、中間ブロック５０１をＸ方向に隣接して狭い間隔で配置できる効果がある。
【００７５】
図１７は、図１６の負荷軽減機構の変形例７００Ｂを示す図である。負荷軽減機構７００Ｂのレバー７は、図１５と同様に、中間ホルダ５（あるいは中間ホルダ５０）に設けたピン７３を中心に回転する回転穴７１と、集合ホルダ６に設けたピン７４に沿って摺動する長円穴７２を有し、中間ブロック５０１の両側に左右対称に取り付けられるが、取り付ける向きが異なる。
【００７６】
すなわち、図１７の変形例では、移動側コネクタ２が固定側コネクタ１から最も離れる時に、レバー７の取手部７ａが中間ブロック５０１の両外側に広がるとともに、固定側コネクタ１に近い側に位置する。コネクタ接続時には、両側のレバー７の取手部７ａを固定側コネクタ１から離れる方向に回転させる。これにより、移動側コネクタ２が固定側コネクタ１に向かって移動する。レバー7の取手部７ａがＺ軸と直交する位置からさらに約４５度回転する範囲内で、移動側コネクタ２と固定側コネクタ１が結合するように、レバー７の回転穴７１と長円穴７２を配置する。レバー７の回転穴７１と長円穴７２は、図１７と逆に配置してもよい。
【００７７】
この変形例によれば、集合コネクタ（集合ブロック）６０１を図２の試験機９０に取り付けることによって、移動側コネクタ２の固定側コネクタ１への結合及び結合解除をブロック単位で行うことを容易にする。また、試験機９０に取り付けた集合ブロック６０１を開閉する際に、中間ブロック５０１が集合ホルダ６から脱落するのを防止する。中間部ロック５０１は、集合ブロック６０１に常に保持されているため、移動側コネクタ２のハンドリングが不要となる。その結果、機能試験作業を効率化できる。
【００７８】
さらに、レバー７の取手部７ａが中間ブロック５０１のケーブル接続側に入り込まないので、ケーブル９のルート確保の自由度が高くなる。
【００７９】
（仮止め機構）
セキュア機構の第２の例として、集合コネクタ（集合ブロック）６０１は、仮止め機構を有する。仮止め機構は、実施例１〜４の中間ブロック５０１Ａ〜５０１Ｄ（中間ブロック５０１と総称する）が集合ホルダ６の案内ガイド６２、６３（図７参照）に沿ってＺ軸方向に移動する動きを、ある位置で仮止めする。
【００８０】
図１６のばね付きボール８が、中間ホルダ５（或いは中間ホルダ５０）の穴５５に嵌合して、中間ブロック５０１がコネクタ挿入方向（Ｚ方向）に動くのを止める。レバー７でコネクタ２を結合する動作をすると、ボール８が穴５５から外れるようにばね付きボール８のばね圧力を設定する。仮止めする位置は、中間ブロック５０１の移動側コネクタ２が固定側コネクタ１から最も離れる位置になるように設定しておく。ばね付きボール８の設置場所は、Ｘ方向のガイド６３の片方か両方、またはＹ方向のガイド６２の片方か両方のどちらでもよい。また、ばね付きボール８は、薄板ばね等に穴５５に嵌合する突起を付与したもので代用してもよい。
【００８１】
この構成は、図１７の変形例にも当てはまる。仮止め機構を設けたことにより、図２の試験機９０で集合ブロック６０１を閉じて、被試験体と向き合う状態にする途中で、移動側コネクタ２が意図に反して動いた場合でも、固定側コネクタ１と衝突することを防止することができる。
【００８２】
（破損防止機能）
セキュア機構の第３の例として、集合コネクタ（集合ブロック６０１）は、破損防止機構を有する。破損防止機構は、実施例１〜４で移動側コネクタ２群が、固定側コネクタ１群に一括して接続される際に、コネクタ相互に必要以上の力がかかって破損しないように保護する機能を付与する。この破損防止機能は、たとえばストッパ１５によって実現される。
【００８３】
図１６の中間ブロック５０１の移動側コネクタ２が最も固定側コネクタ１から離れる状態で、集合ブロック６０１を被試験体（中間完成品）１１対して位置決めした時に、中間ブロック５０１の移動側コネクタ２の結合面と、固定側コネクタ１の結合最終面の間隔寸法をＬ２１、ストッパ１５と中間ホルダ５（或いは中間ホルダ５０）の先端面（固定側コネクタ１との対向面）との間隔寸法をＬ２２とすると、Ｌ２２はＬ２１と近似し、かつ、Ｌ２１以下とならないように、ストッパ１５を被試験体（中間完成品）１１、又は試験機９０に設置する。同様の構成が、図１７にも当てはまる。
【００８４】
本実施例によれば、図１６でレバー７を使用して大きな結合力を与えても、固定側コネクタ１と移動側コネクタ２には、余分は応力が掛らないので、固定側コネクタ１及び移動側コネクタ２を破損しない効果がある。
【実施例６】
【００８５】
図１８は、実施例６の電子装置の概略構成図である。実施例６では、被試験体である中間完成品１１を電子計算機１０に組み込んだままで、コネクタを一括接続して機能試験を行なう。中間完成品１１は、プリント基板１２上に複数の固定側コネクタが配置され、補強板１３に保持されている。
【００８６】
中間完成品１１の対応する位置に、集合ホルダ６０を被せて固定する。集合ホルダ６０は複数の角穴６１を有する。各角穴６１のＸ方向に延びる内壁６２と、Ｙ方向に延びる内壁６３は、複数の移動側コネクタ２を収容する中間ブロック５０１Ａ〜５０１Ｄを案内するガイド壁として機能する。機能試験の際には、角穴６１に集合コネクタとして機能する中間ブロック５０１を順次差し込んでいく。ガイド壁６２，６３は、移動側コネクタ２の挿入軸が、固定側コネクタ１の受取軸と一致するように、中間ブロック５０１を固定コネクタ１側に案内する。
【００８７】
実施例６によれば、図２のように被試験体である中間完成品１１を電子計算機１０から取り外して試験装置に設置する必要がない。したがって、電子計算機１０を設置した後でも適用可能となり、運用の自由度を拡張することができる。
【００８８】
以上の実施例によれば、多数のコネクタを一括して挿抜することができるので、作業効率化を向上することができる。また、接続に中継基板などの中継物を必要としないので、伝送ロスを低減できる。コネクタ間隔が狭い配置にも対応可能である。
【００８９】
各移動側コネクタが、挿入方向と垂直な面内で、互いに直交する第１の方向（たとえばＸ方向）と第２の方向（たとえばＹ方向）に独立して動くことができる。したがって、移動側コネクタの回転や傾きを防止して、Ｘ方向あるいはＹ方向に配列された複数個の移動側コネクタを固定側コネクタ群に対して、一括して同時接続することを確実にできる。
【００９０】
また、移動側コネクタを密に配列しつつ各々を可動に保持できる構成としたので、固定側のコネクタ群の間隔が狭い高密度のコネクタ配置にも対応可能である。
【００９１】
以上の説明に対して、以下の付記を提示する。
（付記１）
複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに対して挿抜可能に収容する集合コネクタハウジングであって、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有することを特徴とする集合コネクタハウジング。
（付記２）
前記第１のハウジングの前記コネクタ挿通孔は、前記複数のコネクタの各々を個別に前記第１方向へ可動に保持し、
前記第２のハウジングの前記ハウジング挿通孔は、前記複数のコネクタを、２以上の前記コネクタを含むブロック単位で可動に保持する
ことを特徴とする付記１に記載の集合コネクタハウジング。
（付記３）
前記第１のハウジングは、前記複数のコネクタの各々を挿通する複数の前記コネクタ挿通孔を有し、
前記第２のハウジングは、前記第１のハウジングを、前記第１方向と独立して、前記第２方向に可動に保持する１以上のハウジング挿通孔(61)を有することを特徴とする付記１又は２に記載の集合コネクタハウジング。
（付記４）
前記第１のハウジングは、前記各コネクタ上に設けられた前記第１方向に伸長する長円孔と嵌合するピンを有し、前記コネクタ挿通孔内で前記各コネクタを前記第１方向に可動に保持し、
前記第２のハウジングは、前記第１のハウジングを、前記第１方向と独立して、前記第２方向に可動に保持する１以上のハウジング挿通孔を有することを特徴とする付記１又は２に記載の集合コネクタハウジング。
（付記５）
前記第１のハウジングの前記コネクタ挿通孔は、前記複数のコネクタの各々を個別に前記第１方向へ可動に保持し、
前記第２のハウジングの前記ハウジング挿通孔は、前記複数のコネクタの各々を個別に前記第２方向へ可動に保持する
ことを特徴とする付記１に記載の集合コネクタハウジング。
（付記６）
前記第１のハウジングは、前記第１方向に細長に形成されて前記コネクタ上の突起と係合する穴を有し、
前記第２のハウジングは、複数の前記第１のハウジングの各々を独立して前記第２方向に可動に保持する複数の前記ハウジング挿通孔を有する
ことを特徴とする付記１又は５に記載の集合コネクタハウジング。
（付記７）
前記第１のハウジングは、前記第１方向に細長に形成されて前記コネクタ上のピンと嵌合する穴と、前記第２のハウジングと嵌合するピンとを有し、
前記第２のハウジングは、前記第２方向に細長に延びて前記第１のハウジングの前記ピンと嵌合するコネクタ溝を有する
ことを特徴とする付記１又は５に記載の集合コネクタハウジング。
（付記８）
前記コネクタの前記第１方向の長さをＬ１、前記コネクタ挿通孔の前記第１方向の長さをＬ２、前記コネクタに許容される前記第１方向への位置ずれ誤差をＵＬｘとしたときに、（Ｌ２−Ｌ１）／２＜ＵＬｘの関係を満たすことを特徴とする付記１に記載の集合コネクタハウジング。
（付記９）
前記第１のハウジングの前記第２方向への長さをＬ３、前記ハウジング挿通孔の前記第２方向の長さをＬ４、前記コネクタに許容される前記第２方向への位置ずれ誤差をＵＬｙとしたときに、（Ｌ４−Ｌ３）／２＜ＵＬｙの関係を満たすことを特徴とする付記１に記載の集合コネクタハウジング。
（付記１０）
複数のコネクタと、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有することを特徴とする集合コネクタ。
（付記１１）
前記複数のコネクタを、相手側コネクタとの接続位置へ押し出し、前記相手方コネクタとの接続位置から後退させるレバー、
をさらに有することを特徴とする付記１０に記載の集合コネクタ。
（付記１２）
前記複数のコネクタの前記接続位置への移動を所定の位置で仮止めする仮止め機構、
をさらに有することを特徴とする付記１０に記載の集合コネクタ。
（付記１３）
基板上に配置された複数の第１コネクタと、
前記第１コネクタに結合される複数の第２コネクタを有する付記１２記載の集合コネクタと、
を含む電子装置。
（付記１４）
前記集合コネクタを、前記基板に対して開閉可能に支持する回動軸、
をさらに含むことを特徴とする付記１３に記載の電子装置。
（付記１５）
前記基板上に、前記集合コネクタを受け止めるストッパ、
をさらに含むことを特徴とする付記１３又は１４に記載の電子装置。
【産業上の利用可能性】
【００９２】
複数のコネクタを用いた接続機構、コンピュータシステム、試験装置などの電子装置に適用可能である。
【符号の説明】
【００９３】
１ 固定側コネクタ
２ 移動側コネクタ
４、３０、３２、４０ コネクタハウジング
５、５０ 中間ホルダ
６、６０ 集合ホルダ
９ ケーブル
３６，３７ コネクタホルダ
５１ 角穴（コネクタ挿通孔あるいはハウジング挿通孔）
５０２、５０３、５０４ コネクタ挿通孔
６１ 角穴（ハウジング挿通孔）
９０ 試験装置（電子装置）
３０１ コネクタブロック
４０１、４０２、４０３，４０４ コネクタユニット
５０１、５０１Ａ、５０１Ｂ、５０１Ｃ、５０１Ｄ 中間ブロック
６０１ 集合ブロック（集合コネクタ）
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに対して挿抜可能に収容する集合コネクタハウジングであって、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有することを特徴とする集合コネクタハウジング。
【請求項２】
前記第１のハウジングは、前記複数のコネクタの各々を挿通する複数の前記コネクタ挿通孔を有し、
前記第２のハウジングは、前記第１のハウジングを、前記第１方向と独立して、前記第２方向に可動に保持する１以上のハウジング挿通孔を有することを特徴とする請求項１に記載の集合コネクタハウジング。
【請求項３】
前記第１のハウジングは、前記各コネクタ上に設けられた前記第１方向に伸長する長円孔と嵌合するピンを有し、前記コネクタ挿通孔内で前記各コネクタを前記第１方向に可動に保持し、
前記第２のハウジングは、前記第１のハウジングを、前記第１方向と独立して、前記第２方向に可動に保持する１以上のハウジング挿通孔を有することを特徴とする請求項１に記載の集合コネクタハウジング。
【請求項４】
前記第１のハウジングは、前記第１方向に細長に形成されて前記コネクタ上の突起と係合する穴を有し、
前記第２のハウジングは、複数の前記第１のハウジングの各々を独立して前記第２方向に可動に保持する複数の前記ハウジング挿通孔を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の集合コネクタハウジング。
【請求項５】
前記第１のハウジングは、前記第１方向に細長に形成されて前記コネクタ上のピンと嵌合する穴と、前記第２のハウジングと嵌合するピンとを有し、
前記第２のハウジングは、前記第２方向に細長に形成されて前記第１のハウジングの前記ピンと嵌合するコネクタ溝を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の集合コネクタハウジング。
【請求項６】
複数のコネクタと、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有することを特徴とする集合コネクタ。
【請求項７】
基板上に配置された複数の第１コネクタと、
前記第１コネクタに結合される複数の第２コネクタを有する請求項６記載の集合コネクタと、
を含む電子装置。
【請求項８】
前記集合コネクタを、前記基板に対して開閉可能に支持する回動軸、
をさらに含むことを特徴とする請求項７に記載の電子装置。
【請求項１】
複数のコネクタを一度の動作で相手側コネクタに対して挿抜可能に収容する集合コネクタハウジングであって、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有することを特徴とする集合コネクタハウジング。
【請求項２】
前記第１のハウジングは、前記複数のコネクタの各々を挿通する複数の前記コネクタ挿通孔を有し、
前記第２のハウジングは、前記第１のハウジングを、前記第１方向と独立して、前記第２方向に可動に保持する１以上のハウジング挿通孔を有することを特徴とする請求項１に記載の集合コネクタハウジング。
【請求項３】
前記第１のハウジングは、前記各コネクタ上に設けられた前記第１方向に伸長する長円孔と嵌合するピンを有し、前記コネクタ挿通孔内で前記各コネクタを前記第１方向に可動に保持し、
前記第２のハウジングは、前記第１のハウジングを、前記第１方向と独立して、前記第２方向に可動に保持する１以上のハウジング挿通孔を有することを特徴とする請求項１に記載の集合コネクタハウジング。
【請求項４】
前記第１のハウジングは、前記第１方向に細長に形成されて前記コネクタ上の突起と係合する穴を有し、
前記第２のハウジングは、複数の前記第１のハウジングの各々を独立して前記第２方向に可動に保持する複数の前記ハウジング挿通孔を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の集合コネクタハウジング。
【請求項５】
前記第１のハウジングは、前記第１方向に細長に形成されて前記コネクタ上のピンと嵌合する穴と、前記第２のハウジングと嵌合するピンとを有し、
前記第２のハウジングは、前記第２方向に細長に形成されて前記第１のハウジングの前記ピンと嵌合するコネクタ溝を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の集合コネクタハウジング。
【請求項６】
複数のコネクタと、
前記コネクタを挿通させるコネクタ挿通孔を有し、前記コネクタ挿通孔内で、前記コネクタを前記コネクタの挿入方向と垂直な第１方向に可動に保持する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを挿通させるハウジング挿通孔を有し、前記ハウジング挿通孔内で前記第１のハウジングを、前記挿入方向と前記第１方向の各々に対して垂直な第２方向に可動に保持する第２のハウジングと
を有することを特徴とする集合コネクタ。
【請求項７】
基板上に配置された複数の第１コネクタと、
前記第１コネクタに結合される複数の第２コネクタを有する請求項６記載の集合コネクタと、
を含む電子装置。
【請求項８】
前記集合コネクタを、前記基板に対して開閉可能に支持する回動軸、
をさらに含むことを特徴とする請求項７に記載の電子装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【公開番号】特開２０１２−２３４６８７（Ｐ２０１２−２３４６８７Ａ）
【公開日】平成２４年１１月２９日（２０１２．１１．２９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１０２０４４（Ｐ２０１１−１０２０４４）
【出願日】平成２３年４月２８日（２０１１．４．２８）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１１月２９日（２０１２．１１．２９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年４月２８日（２０１１．４．２８）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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