【課題】
インバータ回路の故障を検知する前に、インバータ回路に流れる電流を検出する電流検出手段の故障を検知することができると共に、容易かつ安価に製造することができるインバータ回路の故障検知装置を提供する。
【解決手段】
インバータ回路２に接続されたシャント抵抗１１と、シャント抵抗１１に並列に接続された増幅回路１２とを備え、インバータ回路２に流れる電流を検出する電流検出手段１０と、電流検出手段１０に第１試験電圧を印加する試験電圧印加手段２０と、第１試験電圧に基づき電流検出手段１０の故障を判定し、インバータ回路２に第２試験電圧を印加し、印加された第２試験電圧に基づきインバータ回路２の故障を判定し、インバータ回路２を制御する制御手段３０とを含んで構成され、制御手段３０は、インバータ回路２の駆動開始信号sig１の入力に応じて、電流検出手段１０の故障を判定し、その後インバータ回路２の故障を判定する。 （もっと読む）

【課題】単位時間当たりの測定数を向上させた電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】
第１及び第２回転テーブル（１１，５１）と、第１及び第２回転駆動手段（１７，５７）と、第１及び第２プローブ（２０，６０）と、第１及び第２進退駆動手段（２３，６２）と、測定手段（８０）と、制御手段（８２）と、を有し、第１前進開始動作（Ｍ１３）より後であって第１前進完了動作（Ｍ１４）より前に第１回転停止動作（Ｍ１２）が行われ、第１後退開始動作（Ｍ１５）より後であって第１後退完了動作（Ｍ１６）より前に第１回転開始動作（Ｍ１１）が行われ、第２前進開始動作（Ｍ２３）より後であって第２前進完了動作（Ｍ２４）より前に、第２回転停止動作（Ｍ２２）が行われ、第２後退開始動作（Ｍ２５）より後であって第２後退完了動作（Ｍ２６）より前に第２回転開始動作（Ｍ２１）が行われる電子部品特性測定装置。 （もっと読む）

【課題】電子部品の搭載時間を短縮する。
【解決手段】供給される電子部品１０を受け取る受け取り部３ａ〜３ｅと、受け取り部３ａ〜３ｅで受け取った電子部品１０を保持して予め決められた搭載位置に移動させる移動機構４と、移動機構４を制御する制御部とを備えて、電子部品１０を基板１００に搭載可能に構成され、受け取り部３ａ〜３ｅは、供給された電子部品１０を支持する支持部と、支持部によって支持されている電子部品１０の電気的特性を測定する測定部とを備えて構成され、制御部は、測定部によって測定された電子部品１０の電気的特性が予め決められた条件を満たすときに移動機構４を制御して電子部品１０を搭載位置に移動させて基板１００に搭載させる。 （もっと読む）

【課題】工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムを提供すること。
【解決手段】電子部品を検査する検査部４ａと、検査部４ａに供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部１２と、検査部４ａにて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２と、排出貯留部２２に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出すエジェクタ装置３０と、前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御装置６０と、を有する検査装置である。供給貯留部１２は、上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部４４を有し、排出貯留部２２は、下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部３４を有する。 （もっと読む）

【課題】チップ型電子部品を搬送しながら電気的特性を測定するときに、プローブ押圧による外部電極の損傷が生じない装置と方法を提供する。
【解決手段】ワーク測定装置はテーブルベース１と、テーブルベース上に回転自在に設置され、テーブルベースと反対側の第１層２ａと、テーブルベース１側の第２層２ｂとを有する搬送テーブル２とを備えている。第１層を貫通してワークＷを収納する複数のワーク収納孔４が設けられ、第２層に各ワーク収納孔に対応して、第２層を貫通してスルーホール９が設けられている。ワーク収納孔に収納されたワークの一側電極Ｗａは、ワーク収納孔の第１層側から露出するとともに、他側電極Ｗｂは第２層のスルーホールに当接する。搬送テーブルの第１層側に、ワーク収納孔内のワークの一側外部電極に当接する第１のプローブ６０を設け、テーブルベース内に第２層のスルーホールに当接する第２プローブ６１を設けた。 （もっと読む）

【課題】 対象物を検査選別するための効率的な装置および方法を提供すること
【解決手段】 対象物を受け入れるが、対象物が互いに積み重なるのを防止するようになされた略水平な空間と、複数のトンネルと、対象物が前記複数のトンネルに入るようにさせるガス圧力を伝達するように構成された複数のガス開口部とを含む装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】
タッチパネルの応答特性試験を極めて短時間で且つ容易に実施するための方法を提供すること
【解決手段】
検査支持基盤上に、多数の触圧棒が直線状に且つ多段に配列され、その上部のプレート板の孔を介してタッチパネル検査面を下方から上方に向けて触圧棒が打点する装置を使用して検査し、検査終了後タッチパネルを触圧棒を突出して隙間を形成させて、取り出すことを特徴とする検査方法。 （もっと読む）

【課題】異種部品が混入した場合の選別を容易、かつ確実に行うことができる部品識別システム、部品識別方法及び被識別部品を提供する。
【解決手段】電圧の印加により特性が変動するＰＴＣ素子を有する被識別部品と、電圧を印加する電圧印加手段、ＰＴＣ素子の特性を検出する検出手段、及び該検出手段で検出された特性が、事前に記憶されている特性と適合するか否かを判定する判定手段を有する識別装置とを備える。電圧印加手段による電圧の印加のオンオフを制御するスイッチング手段と、該スイッチング手段のオンオフのタイミングを制御する制御手段とを備え、複数回のオンオフによるＰＴＣ素子の特性変動パターンが、事前に記憶されている特性変動パターンと適合するか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】 インデックステーブル、揺動管の間にシューターとして投入管を架設し、高圧空気のもとで投入管を介して電子部品が揺動管に送り込まれているため、電子部品にダメージを与えるおそれがあるとともに、高速での送り込み制御が難しい。
【解決手段】 シューターは電子部品を吸着する吸着ヘッド２４を有した４本のアームから形成されて水平面で間欠送りされる十字のアーム形状のターンテーブル２０とされる。十字形アーム２０の供給ステーションａの左右に、揺動管３０に電子部品を送り出す送出ステーションｂ１、ｂ２が設定され、それぞれの送出ステーションに揺動管３０、振分け盤４０、駆動手段５０の組合せが設けられる。十字形アームは電子部品の検査結果に対応していずれかの方向に間欠送りされて送出ステーションで電子部品は揺動管を介して検査結果に対応した振分け盤の振分け孔４０ａに送られて分類される。 （もっと読む）

【課題】生産性向上と装置全体のコンパクト化を図ることができるワーク分類排出システムおよびワーク分類排出方法を提供する。
【解決手段】ワーク分類排出システム５０は、ワークＷを収納するワーク収納孔３が形成された搬送テーブル２と、ワークＷを測定するワーク測定部７と、搬送テーブル２の半径方向外方に設けられワーク収納孔３側へ開口する複数の開口部８ｘを有する排出ブロック８１とを備えている。排出ブロック８１の各開口部８ｘはワークＷの複数の分類に対応して設けられ、かつ各開口部８ｘは対応するワーク収納箱１１５に排出パイプ８５，８６を介して接続されている。排出ブロック８１は多列に設けられた複数の開口部８ｘを有する複数の基本階層８１Ａを多段に積層することにより構成される。ワーク測定部７からの測定結果に基づいて制御部９が搬送テーブル２を回転させ、かつ排出ブロック８１を垂直方向に移動して、ワーク収納孔３内のワークＷを対応する分類の開口部８ｘに位置合わせする。 （もっと読む）

【課題】 特性検査装置或いはテーピング装置でのオフセット教示を簡略化すること、また、オフセット教示することによりチップ部品の特性検査を確実に行うことこと。
【解決手段】 特性検査装置５２は、チップ部品Ａに設けられたバンプ１００に向かい延びた接触端子７５を有したプローブ７３と、プローブとバンプとの重なった像を側方から撮像するカメラ８３を備え、カメラにより撮像された画像を表示するモニタ９０に表示させながら、操作スイッチ９２を操作し、接触端子７５とバンプ１００との位置を相対的に移動させる移動手段させ、移動量に基づいて、接触端子とバンプ１００とのずれを検出する。 （もっと読む）

【課題】マルチ測定方式において、放熱設備などを大型化することなく低コストで発熱による不具合を未然に防止できる電子部品の特性測定装置を得る。
【解決手段】ターンテーブル５０によって測定位置Ｃに搬送されてくる複数のチップ型コンデンサの外部電極に接触して絶縁抵抗を測定する測定器７５と、ターンテーブル５０や測定機７５などを制御するコントローラ８０を備えた特性測定装置。コントローラ８０は、予め求められている発熱係数と、印加電圧と、電圧印加時間とから発熱量を求めるとともに、予め求められている放熱係数と搬送時間とから放熱量を求め、前記発熱量が該放熱量よりも大きくなると、ターンテーブル５０及び測定器７５の動作を停止させる、あるいは、ターンテーブル５０による搬送時間を延長させる。 （もっと読む）

【課題】電子部品の温度を目標の温度に調整して電子部品の特性を測定することができる技術を提供することを目的とする。
【解決手段】電子部品を支持する支持部の温度を所定の第１温度となるように調整し、プローブを保持する保持部の温度を所定の第２温度となるように調整する。そして、支持部に支持された電子部品の端子にプローブを接触させる。 （もっと読む）

【課題】電気回路の異常を精度良く検出できる信頼性の高い異常検出装置を提供する。
【解決手段】分圧回路として構成されるＩＮＶ電圧センサ２１の抵抗素子のうち、抵抗値が最も小さい抵抗素子が故障したときの当該ＩＮＶ電圧センサ２１の出力信号から求めた入力電圧換算値が、ＩＮＶ電圧センサ２１と同じバッテリ電圧ＶＢＡＴをモニタするＢ／Ｃ電圧センサ２２の出力信号から求めた入力電圧換算値に対して、誤差範囲も含めて重複しないように、ＩＮＶ電圧センサ２１の抵抗素子の抵抗値を設定する。 （もっと読む）

【課題】電子部品と工程処理機構の処理位置とが適切かつ良好に接触することが可能な電子部品保持手段の保持手段駆動装置、その制御方法及び制御プログラムを提供する。
【解決手段】制御装置１４０５は、サーボモータ１４０３を駆動源として操作ロッド１４０１を下方駆動させることで、吸着ノズル１１０１に保持された電子部品３が駆動制御パターンに記憶された動作を実行する位置に到達し、この際の駆動電流を検知する。その後、当該サーボモータ１４０３の駆動電流値が上昇し始め、当該駆動電流値は電子部品３に加える適切な荷重に相当する所定の基準値に達する。この電流値の状態を、制御装置１４０５は、サーボモータ１４０３による操作ロッド１４０１の下方駆動が適正に行われている、すなわち、適切に電子部品が工程処理と接触していると判断する。 （もっと読む）

【課題】出荷後に発見された素子の欠陥につき、その欠陥発生の解析に有用な特性測定方法及びこの方法に用いられる基板を得る。
【解決手段】基板１１に設けられた多数の被測定素子（厚膜抵抗体２０）の特性（抵抗値）を測定する方法。多数の被測定素子を複数のグループ（第１〜第７のグループ）に分け、各グループに属する被測定素子を一のグループごとに順次測定する。各グループに属する被測定素子の測定結果を基板１１上に設けたマーキングエリア２５の所定箇所にマーキングＡ〜Ｇとして記録する。測定結果が不良の場合は所定箇所を空欄にしておく。 （もっと読む）

【課題】製造リードタイムを短くして製品の製造コストを削減でき、尚且つ、精度の高い電気検査を行うことができる端子切断一体型電気検査装置を提供する。
【解決手段】パンチ２によって押圧されてダイ１のパンチ挿入部８内に移動したリード端子５形成後のワーク３を保持するための保持部２０を有する。保持部２０に保持したワーク３の複数のリード端子５に接触する検査用電極２１を有する。検査用電極２１を用いて保持部２０に保持したワーク３の電気検査を行う電気検査手段２２を有する。 （もっと読む）

【課題】測定時に部品が外れにくく、小さな部品でも部品特性の測定が容易である。
【解決手段】接触子１３４ａ、１４０ａを部品１０２に接触させて部品特性を測定するチップマウンタ１００の部品ベリファイ装置１３０において、前記接触子１３４ａ、１４０ａを側面に備えた複数のプローブ１３４、１４０と、前記部品１０２の電極１０２ａ間隔に前記接触子１３４ａ、１４０ａの間隔を調整して固定する固定手段（１４８）と、前記部品１０２を移動させると共に、上記固定手段（１４８）で固定された接触子１４０ａに前記部品１０２の電極１０２ａを接触させる部品接触手段（１０６、１０８）と、を設けた。 （もっと読む）

【課題】温度特性計測装置において、高精度の温度制御を実現する技術を提供する。
【解決手段】温度特性計測装置は、電子部品の温度特性を計測する温度特性計測装置であって、電子部品Ｄが載置される電子部品搭載プレート１０と、電子部品搭載プレート１０上に電子部品Ｄと同様に載置されて温度に依存した信号を出力する温度計測用マスタ１００と、温度計測用マスタ１００の出力から温度計測用マスタ１００の温度を計測するマスタ温度計測装置と、を備える。 （もっと読む）

電子試験機の複数の接点の位置合わせを判定するための方法が開示される。これらの接点は、複数の電気的読取値を取る電子部品にわたって掃引される。これらの電気的読取値は、位置合わせを判定するために所望の配向に対してグラフ化される。位置合わせは、調節機構を使用して、必要に応じて修正される。
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