電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステム
【課題】工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムを提供すること。
【解決手段】電子部品を検査する検査部４ａと、検査部４ａに供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部１２と、検査部４ａにて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２と、排出貯留部２２に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出すエジェクタ装置３０と、前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御装置６０と、を有する検査装置である。供給貯留部１２は、上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部４４を有し、排出貯留部２２は、下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部３４を有する。
【解決手段】電子部品を検査する検査部４ａと、検査部４ａに供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部１２と、検査部４ａにて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２と、排出貯留部２２に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出すエジェクタ装置３０と、前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御装置６０と、を有する検査装置である。供給貯留部１２は、上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部４４を有し、排出貯留部２２は、下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部３４を有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品を製造して出荷する過程においては、電子部品の外観検査工程および／または測定工程および包装工程が必要とされる。これらの工程を単一の装置で行うシングル搬送連結装置は、従来から知られている。
【０００３】
しかしながら、このような従来の装置では、電子部品の外観検査工程、測定工程および包装工程を単一の装置で行うために、その工程の順序が固定されている。そのために、測定工程の後に外観検査を行いたい要請がある電子部品に対しては、装置を改造する必要があり、その改造作業が煩雑である。あるいは、新たに装置を作り直す必要が生じる。
【０００４】
また、電子部品の種類によっては、電子部品の測定および外観検査を行った後に、熱処理してから包装すべき要請があり、そのような要請に対応するためには、やはり、装置を改造する必要があり、その改造作業が煩雑である。あるいは、新たに装置を作り直す必要が生じる。
【０００５】
なお、下記の特許文献１では、複数種類のハンドリングモジュールと複数種類のテストモジュールとの組合せを自由に選択できるように、これらのモジュールを交換自在に構成した電子部品試験装置が提案されている。
【０００６】
しかしながら、この装置では、モジュールを独立な試験装置として用いる発想がない。そのため、たとえば各モジュールが実現している各工程の間に、全く新たな工程（たとえば表面処理工程や熱処理工程）を入れたい場合などには対応することができず、装置構成を作り直す必要があるという課題を有している。
【０００７】
また、下記の特許文献２では、複数種類の部品供給装置を、単一の選別装置に対して交換自在としたシステムが提案されている。しかしながら、このシステムでは、各工程を実現するための装置の順序を入れ替えることはできない。そのため、外観検査工程の後に測定工程を行いたい場合や、その逆の順序としたい場合には、やはり装置構成を作り直す必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】ＷＯ２００６／００９２５３号公報
【特許文献２】特開２００２−３５７６３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、このような実状に鑑みてなされ、その目的は、工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために、本発明に係る電子部品の検査装置は、
電子部品を検査する検査部と、
前記検査部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記検査部にて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部と、
前記排出貯留部に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出す送出手段と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有し、
前記排出貯留部は、前記下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部を有することを特徴とする。
【００１１】
本発明に係る電子部品の測定装置は、
電子部品を測定する測定部と、
前記測定部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記測定部にて測定された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部と、
前記排出貯留部に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出す送出手段と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有し、
前記排出貯留部は、前記下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部を有することを特徴とする。
【００１２】
本発明に係る包装装置は、
電子部品を包装するする包装部と、
前記包装部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記包装部にて包装された後の電子部品の包装物を貯留する排出貯留部と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有することを特徴とする。
【００１３】
本発明に係る検査・測定・包装システムは、上記検査装置と、上記測定装置と、上記包装装置とを有する。
【００１４】
本発明に係る検査装置、測定装置、包装装置およびこれらのシステムでは、たとえば検査装置、測定装置および包装装置の順序で、これらの装置を容易に連結して単一の装置として機能させることができる。あるいは、測定装置、検査装置および包装装置の順序で、これらの装置を容易に連結して単一の装置として機能させることができる。
【００１５】
あるいは、測定装置と検査装置のみを連結して、包装装置は単独で機能させても良い。その場合には、たとえば検査装置の検査工程と包装装置の包装工程との間に、電子部品の熱処理工程を行うことも容易である。あるいは、電子部品の種類によっては、たとえば測定装置と包装装置のみを連結して、検査装置は用いないようにすることもできる。あるいは、検査装置による検査工程と、測定装置による測定工程との間に、他の工程を入れることも容易である。
【００１６】
本発明の装置およびシステムによれば、電子部品の種類や客先の要請などに合わせて、検査装置、測定装置、包装装置の連結の順序、連結の組合せ、あるいはそれぞれ別々に独立して使用することも可能である。ただし、包装装置は、検査装置または測定装置の下流側装置とはなり得るが、上流側装置になることは一般的にはない。ただし、電子部品の包装後に検査工程や測定工程を入れたい要請がある場合には、本発明では、そのような順序で各装置を連結することも可能である。
【００１７】
本発明の電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムによれば、工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易である。したがって、工程変更の度に、新たな装置を制作、購入あるいは改造する必要がなく、電子部品の製造コストを低減することができる。
【００１８】
前記排出貯留部および送出手段は、前記検査部または測定部に対して着脱自在に接続してもよい。たとえば排出貯留部および送出手段を取り外して、検査部または測定部の後に、直接に、下流側装置の一例として包装装置の包装部を連結しても良い。排出貯留部および送出手段を外した状態では、検査部または測定部から直接にチップ部品を、１つずつ取り出されることが可能になる。そのため、チップ部品が特定の姿勢であることを保ったまま下流側装置へ搬送することが可能になる。なお、排出貯留部では、チップ部品を貯留可能であるが、姿勢がバラバラになる。
【００１９】
また、前記供給貯留部および排出貯留部は、それぞれ前記包装部に対して着脱自在に接続してしてもよい。たとえば供給貯留部を取り外して、検査装置または測定装置の排出貯留部に包装装置の包装部を取り付けても良い。また、包装された電子部品で満杯になった排出貯留部は、そのまま取り外して搬送または輸送しても良い。満杯の排出貯留部が取り外された部分には、空の排出貯留部を取り付けることができる。
【００２０】
好ましくは、本発明の検査装置または測定装置は、前記供給貯留部および／または前記排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する。
【００２１】
好ましくは、本発明の包装装置は、前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する。
【００２２】
好ましくは、前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、前記上流側装置に対して電子部品を送り出さないように信号を送る。このように制御することで、満杯になった供給貯留部に電子部品が送り込まれることを防止することができる。
【００２３】
排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、検査部または測定部による検査または測定を停止または遅らせるように制御する制御信号を出してもよい。あるいは、前記制御手段は、下流側装置に対して、下流側装置の処理速度を高めるように制御信号を出すようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】図１は本発明の一実施形態に係る電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムの概略図である。
【図２】図２は図１に示す各装置をさらに概念的に示す概略図である。
【図３】図３は図１および図２に示す連結部の要部を示す概略図である。
【図４】図４（Ａ）および図４（Ｂ）は図３に示す送出機構の概念図である。
【図５】図５（Ａ）〜図５（Ｃ）は図１に示す装置の組合せの一例を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明を、図面に示す実施形態に基づき説明する。
図１に示すように、本発明の一実施形態に係る電子部品の検査・測定・包装システム２は、電子部品の検査装置４と、電子部品の測定装置６と、電子部品の包装装置８とを有する。
【００２６】
電子部品の検査装置４は、本実施形態では、電子部品の外観検査装置であり、電子部品の外観を検査するための回転テーブルからなる検査部４ａと、検査部４ａに電子部品の方向を揃えて供給するパーツフィーダ４ｂとを有する。
【００２７】
検査装置４は、上流側装置としての測定装置６の下流側連結部２０と着脱自在に連結される上流側連結部１０と、下流側装置としての包装装置８の上流側連結部１０と着脱自在に連結される下流側連結部２０とを有する。
【００２８】
上流側連結部１０からパーツフィーダ４ｂに向けて電子部品が搬送されるようになっている。また、検査部４ａにおいて検査された電子部品は、下流側連結部へ搬送されるようになっている。
【００２９】
検査装置４の検査部４ａにおいて検査される検査対象としては、電子部品の外観に限らず、はんだボール、回路基板、インターポーザなどが例示される。
【００３０】
電子部品の測定装置６は、本実施形態では、マルチ処理を行う測定装置であり、電子部品の測定を行う測定部６ａを有する。なお図示省略してあるが、この測定装置６においても、検査装置４と同様なパーツフィーダが具備されていても良い。この測定装置６は、検査装置４と同様な上流側連結部１０と下流側連結部２０とを有する。
【００３１】
上流側連結部１０からパーツフィーダまたは測定部６ａに向けて電子部品が搬送されるようになっている。また、測定部６ａにおいて検査された電子部品は、下流側連結部２０へ搬送されるようになっている。下流側連結部２０へ搬送された電子部品は、その下流側連結部２０に対して着脱自在に連結してある下流側装置としての検査装置４の上流側連結部１０に搬送されるようになっている。
【００３２】
測定装置６の測定部６ａにおいて測定される測定対象としては、電子部品の電気特性、たとえば静電容量、絶縁耐性、漏れ電流、直流重畳特性などが例示される。
【００３３】
電子部品の包装装置８は、本実施形態では、テーピングにより電子部品の包装を行う装置であり、電子部品の包装を行う包装部８ａを有する。なお図示省略してあるが、この包装装置８においても、検査装置４と同様なパーツフィーダが具備されていても良い。この包装装置８は、検査装置４と同様な上流側連結部１０と、検査装置４の下流側連結部２０とは異なる排出貯留部２０ａとを有する。
【００３４】
上流側連結部１０からパーツフィーダまたは包装部８ａに向けて電子部品が搬送されるようになっている。包装部８ａでは、測定および／または検査済みの電子部品がテーピングにより包装される。包装部８ａにおいて包装された電子部品は、排出貯留部２０ａへ搬送されるようになっている。
【００３５】
排出貯留部２０ａでは、たとえば電子部品が包装されているテープを巻き取るリールが具備してあり、電子部品が包装されているテープが満杯になった場合には、リールなどで構成してある排出貯留部２０ａ毎、包装装置８から取り出し、外部に搬送しても良い。その場合には、空の排出貯留部２０ａを、新たに包装装置８に取り付けて、電子部品が包装されているテープを巻き取り、新たに貯留すれば良い。
【００３６】
包装装置８の包装部８ａにおいて電子部品を包装するための手段としては、テーピングに限らず、たとえばバルクケース、収納トレイなどが例示される。
【００３７】
図１に示す本実施形態のシステム２は、各装置４，６，８の境界部７０において、着脱自在な連結部１０および２０を用いて着脱自在に連結してある。しかも図２に示すように、本実施形態のシステム２においては、検査装置４、測定装置６および包装装置８は、連結部１０および２０の部分において分離可能であり、それぞれ独立の装置として機能するようになっている。
【００３８】
本実施形態においては、各装置４，６，８において、連結部１０および２０の高さ位置Ｈは、好ましくは略同一であるが、必ずしも同一である必要はない。各装置４，６，８において、連結部１０および２０の連結は、下述するように、たとえばホースや電気配線の連結あるいは接続であり、連結部１０および２０の高さ位置Ｈが異なっていてもホースの連結や電気配線の接続が可能だからである。
【００３９】
図３に示すように、着脱自在に構成してある連結部１０および２０の内の下流側連結部２０は、検査部にて検査された後の複数の電子部品、あるいは測定部で測定された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２を有する。排出貯留部２２には、満杯検出センサ２４が具備してあっても良い。
【００４０】
満杯検出センサ２４は、排出貯留部２２に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出するセンサであり、その検出信号は、排出貯留部２２を有する上流側装置の図示省略してある制御装置に入力される。その制御装置は、上流側装置が連結される次工程の別の下流側装置の図３に示す制御装置６０と同様な装置であり、その説明については後述する。
【００４１】
また、排出貯留部２２の底部付近には、次工程の別の下流側装置の制御装置６０からの信号を受けて当該下流側装置へ、排出貯留部２２の内部に貯留してある電子部品を送り出す送出手段の一部としてのエジェクタ装置３０が装着してある。エジェクタ装置３０には、噴出チューブ５２を介して電磁弁５０が連結してある。
【００４２】
電磁弁５０には、空圧チューブ５４が接続してある。空圧チューブ５４は、たとえば生産工場における圧力空気流通配管に着脱自在に接続され、そこから、電磁弁５０に向けて圧力空気の圧力が作用し、電磁弁５０を開閉することで、所定圧力の空気を噴出チューブ５２に流すことが可能になっている。
【００４３】
噴出チューブ５２は、たとえば図４（Ａ）に示すように、エジェクタ装置３０の送出チューブ３２における貯留部出口２２ａ近くの噴出孔３１で送出チューブ３２に接続してある。送出チューブ３２に比較して小径の噴出チューブ５２から噴出孔３１を通して送出チューブ３２の内部で貯留部出口２２ａとは反対側の送り出し方向に向けて噴出した圧力空気は、その静圧が低くなり、貯留部出口２２ａ近くの送出チューブ３２の内部に負圧を発生させる。そのため、排出貯留部２２の内部に貯留してある電子部品を貯留部出口２２ａから送出チューブ３２の内部に引き込み、送出チューブ３２の送り出し方向に沿って電子部品を搬送することができる。
【００４４】
なお、図４に示すように、噴出チューブ５２の先端に噴出ノズル５２ａを設けて、噴出ノズル５２ａの噴出孔３１を、貯留部出口２２ａのさらに近くに配置してエジェクタ装置３０ａを構成しても良い。この場合においても、排出貯留部２２の内部に貯留してある電子部品を貯留部出口２２ａから送出チューブ３２の内部に引き込み、送出チューブ３２の送り出し方向に沿って電子部品を搬送することができる。
【００４５】
上流側装置の送出チューブ３２は、柔軟性のあるチューブで構成され、下流側装置の供給貯留部１２へ電子部品を送り出すための供給チューブ４２の受取接続部４４に着脱自在に接続される送出接続部３４を有する。
【００４６】
なお、図３に示す実施形態では、上流側装置と下流側装置との境界部７０に、受取接続部４４と送出接続部３４との接続部を配置したが、これに限定されない。たとえば供給チューブ４２を用いることなく、受取接続部４４を、供給貯留部１２の供給口１２ｂに直接に装着し、その受取接続部４４に対して、送出チューブ３２の送出接続部３４を着脱自在に接続するように構成しても良い。あるいは逆に、送出チューブ３２を用いることなく、送出接続部３４をエジェクタ装置３０に直接に装着し、その送出接続部３４に対して、供給チューブ４２の受取接続部４４を着脱自在に接続するように構成しても良い。
【００４７】
上流側装置におけるエジェクタ装置３０の電子弁５０を、下流側装置の制御装置６０からの制御信号に基づき制御するために、電磁弁５０には、配線３６が接続してあると共に、制御装置６０にも配線４６が接続してある。これらの両配線３６および４６は、着脱可能な配線コネクタ３８および４８により接続してある。
【００４８】
なお、図３に示す実施形態では、上流側装置と下流側装置との境界部７０に、配線コネクタ３８および４８を配置したが、これに限定されず、たとえば配線４６を用いることなく、配線コネクタ４８を制御装置６０に装着し、その配線コネクタ４８に対して、上流側装置の配線３６のコネクタ３８を着脱自在に接続するように構成しても良い。
【００４９】
あるいは、たとえば配線３６を用いることなく、配線コネクタ３８を電磁弁５０に装着し、その配線コネクタ３８に対して、下流側装置の配線４６のコネクタ４８を着脱自在に接続するように構成しても良い。あるいは、下流側装置の制御装置６０からの制御信号は、配線を介することなく、無線を通じて上流側装置の制御装置に制御信号を送り、エジェクタ装置３０などの送出手段を制御するようにしても良い。
【００５０】
下流側装置の上流側連結部１０に配置してある供給貯留部１２には、排出貯留部２２の満杯検出センサ２４と同様な満杯検出センサ１４が具備してある。満杯センサ１４は、供給貯留部１２に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出するセンサであり、その検出信号は、下流側装置の制御装置６０に入力される。
【００５１】
制御装置６０では、供給貯留部１２に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かをセンサ１４が検出した場合に、制御装置６０は、上流側装置の電磁弁５０を制御し、電子部品を送り出さないように制御することができる。このように制御することで、満杯になった供給貯留部１２に電子部品が送り込まれることを防止することができる。制御装置６０は、連結部１０に配置することなく、各装置４，６，８の全体を制御するために装置本体の内部に配置してあることが好ましい。
【００５２】
なお、図３において、排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを満杯検出センサ２４が検出した場合には、その上流側装置が有する図示省略してある制御装置は、検査部または測定部による検査または測定を停止または遅らせるように制御する制御信号を出してもよい。あるいは、その上流側の制御装置は、下流側装置の制御装置６０に対して信号を送り、下流側装置の処理速度を高めるように制御信号を出すようにしても良い。制御装置間の制御信号のやりとりは、有線方式でも無線方式でも良い。
【００５３】
供給貯留部１２の貯留部出口１２ａには、排出貯留部２２におけるエジェクタ装置３０と同様なエジェクタ装置４０、あるいはその他の電子部品の送出手段が具備してあり、供給貯留部１２内に貯留してある電子部品を、一つずつ、あるいは複数個まとめて、下流側装置の検査部、測定部あるいは包装部に直接に、あるいはパーツフィーダなどを介して搬送可能になっている。
【００５４】
本実施形態に係る検査装置４、測定装置６、包装装置８およびこれらのシステム２では、たとえば図５（Ａ）に示すように、検査装置４、測定装置６および包装装置８の順序で、これらの装置を容易に連結して単一の装置として機能させることができる。
【００５５】
あるいは、図１に示すように、測定装置６、検査装置４および包装装置８の順序で、これらの装置を容易に組み替えて連結して単一の装置として機能させることもできる。
【００５６】
あるいは、図５（Ｃ）に示すように、測定装置６と検査装置４のみを連結して、包装装置８は単独で機能させても良い。その場合には、たとえば検査装置４の検査工程と包装装置８の包装工程との間に、電子部品の表面処理工程や熱処理工程を行うことも容易である。
【００５７】
あるいは、電子部品の種類によっては、たとえば図５（Ｂ）に示すように、測定装置６と包装装置８のみを連結して、検査装置４は用いないようにすることもできる。あるいは、検査装置４による検査工程と、測定装置６による測定工程との間に、他の工程を入れることも容易である。
【００５８】
さらには、図２に示すように、検査装置４、測定装置６、包装装置８を別々の装置として用いることもできる。
【００５９】
本実施形態の装置４，６，８およびシステム２によれば、電子部品の種類や客先の要請などに合わせて、検査装置４、測定装置６、包装装置８の連結の順序、連結の組合せ、あるいはそれぞれ別々に独立して使用することも可能である。ただし、包装装置８は、検査装置４または測定装置６の下流側装置とはなり得るが、上流側装置になることは一般的にはない。しかしながら、電子部品の包装後に検査工程や測定工程を入れたい要請がある場合には、本発明では、そのような順序で各装置を連結することも可能である。
【００６０】
本実施形態の電子部品の検査装置４、測定装置６、包装装置８およびシステム２によれば、工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易である。したがって、工程変更の度に、新たな装置を製作、購入あるいは改造する必要がなく、電子部品の製造コストを低減することができる。
【００６１】
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々に改変することができる。
【００６２】
たとえば、排出貯留部２２およびそれに付属しているエジェクタ装置３０などを含む下流側連結部２０は、検査部４ａまたは測定部６ａに対して着脱自在に接続してもよい。たとえば下流側連結部２０を取り外して、検査部４ａまたは測定部６ａの後に、直接に、下流側装置の一例として包装装置８の包装部８ａを連結しても良い。排出貯留部２２およびその付属装置から成る下流側連結部２０を外した状態では、検査部４ａまたは測定部６ａから直接にチップ部品を、１つずつ取り出されることが可能になる。そのため、チップ部品が特定の姿勢であることを保ったまま下流側装置へ搬送することが可能になる。なお、排出貯留部２２では、チップ部品を貯留可能であるが、姿勢がバラバラになる。
【００６３】
また、包装装置８において、供給貯留部１２を含む上流側連結部１０に関しても、それぞれ包装部８ａに対して着脱自在に接続してしてもよい。たとえば供給貯留部１２を含む上流側連結部１０を取り外して、検査装置４または測定装置６の排出貯留部２２に包装装置８の包装部８ａを取り付けても良い。
【符号の説明】
【００６４】
２… システム
４… 検査装置
６… 測定装置
８… 包装装置
１０… 上流側連結部
１２… 供給貯留部
１４… 満杯検出センサ
２０… 下流側連結部
２０ａ… 排出貯留部
２２… 排出貯留部
２４… 満杯検出センサ
３０… エジェクタ装置
３２… 送出チューブ
３４… 送出接続部
４０… エジェクタ装置
４２… 供給チューブ
４４… 受取接続部
６０… 制御装置
７０… 境界部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品を製造して出荷する過程においては、電子部品の外観検査工程および／または測定工程および包装工程が必要とされる。これらの工程を単一の装置で行うシングル搬送連結装置は、従来から知られている。
【０００３】
しかしながら、このような従来の装置では、電子部品の外観検査工程、測定工程および包装工程を単一の装置で行うために、その工程の順序が固定されている。そのために、測定工程の後に外観検査を行いたい要請がある電子部品に対しては、装置を改造する必要があり、その改造作業が煩雑である。あるいは、新たに装置を作り直す必要が生じる。
【０００４】
また、電子部品の種類によっては、電子部品の測定および外観検査を行った後に、熱処理してから包装すべき要請があり、そのような要請に対応するためには、やはり、装置を改造する必要があり、その改造作業が煩雑である。あるいは、新たに装置を作り直す必要が生じる。
【０００５】
なお、下記の特許文献１では、複数種類のハンドリングモジュールと複数種類のテストモジュールとの組合せを自由に選択できるように、これらのモジュールを交換自在に構成した電子部品試験装置が提案されている。
【０００６】
しかしながら、この装置では、モジュールを独立な試験装置として用いる発想がない。そのため、たとえば各モジュールが実現している各工程の間に、全く新たな工程（たとえば表面処理工程や熱処理工程）を入れたい場合などには対応することができず、装置構成を作り直す必要があるという課題を有している。
【０００７】
また、下記の特許文献２では、複数種類の部品供給装置を、単一の選別装置に対して交換自在としたシステムが提案されている。しかしながら、このシステムでは、各工程を実現するための装置の順序を入れ替えることはできない。そのため、外観検査工程の後に測定工程を行いたい場合や、その逆の順序としたい場合には、やはり装置構成を作り直す必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】ＷＯ２００６／００９２５３号公報
【特許文献２】特開２００２−３５７６３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、このような実状に鑑みてなされ、その目的は、工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために、本発明に係る電子部品の検査装置は、
電子部品を検査する検査部と、
前記検査部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記検査部にて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部と、
前記排出貯留部に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出す送出手段と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有し、
前記排出貯留部は、前記下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部を有することを特徴とする。
【００１１】
本発明に係る電子部品の測定装置は、
電子部品を測定する測定部と、
前記測定部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記測定部にて測定された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部と、
前記排出貯留部に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出す送出手段と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有し、
前記排出貯留部は、前記下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部を有することを特徴とする。
【００１２】
本発明に係る包装装置は、
電子部品を包装するする包装部と、
前記包装部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記包装部にて包装された後の電子部品の包装物を貯留する排出貯留部と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有することを特徴とする。
【００１３】
本発明に係る検査・測定・包装システムは、上記検査装置と、上記測定装置と、上記包装装置とを有する。
【００１４】
本発明に係る検査装置、測定装置、包装装置およびこれらのシステムでは、たとえば検査装置、測定装置および包装装置の順序で、これらの装置を容易に連結して単一の装置として機能させることができる。あるいは、測定装置、検査装置および包装装置の順序で、これらの装置を容易に連結して単一の装置として機能させることができる。
【００１５】
あるいは、測定装置と検査装置のみを連結して、包装装置は単独で機能させても良い。その場合には、たとえば検査装置の検査工程と包装装置の包装工程との間に、電子部品の熱処理工程を行うことも容易である。あるいは、電子部品の種類によっては、たとえば測定装置と包装装置のみを連結して、検査装置は用いないようにすることもできる。あるいは、検査装置による検査工程と、測定装置による測定工程との間に、他の工程を入れることも容易である。
【００１６】
本発明の装置およびシステムによれば、電子部品の種類や客先の要請などに合わせて、検査装置、測定装置、包装装置の連結の順序、連結の組合せ、あるいはそれぞれ別々に独立して使用することも可能である。ただし、包装装置は、検査装置または測定装置の下流側装置とはなり得るが、上流側装置になることは一般的にはない。ただし、電子部品の包装後に検査工程や測定工程を入れたい要請がある場合には、本発明では、そのような順序で各装置を連結することも可能である。
【００１７】
本発明の電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムによれば、工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易である。したがって、工程変更の度に、新たな装置を制作、購入あるいは改造する必要がなく、電子部品の製造コストを低減することができる。
【００１８】
前記排出貯留部および送出手段は、前記検査部または測定部に対して着脱自在に接続してもよい。たとえば排出貯留部および送出手段を取り外して、検査部または測定部の後に、直接に、下流側装置の一例として包装装置の包装部を連結しても良い。排出貯留部および送出手段を外した状態では、検査部または測定部から直接にチップ部品を、１つずつ取り出されることが可能になる。そのため、チップ部品が特定の姿勢であることを保ったまま下流側装置へ搬送することが可能になる。なお、排出貯留部では、チップ部品を貯留可能であるが、姿勢がバラバラになる。
【００１９】
また、前記供給貯留部および排出貯留部は、それぞれ前記包装部に対して着脱自在に接続してしてもよい。たとえば供給貯留部を取り外して、検査装置または測定装置の排出貯留部に包装装置の包装部を取り付けても良い。また、包装された電子部品で満杯になった排出貯留部は、そのまま取り外して搬送または輸送しても良い。満杯の排出貯留部が取り外された部分には、空の排出貯留部を取り付けることができる。
【００２０】
好ましくは、本発明の検査装置または測定装置は、前記供給貯留部および／または前記排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する。
【００２１】
好ましくは、本発明の包装装置は、前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する。
【００２２】
好ましくは、前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、前記上流側装置に対して電子部品を送り出さないように信号を送る。このように制御することで、満杯になった供給貯留部に電子部品が送り込まれることを防止することができる。
【００２３】
排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、検査部または測定部による検査または測定を停止または遅らせるように制御する制御信号を出してもよい。あるいは、前記制御手段は、下流側装置に対して、下流側装置の処理速度を高めるように制御信号を出すようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】図１は本発明の一実施形態に係る電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムの概略図である。
【図２】図２は図１に示す各装置をさらに概念的に示す概略図である。
【図３】図３は図１および図２に示す連結部の要部を示す概略図である。
【図４】図４（Ａ）および図４（Ｂ）は図３に示す送出機構の概念図である。
【図５】図５（Ａ）〜図５（Ｃ）は図１に示す装置の組合せの一例を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明を、図面に示す実施形態に基づき説明する。
図１に示すように、本発明の一実施形態に係る電子部品の検査・測定・包装システム２は、電子部品の検査装置４と、電子部品の測定装置６と、電子部品の包装装置８とを有する。
【００２６】
電子部品の検査装置４は、本実施形態では、電子部品の外観検査装置であり、電子部品の外観を検査するための回転テーブルからなる検査部４ａと、検査部４ａに電子部品の方向を揃えて供給するパーツフィーダ４ｂとを有する。
【００２７】
検査装置４は、上流側装置としての測定装置６の下流側連結部２０と着脱自在に連結される上流側連結部１０と、下流側装置としての包装装置８の上流側連結部１０と着脱自在に連結される下流側連結部２０とを有する。
【００２８】
上流側連結部１０からパーツフィーダ４ｂに向けて電子部品が搬送されるようになっている。また、検査部４ａにおいて検査された電子部品は、下流側連結部へ搬送されるようになっている。
【００２９】
検査装置４の検査部４ａにおいて検査される検査対象としては、電子部品の外観に限らず、はんだボール、回路基板、インターポーザなどが例示される。
【００３０】
電子部品の測定装置６は、本実施形態では、マルチ処理を行う測定装置であり、電子部品の測定を行う測定部６ａを有する。なお図示省略してあるが、この測定装置６においても、検査装置４と同様なパーツフィーダが具備されていても良い。この測定装置６は、検査装置４と同様な上流側連結部１０と下流側連結部２０とを有する。
【００３１】
上流側連結部１０からパーツフィーダまたは測定部６ａに向けて電子部品が搬送されるようになっている。また、測定部６ａにおいて検査された電子部品は、下流側連結部２０へ搬送されるようになっている。下流側連結部２０へ搬送された電子部品は、その下流側連結部２０に対して着脱自在に連結してある下流側装置としての検査装置４の上流側連結部１０に搬送されるようになっている。
【００３２】
測定装置６の測定部６ａにおいて測定される測定対象としては、電子部品の電気特性、たとえば静電容量、絶縁耐性、漏れ電流、直流重畳特性などが例示される。
【００３３】
電子部品の包装装置８は、本実施形態では、テーピングにより電子部品の包装を行う装置であり、電子部品の包装を行う包装部８ａを有する。なお図示省略してあるが、この包装装置８においても、検査装置４と同様なパーツフィーダが具備されていても良い。この包装装置８は、検査装置４と同様な上流側連結部１０と、検査装置４の下流側連結部２０とは異なる排出貯留部２０ａとを有する。
【００３４】
上流側連結部１０からパーツフィーダまたは包装部８ａに向けて電子部品が搬送されるようになっている。包装部８ａでは、測定および／または検査済みの電子部品がテーピングにより包装される。包装部８ａにおいて包装された電子部品は、排出貯留部２０ａへ搬送されるようになっている。
【００３５】
排出貯留部２０ａでは、たとえば電子部品が包装されているテープを巻き取るリールが具備してあり、電子部品が包装されているテープが満杯になった場合には、リールなどで構成してある排出貯留部２０ａ毎、包装装置８から取り出し、外部に搬送しても良い。その場合には、空の排出貯留部２０ａを、新たに包装装置８に取り付けて、電子部品が包装されているテープを巻き取り、新たに貯留すれば良い。
【００３６】
包装装置８の包装部８ａにおいて電子部品を包装するための手段としては、テーピングに限らず、たとえばバルクケース、収納トレイなどが例示される。
【００３７】
図１に示す本実施形態のシステム２は、各装置４，６，８の境界部７０において、着脱自在な連結部１０および２０を用いて着脱自在に連結してある。しかも図２に示すように、本実施形態のシステム２においては、検査装置４、測定装置６および包装装置８は、連結部１０および２０の部分において分離可能であり、それぞれ独立の装置として機能するようになっている。
【００３８】
本実施形態においては、各装置４，６，８において、連結部１０および２０の高さ位置Ｈは、好ましくは略同一であるが、必ずしも同一である必要はない。各装置４，６，８において、連結部１０および２０の連結は、下述するように、たとえばホースや電気配線の連結あるいは接続であり、連結部１０および２０の高さ位置Ｈが異なっていてもホースの連結や電気配線の接続が可能だからである。
【００３９】
図３に示すように、着脱自在に構成してある連結部１０および２０の内の下流側連結部２０は、検査部にて検査された後の複数の電子部品、あるいは測定部で測定された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２を有する。排出貯留部２２には、満杯検出センサ２４が具備してあっても良い。
【００４０】
満杯検出センサ２４は、排出貯留部２２に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出するセンサであり、その検出信号は、排出貯留部２２を有する上流側装置の図示省略してある制御装置に入力される。その制御装置は、上流側装置が連結される次工程の別の下流側装置の図３に示す制御装置６０と同様な装置であり、その説明については後述する。
【００４１】
また、排出貯留部２２の底部付近には、次工程の別の下流側装置の制御装置６０からの信号を受けて当該下流側装置へ、排出貯留部２２の内部に貯留してある電子部品を送り出す送出手段の一部としてのエジェクタ装置３０が装着してある。エジェクタ装置３０には、噴出チューブ５２を介して電磁弁５０が連結してある。
【００４２】
電磁弁５０には、空圧チューブ５４が接続してある。空圧チューブ５４は、たとえば生産工場における圧力空気流通配管に着脱自在に接続され、そこから、電磁弁５０に向けて圧力空気の圧力が作用し、電磁弁５０を開閉することで、所定圧力の空気を噴出チューブ５２に流すことが可能になっている。
【００４３】
噴出チューブ５２は、たとえば図４（Ａ）に示すように、エジェクタ装置３０の送出チューブ３２における貯留部出口２２ａ近くの噴出孔３１で送出チューブ３２に接続してある。送出チューブ３２に比較して小径の噴出チューブ５２から噴出孔３１を通して送出チューブ３２の内部で貯留部出口２２ａとは反対側の送り出し方向に向けて噴出した圧力空気は、その静圧が低くなり、貯留部出口２２ａ近くの送出チューブ３２の内部に負圧を発生させる。そのため、排出貯留部２２の内部に貯留してある電子部品を貯留部出口２２ａから送出チューブ３２の内部に引き込み、送出チューブ３２の送り出し方向に沿って電子部品を搬送することができる。
【００４４】
なお、図４に示すように、噴出チューブ５２の先端に噴出ノズル５２ａを設けて、噴出ノズル５２ａの噴出孔３１を、貯留部出口２２ａのさらに近くに配置してエジェクタ装置３０ａを構成しても良い。この場合においても、排出貯留部２２の内部に貯留してある電子部品を貯留部出口２２ａから送出チューブ３２の内部に引き込み、送出チューブ３２の送り出し方向に沿って電子部品を搬送することができる。
【００４５】
上流側装置の送出チューブ３２は、柔軟性のあるチューブで構成され、下流側装置の供給貯留部１２へ電子部品を送り出すための供給チューブ４２の受取接続部４４に着脱自在に接続される送出接続部３４を有する。
【００４６】
なお、図３に示す実施形態では、上流側装置と下流側装置との境界部７０に、受取接続部４４と送出接続部３４との接続部を配置したが、これに限定されない。たとえば供給チューブ４２を用いることなく、受取接続部４４を、供給貯留部１２の供給口１２ｂに直接に装着し、その受取接続部４４に対して、送出チューブ３２の送出接続部３４を着脱自在に接続するように構成しても良い。あるいは逆に、送出チューブ３２を用いることなく、送出接続部３４をエジェクタ装置３０に直接に装着し、その送出接続部３４に対して、供給チューブ４２の受取接続部４４を着脱自在に接続するように構成しても良い。
【００４７】
上流側装置におけるエジェクタ装置３０の電子弁５０を、下流側装置の制御装置６０からの制御信号に基づき制御するために、電磁弁５０には、配線３６が接続してあると共に、制御装置６０にも配線４６が接続してある。これらの両配線３６および４６は、着脱可能な配線コネクタ３８および４８により接続してある。
【００４８】
なお、図３に示す実施形態では、上流側装置と下流側装置との境界部７０に、配線コネクタ３８および４８を配置したが、これに限定されず、たとえば配線４６を用いることなく、配線コネクタ４８を制御装置６０に装着し、その配線コネクタ４８に対して、上流側装置の配線３６のコネクタ３８を着脱自在に接続するように構成しても良い。
【００４９】
あるいは、たとえば配線３６を用いることなく、配線コネクタ３８を電磁弁５０に装着し、その配線コネクタ３８に対して、下流側装置の配線４６のコネクタ４８を着脱自在に接続するように構成しても良い。あるいは、下流側装置の制御装置６０からの制御信号は、配線を介することなく、無線を通じて上流側装置の制御装置に制御信号を送り、エジェクタ装置３０などの送出手段を制御するようにしても良い。
【００５０】
下流側装置の上流側連結部１０に配置してある供給貯留部１２には、排出貯留部２２の満杯検出センサ２４と同様な満杯検出センサ１４が具備してある。満杯センサ１４は、供給貯留部１２に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出するセンサであり、その検出信号は、下流側装置の制御装置６０に入力される。
【００５１】
制御装置６０では、供給貯留部１２に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かをセンサ１４が検出した場合に、制御装置６０は、上流側装置の電磁弁５０を制御し、電子部品を送り出さないように制御することができる。このように制御することで、満杯になった供給貯留部１２に電子部品が送り込まれることを防止することができる。制御装置６０は、連結部１０に配置することなく、各装置４，６，８の全体を制御するために装置本体の内部に配置してあることが好ましい。
【００５２】
なお、図３において、排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを満杯検出センサ２４が検出した場合には、その上流側装置が有する図示省略してある制御装置は、検査部または測定部による検査または測定を停止または遅らせるように制御する制御信号を出してもよい。あるいは、その上流側の制御装置は、下流側装置の制御装置６０に対して信号を送り、下流側装置の処理速度を高めるように制御信号を出すようにしても良い。制御装置間の制御信号のやりとりは、有線方式でも無線方式でも良い。
【００５３】
供給貯留部１２の貯留部出口１２ａには、排出貯留部２２におけるエジェクタ装置３０と同様なエジェクタ装置４０、あるいはその他の電子部品の送出手段が具備してあり、供給貯留部１２内に貯留してある電子部品を、一つずつ、あるいは複数個まとめて、下流側装置の検査部、測定部あるいは包装部に直接に、あるいはパーツフィーダなどを介して搬送可能になっている。
【００５４】
本実施形態に係る検査装置４、測定装置６、包装装置８およびこれらのシステム２では、たとえば図５（Ａ）に示すように、検査装置４、測定装置６および包装装置８の順序で、これらの装置を容易に連結して単一の装置として機能させることができる。
【００５５】
あるいは、図１に示すように、測定装置６、検査装置４および包装装置８の順序で、これらの装置を容易に組み替えて連結して単一の装置として機能させることもできる。
【００５６】
あるいは、図５（Ｃ）に示すように、測定装置６と検査装置４のみを連結して、包装装置８は単独で機能させても良い。その場合には、たとえば検査装置４の検査工程と包装装置８の包装工程との間に、電子部品の表面処理工程や熱処理工程を行うことも容易である。
【００５７】
あるいは、電子部品の種類によっては、たとえば図５（Ｂ）に示すように、測定装置６と包装装置８のみを連結して、検査装置４は用いないようにすることもできる。あるいは、検査装置４による検査工程と、測定装置６による測定工程との間に、他の工程を入れることも容易である。
【００５８】
さらには、図２に示すように、検査装置４、測定装置６、包装装置８を別々の装置として用いることもできる。
【００５９】
本実施形態の装置４，６，８およびシステム２によれば、電子部品の種類や客先の要請などに合わせて、検査装置４、測定装置６、包装装置８の連結の順序、連結の組合せ、あるいはそれぞれ別々に独立して使用することも可能である。ただし、包装装置８は、検査装置４または測定装置６の下流側装置とはなり得るが、上流側装置になることは一般的にはない。しかしながら、電子部品の包装後に検査工程や測定工程を入れたい要請がある場合には、本発明では、そのような順序で各装置を連結することも可能である。
【００６０】
本実施形態の電子部品の検査装置４、測定装置６、包装装置８およびシステム２によれば、工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易である。したがって、工程変更の度に、新たな装置を製作、購入あるいは改造する必要がなく、電子部品の製造コストを低減することができる。
【００６１】
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々に改変することができる。
【００６２】
たとえば、排出貯留部２２およびそれに付属しているエジェクタ装置３０などを含む下流側連結部２０は、検査部４ａまたは測定部６ａに対して着脱自在に接続してもよい。たとえば下流側連結部２０を取り外して、検査部４ａまたは測定部６ａの後に、直接に、下流側装置の一例として包装装置８の包装部８ａを連結しても良い。排出貯留部２２およびその付属装置から成る下流側連結部２０を外した状態では、検査部４ａまたは測定部６ａから直接にチップ部品を、１つずつ取り出されることが可能になる。そのため、チップ部品が特定の姿勢であることを保ったまま下流側装置へ搬送することが可能になる。なお、排出貯留部２２では、チップ部品を貯留可能であるが、姿勢がバラバラになる。
【００６３】
また、包装装置８において、供給貯留部１２を含む上流側連結部１０に関しても、それぞれ包装部８ａに対して着脱自在に接続してしてもよい。たとえば供給貯留部１２を含む上流側連結部１０を取り外して、検査装置４または測定装置６の排出貯留部２２に包装装置８の包装部８ａを取り付けても良い。
【符号の説明】
【００６４】
２… システム
４… 検査装置
６… 測定装置
８… 包装装置
１０… 上流側連結部
１２… 供給貯留部
１４… 満杯検出センサ
２０… 下流側連結部
２０ａ… 排出貯留部
２２… 排出貯留部
２４… 満杯検出センサ
３０… エジェクタ装置
３２… 送出チューブ
３４… 送出接続部
４０… エジェクタ装置
４２… 供給チューブ
４４… 受取接続部
６０… 制御装置
７０… 境界部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品を検査する検査部と、
前記検査部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記検査部にて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部と、
前記排出貯留部に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出す送出手段と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有し、
前記排出貯留部は、前記下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部を有することを特徴とする電子部品の検査装置。
【請求項２】
前記排出貯留部および送出手段は、前記検査部に対して着脱自在に接続してある請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記供給貯留部および／または前記排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する請求項１または２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、前記上流側装置に対して電子部品を送り出さないように信号を送る請求項３に記載の検査装置。
【請求項５】
電子部品を測定する測定部と、
前記測定部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記測定部にて測定された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部と、
前記排出貯留部に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出す送出手段と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有し、
前記排出貯留部は、前記下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部を有することを特徴とする電子部品の測定装置。
【請求項６】
前記排出貯留部および送出手段は、前記測定部に対して着脱自在に接続してある請求項５に記載の測定装置。
【請求項７】
前記供給貯留部および／または前記排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する請求項５または６に記載の測定装置。
【請求項８】
前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、前記上流側装置に対して電子部品を送り出さないように信号を送る請求項７に記載の測定装置。
【請求項９】
電子部品を包装するする包装部と、
前記包装部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記包装部にて包装された後の電子部品の包装物を貯留する排出貯留部と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有することを特徴とする電子部品の包装装置。
【請求項１０】
前記供給貯留部および排出貯留部は、それぞれ前記包装部に対して着脱自在に接続してある請求項９に記載の包装装置。
【請求項１１】
前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する請求項８または９に記載の包装装置。
【請求項１２】
前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、前記上流側装置に対して電子部品を送り出さないように信号を送る請求項１１に記載の包装装置。
【請求項１３】
請求項１〜４のいずれかに記載の検査装置と、請求項５〜８のいずれかに記載の測定装置と、請求項９〜１２のいずれかに記載の包装装置とを有する検査・測定・包装システム。
【請求項１】
電子部品を検査する検査部と、
前記検査部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記検査部にて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部と、
前記排出貯留部に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出す送出手段と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有し、
前記排出貯留部は、前記下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部を有することを特徴とする電子部品の検査装置。
【請求項２】
前記排出貯留部および送出手段は、前記検査部に対して着脱自在に接続してある請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記供給貯留部および／または前記排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する請求項１または２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、前記上流側装置に対して電子部品を送り出さないように信号を送る請求項３に記載の検査装置。
【請求項５】
電子部品を測定する測定部と、
前記測定部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記測定部にて測定された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部と、
前記排出貯留部に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出す送出手段と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有し、
前記排出貯留部は、前記下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部を有することを特徴とする電子部品の測定装置。
【請求項６】
前記排出貯留部および送出手段は、前記測定部に対して着脱自在に接続してある請求項５に記載の測定装置。
【請求項７】
前記供給貯留部および／または前記排出貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する請求項５または６に記載の測定装置。
【請求項８】
前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、前記上流側装置に対して電子部品を送り出さないように信号を送る請求項７に記載の測定装置。
【請求項９】
電子部品を包装するする包装部と、
前記包装部に供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部と、
前記包装部にて包装された後の電子部品の包装物を貯留する排出貯留部と、
前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御手段と、を有し、
前記供給貯留部は、前記上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部を有することを特徴とする電子部品の包装装置。
【請求項１０】
前記供給貯留部および排出貯留部は、それぞれ前記包装部に対して着脱自在に接続してある請求項９に記載の包装装置。
【請求項１１】
前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったか否か、あるいは満杯になりそうか否かを検出する満杯検出センサをさらに有する請求項８または９に記載の包装装置。
【請求項１２】
前記供給貯留部に貯留してある電子部品が満杯になったことを前記満杯検出センサが検出した場合には、前記制御手段は、前記上流側装置に対して電子部品を送り出さないように信号を送る請求項１１に記載の包装装置。
【請求項１３】
請求項１〜４のいずれかに記載の検査装置と、請求項５〜８のいずれかに記載の測定装置と、請求項９〜１２のいずれかに記載の包装装置とを有する検査・測定・包装システム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２０１３−６３８４２（Ｐ２０１３−６３８４２Ａ）
【公開日】平成２５年４月１１日（２０１３．４．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２０４７０８（Ｐ２０１１−２０４７０８）
【出願日】平成２３年９月２０日（２０１１．９．２０）
【出願人】（０００００３０６７）ＴＤＫ株式会社 (7,238)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年４月１１日（２０１３．４．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年９月２０日（２０１１．９．２０）
【出願人】（０００００３０６７）ＴＤＫ株式会社 (7,238)
【Ｆターム（参考）】
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