電子写真感光体の評価方法及び評価装置
【課題】 電子写真感光体における感光層の膜厚均一性を短時間で且つ精度良く評価することが可能な電子写真感光体の評価方法を提供すること。
【解決手段】 導電性支持体と感光層とを備える略円筒状の電子写真感光体の評価方法であって、感光体と帯電装置との少なくとも一方を、感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させ、帯電による感光体への流入電流及び帯電後の感光体の表面電位を複数の測定部位について測定する測定ステップと、複数の測定部位のそれぞれで、表面電位と流入電流との関係から感光体における感光層の静電容量を算出し、感光体における感光層の静電容量分布を求める算出ステップと、静電容量分布に基づいて感光体の膜厚均一性を評価する評価ステップと、を有することを特徴とする電子写真感光体の評価方法。
【解決手段】 導電性支持体と感光層とを備える略円筒状の電子写真感光体の評価方法であって、感光体と帯電装置との少なくとも一方を、感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させ、帯電による感光体への流入電流及び帯電後の感光体の表面電位を複数の測定部位について測定する測定ステップと、複数の測定部位のそれぞれで、表面電位と流入電流との関係から感光体における感光層の静電容量を算出し、感光体における感光層の静電容量分布を求める算出ステップと、静電容量分布に基づいて感光体の膜厚均一性を評価する評価ステップと、を有することを特徴とする電子写真感光体の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真方式の画像形成に使用される電子写真感光体の評価方法及び評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、複写機、プリンター等の電子写真装置のカラー化が進んでおり、高画質化に対する要求が高まっている。一般的に、電子写真装置を用いた電子写真プロセスは、電子写真感光体（以下、場合により「感光体」と略す）を帯電させる工程、帯電した感光体を露光して静電潜像を形成させる工程、静電潜像を現像してトナー像を形成させる工程、並びにトナー像を感光体から被転写媒体に転写する工程を含んで行われるが、この電子写真プロセスにおいて、形成する画像の画質は、感光体の膜厚均一性に大きく依存する。すなわち、感光体の膜厚が十分に均一であり、膜厚のムラが十分に少なければ、感光体は良好な画像特性を得ることができ、高画質化を図ることが可能となる。したがって、新規な感光体の開発過程や、感光体の製造過程において、感光体の膜厚均一性を評価することは、形成画像の高画質化を図る上で極めて重要な項目の一つとなっている。
【０００３】
ここで、従来、感光体の膜厚を評価する方法としては、例えば、分光測定による干渉法、渦電流方式、及び、感光体のコンデンサとしての特性を利用し静電容量として評価する方法（例えば、特許文献１参照）等が考案されている。
【特許文献１】特開平１０−２８２０５７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、干渉法を用いて感光体の膜厚を測定する方法は、膜の外側と内側からの反射光を利用した方法であり、光を吸収する感光体に対しては好ましい方法ではない。そのため、感光体の膜厚を精度良く測定することができず、感光体の膜厚均一性を評価する方法としては不十分である。
【０００５】
また、渦電流方式による感光体膜厚の測定方法は、高周波の磁界により感光体を構成するアルミニウム製基材等の導電性支持体に渦電流を誘導し、感光体表面と基材との間隔を測定する方法であるため、光を吸収する感光体に対しても適用可能である。しかし、渦電流方式は接触式の測定方法であるため、感光体の膜厚分布を測定しようとした場合に長い測定時間を要するとともに、感光体表面が傷つきやすいという問題を有している。また、渦電流方式では、導電性の基材から感光体表面までの距離を検出するため、例えば、アルマイト加工した導電性支持体を用いた感光体や下引層を有する感光体を測定すると、アルマイト層や下引層を含んだ膜厚が測定されることとなり、目的とする感光層自体の膜厚を直接求めることができない。これらのことから、渦電流方式による感光体膜厚の測定方法は、感光体の膜厚均一性を評価する方法としては不十分である。
【０００６】
更に、感光体のコンデンサとしての特性を利用する方法は、感光体の表面に与える電荷量を変化させて、感光体の表面電位を測定し、そこからコンデンサとしての容量を計測して感光体の静電容量を算出する方法であるが、この方法は、感光体のある一部の領域で、表面電荷を変化させて繰り返し測定を行い、静電容量を求めるものであり、感光体の静電容量の面内分布を求めるものではない。したがって、かかる方法では、感光体の膜厚均一性を評価する方法としては不十分である。
【０００７】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、電子写真感光体における感光層の膜厚均一性を短時間で且つ精度良く評価することが可能な電子写真感光体の評価方法及び電子写真感光体の評価装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、導電性支持体と、該導電性支持体上に配置された感光層と、を備える略円筒状の電子写真感光体の評価方法であって、上記電子写真感光体と該電子写真感光体を帯電させるための帯電装置との少なくとも一方を、上記電子写真感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させ、帯電による上記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の上記電子写真感光体の表面電位を、前記電子写真感光体の外周面上の複数の測定部位について測定する測定ステップと、上記複数の測定部位のそれぞれで、上記表面電位と上記流入電流との関係から上記電子写真感光体における上記感光層の静電容量を算出し、上記電子写真感光体における上記感光層の静電容量分布を求める算出ステップと、上記静電容量分布に基づいて上記電子写真感光体の膜厚均一性を評価する評価ステップと、を有することを特徴とする電子写真感光体の評価方法を提供する。
【０００９】
かかる評価方法によれば、電子写真感光体と帯電装置とを感光体の周方向及び軸方向に沿って相対的に移動させながら螺旋状に感光体の表面電位及び流入電流を測定することにより、感光体における感光層の周方向及び軸方向の連続的な静電容量分布を短時間で効率的に且つ精度良く求めることができる。そして、この静電容量分布を用いることで、電子写真感光体の膜厚均一性を精度良く評価することができ、それによって電子写真感光体の画像特性を予測する（見積る）ことができる。
【００１０】
特に、感光体における感光層を浸漬塗布法により形成する場合、支持体をその軸方向が鉛直方向となるように支持し、これを感光層を形成するための塗工液に浸漬した後、軸方向に引き上げることで塗膜を形成するが、このとき塗工液に液だれが生じて支持体の軸方向下端部に液溜まりが形成され、塗膜の乾燥後に支持体下端部における感光層の膜厚が厚くなりやすい。このような場合を考慮すると、感光体における周方向の感光層の膜厚均一性はもちろんのこと、感光体の軸方向における感光層の膜厚均一性を評価することが極めて重要となってくる。本発明の評価方法によれば、上述のように感光体における感光層の静電容量を螺旋状に求めているため、周方向のみならず軸方向も含む感光体全体の連続的な静電容量分布を短時間で効率的に且つ精度良く求めることができ、周方向及び軸方向のいずれの方向に膜厚ムラがあってもこれを発見することができる。したがって、本発明の評価方法によれば、感光体の膜厚均一性を効率的に且つ極めて高い精度で評価することができ、それによって画像特性を見積ることができる。
【００１１】
また、本発明の電子写真感光体の評価方法は、上記測定ステップの前に、上記電子写真感光体を、該電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させるための回転駆動装置に装着し、上記電子写真感光体の外周部に、該電子写真感光体の回転方向に沿って少なくとも上記帯電装置、第１の電位測定装置、及び、除電装置をこの順に配置する配置ステップを更に有し、上記測定ステップは、上記電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させ、一定間隔の複数の測定部位のそれぞれで、上記帯電装置による帯電、上記第１の電位測定装置による帯電後の電位測定、及び、上記除電装置による除電を行い、帯電による上記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の上記電子写真感光体の表面電位を測定するステップであることが好ましい。
【００１２】
上記の帯電装置、第１の電位測定装置及び除電装置を用いて、上記の方法で表面電位及び流入電流を測定することにより、電子写真感光体における感光層の静電容量分布をより効率的に且つより精度良く測定することができる。そして、この静電容量分布に基づいて電子写真感光体の膜厚均一性をより精度良く評価することができ、それによって電子写真感光体の画像特性を見積ることができる。
【００１３】
更に、本発明の電子写真感光体の評価方法では、上記配置ステップにおいて、上記帯電装置よりも上記電子写真感光体の回転方向の上流側に第２の電位測定装置を更に配置し、上記測定ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで、上記第２の電位測定装置及び上記第１の電位測定装置により上記帯電装置による帯電前後の電位測定を行い、上記表面電位を、上記第１の電位測定装置により測定した帯電後の電位から上記第２の電位測定装置により測定した帯電前の電位を減じた値により求めることが好ましい。
【００１４】
本発明の評価方法においては、帯電、電位測定及び除電を繰り返し行って電子写真感光体の静電容量分布を測定するため、繰り返しの中で除電が不十分となる場合が生じる可能性がある。除電が不十分のまま次の帯電及び電位測定を行うと、帯電後の電位を上記表面電位とした場合、表面電位は前回の除電で除去されなかった電荷が加味された電位として測定されることとなる。これに対して、上記のように、複数の測定部位のそれぞれについて帯電前後で感光体の電位を測定し、表面電位を帯電後の電位から帯電前の電位を減じた値として求めると、除電が不十分となった場合であっても、前回の除電で除去されなかった電荷を含まない表面電位を求めることができる。そして、このようにして求めた表面電位と流入電流とから静電容量分布及び膜厚均一性を評価することにより、電子写真感光体の画像特性をより精度良く評価することができる。
【００１５】
ここで、上記帯電装置における上記電子写真感光体の軸方向の実行帯電幅は、上記第１の電位測定装置の測定スポットサイズの１〜３倍の大きさであることが好ましい。
【００１６】
帯電装置における実行帯電幅を上記範囲とすることにより、解像度の高いより正確な静電容量分布を求めることができる。ここで、帯電装置における実行帯電幅が第１の電位測定装置の測定スポットサイズの１倍未満であると、帯電が不安定になる傾向がある。一方、帯電装置における実行帯電幅が第１の電位測定装置の測定スポットサイズの３倍を超えると、感光体表面の電位を測定する範囲に対して帯電させる範囲が大きすぎるため、表面電位と流入電流との測定値が十分に対応せず、また、次の測定部位をも帯電させてしまい測定の精度を低下させてしまうこととなり、正確な静電容量分布を求めることが困難となる傾向にある。
【００１７】
また、上記測定ステップにおいて、上記帯電装置による帯電を行ってから０．１秒以内に上記第１の電位測定装置による帯電後の電位測定を行うことが好ましい。
【００１８】
このように、帯電後０．１秒以内に電位測定を行うことにより、帯電後の暗減衰による電位低下の影響を十分に抑制することができ、より精度の高い静電容量分布を求めることができる。
【００１９】
また、本発明の電子写真感光体の評価方法では、上記測定ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで、上記表面電位及び上記流入電流を上記帯電装置の帯電条件を変えて複数回測定し、上記算出ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで、複数の上記表面電位と対応する上記流入電流との関係から上記感光層の静電容量を算出することが好ましい。
【００２０】
これにより、複数の測定部位のそれぞれで、感光層の静電容量及び膜厚をより高い精度で求めることができる。そのため、電子写真感光体の膜厚均一性をより高い精度で評価することができ、それによって画像特性を見積ることができる。
【００２１】
また、本発明の電子写真感光体の評価方法において、上記帯電装置は、非接触方式の帯電装置であることが好ましい。
【００２２】
これにより、電子写真感光体表面を傷つけることなく、より短時間で電子写真感光体の画像特性を見積ることができる。
【００２３】
また、本発明の電子写真感光体の評価方法において、上記評価ステップは、上記静電容量分布に基づいて上記電子写真感光体の上記感光層の膜厚分布を求め、上記膜厚分布に基づいて上記電子写真感光体の膜厚均一性を評価するステップであることが好ましい。これにより、膜厚均一性の評価をより簡易に且つより正確に行うことができる。
【００２４】
本発明はまた、導電性支持体と、該導電性支持体上に配置された感光層と、を備える略円筒状の電子写真感光体を評価するための評価装置であって、上記電子写真感光体と該電子写真感光体を帯電させるための帯電装置との少なくとも一方を、上記電子写真感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させる駆動手段と、帯電による上記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の上記電子写真感光体の表面電位を複数の測定部位について測定するための測定手段と、を有することを特徴とする電子写真感光体の評価装置を提供する。
【００２５】
ここで、上記駆動手段は、上記電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させるための回転駆動装置を含み、上記測定手段は、上記電子写真感光体の外周部に配置された上記帯電装置と、上記電子写真感光体の外周部であって上記帯電装置よりも上記電子写真感光体の回転方向の下流側に配置された、上記電子写真感光体の帯電後の電位を測定するための第１の電位測定装置と、上記電子写真感光体の外周部であって上記第１の電位測定装置よりも上記電子写真感光体の回転方向の下流側に配置された、上記電子写真感光体表面の電荷を除電するための除電装置と、上記導電性支持体に電気的に接続された、上記帯電装置による帯電時の上記電子写真感光体への流入電流を測定するための電流測定装置と、を含むことが好ましい。
【００２６】
また、上記測定手段は、上記電子写真感光体の外周部であって上記帯電装置よりも上記電子写真感光体の回転方向の上流側に配置された、上記電子写真感光体の帯電前の電位を測定するための第２の電位測定装置を更に含み、上記複数の測定部位のそれぞれにおける上記電子写真感光体の上記表面電位を、上記第１の電位測定装置により測定した帯電後の電位から上記第２の電位測定装置により測定した帯電前の電位を減じた値により求める手段であることが好ましい。
【００２７】
また、本発明の評価装置は、上記複数の測定部位のそれぞれで、上記表面電位と上記流入電流との関係から上記電子写真感光体における上記感光層の静電容量を算出し、上記電子写真感光体における上記感光層の静電容量分布を求めるための算出手段を更に有することが好ましい。
【００２８】
これらの評価装置によれば、上述した本発明の評価方法による電子写真感光体の評価を短時間で効率的に且つ精度良く行なうことができ、感光体における感光層の膜厚均一性を精度良く評価し、それによって画像特性を見積ることができる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、電子写真感光体における感光層の膜厚均一性を短時間で且つ精度良く評価することができ、それによって電子写真感光体の画像特性を見積ることが可能な電子写真感光体の評価方法及び電子写真感光体の評価装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、以下の説明では、同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
【００３１】
図１は、本発明の電子写真感光体の評価装置の好適な一実施形態を示す説明図であり、図２は、図１に示した評価装置のＩ部の部分拡大断面図である。図１及び２に示すように、評価対象となる電子写真感光体１は、評価装置１００のハウジング７内にセットされ、感光体１の外周部には、ハウジング７の底部に固定された環状の取り付け部材６を介して、第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５がセットされている。
【００３２】
ここで、感光体１はその一端が支承部８に固定され、その後、支承部９が設置されたスライド台１３を、ハンドル１４の操作により図１中の矢印Ａの方向に移動させることにより、感光体ドラム１の他端が支承部９によって固定される。一方の支承部８は回転モータ１０に連動して、感光体１を図２中の矢印Ｂの方向に回転可能となっており、回転数は任意に設定することができる。また、感光体１を構成する導電性支持体は、支承部８を介して電流測定装置１１に電気的に接続されており、これによって帯電時の感光体１への流入電流を測定することが可能となっている。更に、電流測定装置１１はアースに接続されている。
【００３３】
また、支承部８，９及び回転モータ１０は、感光体１の軸方向に往復移動する自動ステージ１２上に設置されており、これによって取り付け部材６に取り付けられた第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５に対して、感光体１をその軸方向に移動させることが可能となっている。
【００３４】
また、第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５のそれぞれは、感光体１の直径が異なる場合でも、感光体１の表面と一定の間隔をもって配置できるように、感光体１表面の法線方向に進退可能に取り付け部材６に取り付けられている。更に、第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５のそれぞれは、感光体１の周方向に位置調節が可能となるように取り付け部材６に取り付けられている。
【００３５】
以下、上記評価装置１００の各構成要素について説明する。
【００３６】
評価対象となる感光体１は、詳細は図示しないが、略円筒状の導電性支持体の外周面に感光層が形成されたものである。感光体１の感光層は、電荷発生物質、電荷輸送物質、あるいはさらにこれらの物質を分散させる結着樹脂を含んで構成される。感光層は、電荷発生物質を含む層（電荷発生層）と電荷輸送物質を含む層（電荷輸送層）とが別個に設けられた機能分離型感光層であってもよく、電荷発生物質及び電荷輸送物質の双方を含む単層型感光層であってもよい。また、感光体１は、支持体と感光層との間に下引層を、感光層の表面（基体と反対側）に保護層を、それぞれ備えていてもよい。
【００３７】
帯電装置３は、感光体１を帯電させるものであり、帯電ロールや帯電ブラシ等を用いた接触型帯電装置、及び、コロナ放電を利用したスコロトロン帯電装置やコロトロン帯電装置等の非接触型帯電装置といった公知の帯電装置を特に制限なく用いることができる。これらの中でも感光体１の表面を傷つけることなく、短時間で感光体１の膜厚均一性を評価することができることから、非接触型帯電装置を用いることが好ましい。
【００３８】
第１の電位測定装置２及び第２の電位測定装置４は、感光体１表面の電位を測定するものであり、第２の電位測定装置４は上記帯電装置３による帯電前の電位を、第１の電位測定装置２は上記帯電装置３による帯電後の電位を測定するものである。第１の電位測定装置２及び第２の電位測定装置４は、例えば、電位測定プローブと表面電位計とで構成される。
【００３９】
除電装置５は、帯電装置３により帯電した感光体１の表面に光を照射し、感光体１表面の残留電荷を除電するためのものである。除電装置５の光源としては、例えば、ハロゲンランプ、ＬＥＤ等を用いることができる。
【００４０】
電流測定装置１１は、上記帯電装置３による帯電時に感光体１に流れる電流を測定するものであり、感光体１の導電性支持体とアースとの間に電気的に接続される。かかる電流測定装置１１としては、公知の電流計を特に制限なく使用することができる。
【００４１】
ハウジング７の材質は特に制限されず、金属、プラスチック等を用いることができる。なお、感光体１の画像特性の評価の精度を高める観点から、評価装置１００内を遮光した状態で評価を行うことが好ましく、したがって、ハウジング７は遮光性の材料により形成されていることが好ましい。具体的には、ハウジング７は、鉄板等の金属で形成されていることが好ましい。
【００４２】
評価装置１００には、更に制御ユニット（図示されていない）が内蔵されており、感光体１の回転数や帯電条件等をコントロールすることが可能となっている。
【００４３】
上記構成を有する評価装置１００を用いて感光体１の評価を行う場合、まず、感光体１を上記評価装置１００の支承部８，９に取り付け、感光体１の外周部に、該感光体１の回転方向に沿って第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２、及び、除電装置５をこの順に配置する（配置ステップ）。次に、感光体１を回転モータ１０により回転させながら、感光体１を自動ステージ１２により感光体１の軸方向に移動させ、これに合わせて感光体１の複数の測定部位のそれぞれで、第２の電位測定装置４による帯電前の感光体１表面の電位の測定、帯電装置３による帯電、電流測定装置１１による帯電時の感光体１への流入電流の測定、第１の電位測定装置２による帯電後の感光体１表面の電位の測定、及び、除電装置５による除電を行う（測定ステップ）。次に、上記複数の測定部位のそれぞれで、表面電位を帯電後の電位から帯電前の電位を減じた値として求め、得られた表面電位と流入電流との関係から、感光体１における感光層の静電容量を算出し、感光体１における感光層の静電容量分布を求める（算出ステップ）。次に、上記静電容量分布に基づいて感光体１の膜厚均一性を評価する（評価ステップ）。
【００４４】
以下、各ステップについて詳細に説明する。
【００４５】
配置ステップにおいて、第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５のそれぞれの配置は、帯電装置３の位置を基準（０°）として、感光体１の回転方向Ｂの下流側を「＋」の角度で表した場合、以下の配置とすることが好ましい。すなわち、第１の電位測定装置２の位置は１５〜７５°であることが好ましく、４５°程度であることがより好ましい。除電装置５の位置は１５０〜２１０°であることが好ましく、１８０°程度であることがより好ましい。第２の電位測定装置４の位置は−１５〜−７５°であることが好ましく、−４５°程度であることがより好ましい。第１の電位測定装置２の位置が上記範囲内の位置であることにより、帯電装置３により感光体１の帯電を行ってから第１の電位測定装置２により感光体１表面の電位を測定するまでの時間間隔を十分に短くすることができ、帯電後の暗減衰による電位低下の影響を十分に抑制することができる。これにより、より精度の高い静電容量分布を求めることができる。
【００４６】
また、配置ステップにおいて、第１の電位測定装置２及び第２の電位測定装置４における電位測定プローブは、感光体１の表面から０．５〜５．０ｍｍ離した位置に設置することが好ましい。また、測定スポットサイズは１．０〜２０．０ｍｍとすることが好ましい。
【００４７】
測定ステップにおいて、回転モータ１０による感光体１の回転数は、５０〜１５０ｒｐｍとすることが好ましい。また、上記回転数及び上記第１の電位測定装置２の位置を調整することにより、帯電装置３による帯電を行ってから０．１秒以内に第１の電位測定装置２による帯電後の電位測定を行うようにすることが好ましい。例えば、上記第１の電位測定装置２の位置が帯電装置３に対して４５°である場合、上記回転数を１００ｒｐｍとすることにより、帯電装置３による帯電から第１の電位測定装置２による電位測定までの時間間隔を０．０７５秒とすることができ、暗減衰による感光体１表面の電位低下の影響を十分に抑制することができる。
【００４８】
また、測定ステップにおいて、自動ステージ１２による感光体１の軸方向への移動速度は、１．０〜２０．０ｍｍ／１回転とすることが好ましい。かかる移動速度及び上記の回転数で感光体１を螺旋状に測定することにより、感光体１の感光層の静電容量分布を短時間で効率的に且つ精度良く求めることができる。
【００４９】
また、測定ステップにおいて、帯電装置３における感光体１の軸方向の実行帯電幅は、第１の電位測定装置２の測定スポットサイズの１〜３倍の大きさとすることが好ましく、１〜１．５倍の大きさとすることがより好ましい。上記実行帯電幅が上記測定スポットサイズの１倍未満であると、帯電が不安定になる傾向がある。一方、上記実行帯電幅が上記測定スポットサイズの３倍を超えると、感光体１表面の電位を測定する範囲に対して帯電させる範囲が大きすぎるため、表面電位と流入電流との測定値が十分に対応せず、また、次の測定部位をも帯電させてしまい測定の精度を低下させてしまうこととなり、正確な静電容量分布を求めることが困難となる傾向にある。
【００５０】
また、測定ステップにおいて、帯電装置３により感光体１を帯電させる際の帯電条件は特に制限されないが、例えば、帯電装置３としてスコロトロンを用いる場合には、ワイヤー電圧を３．０〜７．０ｋＶ、グリッド電圧を０．１〜２．０ｋＶとすることが好ましい。
【００５１】
更に、測定ステップにおいて、除電装置５により照射する光の波長は６００〜８００ｎｍとすることが好ましい。また、照射光量は２０〜６０ｍＪ／ｍ２とすることが好ましい。このような条件で除電を行うことにより、感光体１表面の電荷を効率的に除去することができる。
【００５２】
算出ステップにおいては、上記複数の測定部位のそれぞれで、表面電位と流入電流との関係から感光層の静電容量を算出し、感光体１の感光層の静電容量分布を求める。このとき、まず複数の測定部位のそれぞれにおいて、下記式（Ｉ）を用いて流入電流Ｉから電荷Ｑを算出する。
Ｑ＝Ｉ／（Ｗ・Ｖｐ） （Ｉ）
［式（Ｉ）中、Ｑは電荷（Ｃ／ｍｍ２）を示し、Ｉは流入電流（Ａ）を示し、Ｗは帯電装置の実行帯電幅（ｍｍ）を示し、Ｖｐ（ｍｍ／ｓｅｃ）は感光体のプロセススピードを示す。］
【００５３】
こうして求めた電荷Ｑ及び表面電位Ｖから、複数の測定部位のそれぞれにおいて、下記式（ＩＩ）を用いて静電容量Ｃ（Ｆ／ｍｍ２）を求める。
Ｑ＝Ｃ・Ｖ （ＩＩ）
［式（ＩＩ）中、Ｑは電荷（Ｃ／ｍｍ２）を示し、Ｖは表面電位（Ｖ）を示し、Ｃは静電容量（Ｆ／ｍｍ２）を示す。］
これにより、感光体１の静電容量分布を求めることができる。
【００５４】
評価ステップにおいては、上記算出ステップで求めた静電容量分布に基づいて感光体１の膜厚均一性を評価する。ここで、一般的に静電容量分布の分布幅が０．０８ｐＦ／ｍｍ２以下であれば、感光体１は優れた膜厚均一性を有していると見積ることができ、感光体１は良好な画像特性を有していると評価することができる。
【００５５】
以上、本発明の電子写真感光体の評価方法及び評価装置の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。例えば、上記評価装置１００及びこれを用いた評価方法においては、帯電装置３よりも感光体１の回転方向の上流側に第２の電位測定装置４を配置した構成を示したが、本発明の評価装置１００は第２の電位測定装置４を備えていなくてもよく、本発明の評価方法は第２の電位測定装置４による帯電前の電位測定を行わずに感光体１の評価を行ってもよい。
【００５６】
また、上記評価装置１００及びこれを用いた評価方法においては、帯電装置３、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置４及び除電装置５を動かさずに、感光体１を回転させつつ軸方向に移動させる構成となっているが、本発明の評価方法及び評価装置においては、感光体１と、帯電装置３、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置４及び除電装置５とが、感光体１の周方向及び軸方向に相対的に移動するような構成となっていればよい。したがって、本発明の評価方法及び評価装置は、例えば、感光体１を動かさずに、帯電装置３、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置４及び除電装置５を感光体１の周方向及び軸方向に移動させる構成となっていてもよい。
【００５７】
また、本発明の評価方法では、上記測定ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで表面電位及び流入電流を帯電装置３の帯電条件を変えて複数回測定し、上記算出ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで、複数の表面電位と対応する流入電流との関係から感光層の静電容量を算出する方法を用いてもよい。
【００５８】
この場合、まず上記式（Ｉ）を用いて流入電流Ｉから電荷Ｑを算出した後、複数の測定部位のそれぞれで、複数測定した表面電位及びそれに対応する電荷を、図３に示すように、横軸に表面電位Ｖを、縦軸に電荷Ｑをとったグラフ上にプロットし、複数のプロット点を結んだ直線Ｌ１の傾きから静電容量Ｃを求める。かかる算出方法を用いることにより、複数の測定部位のそれぞれにおける感光層の静電容量をより高い精度で求めることができる。そのため、感光体１の感光層の膜厚均一性をより精度良く評価することができる。なお、１つの帯電条件のみで表面電位及び電荷を測定して静電容量を求める場合は、図３中の直線Ｌ２の傾きを求めることになる。
【００５９】
更に、本発明の評価方法では、上記評価ステップにおいて、上記静電容量分布に基づいて感光体１の感光層の膜厚分布を求め、この膜厚分布に基づいて感光体１の膜厚均一性を評価してもよい。ここで、静電容量Ｃと感光層の膜厚Ｄとは、下記式（ＩＩＩ）の関係を有している。
Ｃ＝ε／Ｄ （ＩＩＩ）
［式（ＩＩＩ）中、Ｃは静電容量（Ｆ／ｍｍ２）を示し、Ｄは感光層の膜厚（ｍｍ）を示し、εは感光層の誘電率（Ｆ／ｍｍ）を示す。］
【００６０】
したがって、感光層固有の誘電率εを予め求めておくことにより、静電容量分布から感光層の膜厚分布を求めることができる。ここで、一般的に膜厚分布の分布幅が２．０μｍ以下であれば、感光体１は優れた膜厚均一性を有していると評価することができ、感光体１は良好な画像特性を有していると見積ることができる。
【００６１】
また更に、本発明の評価装置は、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置４及び電流測定装置１１に電気的に接続された算出手段（図示せず）を有していてもよい。本発明の評価装置は、かかる算出手段によって、複数の測定部位のそれぞれで、表面電位と流入電流との関係から電子写真感光体における感光層の静電容量を算出し、電子写真感光体の上記感光層の静電容量分布を求める構成としてもよい。
【実施例】
【００６２】
以下、実施例及び比較例に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
【００６３】
［実施例１］
（評価装置の作製）
まず、図１及び２に示した評価装置を準備した。ここで、取り付け部材６における帯電装置３、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置３及び除電装置５の配置は、帯電装置３の位置を基準（０°）とし、感光体１の回転方向の下流側を「＋」の角度で表すと、第１の電位測定装置２を４５°、除電装置５を１８０°、第２の電位測定装置４を−４５°とした。この場合、感光体１の回転数を１００ｒｐｍとすると、帯電装置３から第１の電位測定装置２までの時間間隔は０．０７５秒となる。
【００６４】
また、第１の電位測定装置２及び第２の電位測定装置４は、電位測定プローブと表面電位計とで構成し、電位測定プローブとしてＭｏｄｅｌ ５５５Ｐ−１（トレック社製）を、表面電位計としてＭｏｄｅｌ ３３４（トレック社製）をそれぞれ用いた。また、電位測定プローブは、感光体１の表面から約２ｍｍ離した位置に設置し、このときの測定スポットサイズは１０ｍｍであった。
【００６５】
帯電装置３は、感光体１の軸方向における実行帯電幅が１５ｍｍのスコロトロンを用いた。すなわち、このスコロトロンの実行帯電幅は、第１の電位測定装置２の測定スポットサイズの１．５倍の大きさとなっている。また、スコロトロンは電源と接続しており、ワイヤー及びグリッドに任意の電圧を印加することが可能となっている。
【００６６】
除電装置５としては、光源としてハロゲンランプを使用し、波長６００ｎｍ以上の光のみを透過する赤フィルターを通して感光体１の表面に光源からの光を照射するものを用いた。なお、光量は約４０ｍＪ／ｍ２に設定した。
【００６７】
電流測定装置１１としては、Ｍｏｄｅｌ ６１４電流計（ケースレー社製）を用い、感光体１とアースとの間に接続した。
【００６８】
（電子写真感光体の作製）
酸化亜鉛（テイカ社製、平均粒子径７０ｎｍ、比表面積値１５ｍ２／ｇ）１００質量部をテトラヒドロフラン５００質量部と攪拌混合し、シランカップリング剤（ＫＢＭ６０３、信越化学社製）１．２５質量部を添加し、２時間攪拌した。その後、テトラヒドロフランを減圧蒸留にて留去し、１２０℃で３時間焼き付けを行い、表面処理酸化亜鉛顔料を得た。この表面処理酸化亜鉛顔料６０質量部とアリザリン１質量部とブロック化イソシアネート（スミジュールＢＬ３１７５、住友バイエルンウレタン社製）１３．５質量部とブチラール樹脂（エスレックＢＭ−１、積水化学社製）１５質量部をメチルエチルケトン８５質量部に溶解した樹脂溶液３８質量部とメチルエチルケトン２５質量部とを混合し、１ｍｍφのガラスビーズを用いてサンドミルにて２時間の分散を行い、分散液を得た。得られた分散液に、触媒としてジオクチルスズジラウレート０．００５質量部、及び、シリコーン樹脂粒子（トスパール１４５、ＧＥ東芝シリコーン社製）４．０質量部を添加し、下引層形成用塗布液を得た。この塗布液を、浸漬塗布法にてアルミニウム基材（直径３０ｍｍφ、長さ４０４ｍｍ）上に塗布し、１７０℃、４０分間の乾燥硬化を行い、膜厚２５μｍの下引層を形成した。
【００６９】
次に、電荷発生物質としての、Ｃｕｋα線を用いたＸ線回折スペクトルのブラッグ角度（２θ±０．２°）が少なくとも７．３゜、１６．０゜、２４．９゜及び２８．０゜の位置に回折ピークを有するヒドロキシガリウムフタロシアニン１５質量部、結着樹脂としての塩化ビニル・酢酸ビニル共重合体樹脂（ＶＭＣＨ、ユニオンカーバイト社製）１０質量部、並びに、ｎ−酢酸ブチル２００質量部からなる混合物を、１ｍｍφのガラスビーズを用いてサンドミルにて４時間分散し、分散液を得た。得られた分散液に、ｎ−酢酸ブチル１７５質量部、及び、メチルエチルケトン１８０質量部を添加し、攪拌して電荷発生層形成用塗布液を得た。この塗布液を上記下引層上に浸漬塗布し、常温で乾燥して、膜厚０．２μｍの電荷発生層を形成した。
【００７０】
次に、Ｎ，Ｎ’−ジフェニル−Ｎ，Ｎ’−ビス（３−メチルフェニル）−［１、１’］ビフェニル−４，４’−ジアミン４質量部、及び、ビスフェノールＺポリカーボネート樹脂（分子量４万）６質量部をテトラフドロフラン８０質量部に加えて溶解させ、電荷輸送層形成用塗布液を得た。この塗布液を上記電荷発生層上に浸漬塗布し、１１５℃、４０分間の乾燥を行うことにより、膜厚２７μｍの電荷輸送層を形成した。これにより電子写真感光体の作製を完了した。
【００７１】
（静電容量分布の測定）
上記電子写真感光体の静電容量分布を、上記構成を有する評価装置を用いて以下の手順で測定した。まず、帯電装置３であるスコロトロンのワイヤー電圧を−５ｋＶ、グリッド電圧を−６００Ｖに設定し、感光体１を回転モータ１０により回転数１００ｒｐｍで回転させながら、感光体１を自動ステージ１２により５ｍｍ／１回転の速度で感光体１の軸方向に移動させて、帯電、除電を行った。この間に、感光体１の帯電前後の電位、並びに、帯電時に感光体１に流れる電流（流入電流）を一定間隔の複数の測定部位（測定ポイント）のそれぞれで測定した。このときの測定ポイント数は、３７２０ポイント（周方向６０ポイント×軸方向６２ポイント）とした。測定データの取り込みは、感光体１の回転角度と同期させて行い、感光体１が６°回転するごとにデータの取り込みを行った。なお、上記一連の測定に要した測定時間は１分以内であった。
【００７２】
次に、一つ一つの測定部位で、下記式（Ｉ）を用いて流入電流Ｉから電荷Ｑを求めた。
Ｑ＝Ｉ／（Ｗ・Ｖｐ） （Ｉ）
［式（Ｉ）中、Ｑは電荷（Ｃ／ｍｍ）を示し、Ｉは流入電流（Ａ）を示し、Ｗは帯電装置の実行帯電幅（ｍｍ）を示し、Ｖｐ（ｍｍ／ｓｅｃ）は感光体のプロセススピードを示す。］
なお、本実施例において、上記Ｗは１５ｍｍであり、上記Ｖｐは１５７ｍｍ／ｓｅｃである。
【００７３】
また、一つ一つの測定部位で、表面電位Ｖは、感光体１に流れる電流に対応する電位とするために、帯電後の電位から帯電前の電位を減じた値として求めた。
【００７４】
こうして求めた電荷Ｑ及び表面電位Ｖから、一つ一つの測定部位で、下記式（ＩＩ）を用いて静電容量Ｃを求めた。
Ｑ＝Ｃ・Ｖ （ＩＩ）
［式（ＩＩ）中、Ｑは電荷（Ｃ／ｍｍ２）を示し、Ｖは表面電位（Ｖ）を示し、Ｃは静電容量（Ｆ／ｍｍ２）を示す。］
【００７５】
これにより、感光体１の画像領域の静電容量分布を求めた。得られた静電容量分布を図４に示す。図４においては、横軸に感光体１の一端からの軸方向への移動距離（ｍｍ）を、縦軸に感光体１の回転角度（ｄｅｇ）をとり、静電容量の大きさ毎に１０段階に色分けして、感光体１の静電容量分布を模式的に示している。この図４から明らかなように、感光体１の静電容量は１．０４８〜１．１０５ｐＦ／ｍｍ２（平均値：１．０６８ｐＦ／ｍｍ２）の比較的狭い範囲に分布しており、分布幅は０．０５７ｐＦ／ｍｍ２であった。
【００７６】
ここで、静電容量Ｃ（Ｆ／ｍｍ２）と感光層の膜厚Ｄ（ｍｍ）とは、下記式（ＩＩＩ）の関係を有している。
Ｃ＝ε／Ｄ （ＩＩＩ）
［式（ＩＩＩ）中、Ｃは静電容量（Ｆ／ｍｍ２）を示し、Ｄは感光層の膜厚（ｍｍ）を示し、εは感光層の誘電率（Ｆ／ｍｍ２）を示す。］
【００７７】
ここで、誘電率εは感光層の組成によって決まる値であるため、上記の静電容量分布から感光層の膜厚均一性を評価することができる。そして、上記静電容量分布の分布幅が０．０５７ｐＦ／ｍｍ２と小さいことから、上記電子写真感光体の感光層は、優れた膜厚均一性を有しており、感光体は良好な画像特性を有していると見積った。なお、静電容量分布の分布幅が０．０８ｐＦ／ｍｍ２以下であれば、電子写真感光体は、感光層の膜厚均一性が優れており、良好な画像特性を有していると見積ることができる。
【００７８】
［実施例２］
（静電容量分布の測定）
上記実施例１で評価した電子写真感光体の静電容量分布を、上記実施例１で使用した評価装置により、以下の手順で測定した。
【００７９】
＜測定１＞
まず、帯電装置３であるスコロトロンのワイヤー電圧を−５ｋＶ、グリッド電圧を−３００Ｖに設定し、感光体１を回転モータ１０により回転数１００ｒｐｍで回転させながら、感光体１を自動ステージ１２により５ｍｍ／１回転の速度で感光体１の軸方向に移動させて、帯電、除電を行った。この間に、感光体１の帯電後及び帯電前の電位、並びに、帯電時に感光体１に流れる電流（流入電流）を一定間隔の複数の測定部位（測定ポイント）のそれぞれで測定した。このときの測定ポイント数は、３７２０ポイント（周方向６０ポイント×軸方向６２ポイント）とした。測定データの取り込みは、感光体１の回転角度と同期させて行い、感光体１が６°回転するごとにデータの取り込みを行った。なお、上記一連の測定に要した測定時間は１分以内であった。
【００８０】
＜測定２＞
次に、帯電装置３であるスコロトロンのワイヤー電圧を−５ｋＶ、グリッド電圧を−６００Ｖに設定し、上記＜測定１＞と同様の手順で感光体１の帯電後及び帯電前の電位、並びに、帯電時に感光体１に流れる電流（流入電流）を上記＜測定１＞と同一の複数の測定部位（３７２０ポイント）のそれぞれで測定した。なお、上記一連の測定に要した測定時間は１分以内であった。
【００８１】
次に、上記＜測定１＞及び＜測定２＞のそれぞれの結果から、一つ一つの測定部位で、上記式（Ｉ）を用いて流入電流Ｉから電荷Ｑを求めた。
【００８２】
また、上記＜測定１＞及び＜測定２＞のそれぞれの結果から、一つ一つの測定部位で、表面電位Ｖを、帯電後の電位から帯電前の電位を減じた値として求めた。
【００８３】
こうして求めた電荷Ｑ及び表面電位Ｖ（各測定部位毎に２つずつ）を、図３に示すように横軸Ｖ、縦軸Ｑのグラフ上にプロットし、２つのプロット点を結ぶ直線の傾きを静電容量Ｃとして求めた。これにより、感光体１の画像領域静電容量分布を求めた。得られた静電容量分布を図５に示す。この図５から明らかなように、感光体１の静電容量は１．０１６〜１．０６１ｐＦ／ｍｍ２（平均値：１．０３２ｐＦ／ｍｍ２）の比較的狭い範囲に分布しており、分布幅は０．０４５ｐＦ／ｍｍ２であった。
【００８４】
（膜厚分布の測定）
上記式（ＩＩＩ）における誘電率εを以下の手順で求めた。まず、実施例１における上記（電子写真感光体の作製）と同様の手順で、アルミ基材上に下引層を形成した試料１を作製した。この試料１を用いて、下引層の膜厚を、渦電流方式の膜厚計（フィッシャースコープＭＭＳ、フィッシャー社製）を用いて測定した。その結果、下引層の膜厚は２５．１μｍであった。次に、上記試料１の下引層上に、実施例１における上記（電子写真感光体の作製）と同様の手順で、電荷発生層及び電荷輸送層を形成し、試料２を作製した。この試料２を用いて、アルミ基材表面から電荷輸送層表面までの膜厚を、渦電流方式の膜厚計（フィッシャースコープＭＭＳ、フィッシャー社製）を用いて測定した。その結果、アルミ基材表面から電荷輸送層表面までの膜厚は３２．２μｍであった。これらの結果から、感光層（電荷発生層及び電荷輸送層）の膜厚Ｄを算出し、膜厚Ｄは２７．１μｍであった。
【００８５】
また、上記試料２を用いて、上記（静電容量分布の測定）と同様の手順で、上記膜厚Ｄを測定した位置における静電容量Ｃを測定した。こうして求めた膜厚Ｄ及び静電容量Ｃを上記式（ＩＩＩ）に代入し、感光層の誘電率εを求めた。その結果εは０．０２８２ｐＦ／ｍｍであった。
【００８６】
こうして求めた誘電率εを上記式（ＩＩＩ）に代入し、そこへ上記（静電容量分布の測定）において求めた各測定部位毎の静電容量Ｃを代入することで、各測定部位毎の感光層の膜厚Ｄを求め、膜厚分布を求めた。得られた膜厚分布を図６に示す。この図６から明らかなように、感光体１の感光層の膜厚は２６．５〜２７．７μｍ（平均値：２７．３μｍ）の比較的狭い範囲に分布しており、分布幅は１．２μｍであった。このことから、上記電子写真感光体の感光層は、優れた膜厚均一性を有しており、感光体は良好な画像特性を有していると見積った。なお、膜厚分布の分布幅が２．０μｍ以下であれば、電子写真感光体は、感光層の膜厚均一性が優れており、良好な画像特性を有していると見積ることができる。
【００８７】
（画質評価試験）
実施例１における上記（電子写真感光体の作製）と同様の手順で、感光体を複数作製した。得られた複数の感光体のそれぞれについて、実施例１における上記（静電容量分布の測定）と同様の手順で静電容量分布を測定し、複数の感光体の中から、静電容量分布の分布幅が０．０８ｐＦ／ｍｍ２以下で、優れた膜厚均一性を有していると評価した感光体（サンプル１〜３）と、静電容量分布の分布幅が０．０８ｐＦ／ｍｍ２以上で、膜厚均一性が劣ると評価した感光体（サンプル４〜６）をそれぞれ３本ずつ選んだ。
【００８８】
次に、上記サンプル１〜６の膜厚分布測定を、従来の感光体の膜厚測定装置である渦電流方式の膜厚計（フィッシャースコープＭＭＳ、フィッシャー社製）を用いて行い、膜厚分布幅を求めた。なお、測定ポイント数は、実施例１における静電容量分布の測定と同じ、３７２０ポイント（周方向６０ポイント×軸方向６２ポイント）とした。このときの測定時間は４時間であった。この方法では、膜厚分布の分布幅が２μｍ以下であれば、感光体は優れた膜厚均一性を有していると評価することとし、これによりサンプル１〜６の優劣を評価した。
【００８９】
また、上記サンプル１〜６を、画像形成装置（ＤｏｃｕＣｅｎｔｒｅ Ｃｏｌｏｒ ４００ＣＰ、富士ゼロックス社製）に搭載し、ハーフトーン画像を出力して、ドラムピッチの色むら発生の有無を調べることで画質評価を行った。これらの結果を表１にまとめて示す。
【００９０】
【表１】
【００９１】
表１に示した結果から明らかなように、実施例１の評価方法による感光体の膜厚均一性の評価結果は、サンプル１〜６の全てのサンプルにおいて、画質評価による色むらの有無の評価結果と対応が取れていることが確認された。一方、従来の感光体の膜厚測定装置である渦電流方式の膜厚計による感光体の膜厚均一性の評価結果は、画質評価による色むらの有無の結果と対応が取れていないものがあることが確認された。また、測定ポイント数３７２０ポイント（周方向６０ポイント×軸方向６２ポイント）の測定時間は、実施例１の評価方法では１分以下であるのに対し、従来の膜厚測定装置である渦電流方式の膜厚計では約４時間かかった。
【００９２】
以上より、本発明の電子写真感光体の評価方法及び評価装置によれば、電子写真感光体の感光層の膜厚均一性を短時間で且つ精度良く評価することができ、それによって電子写真感光体の画像特性を見積ることができることが確認された。
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】本発明の電子写真感光体の評価装置の好適な一実施形態を示す説明図である。
【図２】図１に示した本発明の電子写真感光体の評価装置のＩ部の部分拡大断面図である。
【図３】表面電位Ｖと電荷Ｑとの関係から静電容量Ｃを求める手順を説明するためのグラフである。
【図４】実施例１の評価方法により求めた静電容量分布を示す模式図である。
【図５】実施例２の評価方法により求めた静電容量分布を示す模式図である。
【図６】実施例２の評価方法により求めた膜厚分布を示す模式図である。
【符号の説明】
【００９４】
１・・・電子写真感光体、２・・・第１の電位測定装置、３・・・帯電装置、４・・・第２の電位測定装置、５・・・除電装置、６・・・取り付け部材、７・・・ハウジング、８，９・・・支承部材、１０・・・回転モータ、１１・・・電流測定装置、１２・・・自動ステージ、１３・・・スライド台、１４・・・ハンドル。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真方式の画像形成に使用される電子写真感光体の評価方法及び評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、複写機、プリンター等の電子写真装置のカラー化が進んでおり、高画質化に対する要求が高まっている。一般的に、電子写真装置を用いた電子写真プロセスは、電子写真感光体（以下、場合により「感光体」と略す）を帯電させる工程、帯電した感光体を露光して静電潜像を形成させる工程、静電潜像を現像してトナー像を形成させる工程、並びにトナー像を感光体から被転写媒体に転写する工程を含んで行われるが、この電子写真プロセスにおいて、形成する画像の画質は、感光体の膜厚均一性に大きく依存する。すなわち、感光体の膜厚が十分に均一であり、膜厚のムラが十分に少なければ、感光体は良好な画像特性を得ることができ、高画質化を図ることが可能となる。したがって、新規な感光体の開発過程や、感光体の製造過程において、感光体の膜厚均一性を評価することは、形成画像の高画質化を図る上で極めて重要な項目の一つとなっている。
【０００３】
ここで、従来、感光体の膜厚を評価する方法としては、例えば、分光測定による干渉法、渦電流方式、及び、感光体のコンデンサとしての特性を利用し静電容量として評価する方法（例えば、特許文献１参照）等が考案されている。
【特許文献１】特開平１０−２８２０５７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、干渉法を用いて感光体の膜厚を測定する方法は、膜の外側と内側からの反射光を利用した方法であり、光を吸収する感光体に対しては好ましい方法ではない。そのため、感光体の膜厚を精度良く測定することができず、感光体の膜厚均一性を評価する方法としては不十分である。
【０００５】
また、渦電流方式による感光体膜厚の測定方法は、高周波の磁界により感光体を構成するアルミニウム製基材等の導電性支持体に渦電流を誘導し、感光体表面と基材との間隔を測定する方法であるため、光を吸収する感光体に対しても適用可能である。しかし、渦電流方式は接触式の測定方法であるため、感光体の膜厚分布を測定しようとした場合に長い測定時間を要するとともに、感光体表面が傷つきやすいという問題を有している。また、渦電流方式では、導電性の基材から感光体表面までの距離を検出するため、例えば、アルマイト加工した導電性支持体を用いた感光体や下引層を有する感光体を測定すると、アルマイト層や下引層を含んだ膜厚が測定されることとなり、目的とする感光層自体の膜厚を直接求めることができない。これらのことから、渦電流方式による感光体膜厚の測定方法は、感光体の膜厚均一性を評価する方法としては不十分である。
【０００６】
更に、感光体のコンデンサとしての特性を利用する方法は、感光体の表面に与える電荷量を変化させて、感光体の表面電位を測定し、そこからコンデンサとしての容量を計測して感光体の静電容量を算出する方法であるが、この方法は、感光体のある一部の領域で、表面電荷を変化させて繰り返し測定を行い、静電容量を求めるものであり、感光体の静電容量の面内分布を求めるものではない。したがって、かかる方法では、感光体の膜厚均一性を評価する方法としては不十分である。
【０００７】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、電子写真感光体における感光層の膜厚均一性を短時間で且つ精度良く評価することが可能な電子写真感光体の評価方法及び電子写真感光体の評価装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、導電性支持体と、該導電性支持体上に配置された感光層と、を備える略円筒状の電子写真感光体の評価方法であって、上記電子写真感光体と該電子写真感光体を帯電させるための帯電装置との少なくとも一方を、上記電子写真感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させ、帯電による上記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の上記電子写真感光体の表面電位を、前記電子写真感光体の外周面上の複数の測定部位について測定する測定ステップと、上記複数の測定部位のそれぞれで、上記表面電位と上記流入電流との関係から上記電子写真感光体における上記感光層の静電容量を算出し、上記電子写真感光体における上記感光層の静電容量分布を求める算出ステップと、上記静電容量分布に基づいて上記電子写真感光体の膜厚均一性を評価する評価ステップと、を有することを特徴とする電子写真感光体の評価方法を提供する。
【０００９】
かかる評価方法によれば、電子写真感光体と帯電装置とを感光体の周方向及び軸方向に沿って相対的に移動させながら螺旋状に感光体の表面電位及び流入電流を測定することにより、感光体における感光層の周方向及び軸方向の連続的な静電容量分布を短時間で効率的に且つ精度良く求めることができる。そして、この静電容量分布を用いることで、電子写真感光体の膜厚均一性を精度良く評価することができ、それによって電子写真感光体の画像特性を予測する（見積る）ことができる。
【００１０】
特に、感光体における感光層を浸漬塗布法により形成する場合、支持体をその軸方向が鉛直方向となるように支持し、これを感光層を形成するための塗工液に浸漬した後、軸方向に引き上げることで塗膜を形成するが、このとき塗工液に液だれが生じて支持体の軸方向下端部に液溜まりが形成され、塗膜の乾燥後に支持体下端部における感光層の膜厚が厚くなりやすい。このような場合を考慮すると、感光体における周方向の感光層の膜厚均一性はもちろんのこと、感光体の軸方向における感光層の膜厚均一性を評価することが極めて重要となってくる。本発明の評価方法によれば、上述のように感光体における感光層の静電容量を螺旋状に求めているため、周方向のみならず軸方向も含む感光体全体の連続的な静電容量分布を短時間で効率的に且つ精度良く求めることができ、周方向及び軸方向のいずれの方向に膜厚ムラがあってもこれを発見することができる。したがって、本発明の評価方法によれば、感光体の膜厚均一性を効率的に且つ極めて高い精度で評価することができ、それによって画像特性を見積ることができる。
【００１１】
また、本発明の電子写真感光体の評価方法は、上記測定ステップの前に、上記電子写真感光体を、該電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させるための回転駆動装置に装着し、上記電子写真感光体の外周部に、該電子写真感光体の回転方向に沿って少なくとも上記帯電装置、第１の電位測定装置、及び、除電装置をこの順に配置する配置ステップを更に有し、上記測定ステップは、上記電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させ、一定間隔の複数の測定部位のそれぞれで、上記帯電装置による帯電、上記第１の電位測定装置による帯電後の電位測定、及び、上記除電装置による除電を行い、帯電による上記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の上記電子写真感光体の表面電位を測定するステップであることが好ましい。
【００１２】
上記の帯電装置、第１の電位測定装置及び除電装置を用いて、上記の方法で表面電位及び流入電流を測定することにより、電子写真感光体における感光層の静電容量分布をより効率的に且つより精度良く測定することができる。そして、この静電容量分布に基づいて電子写真感光体の膜厚均一性をより精度良く評価することができ、それによって電子写真感光体の画像特性を見積ることができる。
【００１３】
更に、本発明の電子写真感光体の評価方法では、上記配置ステップにおいて、上記帯電装置よりも上記電子写真感光体の回転方向の上流側に第２の電位測定装置を更に配置し、上記測定ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで、上記第２の電位測定装置及び上記第１の電位測定装置により上記帯電装置による帯電前後の電位測定を行い、上記表面電位を、上記第１の電位測定装置により測定した帯電後の電位から上記第２の電位測定装置により測定した帯電前の電位を減じた値により求めることが好ましい。
【００１４】
本発明の評価方法においては、帯電、電位測定及び除電を繰り返し行って電子写真感光体の静電容量分布を測定するため、繰り返しの中で除電が不十分となる場合が生じる可能性がある。除電が不十分のまま次の帯電及び電位測定を行うと、帯電後の電位を上記表面電位とした場合、表面電位は前回の除電で除去されなかった電荷が加味された電位として測定されることとなる。これに対して、上記のように、複数の測定部位のそれぞれについて帯電前後で感光体の電位を測定し、表面電位を帯電後の電位から帯電前の電位を減じた値として求めると、除電が不十分となった場合であっても、前回の除電で除去されなかった電荷を含まない表面電位を求めることができる。そして、このようにして求めた表面電位と流入電流とから静電容量分布及び膜厚均一性を評価することにより、電子写真感光体の画像特性をより精度良く評価することができる。
【００１５】
ここで、上記帯電装置における上記電子写真感光体の軸方向の実行帯電幅は、上記第１の電位測定装置の測定スポットサイズの１〜３倍の大きさであることが好ましい。
【００１６】
帯電装置における実行帯電幅を上記範囲とすることにより、解像度の高いより正確な静電容量分布を求めることができる。ここで、帯電装置における実行帯電幅が第１の電位測定装置の測定スポットサイズの１倍未満であると、帯電が不安定になる傾向がある。一方、帯電装置における実行帯電幅が第１の電位測定装置の測定スポットサイズの３倍を超えると、感光体表面の電位を測定する範囲に対して帯電させる範囲が大きすぎるため、表面電位と流入電流との測定値が十分に対応せず、また、次の測定部位をも帯電させてしまい測定の精度を低下させてしまうこととなり、正確な静電容量分布を求めることが困難となる傾向にある。
【００１７】
また、上記測定ステップにおいて、上記帯電装置による帯電を行ってから０．１秒以内に上記第１の電位測定装置による帯電後の電位測定を行うことが好ましい。
【００１８】
このように、帯電後０．１秒以内に電位測定を行うことにより、帯電後の暗減衰による電位低下の影響を十分に抑制することができ、より精度の高い静電容量分布を求めることができる。
【００１９】
また、本発明の電子写真感光体の評価方法では、上記測定ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで、上記表面電位及び上記流入電流を上記帯電装置の帯電条件を変えて複数回測定し、上記算出ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで、複数の上記表面電位と対応する上記流入電流との関係から上記感光層の静電容量を算出することが好ましい。
【００２０】
これにより、複数の測定部位のそれぞれで、感光層の静電容量及び膜厚をより高い精度で求めることができる。そのため、電子写真感光体の膜厚均一性をより高い精度で評価することができ、それによって画像特性を見積ることができる。
【００２１】
また、本発明の電子写真感光体の評価方法において、上記帯電装置は、非接触方式の帯電装置であることが好ましい。
【００２２】
これにより、電子写真感光体表面を傷つけることなく、より短時間で電子写真感光体の画像特性を見積ることができる。
【００２３】
また、本発明の電子写真感光体の評価方法において、上記評価ステップは、上記静電容量分布に基づいて上記電子写真感光体の上記感光層の膜厚分布を求め、上記膜厚分布に基づいて上記電子写真感光体の膜厚均一性を評価するステップであることが好ましい。これにより、膜厚均一性の評価をより簡易に且つより正確に行うことができる。
【００２４】
本発明はまた、導電性支持体と、該導電性支持体上に配置された感光層と、を備える略円筒状の電子写真感光体を評価するための評価装置であって、上記電子写真感光体と該電子写真感光体を帯電させるための帯電装置との少なくとも一方を、上記電子写真感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させる駆動手段と、帯電による上記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の上記電子写真感光体の表面電位を複数の測定部位について測定するための測定手段と、を有することを特徴とする電子写真感光体の評価装置を提供する。
【００２５】
ここで、上記駆動手段は、上記電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させるための回転駆動装置を含み、上記測定手段は、上記電子写真感光体の外周部に配置された上記帯電装置と、上記電子写真感光体の外周部であって上記帯電装置よりも上記電子写真感光体の回転方向の下流側に配置された、上記電子写真感光体の帯電後の電位を測定するための第１の電位測定装置と、上記電子写真感光体の外周部であって上記第１の電位測定装置よりも上記電子写真感光体の回転方向の下流側に配置された、上記電子写真感光体表面の電荷を除電するための除電装置と、上記導電性支持体に電気的に接続された、上記帯電装置による帯電時の上記電子写真感光体への流入電流を測定するための電流測定装置と、を含むことが好ましい。
【００２６】
また、上記測定手段は、上記電子写真感光体の外周部であって上記帯電装置よりも上記電子写真感光体の回転方向の上流側に配置された、上記電子写真感光体の帯電前の電位を測定するための第２の電位測定装置を更に含み、上記複数の測定部位のそれぞれにおける上記電子写真感光体の上記表面電位を、上記第１の電位測定装置により測定した帯電後の電位から上記第２の電位測定装置により測定した帯電前の電位を減じた値により求める手段であることが好ましい。
【００２７】
また、本発明の評価装置は、上記複数の測定部位のそれぞれで、上記表面電位と上記流入電流との関係から上記電子写真感光体における上記感光層の静電容量を算出し、上記電子写真感光体における上記感光層の静電容量分布を求めるための算出手段を更に有することが好ましい。
【００２８】
これらの評価装置によれば、上述した本発明の評価方法による電子写真感光体の評価を短時間で効率的に且つ精度良く行なうことができ、感光体における感光層の膜厚均一性を精度良く評価し、それによって画像特性を見積ることができる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、電子写真感光体における感光層の膜厚均一性を短時間で且つ精度良く評価することができ、それによって電子写真感光体の画像特性を見積ることが可能な電子写真感光体の評価方法及び電子写真感光体の評価装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、以下の説明では、同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
【００３１】
図１は、本発明の電子写真感光体の評価装置の好適な一実施形態を示す説明図であり、図２は、図１に示した評価装置のＩ部の部分拡大断面図である。図１及び２に示すように、評価対象となる電子写真感光体１は、評価装置１００のハウジング７内にセットされ、感光体１の外周部には、ハウジング７の底部に固定された環状の取り付け部材６を介して、第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５がセットされている。
【００３２】
ここで、感光体１はその一端が支承部８に固定され、その後、支承部９が設置されたスライド台１３を、ハンドル１４の操作により図１中の矢印Ａの方向に移動させることにより、感光体ドラム１の他端が支承部９によって固定される。一方の支承部８は回転モータ１０に連動して、感光体１を図２中の矢印Ｂの方向に回転可能となっており、回転数は任意に設定することができる。また、感光体１を構成する導電性支持体は、支承部８を介して電流測定装置１１に電気的に接続されており、これによって帯電時の感光体１への流入電流を測定することが可能となっている。更に、電流測定装置１１はアースに接続されている。
【００３３】
また、支承部８，９及び回転モータ１０は、感光体１の軸方向に往復移動する自動ステージ１２上に設置されており、これによって取り付け部材６に取り付けられた第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５に対して、感光体１をその軸方向に移動させることが可能となっている。
【００３４】
また、第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５のそれぞれは、感光体１の直径が異なる場合でも、感光体１の表面と一定の間隔をもって配置できるように、感光体１表面の法線方向に進退可能に取り付け部材６に取り付けられている。更に、第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５のそれぞれは、感光体１の周方向に位置調節が可能となるように取り付け部材６に取り付けられている。
【００３５】
以下、上記評価装置１００の各構成要素について説明する。
【００３６】
評価対象となる感光体１は、詳細は図示しないが、略円筒状の導電性支持体の外周面に感光層が形成されたものである。感光体１の感光層は、電荷発生物質、電荷輸送物質、あるいはさらにこれらの物質を分散させる結着樹脂を含んで構成される。感光層は、電荷発生物質を含む層（電荷発生層）と電荷輸送物質を含む層（電荷輸送層）とが別個に設けられた機能分離型感光層であってもよく、電荷発生物質及び電荷輸送物質の双方を含む単層型感光層であってもよい。また、感光体１は、支持体と感光層との間に下引層を、感光層の表面（基体と反対側）に保護層を、それぞれ備えていてもよい。
【００３７】
帯電装置３は、感光体１を帯電させるものであり、帯電ロールや帯電ブラシ等を用いた接触型帯電装置、及び、コロナ放電を利用したスコロトロン帯電装置やコロトロン帯電装置等の非接触型帯電装置といった公知の帯電装置を特に制限なく用いることができる。これらの中でも感光体１の表面を傷つけることなく、短時間で感光体１の膜厚均一性を評価することができることから、非接触型帯電装置を用いることが好ましい。
【００３８】
第１の電位測定装置２及び第２の電位測定装置４は、感光体１表面の電位を測定するものであり、第２の電位測定装置４は上記帯電装置３による帯電前の電位を、第１の電位測定装置２は上記帯電装置３による帯電後の電位を測定するものである。第１の電位測定装置２及び第２の電位測定装置４は、例えば、電位測定プローブと表面電位計とで構成される。
【００３９】
除電装置５は、帯電装置３により帯電した感光体１の表面に光を照射し、感光体１表面の残留電荷を除電するためのものである。除電装置５の光源としては、例えば、ハロゲンランプ、ＬＥＤ等を用いることができる。
【００４０】
電流測定装置１１は、上記帯電装置３による帯電時に感光体１に流れる電流を測定するものであり、感光体１の導電性支持体とアースとの間に電気的に接続される。かかる電流測定装置１１としては、公知の電流計を特に制限なく使用することができる。
【００４１】
ハウジング７の材質は特に制限されず、金属、プラスチック等を用いることができる。なお、感光体１の画像特性の評価の精度を高める観点から、評価装置１００内を遮光した状態で評価を行うことが好ましく、したがって、ハウジング７は遮光性の材料により形成されていることが好ましい。具体的には、ハウジング７は、鉄板等の金属で形成されていることが好ましい。
【００４２】
評価装置１００には、更に制御ユニット（図示されていない）が内蔵されており、感光体１の回転数や帯電条件等をコントロールすることが可能となっている。
【００４３】
上記構成を有する評価装置１００を用いて感光体１の評価を行う場合、まず、感光体１を上記評価装置１００の支承部８，９に取り付け、感光体１の外周部に、該感光体１の回転方向に沿って第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２、及び、除電装置５をこの順に配置する（配置ステップ）。次に、感光体１を回転モータ１０により回転させながら、感光体１を自動ステージ１２により感光体１の軸方向に移動させ、これに合わせて感光体１の複数の測定部位のそれぞれで、第２の電位測定装置４による帯電前の感光体１表面の電位の測定、帯電装置３による帯電、電流測定装置１１による帯電時の感光体１への流入電流の測定、第１の電位測定装置２による帯電後の感光体１表面の電位の測定、及び、除電装置５による除電を行う（測定ステップ）。次に、上記複数の測定部位のそれぞれで、表面電位を帯電後の電位から帯電前の電位を減じた値として求め、得られた表面電位と流入電流との関係から、感光体１における感光層の静電容量を算出し、感光体１における感光層の静電容量分布を求める（算出ステップ）。次に、上記静電容量分布に基づいて感光体１の膜厚均一性を評価する（評価ステップ）。
【００４４】
以下、各ステップについて詳細に説明する。
【００４５】
配置ステップにおいて、第２の電位測定装置４、帯電装置３、第１の電位測定装置２及び除電装置５のそれぞれの配置は、帯電装置３の位置を基準（０°）として、感光体１の回転方向Ｂの下流側を「＋」の角度で表した場合、以下の配置とすることが好ましい。すなわち、第１の電位測定装置２の位置は１５〜７５°であることが好ましく、４５°程度であることがより好ましい。除電装置５の位置は１５０〜２１０°であることが好ましく、１８０°程度であることがより好ましい。第２の電位測定装置４の位置は−１５〜−７５°であることが好ましく、−４５°程度であることがより好ましい。第１の電位測定装置２の位置が上記範囲内の位置であることにより、帯電装置３により感光体１の帯電を行ってから第１の電位測定装置２により感光体１表面の電位を測定するまでの時間間隔を十分に短くすることができ、帯電後の暗減衰による電位低下の影響を十分に抑制することができる。これにより、より精度の高い静電容量分布を求めることができる。
【００４６】
また、配置ステップにおいて、第１の電位測定装置２及び第２の電位測定装置４における電位測定プローブは、感光体１の表面から０．５〜５．０ｍｍ離した位置に設置することが好ましい。また、測定スポットサイズは１．０〜２０．０ｍｍとすることが好ましい。
【００４７】
測定ステップにおいて、回転モータ１０による感光体１の回転数は、５０〜１５０ｒｐｍとすることが好ましい。また、上記回転数及び上記第１の電位測定装置２の位置を調整することにより、帯電装置３による帯電を行ってから０．１秒以内に第１の電位測定装置２による帯電後の電位測定を行うようにすることが好ましい。例えば、上記第１の電位測定装置２の位置が帯電装置３に対して４５°である場合、上記回転数を１００ｒｐｍとすることにより、帯電装置３による帯電から第１の電位測定装置２による電位測定までの時間間隔を０．０７５秒とすることができ、暗減衰による感光体１表面の電位低下の影響を十分に抑制することができる。
【００４８】
また、測定ステップにおいて、自動ステージ１２による感光体１の軸方向への移動速度は、１．０〜２０．０ｍｍ／１回転とすることが好ましい。かかる移動速度及び上記の回転数で感光体１を螺旋状に測定することにより、感光体１の感光層の静電容量分布を短時間で効率的に且つ精度良く求めることができる。
【００４９】
また、測定ステップにおいて、帯電装置３における感光体１の軸方向の実行帯電幅は、第１の電位測定装置２の測定スポットサイズの１〜３倍の大きさとすることが好ましく、１〜１．５倍の大きさとすることがより好ましい。上記実行帯電幅が上記測定スポットサイズの１倍未満であると、帯電が不安定になる傾向がある。一方、上記実行帯電幅が上記測定スポットサイズの３倍を超えると、感光体１表面の電位を測定する範囲に対して帯電させる範囲が大きすぎるため、表面電位と流入電流との測定値が十分に対応せず、また、次の測定部位をも帯電させてしまい測定の精度を低下させてしまうこととなり、正確な静電容量分布を求めることが困難となる傾向にある。
【００５０】
また、測定ステップにおいて、帯電装置３により感光体１を帯電させる際の帯電条件は特に制限されないが、例えば、帯電装置３としてスコロトロンを用いる場合には、ワイヤー電圧を３．０〜７．０ｋＶ、グリッド電圧を０．１〜２．０ｋＶとすることが好ましい。
【００５１】
更に、測定ステップにおいて、除電装置５により照射する光の波長は６００〜８００ｎｍとすることが好ましい。また、照射光量は２０〜６０ｍＪ／ｍ２とすることが好ましい。このような条件で除電を行うことにより、感光体１表面の電荷を効率的に除去することができる。
【００５２】
算出ステップにおいては、上記複数の測定部位のそれぞれで、表面電位と流入電流との関係から感光層の静電容量を算出し、感光体１の感光層の静電容量分布を求める。このとき、まず複数の測定部位のそれぞれにおいて、下記式（Ｉ）を用いて流入電流Ｉから電荷Ｑを算出する。
Ｑ＝Ｉ／（Ｗ・Ｖｐ） （Ｉ）
［式（Ｉ）中、Ｑは電荷（Ｃ／ｍｍ２）を示し、Ｉは流入電流（Ａ）を示し、Ｗは帯電装置の実行帯電幅（ｍｍ）を示し、Ｖｐ（ｍｍ／ｓｅｃ）は感光体のプロセススピードを示す。］
【００５３】
こうして求めた電荷Ｑ及び表面電位Ｖから、複数の測定部位のそれぞれにおいて、下記式（ＩＩ）を用いて静電容量Ｃ（Ｆ／ｍｍ２）を求める。
Ｑ＝Ｃ・Ｖ （ＩＩ）
［式（ＩＩ）中、Ｑは電荷（Ｃ／ｍｍ２）を示し、Ｖは表面電位（Ｖ）を示し、Ｃは静電容量（Ｆ／ｍｍ２）を示す。］
これにより、感光体１の静電容量分布を求めることができる。
【００５４】
評価ステップにおいては、上記算出ステップで求めた静電容量分布に基づいて感光体１の膜厚均一性を評価する。ここで、一般的に静電容量分布の分布幅が０．０８ｐＦ／ｍｍ２以下であれば、感光体１は優れた膜厚均一性を有していると見積ることができ、感光体１は良好な画像特性を有していると評価することができる。
【００５５】
以上、本発明の電子写真感光体の評価方法及び評価装置の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。例えば、上記評価装置１００及びこれを用いた評価方法においては、帯電装置３よりも感光体１の回転方向の上流側に第２の電位測定装置４を配置した構成を示したが、本発明の評価装置１００は第２の電位測定装置４を備えていなくてもよく、本発明の評価方法は第２の電位測定装置４による帯電前の電位測定を行わずに感光体１の評価を行ってもよい。
【００５６】
また、上記評価装置１００及びこれを用いた評価方法においては、帯電装置３、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置４及び除電装置５を動かさずに、感光体１を回転させつつ軸方向に移動させる構成となっているが、本発明の評価方法及び評価装置においては、感光体１と、帯電装置３、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置４及び除電装置５とが、感光体１の周方向及び軸方向に相対的に移動するような構成となっていればよい。したがって、本発明の評価方法及び評価装置は、例えば、感光体１を動かさずに、帯電装置３、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置４及び除電装置５を感光体１の周方向及び軸方向に移動させる構成となっていてもよい。
【００５７】
また、本発明の評価方法では、上記測定ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで表面電位及び流入電流を帯電装置３の帯電条件を変えて複数回測定し、上記算出ステップにおいて、上記複数の測定部位のそれぞれで、複数の表面電位と対応する流入電流との関係から感光層の静電容量を算出する方法を用いてもよい。
【００５８】
この場合、まず上記式（Ｉ）を用いて流入電流Ｉから電荷Ｑを算出した後、複数の測定部位のそれぞれで、複数測定した表面電位及びそれに対応する電荷を、図３に示すように、横軸に表面電位Ｖを、縦軸に電荷Ｑをとったグラフ上にプロットし、複数のプロット点を結んだ直線Ｌ１の傾きから静電容量Ｃを求める。かかる算出方法を用いることにより、複数の測定部位のそれぞれにおける感光層の静電容量をより高い精度で求めることができる。そのため、感光体１の感光層の膜厚均一性をより精度良く評価することができる。なお、１つの帯電条件のみで表面電位及び電荷を測定して静電容量を求める場合は、図３中の直線Ｌ２の傾きを求めることになる。
【００５９】
更に、本発明の評価方法では、上記評価ステップにおいて、上記静電容量分布に基づいて感光体１の感光層の膜厚分布を求め、この膜厚分布に基づいて感光体１の膜厚均一性を評価してもよい。ここで、静電容量Ｃと感光層の膜厚Ｄとは、下記式（ＩＩＩ）の関係を有している。
Ｃ＝ε／Ｄ （ＩＩＩ）
［式（ＩＩＩ）中、Ｃは静電容量（Ｆ／ｍｍ２）を示し、Ｄは感光層の膜厚（ｍｍ）を示し、εは感光層の誘電率（Ｆ／ｍｍ）を示す。］
【００６０】
したがって、感光層固有の誘電率εを予め求めておくことにより、静電容量分布から感光層の膜厚分布を求めることができる。ここで、一般的に膜厚分布の分布幅が２．０μｍ以下であれば、感光体１は優れた膜厚均一性を有していると評価することができ、感光体１は良好な画像特性を有していると見積ることができる。
【００６１】
また更に、本発明の評価装置は、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置４及び電流測定装置１１に電気的に接続された算出手段（図示せず）を有していてもよい。本発明の評価装置は、かかる算出手段によって、複数の測定部位のそれぞれで、表面電位と流入電流との関係から電子写真感光体における感光層の静電容量を算出し、電子写真感光体の上記感光層の静電容量分布を求める構成としてもよい。
【実施例】
【００６２】
以下、実施例及び比較例に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
【００６３】
［実施例１］
（評価装置の作製）
まず、図１及び２に示した評価装置を準備した。ここで、取り付け部材６における帯電装置３、第１の電位測定装置２、第２の電位測定装置３及び除電装置５の配置は、帯電装置３の位置を基準（０°）とし、感光体１の回転方向の下流側を「＋」の角度で表すと、第１の電位測定装置２を４５°、除電装置５を１８０°、第２の電位測定装置４を−４５°とした。この場合、感光体１の回転数を１００ｒｐｍとすると、帯電装置３から第１の電位測定装置２までの時間間隔は０．０７５秒となる。
【００６４】
また、第１の電位測定装置２及び第２の電位測定装置４は、電位測定プローブと表面電位計とで構成し、電位測定プローブとしてＭｏｄｅｌ ５５５Ｐ−１（トレック社製）を、表面電位計としてＭｏｄｅｌ ３３４（トレック社製）をそれぞれ用いた。また、電位測定プローブは、感光体１の表面から約２ｍｍ離した位置に設置し、このときの測定スポットサイズは１０ｍｍであった。
【００６５】
帯電装置３は、感光体１の軸方向における実行帯電幅が１５ｍｍのスコロトロンを用いた。すなわち、このスコロトロンの実行帯電幅は、第１の電位測定装置２の測定スポットサイズの１．５倍の大きさとなっている。また、スコロトロンは電源と接続しており、ワイヤー及びグリッドに任意の電圧を印加することが可能となっている。
【００６６】
除電装置５としては、光源としてハロゲンランプを使用し、波長６００ｎｍ以上の光のみを透過する赤フィルターを通して感光体１の表面に光源からの光を照射するものを用いた。なお、光量は約４０ｍＪ／ｍ２に設定した。
【００６７】
電流測定装置１１としては、Ｍｏｄｅｌ ６１４電流計（ケースレー社製）を用い、感光体１とアースとの間に接続した。
【００６８】
（電子写真感光体の作製）
酸化亜鉛（テイカ社製、平均粒子径７０ｎｍ、比表面積値１５ｍ２／ｇ）１００質量部をテトラヒドロフラン５００質量部と攪拌混合し、シランカップリング剤（ＫＢＭ６０３、信越化学社製）１．２５質量部を添加し、２時間攪拌した。その後、テトラヒドロフランを減圧蒸留にて留去し、１２０℃で３時間焼き付けを行い、表面処理酸化亜鉛顔料を得た。この表面処理酸化亜鉛顔料６０質量部とアリザリン１質量部とブロック化イソシアネート（スミジュールＢＬ３１７５、住友バイエルンウレタン社製）１３．５質量部とブチラール樹脂（エスレックＢＭ−１、積水化学社製）１５質量部をメチルエチルケトン８５質量部に溶解した樹脂溶液３８質量部とメチルエチルケトン２５質量部とを混合し、１ｍｍφのガラスビーズを用いてサンドミルにて２時間の分散を行い、分散液を得た。得られた分散液に、触媒としてジオクチルスズジラウレート０．００５質量部、及び、シリコーン樹脂粒子（トスパール１４５、ＧＥ東芝シリコーン社製）４．０質量部を添加し、下引層形成用塗布液を得た。この塗布液を、浸漬塗布法にてアルミニウム基材（直径３０ｍｍφ、長さ４０４ｍｍ）上に塗布し、１７０℃、４０分間の乾燥硬化を行い、膜厚２５μｍの下引層を形成した。
【００６９】
次に、電荷発生物質としての、Ｃｕｋα線を用いたＸ線回折スペクトルのブラッグ角度（２θ±０．２°）が少なくとも７．３゜、１６．０゜、２４．９゜及び２８．０゜の位置に回折ピークを有するヒドロキシガリウムフタロシアニン１５質量部、結着樹脂としての塩化ビニル・酢酸ビニル共重合体樹脂（ＶＭＣＨ、ユニオンカーバイト社製）１０質量部、並びに、ｎ−酢酸ブチル２００質量部からなる混合物を、１ｍｍφのガラスビーズを用いてサンドミルにて４時間分散し、分散液を得た。得られた分散液に、ｎ−酢酸ブチル１７５質量部、及び、メチルエチルケトン１８０質量部を添加し、攪拌して電荷発生層形成用塗布液を得た。この塗布液を上記下引層上に浸漬塗布し、常温で乾燥して、膜厚０．２μｍの電荷発生層を形成した。
【００７０】
次に、Ｎ，Ｎ’−ジフェニル−Ｎ，Ｎ’−ビス（３−メチルフェニル）−［１、１’］ビフェニル−４，４’−ジアミン４質量部、及び、ビスフェノールＺポリカーボネート樹脂（分子量４万）６質量部をテトラフドロフラン８０質量部に加えて溶解させ、電荷輸送層形成用塗布液を得た。この塗布液を上記電荷発生層上に浸漬塗布し、１１５℃、４０分間の乾燥を行うことにより、膜厚２７μｍの電荷輸送層を形成した。これにより電子写真感光体の作製を完了した。
【００７１】
（静電容量分布の測定）
上記電子写真感光体の静電容量分布を、上記構成を有する評価装置を用いて以下の手順で測定した。まず、帯電装置３であるスコロトロンのワイヤー電圧を−５ｋＶ、グリッド電圧を−６００Ｖに設定し、感光体１を回転モータ１０により回転数１００ｒｐｍで回転させながら、感光体１を自動ステージ１２により５ｍｍ／１回転の速度で感光体１の軸方向に移動させて、帯電、除電を行った。この間に、感光体１の帯電前後の電位、並びに、帯電時に感光体１に流れる電流（流入電流）を一定間隔の複数の測定部位（測定ポイント）のそれぞれで測定した。このときの測定ポイント数は、３７２０ポイント（周方向６０ポイント×軸方向６２ポイント）とした。測定データの取り込みは、感光体１の回転角度と同期させて行い、感光体１が６°回転するごとにデータの取り込みを行った。なお、上記一連の測定に要した測定時間は１分以内であった。
【００７２】
次に、一つ一つの測定部位で、下記式（Ｉ）を用いて流入電流Ｉから電荷Ｑを求めた。
Ｑ＝Ｉ／（Ｗ・Ｖｐ） （Ｉ）
［式（Ｉ）中、Ｑは電荷（Ｃ／ｍｍ）を示し、Ｉは流入電流（Ａ）を示し、Ｗは帯電装置の実行帯電幅（ｍｍ）を示し、Ｖｐ（ｍｍ／ｓｅｃ）は感光体のプロセススピードを示す。］
なお、本実施例において、上記Ｗは１５ｍｍであり、上記Ｖｐは１５７ｍｍ／ｓｅｃである。
【００７３】
また、一つ一つの測定部位で、表面電位Ｖは、感光体１に流れる電流に対応する電位とするために、帯電後の電位から帯電前の電位を減じた値として求めた。
【００７４】
こうして求めた電荷Ｑ及び表面電位Ｖから、一つ一つの測定部位で、下記式（ＩＩ）を用いて静電容量Ｃを求めた。
Ｑ＝Ｃ・Ｖ （ＩＩ）
［式（ＩＩ）中、Ｑは電荷（Ｃ／ｍｍ２）を示し、Ｖは表面電位（Ｖ）を示し、Ｃは静電容量（Ｆ／ｍｍ２）を示す。］
【００７５】
これにより、感光体１の画像領域の静電容量分布を求めた。得られた静電容量分布を図４に示す。図４においては、横軸に感光体１の一端からの軸方向への移動距離（ｍｍ）を、縦軸に感光体１の回転角度（ｄｅｇ）をとり、静電容量の大きさ毎に１０段階に色分けして、感光体１の静電容量分布を模式的に示している。この図４から明らかなように、感光体１の静電容量は１．０４８〜１．１０５ｐＦ／ｍｍ２（平均値：１．０６８ｐＦ／ｍｍ２）の比較的狭い範囲に分布しており、分布幅は０．０５７ｐＦ／ｍｍ２であった。
【００７６】
ここで、静電容量Ｃ（Ｆ／ｍｍ２）と感光層の膜厚Ｄ（ｍｍ）とは、下記式（ＩＩＩ）の関係を有している。
Ｃ＝ε／Ｄ （ＩＩＩ）
［式（ＩＩＩ）中、Ｃは静電容量（Ｆ／ｍｍ２）を示し、Ｄは感光層の膜厚（ｍｍ）を示し、εは感光層の誘電率（Ｆ／ｍｍ２）を示す。］
【００７７】
ここで、誘電率εは感光層の組成によって決まる値であるため、上記の静電容量分布から感光層の膜厚均一性を評価することができる。そして、上記静電容量分布の分布幅が０．０５７ｐＦ／ｍｍ２と小さいことから、上記電子写真感光体の感光層は、優れた膜厚均一性を有しており、感光体は良好な画像特性を有していると見積った。なお、静電容量分布の分布幅が０．０８ｐＦ／ｍｍ２以下であれば、電子写真感光体は、感光層の膜厚均一性が優れており、良好な画像特性を有していると見積ることができる。
【００７８】
［実施例２］
（静電容量分布の測定）
上記実施例１で評価した電子写真感光体の静電容量分布を、上記実施例１で使用した評価装置により、以下の手順で測定した。
【００７９】
＜測定１＞
まず、帯電装置３であるスコロトロンのワイヤー電圧を−５ｋＶ、グリッド電圧を−３００Ｖに設定し、感光体１を回転モータ１０により回転数１００ｒｐｍで回転させながら、感光体１を自動ステージ１２により５ｍｍ／１回転の速度で感光体１の軸方向に移動させて、帯電、除電を行った。この間に、感光体１の帯電後及び帯電前の電位、並びに、帯電時に感光体１に流れる電流（流入電流）を一定間隔の複数の測定部位（測定ポイント）のそれぞれで測定した。このときの測定ポイント数は、３７２０ポイント（周方向６０ポイント×軸方向６２ポイント）とした。測定データの取り込みは、感光体１の回転角度と同期させて行い、感光体１が６°回転するごとにデータの取り込みを行った。なお、上記一連の測定に要した測定時間は１分以内であった。
【００８０】
＜測定２＞
次に、帯電装置３であるスコロトロンのワイヤー電圧を−５ｋＶ、グリッド電圧を−６００Ｖに設定し、上記＜測定１＞と同様の手順で感光体１の帯電後及び帯電前の電位、並びに、帯電時に感光体１に流れる電流（流入電流）を上記＜測定１＞と同一の複数の測定部位（３７２０ポイント）のそれぞれで測定した。なお、上記一連の測定に要した測定時間は１分以内であった。
【００８１】
次に、上記＜測定１＞及び＜測定２＞のそれぞれの結果から、一つ一つの測定部位で、上記式（Ｉ）を用いて流入電流Ｉから電荷Ｑを求めた。
【００８２】
また、上記＜測定１＞及び＜測定２＞のそれぞれの結果から、一つ一つの測定部位で、表面電位Ｖを、帯電後の電位から帯電前の電位を減じた値として求めた。
【００８３】
こうして求めた電荷Ｑ及び表面電位Ｖ（各測定部位毎に２つずつ）を、図３に示すように横軸Ｖ、縦軸Ｑのグラフ上にプロットし、２つのプロット点を結ぶ直線の傾きを静電容量Ｃとして求めた。これにより、感光体１の画像領域静電容量分布を求めた。得られた静電容量分布を図５に示す。この図５から明らかなように、感光体１の静電容量は１．０１６〜１．０６１ｐＦ／ｍｍ２（平均値：１．０３２ｐＦ／ｍｍ２）の比較的狭い範囲に分布しており、分布幅は０．０４５ｐＦ／ｍｍ２であった。
【００８４】
（膜厚分布の測定）
上記式（ＩＩＩ）における誘電率εを以下の手順で求めた。まず、実施例１における上記（電子写真感光体の作製）と同様の手順で、アルミ基材上に下引層を形成した試料１を作製した。この試料１を用いて、下引層の膜厚を、渦電流方式の膜厚計（フィッシャースコープＭＭＳ、フィッシャー社製）を用いて測定した。その結果、下引層の膜厚は２５．１μｍであった。次に、上記試料１の下引層上に、実施例１における上記（電子写真感光体の作製）と同様の手順で、電荷発生層及び電荷輸送層を形成し、試料２を作製した。この試料２を用いて、アルミ基材表面から電荷輸送層表面までの膜厚を、渦電流方式の膜厚計（フィッシャースコープＭＭＳ、フィッシャー社製）を用いて測定した。その結果、アルミ基材表面から電荷輸送層表面までの膜厚は３２．２μｍであった。これらの結果から、感光層（電荷発生層及び電荷輸送層）の膜厚Ｄを算出し、膜厚Ｄは２７．１μｍであった。
【００８５】
また、上記試料２を用いて、上記（静電容量分布の測定）と同様の手順で、上記膜厚Ｄを測定した位置における静電容量Ｃを測定した。こうして求めた膜厚Ｄ及び静電容量Ｃを上記式（ＩＩＩ）に代入し、感光層の誘電率εを求めた。その結果εは０．０２８２ｐＦ／ｍｍであった。
【００８６】
こうして求めた誘電率εを上記式（ＩＩＩ）に代入し、そこへ上記（静電容量分布の測定）において求めた各測定部位毎の静電容量Ｃを代入することで、各測定部位毎の感光層の膜厚Ｄを求め、膜厚分布を求めた。得られた膜厚分布を図６に示す。この図６から明らかなように、感光体１の感光層の膜厚は２６．５〜２７．７μｍ（平均値：２７．３μｍ）の比較的狭い範囲に分布しており、分布幅は１．２μｍであった。このことから、上記電子写真感光体の感光層は、優れた膜厚均一性を有しており、感光体は良好な画像特性を有していると見積った。なお、膜厚分布の分布幅が２．０μｍ以下であれば、電子写真感光体は、感光層の膜厚均一性が優れており、良好な画像特性を有していると見積ることができる。
【００８７】
（画質評価試験）
実施例１における上記（電子写真感光体の作製）と同様の手順で、感光体を複数作製した。得られた複数の感光体のそれぞれについて、実施例１における上記（静電容量分布の測定）と同様の手順で静電容量分布を測定し、複数の感光体の中から、静電容量分布の分布幅が０．０８ｐＦ／ｍｍ２以下で、優れた膜厚均一性を有していると評価した感光体（サンプル１〜３）と、静電容量分布の分布幅が０．０８ｐＦ／ｍｍ２以上で、膜厚均一性が劣ると評価した感光体（サンプル４〜６）をそれぞれ３本ずつ選んだ。
【００８８】
次に、上記サンプル１〜６の膜厚分布測定を、従来の感光体の膜厚測定装置である渦電流方式の膜厚計（フィッシャースコープＭＭＳ、フィッシャー社製）を用いて行い、膜厚分布幅を求めた。なお、測定ポイント数は、実施例１における静電容量分布の測定と同じ、３７２０ポイント（周方向６０ポイント×軸方向６２ポイント）とした。このときの測定時間は４時間であった。この方法では、膜厚分布の分布幅が２μｍ以下であれば、感光体は優れた膜厚均一性を有していると評価することとし、これによりサンプル１〜６の優劣を評価した。
【００８９】
また、上記サンプル１〜６を、画像形成装置（ＤｏｃｕＣｅｎｔｒｅ Ｃｏｌｏｒ ４００ＣＰ、富士ゼロックス社製）に搭載し、ハーフトーン画像を出力して、ドラムピッチの色むら発生の有無を調べることで画質評価を行った。これらの結果を表１にまとめて示す。
【００９０】
【表１】
【００９１】
表１に示した結果から明らかなように、実施例１の評価方法による感光体の膜厚均一性の評価結果は、サンプル１〜６の全てのサンプルにおいて、画質評価による色むらの有無の評価結果と対応が取れていることが確認された。一方、従来の感光体の膜厚測定装置である渦電流方式の膜厚計による感光体の膜厚均一性の評価結果は、画質評価による色むらの有無の結果と対応が取れていないものがあることが確認された。また、測定ポイント数３７２０ポイント（周方向６０ポイント×軸方向６２ポイント）の測定時間は、実施例１の評価方法では１分以下であるのに対し、従来の膜厚測定装置である渦電流方式の膜厚計では約４時間かかった。
【００９２】
以上より、本発明の電子写真感光体の評価方法及び評価装置によれば、電子写真感光体の感光層の膜厚均一性を短時間で且つ精度良く評価することができ、それによって電子写真感光体の画像特性を見積ることができることが確認された。
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】本発明の電子写真感光体の評価装置の好適な一実施形態を示す説明図である。
【図２】図１に示した本発明の電子写真感光体の評価装置のＩ部の部分拡大断面図である。
【図３】表面電位Ｖと電荷Ｑとの関係から静電容量Ｃを求める手順を説明するためのグラフである。
【図４】実施例１の評価方法により求めた静電容量分布を示す模式図である。
【図５】実施例２の評価方法により求めた静電容量分布を示す模式図である。
【図６】実施例２の評価方法により求めた膜厚分布を示す模式図である。
【符号の説明】
【００９４】
１・・・電子写真感光体、２・・・第１の電位測定装置、３・・・帯電装置、４・・・第２の電位測定装置、５・・・除電装置、６・・・取り付け部材、７・・・ハウジング、８，９・・・支承部材、１０・・・回転モータ、１１・・・電流測定装置、１２・・・自動ステージ、１３・・・スライド台、１４・・・ハンドル。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性支持体と、該導電性支持体上に配置された感光層と、を備える略円筒状の電子写真感光体の評価方法であって、
前記電子写真感光体と該電子写真感光体を帯電させるための帯電装置との少なくとも一方を、前記電子写真感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させ、帯電による前記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の前記電子写真感光体の表面電位を、前記電子写真感光体の外周面上の複数の測定部位について測定する測定ステップと、
前記複数の測定部位のそれぞれで、前記表面電位と前記流入電流との関係から前記電子写真感光体における前記感光層の静電容量を算出し、前記電子写真感光体における前記感光層の静電容量分布を求める算出ステップと、
前記静電容量分布に基づいて前記電子写真感光体の膜厚均一性を評価する評価ステップと、
を有することを特徴とする電子写真感光体の評価方法。
【請求項２】
前記測定ステップの前に、前記電子写真感光体を、該電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させるための回転駆動装置に装着し、前記電子写真感光体の外周部に、該電子写真感光体の回転方向に沿って少なくとも前記帯電装置、第１の電位測定装置、及び、除電装置をこの順に配置する配置ステップを更に有し、
前記測定ステップは、前記電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させ、一定間隔の複数の測定部位のそれぞれで、前記帯電装置による帯電、前記第１の電位測定装置による帯電後の電位測定、及び、前記除電装置による除電を行い、帯電による前記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の前記電子写真感光体の表面電位を測定するステップであることを特徴とする請求項１記載の電子写真感光体の評価方法。
【請求項３】
前記配置ステップにおいて、前記帯電装置よりも前記電子写真感光体の回転方向の上流側に第２の電位測定装置を更に配置し、
前記測定ステップにおいて、前記複数の測定部位のそれぞれで、前記第２の電位測定装置及び前記第１の電位測定装置により前記帯電装置による帯電前後の電位測定を行い、前記表面電位を、前記第１の電位測定装置により測定した帯電後の電位から前記第２の電位測定装置により測定した帯電前の電位を減じた値により求めることを特徴とする請求項２記載の電子写真感光体の評価方法。
【請求項４】
導電性支持体と、該導電性支持体上に配置された感光層と、を備える略円筒状の電子写真感光体を評価するための評価装置であって、
前記電子写真感光体と該電子写真感光体を帯電させるための帯電装置との少なくとも一方を、前記電子写真感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させる駆動手段と、
帯電による前記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の前記電子写真感光体の表面電位を複数の測定部位について測定するための測定手段と、
を有することを特徴とする電子写真感光体の評価装置。
【請求項５】
前記駆動手段は、前記電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させるための回転駆動装置を含み、
前記測定手段は、前記電子写真感光体の外周部に配置された前記帯電装置と、前記電子写真感光体の外周部であって前記帯電装置よりも前記電子写真感光体の回転方向の下流側に配置された、前記電子写真感光体の帯電後の電位を測定するための第１の電位測定装置と、前記電子写真感光体の外周部であって前記第１の電位測定装置よりも前記電子写真感光体の回転方向の下流側に配置された、前記電子写真感光体表面の電荷を除電するための除電装置と、前記導電性支持体に電気的に接続された、前記帯電装置による帯電時の前記電子写真感光体への流入電流を測定するための電流測定装置と、を含むことを特徴とする請求項４記載の電子写真感光体の評価装置。
【請求項６】
前記測定手段は、前記電子写真感光体の外周部であって前記帯電装置よりも前記電子写真感光体の回転方向の上流側に配置された、前記電子写真感光体の帯電前の電位を測定するための第２の電位測定装置を更に含み、前記複数の測定部位のそれぞれにおける前記電子写真感光体の前記表面電位を、前記第１の電位測定装置により測定した帯電後の電位から前記第２の電位測定装置により測定した帯電前の電位を減じた値により求める手段であることを特徴とする請求項４又は５記載の電子写真感光体の評価装置。
【請求項１】
導電性支持体と、該導電性支持体上に配置された感光層と、を備える略円筒状の電子写真感光体の評価方法であって、
前記電子写真感光体と該電子写真感光体を帯電させるための帯電装置との少なくとも一方を、前記電子写真感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させ、帯電による前記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の前記電子写真感光体の表面電位を、前記電子写真感光体の外周面上の複数の測定部位について測定する測定ステップと、
前記複数の測定部位のそれぞれで、前記表面電位と前記流入電流との関係から前記電子写真感光体における前記感光層の静電容量を算出し、前記電子写真感光体における前記感光層の静電容量分布を求める算出ステップと、
前記静電容量分布に基づいて前記電子写真感光体の膜厚均一性を評価する評価ステップと、
を有することを特徴とする電子写真感光体の評価方法。
【請求項２】
前記測定ステップの前に、前記電子写真感光体を、該電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させるための回転駆動装置に装着し、前記電子写真感光体の外周部に、該電子写真感光体の回転方向に沿って少なくとも前記帯電装置、第１の電位測定装置、及び、除電装置をこの順に配置する配置ステップを更に有し、
前記測定ステップは、前記電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させ、一定間隔の複数の測定部位のそれぞれで、前記帯電装置による帯電、前記第１の電位測定装置による帯電後の電位測定、及び、前記除電装置による除電を行い、帯電による前記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の前記電子写真感光体の表面電位を測定するステップであることを特徴とする請求項１記載の電子写真感光体の評価方法。
【請求項３】
前記配置ステップにおいて、前記帯電装置よりも前記電子写真感光体の回転方向の上流側に第２の電位測定装置を更に配置し、
前記測定ステップにおいて、前記複数の測定部位のそれぞれで、前記第２の電位測定装置及び前記第１の電位測定装置により前記帯電装置による帯電前後の電位測定を行い、前記表面電位を、前記第１の電位測定装置により測定した帯電後の電位から前記第２の電位測定装置により測定した帯電前の電位を減じた値により求めることを特徴とする請求項２記載の電子写真感光体の評価方法。
【請求項４】
導電性支持体と、該導電性支持体上に配置された感光層と、を備える略円筒状の電子写真感光体を評価するための評価装置であって、
前記電子写真感光体と該電子写真感光体を帯電させるための帯電装置との少なくとも一方を、前記電子写真感光体の周方向に沿って相対的に移動させながら軸方向に沿って相対的に移動させる駆動手段と、
帯電による前記電子写真感光体への流入電流及び帯電後の前記電子写真感光体の表面電位を複数の測定部位について測定するための測定手段と、
を有することを特徴とする電子写真感光体の評価装置。
【請求項５】
前記駆動手段は、前記電子写真感光体を回転させながらその軸方向に移動させるための回転駆動装置を含み、
前記測定手段は、前記電子写真感光体の外周部に配置された前記帯電装置と、前記電子写真感光体の外周部であって前記帯電装置よりも前記電子写真感光体の回転方向の下流側に配置された、前記電子写真感光体の帯電後の電位を測定するための第１の電位測定装置と、前記電子写真感光体の外周部であって前記第１の電位測定装置よりも前記電子写真感光体の回転方向の下流側に配置された、前記電子写真感光体表面の電荷を除電するための除電装置と、前記導電性支持体に電気的に接続された、前記帯電装置による帯電時の前記電子写真感光体への流入電流を測定するための電流測定装置と、を含むことを特徴とする請求項４記載の電子写真感光体の評価装置。
【請求項６】
前記測定手段は、前記電子写真感光体の外周部であって前記帯電装置よりも前記電子写真感光体の回転方向の上流側に配置された、前記電子写真感光体の帯電前の電位を測定するための第２の電位測定装置を更に含み、前記複数の測定部位のそれぞれにおける前記電子写真感光体の前記表面電位を、前記第１の電位測定装置により測定した帯電後の電位から前記第２の電位測定装置により測定した帯電前の電位を減じた値により求める手段であることを特徴とする請求項４又は５記載の電子写真感光体の評価装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２００６−２６７４４２（Ｐ２００６−２６７４４２Ａ）
【公開日】平成１８年１０月５日（２００６．１０．５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−８４３８４（Ｐ２００５−８４３８４）
【出願日】平成１７年３月２３日（２００５．３．２３）
【出願人】（０００００５４９６）富士ゼロックス株式会社 (21,908)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年１０月５日（２００６．１０．５）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年３月２３日（２００５．３．２３）
【出願人】（０００００５４９６）富士ゼロックス株式会社 (21,908)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]