【課題】太陽電池の欠陥検出の精度を改善する。
【解決手段】本発明の実施形態の欠陥検出装置は、検査対象である太陽電池セル９を保持する保持部１０と、複数の点光源３を備える面光源４と、駆動制御信号を生成するピッチ制御部（５，７）と、駆動制御信号に基づいて、面光源４を移動させる移動機構（６，８）と、面光源４の発光パターンを制御する発光制御信号を生成する光源制御部１３と、面光源４が発光した光に応じて太陽電池セル９に発生した電流の電流値を計測し、電流値を示す計測情報を生成する計測部１１と、を備える。ピッチ制御部（５，７）は、複数の点光源３の間隔より小さいピッチで面光源４が移動するように、駆動制御信号を生成する。計測部１１は、太陽電池セル９に対する面光源４の位置毎に、複数の計測情報を生成する。 （もっと読む）

【課題】
自身の正常な動作確認を容易に行えて、ＬＥＤ点灯装置を信頼性よく検査できるＬＥＤ点灯装置用チェッカーを提供する。
【解決手段】
ＬＥＤ点灯装置用チェッカー１は、出力端１１から電流を出力可能に形成された電流源２と、直流電流を出力可能に形成された自己診断用電源３と、ＬＥＤ点灯装置１２の出力を入力する入力端４と、擬似負荷５と、ＬＥＤ点灯装置１２の検査時に擬似負荷５を入力端４に接続させ、自己診断時に擬似負荷５を自己診断用電源３の出力間に接続させる接続手段６と、擬似負荷５に流れる電流を検出する電流検出手段７と、電流検出手段７が検出した電流と予め設定された基準値とを比較して評価する評価手段８と、評価手段８の評価結果を表示する表示手段９と、を具備している。 （もっと読む）

【課題】電子部品の搭載時間を短縮する。
【解決手段】供給される電子部品１０を受け取る受け取り部３ａ〜３ｅと、受け取り部３ａ〜３ｅで受け取った電子部品１０を保持して予め決められた搭載位置に移動させる移動機構４と、移動機構４を制御する制御部とを備えて、電子部品１０を基板１００に搭載可能に構成され、受け取り部３ａ〜３ｅは、供給された電子部品１０を支持する支持部と、支持部によって支持されている電子部品１０の電気的特性を測定する測定部とを備えて構成され、制御部は、測定部によって測定された電子部品１０の電気的特性が予め決められた条件を満たすときに移動機構４を制御して電子部品１０を搭載位置に移動させて基板１００に搭載させる。 （もっと読む）

【課題】スイッチのオープン故障を検出することを可能とする故障検出装置および方法を提供する。
【解決手段】本発明による故障検出装置（１０）は、電源と負荷との間に接続されたスイッチ（Ｑ２）と並列接続された電圧降下素子（Ｄ２）と、前記スイッチの開閉を制御するスイッチ制御部（１３）と、前記スイッチ制御部が前記スイッチを開または閉に制御した状態で前記電圧降下素子の端子間の相対電圧を検出する電圧検出部（１１）と、前記電圧検出部により検出された相対電圧と前記スイッチ制御部による前記スイッチの制御状態とに基づき前記スイッチの故障を判定する故障判定部（１２）とを備える。 （もっと読む）

【課題】工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムを提供すること。
【解決手段】電子部品を検査する検査部４ａと、検査部４ａに供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部１２と、検査部４ａにて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２と、排出貯留部２２に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出すエジェクタ装置３０と、前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御装置６０と、を有する検査装置である。供給貯留部１２は、上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部４４を有し、排出貯留部２２は、下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部３４を有する。 （もっと読む）

【課題】チップ型電子部品を搬送しながら電気的特性を測定するときに、プローブ押圧による外部電極の損傷が生じない装置と方法を提供する。
【解決手段】ワーク測定装置はテーブルベース１と、テーブルベース上に回転自在に設置され、テーブルベースと反対側の第１層２ａと、テーブルベース１側の第２層２ｂとを有する搬送テーブル２とを備えている。第１層を貫通してワークＷを収納する複数のワーク収納孔４が設けられ、第２層に各ワーク収納孔に対応して、第２層を貫通してスルーホール９が設けられている。ワーク収納孔に収納されたワークの一側電極Ｗａは、ワーク収納孔の第１層側から露出するとともに、他側電極Ｗｂは第２層のスルーホールに当接する。搬送テーブルの第１層側に、ワーク収納孔内のワークの一側外部電極に当接する第１のプローブ６０を設け、テーブルベース内に第２層のスルーホールに当接する第２プローブ６１を設けた。 （もっと読む）

【課題】電気的バイアス処理を多数個一括処理を行って、より効率よく不良デバイスを正常な絶縁状態に回復させる。
【解決手段】デバイス６のリーク欠陥部分に対して電気的ストレスを供給してリーク欠陥部分の絶縁状態を正常化するリペア装置１において、電気的ストレス源とする高電圧電源２と、高電圧電源２により充電される複数のコンデンサ７からの各電荷ストレスを複数のデバイス６にそれぞれ一括して同時に印加する電圧印加手段を有している。 （もっと読む）

【課題】極めて短時間の放電光を安価な構成で検出できる放電光検出回路を提供する。
【解決手段】放電光検出回路１４は、端子１０ａに基準値以上の電圧が加えられた時に導通する電子部品１０において発生し得る放電光を検出する。放電光検出回路は、受光素子１４ａと、増幅部１４ｂと、判定部１４ｃと、オフディレイ部１４ｄと、制御部１４ｅとを備える。受光素子は、検査電極１１から端子に基準値以上の検査電圧または所定の検査電流が加えられた時に発生し得る放電光Ｌを受光して、電気信号Ａに変換する。増幅部は電気信号を増幅する。判定部は、増幅された電気信号Ｂが予め定められた判定値Ｘ以上である期間に判定信号Ｃを出力する。オフディレイ部は、判定信号のオフタイミングを遅延させた遅延判定信号Ｄを出力する。制御部は、遅延判定信号が出力されているか否か定期的に判定し、遅延判定信号が出力されている場合に放電光検出信号Ｅを出力する。 （もっと読む）

【課題】電源および負荷が設けられるように構成された回路内の過渡電圧保護デバイスをテストする方法を提供する。
【解決手段】過渡電圧保護デバイスと並列に検出器を設けるステップと、回路内に設けられたスイッチングデバイスを開路するステップと、スイッチングデバイスを開路することによって生じる、回路インダクタンス内の電流の変化率によって引き起こされる電圧スパイクの特性を検出して、保護デバイスの状態を決定するステップとを含む。そのピーク電圧など、電圧スパイクの検出された特性が、期待される所定の値ではない、または期待される所定の範囲内ではない場合は、過渡電圧保護デバイス内に障害が存在すると見なすことができる。それにより過渡電圧保護デバイスは、稼働寿命の間に信頼性良くテストすることができる。 （もっと読む）

【課題】サージ・アレスタが接続された高電圧システムの試験時に、サージ・アレスタの損傷を防止できる課電圧保護機能を備えたデバイス及び高電圧システムの試験方法を提供する。
【解決手段】過電圧保護機能を備えたデバイスは、バリスタ５を有し、第一の接続部７により、第一のライン３０を介して回路装置２の高電位に接続され、また第二の接続部８は第二のライン１０を介してアースに接続される。更なるインピーダンス１７を有し、このインピーダンス１７は、高電圧システムの試験時には第二の接続部８とアースとの間に接続される。対応するライン１０，３０は、スイッチング装置１１により遮断され、第一のライン３０および／または第二のライン１０が、先ず最初に遮断され、そして、インピーダンス１７が挿入される。試験電圧が前記回路装置２に加えられると、前記バリスタ５の電圧は、加えられた試験電圧よりも低く、バリスタ５の過負荷が防止される。 （もっと読む）

【課題】電子部品の電気的特性を正確に測定できる方法を提供する。
【解決手段】測定用基板２２を、配線基板１１の第２の主面１１ｂ側に、端子電極１４と電気的に接続するように配置する一方、配線基板１１の第１の主面１１ａ側に圧接部材２１ａ〜２１ｄを配置する。圧接部材２１ａ〜２１ｄにより、電子部品１０のチップ部品１２ａ、１２ｂが設けられていない部分を測定用基板２２側に相対的に押圧することにより電子部品１０を測定用基板２２に圧接させた状態で電子部品１０の電気的特性の測定を行う。 （もっと読む）

【課題】電子部品の外部電極との接触が安定し、電子部品の外部電極が摩耗しにくい接触端子を備えた電気特性測定治具を提供する。
【解決手段】電気特性測定治具２０は、基板２１と、基板２１の主面２１ａに形成された接触端子２４とを備え、接触端子２４に電子部品１０の外部電極１２が押し付けられる。接触端子２４は、はんだにより形成されている。 （もっと読む）

【課題】短時間で立ち上がる電流を被試験デバイスに印加させる。
【解決手段】被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに電流を供給する電流源と、被試験デバイスに対応する電気的特性を有する擬似負荷と、電流源を擬似負荷に接続するか被試験デバイスに接続するかを切り替える切替部とを備え、切替部は、電流源を擬似負荷に接続した後に、擬似負荷に印加される電圧が予め定められた範囲内の電圧になると、電流源と擬似負荷との接続を切り離すとともに、電流源を被試験デバイスに接続する試験装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】昇圧レス電源装置において、スイッチング素子のシャットダウン作動の異常を適切に検出する。
【解決手段】回転機Ｍの回生作動中に、スイッチング素子Ｑのシャットダウン作動により電源ラインLINEが一時的に切断状態とされ、その電源ラインLINEが切断状態とされている間にインバータ１４側の電圧ＶＨが蓄電装置１２の電圧ＶＢよりも上昇したか否かに基づいて、スイッチング素子Ｑによる電源ラインLINEの断接作動が正常であるか異常であるかが判断されるので、電源装置１０において通常稼働時にスイッチング素子Ｑのシャットダウン作動の異常を検知することができないことに対して、駆動回路１６の回路故障、スイッチング素子Ｑのオン故障のようなシャットダウン作動不能となる異常状態などを検知することができる。 （もっと読む）

【課題】ダイオードに近似した所望の負荷条件を実現できる負荷装置を提供する。
【解決手段】定電圧負荷として動作する電子負荷部２を設けることによって、温度や素子の特性ばらつきなどの影響を受けることなく、所望の設定電圧Ｖｓｅｔで負荷電流が立ち上がるＬＥＤに近似した負荷特性を実現できる。また、設定電圧Ｖｓｅｔに充電されたキャパシタＣ１を電子負荷部２と並列に接続し、このキャパシタＣ１にダイオードＤ１を介してＬＥＤドライバ５を接続することにより、負荷端子Ｔ１，Ｔ２に過大なオーバーシュート電圧が発生することを防止できる。 （もっと読む）

【目的】電圧検出回路を有するインバータ回路を搭載したパワー半導体モジュールにおいて、測定電圧のみを印加することで、インバータ回路の上下アームを構成する素子に流れる漏れ電流を簡便に正確に測定できるパワー半導体モジュールを提供する。
【解決手段】分圧回路２３をインバータ回路５０からネジ部２７で切り離すことで、インバータ回路５０の上下アームを構成する素子（ＩＧＢＴ４ａ，４ｂ，ＦＷＤ５ａ，５ｂ）に流れる漏れ電流を簡便に正確に測定できる。 （もっと読む）

【課題】１つの装置で複数の回線のサージ電流を検知でき、保安器を内部に組み込みサージ電流の防護も可能なサージ検出装置を提供する。
【解決手段】サージ検出装置は、複数の通信又は電源側回線にそれぞれ接続された複数の入力端子Ｌと、複数の警報用ヒューズ１０と、複数のサージ検知用出力端子Ｋａ，Ｋｂと、複数の第１の保安器２０と、複数の第２の保安器３０とが、１つの筐体に収容されている。例えば、入力端子Ｌ１に雷サージ電圧が印加された場合、雷サージ電流は先ずヒューズ１０−１を介して第１の保安器２０−１側へ流れる。これにより、ヒューズ部１１が溶断し、同時に、スイッチ部１２がオン状態になってこの情報が出力端子Ｋ１ａ，Ｋ１ｂから出力される。ヒューズ部１１が溶断すると、第２の保安器３０−１側へ残りの雷サージ電流が流れ、吸収される。 （もっと読む）

【課題】 続流遮断機能を有する機器を直列に接続した装置において、正常品を使用不能とすることなく部分破壊の故障判定を正確に行なうことが出来る故障判定方法の提供。
【解決手段】 約１ｋＨｚ未満から約１ＭＨｚを超える周波数に至る入力信号を印加し、アース側端子電圧Ｖinとライン側端子電圧Ｖoutの出力信号から、試料避雷装置のインピーダンスを導くステップと、アース側端子電圧Ｖinとライン側端子電圧Ｖout間の位相差を導くステップと、直列成分抵抗値を導くステップと、導かれた直列成分抵抗値を両対数軸にプロットし試料避雷装置固有の周波数特性カーブを得るステップと、試料避雷装置固有の周波数特性カーブと正常品避雷装置の周波数特性カーブに設定量以上の偏差が認められ、且つその偏差が１ｋＨｚ以下で確認された場合と、その偏差が１ｋＨｚ以下で確認されず、且つ１００ｋＨｚ以上で確認された場合とを判定するステップを経ることを特徴とする避雷装置の故障判定方法。 （もっと読む）

【課題】寿命判定のための特別なセンサを必要とせずに、エレベータの駆動系に含まれる回路素子の寿命を正確に判定して対処する。
【解決手段】負荷変動の無い状態でエレベータの乗りかご１８を運転し、インバータ装置１４に含まれるＩＧＢＴ１４ａに一定の電流が通電されたときの電圧を測定回路２０によって測定する。寿命判定部２３では、この測定回路２０によって測定された電圧を初期値と比較し、両者の差が予め設定された判定値を超えた場合に寿命が近いものと判定する。制御部２４は、この判定結果を受け、発報部２５を通じて警告ランプ２６を点灯するなどして対処する。 （もっと読む）

【課題】変調信号を用いたバースト信号で試験可能にするとともに、かつ出力レベルを所望レベルに短時間に精度良く追い込み、その後に所望の測定ができる技術を提供する。
【解決手段】信号発生部１０が、いずれの周期Ｔａでも、周期Ｔａ内のベースバンド信号のレベルの変化が同一の変化を示すベースバンド信号を生成してＲＦ信号で変調し、変調されたＲＦ信号を外部へ送る。外部の通信用デバイスからオン区間Ｔｏとオフ区間（Ｔｈ―Ｔｏ）でなる周期Ｔｈのバースト信号を、レベル測定部３０が受けて、そのバースト信号の各周期Ｔｈのオン区間Ｔｏ内の区間Ｔａにおける出力レベルを測定し、判定部４０及びレベル制御部５０は、測定された出力レベルが、目標値内になるように、通信用デバイスに入力するバースト信号のレベルを制御する構成とした。 （もっと読む）